專利名稱：測試程序優(yōu)化的內(nèi)存ic檢測分類機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種內(nèi)存IC檢測分類機，尤其是涉及通過優(yōu)化測試流程，縮短各動作機構(gòu)的運行時間，改善整機工作狀況，提高了整機工作效率的內(nèi)存IC檢測分類機。
背景技術(shù)：
目前，半導(dǎo)體IC大致分為邏輯IC，內(nèi)存IC，模擬IC和微組件IC，盛放半導(dǎo)體IC的載體主要有管裝，載帶裝和托盤裝，本實用新型是針對JEDEC托盤裝內(nèi)存IC提出的一種檢測分類機。傳統(tǒng)的內(nèi)存IC檢測分類機，工作流程是，取放臂從載體中取出IC放置到內(nèi)存IC 測試模組中，待內(nèi)存IC測試系統(tǒng)完成測試后，再由取放臂將IC從內(nèi)存IC測試模組中取出分類放置于不同級載體中，由于內(nèi)存IC測試系統(tǒng)測試速度慢，且內(nèi)存IC測試系統(tǒng)測試時， 各動作機構(gòu)需要等待，從而導(dǎo)致效率低下。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡單、測試效率高的內(nèi)存IC檢測分類機。為了達到上述要求，本實用新型的技術(shù)方案是它包含至少一個JEDEC托盤裝上料傳送模組，上料機械手，第一緩沖和預(yù)定位模組，抓取機械手，內(nèi)存IC測試模組，第二緩沖和預(yù)定位模組，下料機械手，至少一個JEDEC托盤裝下料傳送模組，和與內(nèi)存IC測試模組相連的內(nèi)存IC測試系統(tǒng)，其中，內(nèi)存IC測試模組是由多個IC測試模塊陣列而形成，且按照包含相同數(shù)量IC測試模塊的區(qū)域劃分成多個相同的區(qū)域，內(nèi)存測試系統(tǒng)通過電信號切換與這些相同區(qū)域的IC測試模塊相連接。所述的第一緩沖和預(yù)定位模組、第二緩沖和預(yù)定位模組分別位于內(nèi)存IC測試模組之前與之后，分別與上料傳送模組和下料傳送模組相銜接，并且，第一緩沖和預(yù)定位模組、第二緩沖和預(yù)定位模組可沿直線移動，且直線上分布著多個點位分別對應(yīng)于不同劃分區(qū)域。上料機械手、下料機械手和抓取機械手的端部均安裝有真空吸嘴，沿水平方向和豎直方向的移動軸移動對所劃分成多個相同區(qū)域內(nèi)的內(nèi)存IC進行取放和測試。本實用新型提供的內(nèi)存IC檢測分類機，通過優(yōu)化測試流程，將內(nèi)存IC測試模組劃分為多個相同區(qū)域，然后對不同區(qū)域進行操作，內(nèi)存IC測試系統(tǒng)通過電信號切換與不同區(qū)域內(nèi)內(nèi)存IC測試模塊連接，優(yōu)化測試流程，這樣不僅降低存IC測試系統(tǒng)的成本，而且各動作機構(gòu)如圖6所示，本實用新型的內(nèi)存IC檢測分類機的第一緩沖和預(yù)定位模組2和第二緩沖和預(yù)定位模組6，是由一水平移動軸10和一預(yù)定位板11組成，預(yù)定位板11上有導(dǎo)向定位用的斜坡定位槽12，內(nèi)存IC 13放置于斜坡定位槽時，借助于自重，沿斜坡下滑，落入斜坡定位槽12中，從而實現(xiàn)內(nèi)存IC13的定位。如圖7所示，本實用新型的內(nèi)存IC檢測分類機的JEDEC托盤裝上料傳送模組1和 JEDEC托盤裝下料傳送模組8，是由兩個頂升裝置14、兩個料匣15和一水平傳送軸16組成，料匣15內(nèi)可盛放多個JEDEC托盤17。頂升裝置14通過偏心輪帶動頂升桿升起或下降，而實現(xiàn)將JEDEC托盤17從料匣15中取出并放置到水平傳送軸16上，水平傳送軸16移動帶動JEDEC托盤17 —起移動。[0010]如圖8、9、10所示，上料機械手2，下料機械手7和抓取機械手4，均是在端部安裝有真空吸嘴18的移動軸19，可沿水平方向和豎直方向移動。[0011]如上所述的內(nèi)存IC檢測分類機，工作流程如下[0012]1)，JEDEC托盤裝上料傳送模組的頂升裝置和水平傳送軸將盛放待檢測內(nèi)存IC的 