專利名稱：光盤裝置以及替換處理方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對于光盤記錄數(shù)據(jù)或者再生記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的記錄、再生用光盤裝置，或者對于光盤記錄數(shù)據(jù)的記錄專用光盤裝置，或者再生記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再生專用光盤裝置，或者在其光盤裝置中進(jìn)行對于缺陷區(qū)域的替換處理的替換處理方法。
當(dāng)前，用從搭載于光頭上的半導(dǎo)體激光振蕩器輸出的激光向具有記錄槽的光盤上記錄數(shù)據(jù)或者再生被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的光盤裝置已經(jīng)實(shí)用化。
在這樣的光盤裝置中，規(guī)定為以由多個(gè)扇區(qū)構(gòu)成的ECC塊為單位把數(shù)據(jù)記錄在光盤上。
在這種情況下，提出了這樣的處理方案，即，在制造時(shí)或者開始使用時(shí)等的初始化時(shí)，進(jìn)行能否在扇區(qū)單位上正確地記錄數(shù)據(jù)的確認(rèn)，根據(jù)該確認(rèn)，在存在發(fā)生了不良的扇區(qū)的情況下，把包含其扇區(qū)的ECC塊作為缺陷塊而定為不可使用。
因此，在記錄動畫和聲音等連續(xù)數(shù)據(jù)之際，若存在上述不可使用的ECC塊(缺陷塊)，則進(jìn)行跳過該ECC塊對下一個(gè)ECC塊記錄數(shù)據(jù)的滑移替換處理。即，在1個(gè)ECC塊期間中斷數(shù)據(jù)的記錄。
從而，在再生上述動畫和聲音等連續(xù)數(shù)據(jù)之際，存在著再生過程中對于例如已成為缺陷的1個(gè)ECC塊部分中斷再生這樣的缺點(diǎn)。
另外，還提出了這樣的處理方案，即，在上述初始時(shí)之后的記錄時(shí)，進(jìn)行能否在扇區(qū)單位中正確地記錄數(shù)據(jù)的確認(rèn)，根據(jù)該確認(rèn)，在存在發(fā)生了不良的扇區(qū)時(shí)，把其扇區(qū)定為不可使用，應(yīng)用替代用的其它區(qū)域的扇區(qū)記錄數(shù)據(jù)。
在這種情況下，在進(jìn)行1個(gè)ECC塊的再生之際，如果不同時(shí)再生記錄在其它區(qū)域的扇區(qū)中的數(shù)據(jù)，則不能夠進(jìn)行上述ECC塊的總體再生。即，原本可以連續(xù)地進(jìn)行1個(gè)ECC塊的各扇區(qū)的再生位置，在上述ECC塊的再生過程中再生替換用的扇區(qū)后再返回到原來的ECC塊繼續(xù)進(jìn)行再生。因此，存在再生速度降低的缺點(diǎn)。
本發(fā)明的目的在于提供能夠記錄數(shù)據(jù)的光盤裝置以及替換處理方法，使得在即使在制造時(shí)或者開始使用時(shí)等的初始化時(shí)進(jìn)行了缺陷替換處理的情況下，在再生動畫和聲音等連續(xù)數(shù)據(jù)之際也可以連續(xù)地再生。
本發(fā)明的目的在于提供能夠記錄數(shù)據(jù)的光盤裝置以及替換處理方法，使得在即使在初始時(shí)之后的記錄時(shí)進(jìn)行了缺陷替換處理的情況下，也能夠抑制再生速度的下降。
本發(fā)明的目的在于提供在即使在制造時(shí)或者開始使用時(shí)等的初始化時(shí)進(jìn)行了缺陷替換處理的情況下，在再生動畫和聲音等連續(xù)數(shù)據(jù)之際也可以連續(xù)地再生的光盤裝置以及替換處理方法。
本發(fā)明的目的在于提供在即使在初始時(shí)之后的記錄時(shí)進(jìn)行了缺陷替換處理的情況下，也能夠抑制再生速度下降的光盤裝置以及替換處理方法。
