本實施方式涉及磁盤裝置及其控制方法。

背景技術：

對于磁盤裝置，存在為了使記錄到磁盤的數(shù)據(jù)高密度化而使磁盤的磁道間距變窄的趨勢。此時，期望對磁道間距的異常(磁道間距與附近不同的部位)進行管理。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的實施方式，提供能夠高精度地檢測磁道間距的異常的磁盤裝置及其控制方法。

根據(jù)本實施方式，提供具有磁盤、磁頭和控制器的磁盤裝置。磁頭與磁盤相對。磁頭具有第1讀取頭和第2讀取頭?？刂破骰诘?位置信息和第2位置信息，判定第1磁道或第2磁道附近的磁道間距。第1位置信息由第1讀取頭讀出，是與對應于磁盤的第1磁道的伺服信號相應的信息。第2位置信息是第2讀取頭讀出，是與對應于第2磁道的伺服信號相應的信息。第2磁道是第1磁道附近的磁道。

附圖說明

圖1是示出實施方式的磁盤裝置的結構的圖。

圖2是示出實施方式的頭間距離管理信息的圖。

圖3是示出實施方式的磁道間距相對于頭間距離的差量的求出方法的圖。

圖4是示出實施方式的磁盤裝置的工作的流程圖。

圖5是示出實施方式的判定處理的流程的流程圖。

圖6A是用于說明實施方式的判定處理的一例的圖。

圖6B是用于說明實施方式的判定處理的另一例的圖。

圖6C是用于說明實施方式的判定處理的又一例的圖。

具體實施方式

以下，參照附圖對實施方式的磁盤裝置進行詳細說明。此外，并非通過本實施方式限定本發(fā)明。

(實施方式)

使用圖1對實施方式的磁盤裝置100進行說明。圖1是示出磁盤裝置100的結構的圖。

磁盤裝置100例如是經由磁頭122向磁盤111記錄信息，并經由磁頭122從磁盤111讀出信號的裝置(例如硬盤裝置；HDD)。具體而言，磁盤裝置100具有磁盤111、主軸馬達(SPM)112、馬達驅動器121、磁頭122、致動器臂115、音圈馬達(VCM)116、頭放大器124、讀寫通道(RWC)125、硬盤控制器(HDC)131、緩沖存儲器129和控制部126。

磁盤111通過SPM 112，以旋轉軸為中心，以預定的轉速旋轉。SPM 112被馬達驅動器121旋轉驅動。

磁頭122與磁盤111相對，通過其所具有的寫入頭WH和讀取頭RH1、RH2，對磁盤111進行數(shù)據(jù)的寫入和/或讀取。兩個讀取頭RH1、RH2例如作為2維記錄(TDMR：Two Dimensional Magnetic Recording，二維磁記錄)技術中的主頭和從頭來使用。例如，主頭是用于讀出數(shù)據(jù)的讀取頭，使用讀取頭RH1、RH2中的一個。例如，從頭是用于讀出在使讀出數(shù)據(jù)時的磁道間干涉(ITI：Inter Track Interference)降低時使用的信號的讀取頭，使用讀取頭RH1、RH2中的另一個。磁頭122通過位于致動器臂115的前端且由馬達驅動器121驅動的VCM 116，沿著磁盤111的半徑方向(交叉磁道方向)移動。

頭放大器124將磁頭122從磁盤111讀取的信號放大后輸出，提供給RWC 125。另外，頭放大器124向磁頭122提供寫入電流，該寫入電流是基于從RWC 125提供的、用于向磁盤111寫入數(shù)據(jù)的信號的。

HDC 131進行經由I/F總線與主機140之間進行的數(shù)據(jù)收發(fā)的控制、緩沖存儲器129的控制以及針對向磁盤111寫入的寫入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)糾錯處理等。緩沖存儲器129作為在與主機140之間收發(fā)的數(shù)據(jù)的高速緩存來使用。另外，緩沖存儲器129被用于暫時存儲從磁盤111讀取的數(shù)據(jù)、向磁盤111寫入的數(shù)據(jù)、或從磁盤111讀取的控制用固件等。緩沖存儲器129例如是DRAM、SDRAM。

RWC 125對從HDC 131提供的、用于向磁盤111寫入的數(shù)據(jù)進行編碼調制，并提供給頭放大器124。另外，RWC 125對從磁盤111讀取并經由頭放大器124提供的信號進行編碼解調，作為數(shù)字數(shù)據(jù)輸出給HDC 131。

控制部126與工作用存儲器127(例如SRAM：Static Random Access Memory：靜態(tài)隨機存取存儲器)、非易失性存儲器128(例如Flash ROM：Flash Read Only Memory：快閃只讀存儲器)和暫時存儲用的緩沖存儲器129連接?？刂撇?26按照非易失性存儲器128或磁盤111中存儲的固件，進行該磁盤裝置100的整體控制。固件包含磁盤裝置100起動時最初執(zhí)行的初始固件和磁盤裝置100的通常工作中使用的控制用固件。初始固件例如可以存儲在非易失性存儲器128中，控制用固件可以記錄在磁盤111中?？刂朴霉碳ㄟ^按照初始固件的控制，一旦從磁盤111讀出到緩沖存儲器129，然后就保存到工作用存儲器127中。