JEDEC托盤送到設(shè)定位置，上料機械手從JEDEC托盤中吸取一定數(shù)量的待檢測內(nèi)存IC，并移動送至第一緩沖和預(yù)定位模組的預(yù)定位板的定位槽，重復(fù)執(zhí)行，直到所有定位槽中都放有待檢測內(nèi)存IC;[0013]2)，第一緩沖和預(yù)定位模組的水平移動軸移動至第一上料位點，抓取機械手從定位槽中一次性吸取全部待檢測內(nèi)存IC，并移動送至第一區(qū)域第一列位置內(nèi)存IC測試模塊的放置槽中，內(nèi)存IC測試系統(tǒng)開如測試；[0014]3)，重復(fù)1)和幻直到第一區(qū)域所有內(nèi)存IC測試模塊中都放有待檢測內(nèi)存IC;[0015]4)，重復(fù)1)，第一緩沖和預(yù)定位模組的水平移動軸移動至第二上料位點，抓取機械手從定位槽中一次性吸取全部待檢測內(nèi)存IC，并移動送至第二區(qū)域第一列位置內(nèi)存IC測試模塊的放置槽中，內(nèi)存IC測試系統(tǒng)開如測試；[0016]5)，重復(fù)1)和4)直到第二區(qū)域所有內(nèi)存測試模塊中都放有待檢測內(nèi)存IC ；[0017]6)，與此同時，當(dāng)?shù)谝粎^(qū)域內(nèi)第一列位置內(nèi)存IC測試模塊中待檢測內(nèi)存IC測試完成后，第二緩沖和預(yù)定位模線的水平移動軸移動至第一下料位點，抓取機械手從第一區(qū)域第一列位置內(nèi)存IC測試模塊的放置槽中一次性吸取全部檢測過的內(nèi)存IC，并移動送至第二緩沖和預(yù)定位模組的預(yù)定位板的定位槽中；[0018]停留時間也會減短，從而使整機效率大大提高。


[0019]圖1是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的主視圖；[0020]圖2是圖1的俯視圖；[0021]圖3是圖1的左視圖；[0022]圖4是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的立體圖；[0023]圖5是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的內(nèi)存IC測試模組示意圖；[0024]圖6是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的第一緩沖和預(yù)定位模組示意圖；[0025]圖7是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的JEDEC托盤裝上料傳送模組和JEDEC托盤裝上料傳送模組示意圖；[0026]圖8是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的上料機械手示意圖；[0027]圖9是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的下料機械手示意圖；[0028]圖10是本實用新型的內(nèi)存IC檢測機的抓取機械手示意圖。[0029]圖中1、JEDEC托盤裝上料傳送模組；2、上料機械手；3、第一緩沖和預(yù)定位模組； 4、抓取機械手；5、內(nèi)存IC測試模組；6、第二緩沖和預(yù)定位模組；7、下料機械手；8、JEDEC托盤裝下料傳送模組；9、內(nèi)存IC測試模塊；10、水平移動軸；11、預(yù)定位板；12、斜坡定位槽；13、內(nèi)存IC;14、頂升裝置；15、料匣；16、水平傳送軸；17、JEDEC托盤；18、真空吸嘴；19、移動軸。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型做進一步說明。圖1至圖4是本實用新型的內(nèi)存IC檢測分類機的結(jié)構(gòu)示意圖，從圖中看出，它包含至少一個JEDEC托盤裝上料傳送模組1，上料機械手2，第一緩沖和預(yù)定位模組3，抓取機械手4，內(nèi)存IC測試模組5，第二緩沖和預(yù)定位模組6，下料機械手7，至少一個JEDEC托盤裝下料傳送模組8，和與內(nèi)存IC測試模組5相連的內(nèi)存IC測試系統(tǒng)。如圖5所示，本實用新型的內(nèi)存IC檢測分類機的內(nèi)存IC測試模組5，是由多個內(nèi)存IC測試模塊9陣列而形成，這些內(nèi)存IC測試模塊9可以按照包含相同數(shù)量內(nèi)存IC測試模塊劃分成多個相同區(qū)域，內(nèi)存IC測試系統(tǒng)通過電信號切換與這些相同區(qū)域內(nèi)內(nèi)存IC測試模塊相連接。