若采用本發(fā)明，則可提供光盤的替換處理方法，在定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽，由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且以由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄的數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域?yàn)閱挝贿M(jìn)行記錄的光盤中，其特征在于檢測上述光盤上存在缺陷的扇區(qū)；對于被順序地賦與了上述光盤上的物理地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)，在進(jìn)行對于塊區(qū)域單位的多個(gè)扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)的記錄之際，以扇區(qū)單位跳過上述被檢測出的存在缺陷的扇區(qū)，在后面的其它扇區(qū)記錄邏輯地址數(shù)據(jù)和規(guī)定的數(shù)據(jù)。
還有，若采用本發(fā)明，則可提供光盤裝置，在對于定義具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽、由預(yù)定的記錄槽長度組成的，而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且從由多個(gè)扇區(qū)中規(guī)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于規(guī)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)域在內(nèi)的塊區(qū)域單位進(jìn)行記錄的光盤進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的光盤裝置中，其特征在于包括檢測上述光盤上存在缺陷的扇區(qū)的檢測裝置；對于被順序地賦與了上述光盤上的物理地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)，在進(jìn)行對于塊區(qū)域單位的多個(gè)扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)的記錄之際，以扇區(qū)單位跳過由上述檢測裝置檢測出的存在缺陷的扇區(qū)，在后面的其它扇區(qū)記錄邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定數(shù)據(jù)的記錄裝置。
還有，若依采用本發(fā)明，則可提供光盤的替換處理方法，在定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽，由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且以由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄的數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域?yàn)閱挝贿M(jìn)行記錄的光盤中，其特征在于除去制造時(shí)或者使用開始時(shí)等初始化之外，連續(xù)地把數(shù)據(jù)記錄在上述光盤上多個(gè)連續(xù)的塊區(qū)域中，而且順序地把數(shù)據(jù)記錄在各塊區(qū)域內(nèi)的多個(gè)扇區(qū)中；再生記錄在上述各塊區(qū)域中的各扇區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)；通過對該再生后的數(shù)據(jù)和上述已記錄下的數(shù)據(jù)進(jìn)行的比較，判斷具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域；根據(jù)該判斷，把對于具有存在缺陷的扇區(qū)的1個(gè)塊區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)記錄到其它替換用的塊區(qū)域的各扇區(qū)中，同時(shí)，把要替換的塊區(qū)域的各扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)記錄到替換目的地塊區(qū)域的各扇區(qū)中。