此外，也可以將包含RWC 125、控制部126和HDC 131的硬件結構視作控制器130。

在磁盤裝置100中，針對同心圓狀地設置于磁盤111上的多個磁道，從內側到外側或從外側到內側依次分配有磁道編號。在磁盤裝置100中，可將使用了磁道編號的各種管理信息記錄在磁盤111中的管理信息記錄區(qū)域中。此外，在本說明書中，在設任意自然數(shù)為x時，將磁道編號為第x的磁道表示為Trk_x。另外，以下例示了從磁盤111的外側到內側依次分 配有磁道編號的情況。

對于磁盤裝置100，存在為了使磁盤111保存的數(shù)據(jù)高密度化而使磁盤111的磁道間距變窄的趨勢。磁道間距越窄，在向磁道寫入了數(shù)據(jù)時對附近磁道(例如相鄰磁道)產生的側擦除的影響越容易變明顯。尤其是，磁道間距存在異常的部位(磁道寬度窄的磁道)容易受到側擦除的影響。在產生側擦除時，從其附近磁道讀取數(shù)據(jù)的讀取動作的結果是，發(fā)生讀取錯誤的可能性變高。因此，期望對磁道間距的異常(伺服磁道寬度或數(shù)據(jù)磁道寬度比附近的磁道窄的磁道)進行管理。

磁道間距取決于在磁盤裝置100的制造工序中記錄到磁盤111的伺服信息的間距。例如，STW(Servo Track Write：伺服磁道寫入)設為想要通過一定的進給間距向磁盤111寫入伺服信息。由此，規(guī)定了從磁盤111的中心附近沿放射方向延伸的多個伺服區(qū)域SV。伺服區(qū)域SV可沿圓周方向等間隔地配置。伺服區(qū)域SV記錄有包含伺服模式的伺服信息。

例如，伺服模式包含伺服標記、格雷碼、突發(fā)(burst，脈沖串)部。伺服標記表示伺服模式的起始，是作為伺服模式的讀出基準的基準標記。在格雷碼中，以數(shù)字數(shù)據(jù)記錄各個磁道的磁道編號。在磁盤裝置100中，通過對格雷碼所記錄的磁道編號進行解調，能夠檢測讀取頭RH1、RH2位于哪個磁道編號的磁道。突發(fā)部是記錄用于檢測在各磁道中從半徑方向的目標位置(例如磁道中心)起的偏移位置(方向或量)的位置信息的記錄區(qū)域。在磁盤裝置100中，能夠取得讀取了突發(fā)部所記錄的位置信息的信號的振幅或相位，對從檢測出的磁道編號的目標位置起的讀取頭RH1、RH2的位置(偏移位置)的信息進行解調。即，通過向磁盤111寫入伺服信息，在磁盤111上同心圓狀地規(guī)定了多個磁道。

在STW向磁盤111寫入伺服信息時，由于VCM 116的不穩(wěn)定的旋轉、STW的針(pin)相對于磁盤111的抵接情況(使磁頭122的位置發(fā)生位移的針與磁頭122抵接的角度等)、周邊環(huán)境(振動和/或沖擊)等誤差因素，有時會產生伺服信息的磁道間距不均勻。在誤差因素較大時，有可能產生無法忽略的程度的磁道間距的異常(伺服磁道間距異常)。

為了檢測磁道間距的異常，考慮進行如下試驗(第1試驗)的方法：在以容易產生側擦除的條件向磁道寫入了數(shù)據(jù)之后讀取數(shù)據(jù)。具體而言，在向偶數(shù)磁道寫入了數(shù)據(jù)之后，向奇數(shù)磁道寫入數(shù)據(jù)。進而，從偶數(shù)磁道讀取數(shù)據(jù)，檢查是否適當?shù)刈x取出了數(shù)據(jù)。由此，在磁道間距比附近的磁道窄的磁道(偶數(shù)磁道內的一部分磁道)中，因為會從兩側的磁道受到側擦除的影響，所以容易產生讀取錯誤。

另外，相反地，在向奇數(shù)磁道寫入了數(shù)據(jù)之后，向偶數(shù)磁道寫入數(shù)據(jù)。進而，從奇數(shù)磁道讀取數(shù)據(jù)，檢查是否適當?shù)刈x取出了數(shù)據(jù)。由此，在磁道間距比附近的磁道窄的磁道(奇數(shù)磁道內的一部分磁道)中，因為會從兩側的磁道受到側擦除的影響，所以容易產生讀取錯誤。

并且，通過進行將產生了讀取錯誤的磁道登記為不使用磁道的磁道滑動處理，能夠將磁盤裝置100實際工作時的磁道間距異常引起的讀取錯誤的產生防患于未然。

但是，在采用該方法的情況下，根據(jù)向磁道寫入數(shù)據(jù)時的磁道偏離(off track)的方向，有可能會產生誤檢測或未檢測(漏檢)。具體而言，例如在向奇數(shù)磁道寫入數(shù)據(jù)時，在朝遠離相鄰的一個偶數(shù)磁道的方向發(fā)生磁道偏離而晃動寫入的情況下，該相鄰的一個偶數(shù)磁道的數(shù)據(jù)的消除剩余寬度變大，有時會未產生讀取錯誤而讀出。即，由于磁頭122的晃動，磁道間距的異常的檢測精度有可能會下降。

另外，為了檢測磁道間距的異常，需要對各磁道進行偶數(shù)(或奇數(shù))磁道的數(shù)據(jù)的寫入、奇數(shù)(或偶數(shù))磁道的數(shù)據(jù)的寫入、偶數(shù)(或奇數(shù))磁道的數(shù)據(jù)的讀取這3個階段的工作。由此，存在磁道間距的異常(伺服磁道間距異常)的檢測所需的時間長時間化的趨勢。