7)，JEDEC托盤裝下料傳送模組的頂升裝置和水平傳送軸將空的JEDEC托盤送到設(shè)定位置，同時，第二緩沖和預(yù)定位模組的水平移動軸移動到設(shè)定位置，依據(jù)測試結(jié)果進行分類，下料機械手從第二緩沖和預(yù)定位模組的預(yù)定位板的定位槽中優(yōu)先吸取良品，并移動送至空的JEDEC托盤中，重復(fù)執(zhí)行，直到所有定位槽中的檢測過的內(nèi)存IC全部取出；8)，重復(fù)6)和7)直到第一區(qū)域所有內(nèi)存IC測試模塊中的內(nèi)存IC全部被取出分類放入空的JEDEC托盤中；9)，與此同時，第一區(qū)域內(nèi)存IC測試模塊開始上料；10)，與此同時，當(dāng)?shù)诙^(qū)域內(nèi)第一列位置內(nèi)存IC測試模塊中待檢測內(nèi)存IC測試完成后，第二緩沖和預(yù)定位模線的水平移動軸移動至第二下料位點，抓取機械手從第二區(qū)域第一列位置內(nèi)存IC測試模塊的放置槽中一次性吸取全部檢測過的內(nèi)存IC，并移動送至第二緩沖和預(yù)定位模組的預(yù)定位板的定位槽中；11)，第二緩沖和預(yù)定位模組的水平移動軸移動到設(shè)定位置，依據(jù)測試結(jié)果進行分類，下料機械手從第二緩沖和預(yù)定位模組的預(yù)定位板的定位槽中優(yōu)先吸取良品，并移動送至空的JEDEC托盤中，重復(fù)執(zhí)行，直到所有定位槽中的檢測過的內(nèi)存IC全部取出；12)，重復(fù)10)和11)直到第二區(qū)域所有內(nèi)存IC測試模塊中的內(nèi)存IC全部被取出分類放入空的JEDEC托盤中。13)，重復(fù)上述所有步驟，本實用新型的內(nèi)存IC檢測分類機持續(xù)不斷的工作，直至設(shè)備停機。如上所述的內(nèi)存IC檢測分類機，設(shè)置有第一、第二緩沖和預(yù)定位模組，并且各自還有兩個上料位置，對應(yīng)于內(nèi)存IC測試模組劃分成的不同區(qū)域，內(nèi)存IC測試系統(tǒng)通過電信號切換與不同區(qū)域內(nèi)內(nèi)存IC測試模塊相連接，這樣通過區(qū)域切換，各動作機構(gòu)、內(nèi)存IC測試模組、內(nèi)存IC測試系統(tǒng)之間可以相互協(xié)調(diào)工作，大大提高整機效率。本實施例中，內(nèi)存IC 測試模組劃分為兩個區(qū)域，依據(jù)實際測試時間和整機效率需求，也可劃分為更多區(qū)域，也可增加更多區(qū)域，目的只為提高整機效率，本實施例只是其中之一。
權(quán)利要求1.測試程序優(yōu)化的內(nèi)存IC檢測分類機，其特征在于，它包含至少一個JEDEC托盤裝上料傳送模組，上料機械手，第一緩沖和預(yù)定位模組，抓取機械手，內(nèi)存IC測試模組，第二緩沖和預(yù)定位模組，下料機械手，至少一個JEDEC托盤裝下料傳送模組，和與內(nèi)存IC測試模組相連的內(nèi)存IC測試系統(tǒng)，其中，內(nèi)存IC測試模組是由多個IC測試模塊陣列而形成，且按照包含相同數(shù)量IC測試模塊的區(qū)域劃分成多個相同的區(qū)域，內(nèi)存測試系統(tǒng)通過電信號切換與這些相同區(qū)域的IC測試模塊相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試程序優(yōu)化的內(nèi)存IC檢測分類機，其特征在于第一緩沖和預(yù)定位模組、第二緩沖和預(yù)定位模組分別位于內(nèi)存IC測試模組之前與之后，分別與上料傳送模組和下料傳送模組相銜接，并且，第一緩沖和預(yù)定位模組、第二緩沖和預(yù)定位模組可沿直線移動，且直線上分布著多個點位分別對應(yīng)于不同劃分區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試程序優(yōu)化的內(nèi)存IC檢測分類機，其特征在于上料機械手、下料機械手和抓取機械手的端部均安裝有真空吸嘴，沿水平方向和豎直方向的移動軸移動對所劃分成多個相同區(qū)域內(nèi)的內(nèi)存IC進行取放和測試。
專利摘要本實用新型公開了一種測試程序優(yōu)化的內(nèi)存IC檢測分類機。旨在提供一種結(jié)構(gòu)簡單、測試效率高的內(nèi)存IC檢測分類機。它包含至少一個JEDEC托盤裝上料傳送模組，上料機械手，第一緩沖和預(yù)定位模組，抓取機械手，內(nèi)存IC測試模組，第二緩沖和預(yù)定位模組，下料機械手，至少一個JEDEC托盤裝下料傳送模組，和與內(nèi)存IC測試模組相連的內(nèi)存IC測試系統(tǒng)，其中，內(nèi)存IC測試模組是由多個IC測試模塊陣列而形成，且按照包含相同數(shù)量IC測試模塊的區(qū)域劃分成多個相同的區(qū)域，內(nèi)存測試系統(tǒng)通過電信號切換與這些相同區(qū)域的IC測試模塊相連接。它不僅降低存IC測試系統(tǒng)的成本，而且各動作機構(gòu)停留時間也會減短，提高了測試效率。
文檔編號G11C29/56GK202332305SQ20112053366
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月1日
發(fā)明者岑剛, 朱玉萍 申請人:嘉興景焱智能裝備技術(shù)有限公司