進(jìn)而，若采用本發(fā)明，則可提供光盤裝置，在對于定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽，由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且以由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄的數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域?yàn)閱挝贿M(jìn)行記錄的光盤進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的光盤裝置中，其特征在于包括除去制造時(shí)或者開始使用時(shí)等初始化之外，連續(xù)地把數(shù)據(jù)記錄在上述光盤上多個(gè)連續(xù)的塊區(qū)域而且順序地把數(shù)據(jù)記錄在各塊區(qū)域的多個(gè)扇區(qū)中的第1記錄裝置；再生由該第1記錄裝置記錄在上述各塊區(qū)域的各扇區(qū)中的數(shù)據(jù)的再生裝置；通過由該再生裝置再生了的數(shù)據(jù)和由上述第1記錄裝置記錄了的數(shù)據(jù)的比較，判斷具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域的判斷裝置；根據(jù)該判斷，把對于具有存在缺陷的扇區(qū)的1個(gè)塊區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)記錄到其它替換用的塊區(qū)域的各扇區(qū)中，同時(shí)，把要替換的塊區(qū)域的各扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)記錄到替換目的地塊區(qū)域的各扇區(qū)的第2記錄裝置。
還有，若采用本發(fā)明，則可提供光盤的替換處理方法，在定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽，由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且以由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域?yàn)閱挝贿M(jìn)行記錄的光盤中，其特征在于在制造時(shí)或者開始使用時(shí)等的初始化時(shí)，檢測上述光盤上存在缺陷的扇區(qū)；對于被順序地賦與了上述光盤上的物理地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)，在進(jìn)行對于塊區(qū)域單位的多個(gè)扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)的記錄之際以扇區(qū)單位跳過上述被檢測出的存在缺陷的扇區(qū)，在后面的其它扇區(qū)記錄邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)；在上述初始時(shí)之外，連續(xù)地把數(shù)據(jù)記錄在上述光盤上多個(gè)連續(xù)的塊區(qū)域中，而且順序地把數(shù)據(jù)記錄在各塊區(qū)域內(nèi)的多個(gè)扇區(qū)中；再生記錄在上述各塊區(qū)域中的各扇區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)；
通過該再生后的數(shù)據(jù)和上述已記錄的數(shù)據(jù)的比較，判斷具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域；根據(jù)該判斷，把對于具有存在缺陷的扇區(qū)的1個(gè)塊區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)記錄到其它替換用的塊區(qū)域的各扇區(qū)中，同時(shí)，把被替換的塊區(qū)域的各扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)記錄到替換方的塊區(qū)域的各扇區(qū)中。