因此，在本實施方式中，在磁盤裝置100中，基于由多個讀取頭RH1、RH2讀出、與對應于多個磁道的伺服信號相應的多個位置信息來判定磁道間距，由此實現(xiàn)磁道間距的異常的檢測精度提高和檢測時間縮短。

具體而言，利用如下情況：在使磁頭122在軌(on track)時，TDMR技術中的作為主頭和從頭使用的兩個讀取頭RH1、RH2的位置沿交叉磁道 方向錯開。即，控制器130基于兩個磁道間的距離(磁道間距)相對于讀取頭RH1和讀取頭RH2在交叉磁道方向上的距離的差量，判定磁道間距有無異常(參照圖3)。差量可定義為從讀取頭RH1和讀取頭RH2在交叉磁道方向上的距離減去兩個磁道間的磁道間距而得到的量。

此時，為了準確地掌握磁道間距的異常，需要預先準確地求出頭間距離，該頭間距離是讀取頭RH1和讀取頭RH2在交叉磁道方向上的相對距離。在磁盤111中，隨著磁道位于內側或外側，致動器臂115的臂角度變化，因此，磁頭122的斜角發(fā)生變化。讀取頭RH1和讀取頭RH2相對于磁盤111的位置關系也隨之變化，因此，頭間距離例如在1個磁道的量的附近發(fā)生變化。因此，在磁盤裝置100的制造工序中，進行計算各個磁道的頭間距離的校準處理。例如，在近鄰的磁道中，頭間距離大致相同的可能性高，因此，按預定的分區(qū)(zone)等測定出代表磁道的頭間距離，控制器130得到圖2的21所示那樣的基準頭間距離。圖2是示出頭間距離管理信息123的圖。

例如，在使磁頭122在磁道Trk_0(磁道編號＝0)在軌時，當將由讀取頭RH1和讀取頭RH2從伺服區(qū)域SV讀出并解調出的位置(位置信息)分別設為Pos[RH1，Trk_0]、Pos[RH2，Trk_0]時，針對包含磁道Trk_0作為代表磁道的分區(qū)0的基準頭間距離[zone0]，下式1成立。

基準頭間距離[zone0]＝Pos[RH1，Trk_0]-Pos[RH2，Trk_0]…式1

同樣，針對其它分區(qū)，也得到基準頭間距離。例如，針對包含磁道Trk_k(k為2以上的整數(shù))作為代表磁道的分區(qū)1的基準頭間距離[zone1]，下式2成立。

基準頭間距離[zone1]＝Pos[RH1，Trk_k]-Pos[RH2，Trk_k]…式2

此外，為了提高基準頭間距離的測定精度，也可以測定代表磁道前后的磁道的頭間距離，對它們進行平均化，由此求出基準頭間距離。即，在設p為小于k的整數(shù)時，針對包含磁道Trk_k作為代表磁道的分區(qū)1的基準頭間距離[zone1]，下式3成立。

基準頭間距離[zone1]＝{(Pos[RH1，Trk_(k-p)]-Pos[RH2，Trk_ (k-p)])+(Pos[RH1，Trk_(k-p+1)]-Pos[RH2，Trk_(k-p+1)])+……+(Pos[RH1，Trk_(k-1)]-Pos[RH2，Trk_(k-1)])+(Pos[RH1，Trk_k]-Pos[RH2，Trk_k])+(Pos[RH1，Trk_(k+1)]-Pos[RH2，Trk_(k+1)])+……+(Pos[RH1，Trk_(k+p-1)]-Pos[RH2，Trk_(k+p-1)])+(Pos[RH1，Trk_(k+p)]-Pos[RH2，Trk_(k+p)])}/(2×p)

…式3

并且，控制器130通過近似曲線(或近似直線)對測定出的代表磁道的頭間距離進行插值，由此，如圖2的22所示那樣，能夠計算出各個磁道的頭間距離。計算出的頭間距離例如是表示讀取頭RH1和讀取頭RH2在交叉磁道方向上的距離為幾個磁道量的量。頭間距離例如可作為1個磁道的量(相當于適當?shù)?個磁道寬度)附近的值來計算。計算出的各個磁道的頭間距離的信息作為圖2的22所示的頭間距離管理信息123來存儲。頭間距離管理信息123在磁盤裝置100出廠之前被保存到磁盤111的管理信息保存區(qū)域中?？刂破?30根據(jù)需要，能夠從磁盤111的管理信息保存區(qū)域讀出頭間距離管理信息123，掌握在制造工序內設定的頭間距離。

例如，如圖3所示，根據(jù)磁道間距相對于頭間距離的差量，檢測磁道間距的異常。圖3是示出磁道間距相對于頭間距離的差量的求出方法的圖。

圖3的31示出了磁道Trk_n、Trk_(n+1)的磁道寬度適當、磁道Trk_n、Trk_(n+1)間的磁道間距TP0適當?shù)那闆r。此時，控制器130使讀取頭RH1在磁道Trk_n在軌，對由讀取頭RH1從磁道Trk_n的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號(與磁道Trk_n對應的伺服信號)進行解調，得到讀取頭RH1的位置信息PosA＝OF1(≒0)。OF1例如是表示讀取頭RH1距磁道Trk_n的半徑方向的中心的偏移位置的信息。同樣，控制器130對由讀取頭RH2從磁道Trk_(n+1)的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號(與磁道Trk_(n+1)對應的伺服信號)進行解調，得到讀取頭RH2的位置信息PosB＝OF2(≒0)。OF2例如是表示讀取頭RH2距磁道Trk_(n+1)的半徑方向的中心的偏移位置的信息。