圖1的框圖示出了用于說明本發(fā)明的一實(shí)施例的光盤裝置的概略結(jié)構(gòu)。
圖2的平面圖示出了圖1的光盤的概略結(jié)構(gòu)。
圖3示出了圖1的光盤的概略結(jié)構(gòu)。
圖4用于說明圖1的光盤的各區(qū)域的轉(zhuǎn)速和1個(gè)記錄槽的扇區(qū)數(shù)。
圖5、圖6用于說明圖1的光盤的ECC塊的結(jié)構(gòu)。
圖7用于說明圖6的ECC各扇區(qū)的結(jié)構(gòu)。
圖8用于說明圖2的光盤的標(biāo)題部分的預(yù)格式化數(shù)據(jù)。
圖9示出了圖6的ECC的扇區(qū)格式。
圖10示出了在圖2的光盤的可重寫區(qū)內(nèi)所記錄的缺陷管理區(qū)的記錄例。
圖11用于說明檢測圖1的光盤有無盤盒以及盤盒開閉狀態(tài)的檢測器。
圖12是用于說明初始缺陷區(qū)作成處理的流程。
圖13、14示出用于說明扇區(qū)單位的滑移替換處理的、物理扇區(qū)號和物理扇區(qū)號的關(guān)系。
圖15用于說明在多個(gè)ECC中記錄了動畫等連續(xù)數(shù)據(jù)之際的扇區(qū)單位的滑移替換處理。
圖16用于說明ECC單位的線性替換處理。
圖17用于說明對于ECC塊單位的線性替換的、ECC塊的再生順序。
圖18示出了進(jìn)行了ECC塊單位的線性替換處理之際的、替換用的ECC塊中的物理扇區(qū)號和物理扇區(qū)號的關(guān)系。
圖19、圖20是用于說明在對預(yù)定的ECC塊進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄時(shí)的處理流程。
下面，參照


本發(fā)明的一實(shí)施例。
圖1示出了一個(gè)光盤裝置。該光盤裝置對于作為記錄媒體的光盤(DVD-RAM)1使用聚焦光進(jìn)行數(shù)據(jù)(信息)的記錄或者被記錄數(shù)據(jù)的再生。
上述光盤1被構(gòu)成為例如在用玻璃或塑料等形成圓形的基板表面上環(huán)形地涂敷碲或鉍等金屬被膜層，是使用同心圓狀或螺旋狀的紋和紋間表面兩方進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄或被記錄數(shù)據(jù)的再生，依據(jù)在校對環(huán)規(guī)工序中記錄的標(biāo)記，每隔預(yù)定間隔以記錄著地址數(shù)據(jù)的相變化形進(jìn)行改寫的盤。
上述光盤1如圖2、圖3所示，由寫入?yún)^(qū)2、數(shù)據(jù)區(qū)3、讀出區(qū)4構(gòu)成。
寫入?yún)^(qū)2由多個(gè)記錄槽組成的壓紋數(shù)據(jù)區(qū)5和多個(gè)記錄槽組成的可改寫數(shù)據(jù)區(qū)6構(gòu)成。壓紋數(shù)據(jù)區(qū)5中在制造時(shí)已記錄了基準(zhǔn)信號和控制數(shù)據(jù)，可改寫數(shù)據(jù)區(qū)6由保護(hù)記錄槽用的區(qū)域、盤測試用區(qū)域、驅(qū)動器試驗(yàn)用的區(qū)域、盤識別數(shù)據(jù)用的區(qū)域、以及作為替換管理區(qū)的交換管理區(qū)6a構(gòu)成。
數(shù)據(jù)區(qū)3沿半徑方向由多個(gè)記錄槽組成的多個(gè)(例如24個(gè))區(qū)2a…、3X構(gòu)成。
讀出區(qū)4由多個(gè)記錄槽構(gòu)成，和上述可改寫數(shù)據(jù)區(qū)6同樣，是可改寫的數(shù)據(jù)區(qū)，能夠記錄和數(shù)據(jù)6的記錄內(nèi)容相同的內(nèi)容。
上述光盤1如圖3所示，其構(gòu)成為從內(nèi)側(cè)開始順序?yàn)閷懭雲(yún)^(qū)2的壓紋數(shù)據(jù)區(qū)5和可改寫數(shù)據(jù)區(qū)6、數(shù)據(jù)區(qū)3的區(qū)域3a、…3x、以及讀出區(qū)4的數(shù)據(jù)區(qū)，對于各個(gè)區(qū)的時(shí)鐘信號相同，對于各個(gè)區(qū)的光盤1的轉(zhuǎn)速(速度)和每個(gè)記錄槽的扇區(qū)數(shù)分別不同。
數(shù)據(jù)區(qū)3的區(qū)域3a、…、 3x中，隨著從光盤1的內(nèi)周側(cè)向外周側(cè)，轉(zhuǎn)速(速度)變慢，1個(gè)記錄槽中的扇區(qū)數(shù)增加。
對于上述各區(qū)3a、…3x，4、5、6的作為轉(zhuǎn)速的速度數(shù)據(jù)和1個(gè)記錄槽的扇區(qū)數(shù)的關(guān)系如圖4所示那樣記錄在存儲器10的表10a中。
上述數(shù)據(jù)區(qū)3的區(qū)域3a、…3x的記錄槽中，如圖2，圖3所示，在每個(gè)作為數(shù)據(jù)記錄單位的ECC(error correction code糾錯碼)塊數(shù)據(jù)單位(例如38688字節(jié))中，預(yù)先記錄有數(shù)據(jù)。
ECC塊由記錄2K字節(jié)數(shù)據(jù)的16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成，如圖5所示，各個(gè)扇區(qū)已記錄有作為地址數(shù)據(jù)的4字節(jié)(32比特)結(jié)構(gòu)的扇區(qū)ID1(識別數(shù)據(jù))～I(xiàn)D16和2字節(jié)結(jié)構(gòu)的檢錯碼(IEDID檢錯碼)，同時(shí)還記錄有給與主數(shù)據(jù)(扇區(qū)數(shù)據(jù))的用于再生記錄在ECC塊上的數(shù)據(jù)的作為糾錯碼的橫向ECC(error correction code)1和縱向ECC2。該ECC1、2是為了防止由于光盤1的缺陷數(shù)據(jù)不能再生而作為冗余碼加到數(shù)據(jù)上的糾錯碼。
上述數(shù)據(jù)區(qū)3的區(qū)域3a、…、3x的多個(gè)ECC塊中的預(yù)定數(shù)目的ECC塊被用于替換。
各扇區(qū)由172字節(jié)12行數(shù)據(jù)構(gòu)成，對每一行添加10字節(jié)結(jié)構(gòu)的橫向ECC1的同時(shí)，添加182字節(jié)結(jié)構(gòu)的1行部分的縱向ECC2。
在把上述ECC塊記錄到光盤1上之際，如圖6所示，在對每一扇區(qū)的規(guī)定的數(shù)據(jù)量(各預(yù)定數(shù)據(jù)長度間隔，例如91字節(jié)，每個(gè)1456信道比特)添加用于再生數(shù)據(jù)之際獲取字節(jié)同步的同步碼(2字節(jié)32信道比特)。
各扇區(qū)如圖7所示，由第0幀到第25幀的26個(gè)幀構(gòu)成，添加到各幀的同步碼(幀同步信號)由用于指定幀號碼的指定碼(1字節(jié)16信道比特)和各幀共用的共用碼(1字節(jié)16信道比特)構(gòu)成。
即，如圖7所示，第0幀為SY0，第2、第10、第1 8幀為SY1，第4、第12、第20幀為SY2，第6、第14、第22幀為SY3，第8、第16、第24幀為SY4，第1、第3、第5、第7、第9幀為SY5，第11、第13、第15、第17幀為SY6、第19、第21、第23、第25幀為SY7。
上述數(shù)據(jù)區(qū)3的區(qū)域3a、…3x的記錄槽中，如圖2所示，各扇區(qū)中記錄著各個(gè)地址的標(biāo)題部分11、…被預(yù)先預(yù)格式化。
上述標(biāo)題部分11在壓紋形成時(shí)形成。該標(biāo)題部分11如圖8所示，由多個(gè)槽12構(gòu)成，對于紋13如圖示那樣預(yù)格式化，凹坑12的中心存在于壓紋13和紋間表面14的連接線的相同線上的位置。
如圖8所示，凹坑列ID1成為壓紋1的標(biāo)題部分，凹坑列ID2成為紋間表面1的標(biāo)題部分，凹坑列ID3成為壓紋2的標(biāo)題部分，凹坑列ID4成為紋間表面2的標(biāo)題部分，凹坑列ID5成為壓紋3的標(biāo)題部分，凹坑列ID6成為紋間表面3的標(biāo)題部分。
從而，紋用的標(biāo)題部分和紋間表面用的標(biāo)題部分交互(鋸齒狀)地形成。
上述每個(gè)扇區(qū)的格式如圖9所示。
圖9中，1個(gè)扇區(qū)以2697字節(jié)構(gòu)成，包括128字節(jié)的標(biāo)題區(qū)(對應(yīng)于標(biāo)題部分11)、2字節(jié)的鏡象區(qū)、2567字節(jié)的記錄區(qū)。