對于各偏移位置的信息OF1、OF2，由其絕對值表示從磁道的半徑方 向的中心(以下，簡稱為磁道的中心)偏移幾個磁道量的量，由其符號表示從磁道的中心偏移的方向。例如，能夠以正表示從磁道的中心向外側偏移的情況，以負表示從磁道的中心向內側偏移的情況。

此時，在設磁道Trk_n和磁道Trk_(n+1)的頭間距離為D1(＝1個磁道的量)時，控制器130能夠通過下式4求出磁道間距TP0相對于頭間距離D1的差量ΔTP10(＝D1-TP0)。

ΔTP10＝OF1-OF2≒0…式4

圖3的32示出了如下情況：磁道Trk_n的磁道寬度適當，與此相對，磁道Trk_(n+1)的磁道寬度非常狹窄，磁道Trk_n、Trk_(n+1)間的磁道間距TP1異常。此時，控制器130使讀取頭RH1在磁道Trk_n在軌，對由讀取頭RH1從磁道Trk_n的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號進行解調，得到讀取頭RH1的位置信息PosA＝OF3(≒0)。OF3例如是表示讀取頭RH1距磁道Trk_n的中心的偏移位置的信息。同樣，控制器130對由讀取頭RH2從磁道Trk_(n+1)的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號進行解調，得到讀取頭RH2的位置信息PosB＝OF4(＜0)。OF4例如是表示讀取頭RH2距磁道Trk_(n+1)的中心的偏移位置的信息。

對于各偏移位置的信息OF3、OF4，由其絕對值表示從磁道的中心偏移幾個磁道量的量，由其符號表示從磁道的中心偏移的方向。例如，能夠以正表示從磁道的中心向外側偏移的情況，以負表示從磁道的中心向內側偏移的情況。

此時，在設磁道Trk_n和磁道Trk_(n+1)的頭間距離為D1(＝1個磁道的量)時，控制器130能夠通過下式5求出磁道間距TP1相對于頭間距離D1的差量ΔTP11(＝D1-TP1)。

ΔTP11＝OF3-OF4＞0…式5

此外，在即使想要使讀取頭RH1在磁道Trk_n在軌但磁頭122卻因風和/或振動等外部干擾而晃動時，如圖3的33所示，有時讀取頭RH1的位置會從磁道Trk_n的中心偏離。例如，圖3的33示出了如下情況：磁道Trk_n的磁道寬度適當，與此相對，磁道Trk_(n+1)的磁道寬度非常 狹窄，磁道Trk_n、Trk_(n+1)間的磁道間距TP1異常，磁頭122有晃動。

此時，控制器130對由讀取頭RH1從磁道Trk_n的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號進行解調，得到讀取頭RH1的位置信息PosA＝OF5(＞0)。OF5例如是表示讀取頭RH1距磁道Trk_n的中心的偏移位置的信息。同樣，控制器130對由讀取頭RH2從磁道Trk_(n+1)的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號進行解調，得到讀取頭RH2的位置信息PosB＝OF6(＜0)。OF6例如是表示讀取頭RH2距磁道Trk_(n+1)的中心的偏移位置的信息。

對于各偏移位置的信息OF5、OF6，由其絕對值表示從磁道的中心偏移幾個磁道量的量，由其符號表示從磁道的中心偏移的方向。例如，能夠以正表示從磁道的中心向外側偏移的情況，以負表示從磁道的中心向內側偏移的情況。

此時，在設磁道Trk_n和磁道Trk_(n+1)的頭間距離為D1(＝1個磁道的量)時，控制器130能夠通過下式6求出磁道間距TP1相對于頭間距離D1的差量ΔTP11’(＝D1-TP1)。

ΔTP11’＝OF5-OF6＞0…式6

若對圖3的32、33進行比較，則可知下式7成立。

ΔTP11≒ΔTP11’…式7

如式4～式6所示，可知，磁道間距相對于頭間距離的差量是磁道間距的不均勻越大則從零起越大的參數(shù)，是對于檢測磁道間距不均勻的異常而言有用的參數(shù)。另外，如式5～式7所示，可知，磁道間距相對于頭間距離的差量不容易受到磁頭122因外部干擾引起的晃動的影響。

因此，控制器130基于磁道間距相對于頭間距離的差量，判定磁道間距的異常。例如，控制器130將磁頭122中的讀取頭RH1作為基準頭，將讀取頭RH2作為檢查頭?？刂破?30將讀取頭RH1側的磁道作為基準磁道，將讀取頭RH2側的磁道作為檢查磁道，對檢查磁道判定磁道間距的異常。

例如，在圖3的31～33所示的例子中，基準側的磁道Trk_n的磁道寬度都是適當?shù)摹Ｈ绻麢z查側的磁道Trk_(n+1)的磁道寬度適當且磁道間距適當(即，圖3的31的例子)，則磁道間距相對于頭間距離的差量大致為零。在檢查側的磁道Trk_(n+1)的磁道寬度異常而產生磁道間距異常時，磁道間距相對于頭間距離的差量變大。即，針對差量的值，可以在磁道間距適當?shù)那闆r與磁道間距異常的情況之間設置作為判定磁道間距是否異常的基準的判定值(第1閾值)。