記錄在上述扇區(qū)的信道比特成為把8比特的數(shù)據(jù)進(jìn)行8-16碼調(diào)制為16比特的形式。
標(biāo)題區(qū)是在制造光盤1之際記錄預(yù)定數(shù)據(jù)的區(qū)域。該標(biāo)題區(qū)由4個(gè)標(biāo)題區(qū)標(biāo)題1區(qū)、標(biāo)題2區(qū)、標(biāo)題3區(qū)、標(biāo)題4區(qū)構(gòu)成。
標(biāo)題1區(qū)～標(biāo)題4區(qū)由46字節(jié)或18字節(jié)構(gòu)成，包括36字節(jié)或8字節(jié)的同步碼部分VFO(Variable Frequency Oscillator)、3字節(jié)的地址標(biāo)記AM(Address Mark)、4字節(jié)的地址部分PID(Position Identilier)、2字節(jié)的檢錯碼IED(ID Error Detection Code)、1字節(jié)的終端信息組PA(Postambles)。
標(biāo)題1區(qū)、標(biāo)題3區(qū)具有36字節(jié)的同步碼部VFO1，標(biāo)題2、標(biāo)題4區(qū)具有8字節(jié)的同步碼部VFO2。
同步碼部VFO1、2是用于進(jìn)行PLL的引入的區(qū)域，同步碼部VFO1是用信道比特以“010…”的順序記錄了“36”字節(jié)(信道比特中為646比特)部分的代碼(記錄一定間隔的圖形)，同步碼部VFO2是用信道比特以“010…”的順序記錄了“8”字節(jié)(信道比特中為128比特)部分的代碼。
地址標(biāo)記AM是表示扇區(qū)地址從何處開始的“3”字節(jié)同步碼。該地址標(biāo)記AM的各字節(jié)的碼型使用“010010000000100”這一數(shù)據(jù)部分中未出現(xiàn)的特殊的碼型。
地址部PID1～4是記錄著4字節(jié)的作為地址信息的扇區(qū)地址(包含ID號)的區(qū)域。扇區(qū)地址是作為表示記錄槽上物理位置的物理地址的物理扇區(qū)號，該物理扇區(qū)號由于在校對環(huán)規(guī)工序中被記錄，故不能夠改寫。
ID號例如在ID1的情況下是“1”，是表示在1個(gè)標(biāo)題部分11中4次重寫中的第n次的號碼。
檢錯碼IED是對于扇區(qū)地址(包括ID號)的檢錯代碼，能夠檢測出被讀入的PID內(nèi)有無錯誤。
終端信息組PA包含著解調(diào)所必要的狀態(tài)信息，具有極性調(diào)整的作用，使得標(biāo)題部分11以空格結(jié)束。
鏡象區(qū)在跟蹤誤差信號的補(bǔ)償修正、紋間表面/紋切換信號的定時(shí)發(fā)生等中使用。
記錄區(qū)域由10～26字節(jié)的間隙區(qū)、20～26字節(jié)的保護(hù)1區(qū)、35字節(jié)的VF01區(qū)、3字節(jié)的預(yù)置同步碼(PS)區(qū)、2418字節(jié)的數(shù)據(jù)區(qū)、1字節(jié)的終端信息組3(PA3)區(qū)，48～55字節(jié)的保護(hù)2區(qū)、以及9～25字節(jié)的緩沖區(qū)構(gòu)成。
間隙區(qū)是不寫入任何內(nèi)容的區(qū)域。
保護(hù)1區(qū)是為了使相變化記錄媒體特有的反復(fù)記錄時(shí)的終端惡化達(dá)不到VFO3區(qū)而設(shè)的的區(qū)域。
VFO3區(qū)也是PLL自動跟蹤用的區(qū)域，是以在同一碼型中插入同步字節(jié)邊界的同步為目的區(qū)域。
PS(pre-synchronous code)區(qū)是用于連接數(shù)據(jù)區(qū)的協(xié)調(diào)用的區(qū)域。
數(shù)據(jù)區(qū)由數(shù)據(jù)ID、數(shù)據(jù)ID糾錯碼IED(Data ID Error DetectionCode)、同步碼、EDD(Error Collection Code)、EDC(ErrorDctection Code)、用戶數(shù)據(jù)等構(gòu)成的區(qū)域。數(shù)據(jù)ID是各扇區(qū)的4字節(jié)(32信道比特)結(jié)構(gòu)的扇區(qū)ID1～I(xiàn)D16。數(shù)據(jù)ID糾錯碼IED是數(shù)據(jù)ID用的2字節(jié)(16比特)結(jié)構(gòu)的糾錯碼。