控制器130將磁道間距相對于頭間距離的差量與判定值(第1閾值)進行比較，在磁道間距相對于頭間距離的差量超過判定值的情況下，對磁道Trk_(n+1)判定為磁道間距異常。另外，控制器130在磁道間距相對于頭間距離的差量為判定值以下的情況下，對磁道Trk_(n+1)判定為磁道間距正常。

此外，該判定方法以基準側的磁道的磁道寬度適當為前提，因此，即使在基準側的磁道的磁道寬度非常狹窄的情況下，在形式上也視為磁道寬度適當。例如，在圖6B的72所示的情況下，基準側的磁道Trk_(n+8)的磁道寬度非常狹窄，因此，盡管檢查側的磁道Trk_(n+9)的磁道寬度適當，但卻判定為磁道間距異常。在該情況下，也將磁道Trk_(n+9)登記為不使用磁道，由此，針對磁道Trk_(n+8)，能夠防止來自磁道Trk_(n+9)的側擦除，因此在形式上視為基準側的磁道的磁道寬度適當并沒有問題。

判定值(第1閾值)是能夠根據(jù)磁道間距的管理策略而任意設定的正值。控制器130能夠從磁盤111的管理信息保存區(qū)域讀出頭間距離管理信息123(參照圖2)，基于讀出的頭間距離管理信息123，確定檢查磁道的頭間距離，例如將確定出的頭間距離的約10％的值設為第1閾值。

磁盤裝置100進行圖4和圖5所示的工作，對磁盤111上的多個磁道進行磁道間距的異常的檢查。圖4是示出磁盤裝置100的工作的一例的流程圖。圖5是示出針對磁道間距的異常的判定處理的一例的流程的圖。

控制器130按照預定的規(guī)則，選擇磁盤111上的多個磁道中的基準磁 道和檢查磁道的組(S1)。預定的規(guī)則例如可以為規(guī)則：沿第1方向，以每次錯開2個磁道的方式，依次選擇在磁盤111上相鄰的2個磁道。第1方向可以設為從讀取頭RH1(基準頭)朝向讀取頭RH2(檢查頭)的方向(在圖3的情況下，從磁盤111的外側朝向內側的方向)。在設n為任意正整數(shù)時，控制器130能夠如圖6A的61所示那樣選擇磁道Trk_n、Trk_(n+1)作為基準磁道和檢查磁道的組?；蛘?，在磁道Trk_(n+1)的檢查已結束的情況下，控制器130能夠如圖6A的62所示那樣選擇磁道Trk_(n+2)、Trk_(n+3)作為基準磁道和檢查磁道的組?；蛘撸诖诺繲rk_(n+5)的檢查已結束的情況下，控制器130能夠如圖6B的71所示那樣選擇磁道Trk_(n+6)、Trk_(n+7)作為基準磁道和檢查磁道的組。或者，在磁道Trk_(n+7)的檢查已結束的情況下，控制器130能夠如圖6B的72所示那樣選擇磁道Trk_(n+8)、Trk_(n+9)作為基準磁道和檢查磁道的組。此外，圖6A、圖6B是用于說明判定處理的圖。

控制器130使讀取頭RH1在基準磁道在軌，取得由讀取頭RH1、RH2從與基準磁道和檢查磁道對應的各伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號。例如，在圖6A的61的情況下，控制器130使讀取頭RH1在磁道Trk_n在軌，取得分別由讀取頭RH1、RH2從磁道Trk_n、Trk_(n+1)的各伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號。在圖6A的62的情況下，控制器130使讀取頭RH1在磁道Trk_(n+2)在軌，取得分別由讀取頭RH1、RH2從磁道Trk_(n+2)、Trk_(n+3)的各伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號。在圖6B的71的情況下，控制器130使讀取頭RH1在磁道Trk_(n+6)在軌，取得分別由讀取頭RH1、RH2從磁道Trk_(n+6)、Trk_(n+7)的各伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號。在圖6B的72的情況下，控制器130使讀取頭RH1在磁道Trk_(n+8)在軌，取得分別由讀取頭RH1、RH2從磁道Trk_(n+8)、Trk_(n+9)的各伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號。

控制器130(RWC 125)具有同時并行地處理多個讀取頭RH1、RH2的伺服信號的電路?？刂破?30分別對讀取頭RH1、RH2的伺服信號進行解調，按1個磁道的量取得讀取頭RH1、RH2的位置信息PosA、PosB(S2)。

在各磁道中，在1個磁道內反復配置伺服區(qū)域SV和伺服幀(Servo frame)。伺服幀是在磁道內被沿周向相鄰的兩個伺服區(qū)域SV夾著的區(qū)域。對各伺服幀分配有伺服幀編號。在設任意自然數(shù)為x時，由SF_x表示第x個伺服幀。另外，針對伺服幀SF_x，將讀取頭RH1、RH2的位置信息表示為PosA(x)、PosB(x)。例如，在1個磁道內存在K個伺服幀的情況下，控制器130取得讀取頭RH1、RH2的位置信息PosA(1)、PosB(1)、PosA(2)、PosB(2)、……、PosA(K)、PosB(K)。

控制器130基于讀取頭RH1、RH2的位置信息PosA(x)、PosB(x)，針對有無磁道間距異常，進行對檢查磁道合格與否進行檢查的判定處理(S3)?？刂破?30對檢查磁道的各伺服幀SF_1、SF_2、……、SF_K判定有無磁道間距異常。

控制器130在判定處理(S3)結束時，判斷是否應該對其它磁道進行檢查(S4)。控制器130在應該對其它磁道進行檢查的情況下(S4：是)，使處理返回到S1，在不存在應該進行檢查的磁道的情況下(S4：否)，結束檢查。