上述扇區(qū)ID(1～16)由1字節(jié)(8比特)的扇區(qū)信息、3字節(jié)的扇區(qū)號(作為顯示在記錄槽上的邏輯位置的邏輯地址的邏輯扇區(qū)號)構(gòu)成。扇區(qū)信息由1比特的扇區(qū)格式類型區(qū)、1比特的跟蹤方法區(qū)、1比特的反射率區(qū)、1比特的備用區(qū)、2比特的區(qū)域類型區(qū)、1比特的數(shù)據(jù)類型區(qū)和1比特的層號區(qū)構(gòu)成。
邏輯扇區(qū)號依據(jù)后述的滑移替換處理而與物理扇區(qū)號不同。
在扇區(qū)格式類型區(qū)中記錄了“1”時(shí)，表示區(qū)域格式類型。在跟蹤方法區(qū)中記錄了“1”時(shí)，表示壓紋跟蹤。在反射率區(qū)中記錄了“1”時(shí)，表示反射率為40％以上。在區(qū)域類型區(qū)中記錄了“00”時(shí)，表示數(shù)據(jù)區(qū)，記錄了“01”時(shí)，表示寫入?yún)^(qū)，記錄了“10”時(shí)，表示讀出區(qū)，記錄了“11”時(shí)，表示備用。數(shù)據(jù)類型區(qū)中，記錄了“0”時(shí)，表示只讀數(shù)據(jù)的記錄，記錄了“1”時(shí)，表示可重寫數(shù)據(jù)的記錄。層號區(qū)中，記錄了“ 0”時(shí)，表示層0。
PA(postamble)3區(qū)包含解調(diào)所必要的狀態(tài)信息，是表示前一數(shù)據(jù)區(qū)最末字節(jié)結(jié)束的區(qū)域。
保護(hù)區(qū)2是為了使相變化記錄媒體特有的反復(fù)記錄時(shí)的終端惡化達(dá)不到數(shù)據(jù)區(qū)而設(shè)立的區(qū)域。
緩沖區(qū)是為了吸收轉(zhuǎn)動光盤1的電機(jī)的轉(zhuǎn)速變化使得數(shù)據(jù)區(qū)不落入下一個(gè)標(biāo)題部分11而設(shè)立的區(qū)域。
間隙區(qū)形成10～26字節(jié)是因?yàn)檫M(jìn)行隨機(jī)移動的原因。所謂隨機(jī)移動指的是為了緩和相變化記錄媒體的反復(fù)記錄惡化而錯開數(shù)據(jù)開始書寫的位置。隨機(jī)移動的長度由位于數(shù)據(jù)區(qū)最末尾的緩沖區(qū)的長度調(diào)整，1個(gè)扇區(qū)的總體長度為2697，是不變的。
上述數(shù)據(jù)區(qū)3的區(qū)域3a、…3x中分別準(zhǔn)備有備用扇區(qū)，在同一區(qū)域內(nèi)，作為進(jìn)行后述的扇區(qū)單位的滑移替換處理(滑移、復(fù)位、算法)之際的最終的備用而使用。
上述可改寫數(shù)據(jù)區(qū)6內(nèi)的替換管理區(qū)6a中如圖10所示，記錄著初始缺陷表(PDL)15和二次缺陷表(SDL)16。
初始缺陷清單(PDLpromary defect list)15是在制造時(shí)或者使用開始時(shí)等的初始化時(shí)被判斷為缺陷的扇區(qū)的物理扇區(qū)號(物理地址)的清單。該扇區(qū)號示出應(yīng)該進(jìn)行基于扇區(qū)單位的滑移的替換處理(滑移、復(fù)位、算法)的扇區(qū)。
初始缺陷表15記述著初始缺陷表識別數(shù)據(jù)、作為缺陷數(shù)的地址數(shù)、表示各缺陷扇區(qū)的物理扇區(qū)號。
二次缺陷清單(SDLSecondary defect list)16是對于具有在除上述初始化時(shí)之外的記錄時(shí)被判斷為缺陷的扇區(qū)的ECC塊(缺陷塊)的清單。即，是對于預(yù)定的ECC塊已記錄了數(shù)據(jù)之際，具有被判斷為缺陷的扇區(qū)的ECC塊(缺陷塊)的起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號(物理地址)和進(jìn)行對于該塊的替換的ECC塊(替換塊)的起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號(物理地址)。