在圖4所示的判定處理(S3)中，進行圖5所示的處理。控制器130選擇判定對象的伺服幀SF_x(S11)。例如，控制器130選擇伺服幀SF_1～SF_K中的未選擇的伺服幀SF_x。控制器130針對判定對象的伺服幀SF_x，計算讀取頭RH1的位置信息PosA(x)與讀取頭RH2的位置信息PosB(x)之間的差量PosDif(x)＝PosA(x)-PosB(x)(S12)。

控制器130將差量PosDif(x)與判定值(第1閾值)進行比較?？刂破?30在差量PosDif(x)超過判定值的情況下，判定為磁道間距異常，在差量PosDif(x)為判定值以下的情況下，判定為磁道間距正常?？刂破?30將判定結果與伺服幀SF_x的標識符(編號)關聯(lián)起來存儲(S13)。

例如，在圖6A的61、圖6B的72和圖6C的81所示的例子中，控制器130在對伺服幀SF_p的差量PosDif(p)與判定值進行比較的情況下，差量PosDif(p)超過判定值，因此，判定為磁道間距異常(NG)?？刂破?30將判定結果“NG”與伺服幀SF_p的標識符(p)關聯(lián)起來保持。 此處，圖6C是用于說明判定處理的圖。

例如，在圖6A的62、圖6B的71和圖6C的82所示的例子中，控制器130在對伺服幀SF_p的差量PosDif(p)與判定值進行比較的情況下，差量PosDif(p)為判定值以下，因此，判定為磁道間距正常(OK)?？刂破?30將判定結果“OK”與伺服幀SF_p的標識符(p)關聯(lián)起來保持。

此外，判定值(第1閾值)是能夠根據(jù)磁道間距的管理策略而任意設定的正值。控制器130能夠從磁盤111的管理信息保存區(qū)域讀出頭間距離管理信息123(參照圖2)，基于頭間距離管理信息123，確定檢查磁道的頭間距離，例如將確定出的頭間距離的約10％的值設為第1閾值。

控制器130判斷是否應對其它伺服幀進行處理(S14)?？刂破?30在伺服幀SF_1～SF_K中存在未選擇的伺服幀SF_x的情況下(S14：是)，使處理返回到S11。

控制器130在不存在未選擇的伺服幀SF_x的情況下(S14：否)，對伺服幀SF_1～SF_K中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)與閾值個數(shù)(第2閾值)y1進行比較。即，控制器130判斷判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)是否超過閾值個數(shù)y1(S15)。

閾值個數(shù)y1對應于磁道內能夠允許的異常部位的個數(shù)的上限值。閾值個數(shù)y1可以作為控制器130避開1個磁道內的異常部位而找出正常部位所需的時間超過請求時間這樣的異常部位的個數(shù)而通過實驗方式來決定。

控制器130在判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1的情況下(S15：是)，判斷為在檢查磁道內磁道間距異常部位有很多，進行將檢查磁道作為不使用磁道而登記到異常磁道管理信息中的磁道滑動處理(S16)，結束處理。此處，異常磁道管理信息包含磁道的標識符(磁道編號)。異常磁道管理信息保存在磁盤111的管理信息保存區(qū)域中。登記為不使用磁道的磁道，之后基于異常磁道管理信息以不使磁頭122進行存取的方式控制。

例如，在圖6A的61所示的情況下，如果磁道Trk_(n+1)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則控制器130將磁 道Trk_(n+1)登記為不使用磁道。由此，在磁盤裝置100實際工作時，能夠跳過對磁道Trk_(n+1)的存取，能夠避免因對磁道Trk_(n+1)的存取而導致的數(shù)據(jù)傳送速度的延遲。

例如，在圖6B的72所示的情況下，如果磁道Trk_(n+9)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則控制器130將磁道Trk_(n+9)登記為不使用磁道。雖然磁道寬度變窄的是磁道Trk_(n+8)、且磁道Trk_(n+9)的磁道寬度適當，但是通過將磁道Trk_(n+9)登記為不使用磁道，對于磁道Trk_(n+8)，能夠防止來自磁道Trk_(n+9)的側擦除。另外，在磁盤裝置100實際工作時，能夠跳過對磁道Trk_(n+9)的存取，能夠避免因對磁道Trk_(n+9)的存取而導致的數(shù)據(jù)傳送速度的延遲。

控制器130在判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)為閾值個數(shù)y1以下的情況下(S15：否)，將判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)與閾值個數(shù)(第3閾值)y2進行比較。即，控制器130判斷判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)是否超過閾值個數(shù)y2(S17)。此處，閾值個數(shù)y2小于閾值個數(shù)y1。

此處，即使判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)在允許范圍內，當在磁盤裝置100實際工作時對磁道內的異常部位進行存取時，也可能會產生讀取錯誤。另一方面，在將異常部位登記到異常部位管理信息的情況下，異常部位管理信息被保存在磁盤111的管理信息保存區(qū)域中。由于管理信息保存區(qū)域的資源受到限制，所以要求將異常部位向異常部位管理信息的登記(缺陷登記)抑制在必要最低限度。因此，可以將與讀取錯誤的產生頻度的允許上限值對應的個數(shù)設為應該向異常部位管理信息登記異常部位的個數(shù)的下限值、即閾值個數(shù)y2。

控制器130在判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)超過閾值個數(shù)y2的情況下(S17：是)，判斷為應該防止讀取錯誤的產生，將判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的標識符(編號)登記到異常部位管理信息(缺陷登記)(S18)，結束處理。異常部位管理信息包含使磁道的標識符(磁道編號)與異常部位的標識符(伺服幀編號)相關聯(lián)的信息。異常部位管理信息保 存在磁盤111或非易失性存儲器128的管理信息保存區(qū)域中。關于作為異常部位登記的伺服幀，之后通過控制器130基于異常部位管理信息以在該磁道的存取時不使磁頭122進行存取的方式控制。

控制器130在判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)為閾值個數(shù)y2以下的情況下(S17：否)，判斷為不需要進行缺陷登記，結束判定處理。

此外，磁盤裝置100能夠與寫入或讀取處理并行地，在后臺實施圖4和圖5所示的工作。例如，由于能夠與對基準磁道寫入/讀取數(shù)據(jù)并行地對檢查磁道進行磁道間距檢測和登記，因此，能夠高效地實施磁道間距異常檢測的試驗。

如上所述，在實施方式中，控制器130基于與由多個讀取頭RH1、RH2從多個磁道的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號相應的位置信息來判定磁道間距。例如，控制器130基于讀取頭RH1的位置信息和讀取頭RH2的位置信息來求出基準磁道和檢查磁道的磁道間距相對于讀取頭RH1和讀取頭RH2在交叉磁道方向上的距離的差量，在差量超過判定值的情況下，判定為磁道間距異常。由此，例如在使讀取頭RH1在基準磁道在軌時，在磁頭122沒有晃動的情況下(例如圖3的32的情況下)以及在磁頭122因外部干擾而晃動的情況下(例如圖3的33的情況下)，能夠得到同樣的判定結果。即，能夠降低磁道間距的異常檢測中的磁頭122因外部干擾引起的晃動的影響，能夠提高磁道間距的異常(伺服磁道間距異常)的檢測精度。

另外，在實施方式中，控制器130不需要向檢查磁道寫入數(shù)據(jù)，基于與由多個讀取頭RH1、RH2從多個磁道的伺服區(qū)域SV讀出的伺服信號相應的位置信息來判定磁道間距。由此，如果進行讀取頭RH1、RH2對伺服信號的讀取這樣的1個階段的工作就能夠檢測磁道間距的異常，因此，能夠容易地縮短磁道間距的異常(伺服磁道間距異常)的檢測所需的時間。

另外，在實施方式中，控制器130對檢查磁道中的多個部位判定磁道間距，在多個部位中的判定為磁道間距異常的部位的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1的情況下，將檢查磁道作為不使用磁道登記到異常磁道管理信息中。由此，在磁盤裝置100實際工作時，能夠跳過對該磁道的存取，能夠避免因對該 磁道的存取而導致的數(shù)據(jù)傳送速度的延遲。

另外，在實施方式中，控制器130在檢查磁道中的判定為異常的部位的個數(shù)為閾值個數(shù)y1以下且超過閾值個數(shù)y2的情況下，將判定為異常的部位(伺服幀)作為異常部位登記到異常部位管理信息中。由此，能夠將磁盤裝置100實際工作時的該磁道的磁道間距異常引起的讀取錯誤的產生防患于未然。

此外，本實施方式的思路在在軌時的基準頭(讀取頭RH1)與檢查頭(讀取頭RH2)在交叉磁道方向上的偏離量大于1個磁道的量的情況下也能夠同樣地應用。

或者，圖4的S1中使用的預定的規(guī)則可以為如下規(guī)則：沿第2方向，以每次錯開2個磁道的方式，依次選擇在磁盤111上相鄰的2個磁道。第2方向可以設為從讀取頭RH2(檢查頭)朝向讀取頭RH1(基準頭)的方向(在圖3的情況下，從磁盤111的內側朝向外側的方向)。例如，針對圖6A和圖6B所示的磁道，能夠按照Trk_(n+10)、Trk_(n+11)→Trk_(n+8)、Trk_(n+9)→Trk_(n+6)、Trk_(n+7)→Trk_(n+4)、Trk_(n+5)→Trk_(n+2)、Trk_(n+3)→Trk_n、Trk_(n+1)的順序，在圖4的S1中選擇磁道。

或者，在磁盤裝置100中，也可以將讀取頭RH1作為檢查頭，將讀取頭RH2作為基準頭，并且，將讀取頭RH1側的磁道作為檢查磁道，將讀取頭RH2側的磁道作為基準磁道。在該情況下，可登記為不使用磁道的磁道不是讀取頭RH2側的磁道，而成為讀取頭RH1側的磁道。

例如，在圖6A的61所示的情況下，如果磁道Trk_n中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則控制器130將磁道Trk_n登記為不使用磁道。雖然磁道寬度變窄的是磁道Trk_(n+1、)且磁道Trk_n的磁道寬度適當，但通過將磁道Trk_n登記為不使用磁道，對于磁道Trk_(n+1)，能夠防止來自磁道Trk_n的側擦除。另外，在磁盤裝置100實際工作時，能夠跳過對磁道Trk_n的存取，能夠避免因對磁道Trk_n的存取而導致的數(shù)據(jù)傳送速度的延遲。

例如，在圖6B的72所示的情況下，如果磁道Trk_(n+8)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則控制器130將磁道Trk_(n+8)登記為不使用磁道。由此，在磁盤裝置100實際工作時，能夠跳過對磁道Trk_(n+8)的存取，能夠避免因對磁道Trk_(n+8)的存取而導致的數(shù)據(jù)傳送速度的延遲。

或者，磁道間距異常的判定方法也可以是將確認為磁道寬度適當?shù)拇诺涝O為基準側的磁道的方法。

在該情況下，可以將讀取頭RH1作為基準頭，將讀取頭RH2作為檢查頭，并且，將讀取頭RH1側的磁道作為基準磁道，將讀取頭RH2側的磁道作為檢查磁道。另外，圖4的S1中使用的預定的規(guī)則可以為如下規(guī)則：一邊沿第1方向每次錯開1個磁道并且不將檢測出磁道間距異常的磁道作為基準磁道而跳過，一邊依次選擇在磁盤111上相鄰的2個磁道。第1方向可以設為從讀取頭RH1(基準頭)朝向讀取頭RH2(檢查頭)的方向(在圖3的情況下，從磁盤111的外側朝向內側的方向)。例如，在通過以磁道Trk_n為基準磁道的磁道Trk_(n+1)的檢查而檢測出磁道間距異常的情況下，控制器130可以將使磁道Trk_n沿第1方向錯開1個磁道的磁道Trk_(n+1)跳過，將使磁道Trk_n沿第1方向進一步錯開1個磁道的磁道Trk_(n+2)作為基準磁道。即，控制器130如圖6A的62所示那樣，可以選擇磁道Trk_(n+2)、Trk_(n+3)作為基準磁道和檢查磁道的組?；蛘?，例如，在通過以磁道Trk_(n+2)為基準磁道的磁道Trk_(n+3)的檢查而未檢測出磁道間距異常的情況下，控制器130可以將使磁道Trk_(n+2)沿第1方向錯開1個磁道的磁道Trk_(n+3)作為基準磁道。即，雖然沒有圖示，但控制器130可以選擇磁道Trk_(n+3)、Trk_(n+4)作為基準磁道和檢查磁道的組。即，針對圖6A和圖6B所示的磁道，可按Trk_n、Trk_(n+1)→“Trk_(n+1)由于在剛剛之前的S13中檢測出磁道間距異常，因此不作為基準磁道而跳過”→Trk_(n+2)、Trk_(n+3)→Trk_(n+3)、Trk_(n+4)→Trk_(n+4)、Trk_(n+5)→Trk_(n+5)、Trk_(n+6)→Trk_(n+6)、Trk_(n+7)→Trk_(n+7)、Trk_(n+8) →“Trk_(n+8)由于在剛剛之前的S13中檢測出磁道間距異常，因此不作為基準磁道而跳過”→Trk_(n+9)、Trk_(n+10)→Trk_(n+10)、Trk_(n+11)的順序，在圖4的S1中選擇磁道。另外，如果S15中磁道Trk_(n+1)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則在S16中，控制器130將磁道Trk_(n+1)登記為不使用磁道。例如，如果S15中磁道Trk_(n+8)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則在S16中，控制器130將磁道Trk_(n+8)登記為不使用磁道。

或者，也可以將讀取頭RH1作為檢查頭，將讀取頭RH2作為基準頭，并且，將讀取頭RH1側的磁道作為檢查磁道，將讀取頭RH2側的磁道作為基準磁道。另外，圖4的S1中使用的預定的規(guī)則可以為如下規(guī)則：沿第2方向每次錯開1個磁道并且不將檢測出磁道間距異常的磁道作為基準磁道而跳過，依次選擇在磁盤111上相鄰的2個磁道。第2方向可以設為從讀取頭RH2(基準頭)朝向讀取頭RH1(檢查頭)的方向(在圖3的情況下，從磁盤111的內側朝向外側的方向)。例如，針對圖6A和圖6B所示的磁道，可按Trk_(n+10)、Trk_(n+11)→Trk_(n+9)、Trk_(n+10)→Trk_(n+8)、Trk_(n+9)→“Trk_(n+8)由于在剛剛之前的S13中檢測出磁道間距異常，因此不作為基準磁道而跳過”→Trk_(n+6)、Trk_(n+7)→Trk_(n+5)、Trk_(n+6)→Trk_(n+4)、Trk_(n+5)→Trk_(n+3)、Trk_(n+4)→Trk_(n+2)、Trk_(n+3)→Trk_(n+1)、Trk_(n+2)→“Trk_(n+1)由于在剛剛之前的S13中檢測出磁道間距異常，因此不作為基準磁道而跳過”→Trk_(n-1)、Trk_n的順序，在圖4的S1中選擇磁道。另外，如果S15中磁道Trk_(n+1)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則在S16中，控制器130將磁道Trk_(n+1)登記為不使用磁道。例如，如果S15中磁道Trk_(n+8)中的判定結果為“NG”的伺服幀SF_x的個數(shù)超過閾值個數(shù)y1，則在S16中，控制器130將磁道Trk_(n+8)登記為不使用磁道。

這樣，因為可將確認為磁道寬度適當?shù)拇诺雷鳛榛鶞蕚鹊拇诺?，所? 能夠進一步提高磁道間距的異常的檢測精度。

說明了本發(fā)明的幾個實施方式，但是這些實施方式是作為例子而舉出的，沒有限定發(fā)明范圍的意圖。這些新的實施方式能夠以其他的各種各樣的方式來實施，在不脫離發(fā)明要旨的范圍內能夠進行各種省略、替換、變更。這些實施方式及其變形包含于發(fā)明的范圍或要旨內，并且包含于權利要求所記載的發(fā)明及其等同的范圍內。