二次缺陷清單中記述著二次缺陷表識別數(shù)據(jù)、作為缺陷數(shù)的項(xiàng)目數(shù)，作為各缺陷塊的地址的表示起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號、作為對于這些缺陷塊的替換塊的地址的表示起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號。把各缺陷塊的地址和與它們對應(yīng)的替換塊的地址相互對應(yīng)地進(jìn)行記述。
還有，在圖1中，上述光盤1由電機(jī)23例如以各區(qū)域不同的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動。該電機(jī)23由電機(jī)控制電路24控制。
用光學(xué)頭25進(jìn)行對于上述光盤1的數(shù)據(jù)記錄，或者被記錄在光盤1上的數(shù)據(jù)的再生。該光學(xué)頭25被固定在構(gòu)成線性電機(jī)26的可動部分的驅(qū)動線圈27上，該驅(qū)動線圈27連接到線性電機(jī)控制電路28上。
該線性電機(jī)控制電路28中連接著速度檢測器29，形成為把光學(xué)頭5的速度信號送給線性電機(jī)控制電路28。
另外，線性電機(jī)26的固定部分上設(shè)有未圖示的永久磁鐵，通過用線性電機(jī)控制電路28激勵上述驅(qū)動線圈27，使得光學(xué)頭25沿著盤1的半徑方向移動。
上述光學(xué)頭25中由未圖示的鋼絲或板簧支撐著物鏡30，該物鏡30能夠依據(jù)驅(qū)動線圈31沿聚焦方向(透鏡的光軸方向)移動，依據(jù)驅(qū)動線圈32沿跟蹤方向(與光軸正交的方向)移動。
另外，用激光控制電路33驅(qū)動半導(dǎo)體激光振蕩器39，使之發(fā)出激光。激光控制電路33根據(jù)半導(dǎo)體激光振蕩器39的監(jiān)測光電二極管PD的監(jiān)測電流修正半導(dǎo)體激光振蕩器39發(fā)出的激光光量。
激光控制電路33與來自未圖示的PLL電路的記錄用時(shí)鐘信號同步地動作。該P(yáng)LL電路是把來自振蕩器(未圖示)的基本時(shí)鐘信號分頻，產(chǎn)生記錄用時(shí)鐘信號的電路。
接著，從用激光控制電路33驅(qū)動的半導(dǎo)體激光振蕩器39發(fā)生的激光經(jīng)由準(zhǔn)直透鏡40、半棱鏡41、物鏡30照射到光盤1上，來自該光盤1的反射光經(jīng)由物鏡30、半棱鏡41、聚焦透鏡42以及圓柱透鏡43被導(dǎo)向光檢測器44。
上述光檢測器44由4分割的光檢測44a、44b、44c、44d構(gòu)成。
上述光檢測器44的光檢測單元44a的輸出信號經(jīng)過放大器45a供給到加法器46a的一端，光檢測單元44b的輸出信號經(jīng)過放大器45b供給到加法器46b的一端，光檢測單元44c的輸出信號經(jīng)過加法器45c供給到加法器46a的另一端，光檢測單元44d的輸出信號經(jīng)過放大器45d供給到加法器46b的另一端。
上述光檢測器44的光檢測單元44a的輸出信號經(jīng)過放大器45a供給到加法器46c的一端，光檢測單元44b的輸出信號經(jīng)過放大器45b供給到加法器46d的一端，光檢測單元44c的輸出信號經(jīng)過放大器45c供給到加法器46c的另一端，光檢測單元44d的輸出信號經(jīng)過放大器45d供給到加法器46d的另一端。
上述加法器46a的輸出信號供給到差分放大器OP2的反相輸入端，該差分放大器OP2的同相輸入端上被供給上述加法器46b的輸出信號。由此，差分放大器OP2根據(jù)上述加法器46a、46b的差，把關(guān)于聚焦點(diǎn)的信號(聚焦誤差信號)供給到聚焦控制電路47。該聚焦控制電路47的輸出信號供給聚焦驅(qū)動線圈31，進(jìn)行控制使激光在光盤1上始終為最佳聚焦。
上述加法器46c的輸出信號供給到差分放大器OP1的反相輸入端，該差分放大器OP1的同相輸入端上被供給上述加法器46d的輸出信號。由此，差分放大器OP1根據(jù)上述加法器46c、46d的差把跟蹤誤差信號供給跟蹤控制電路48。該跟蹤控制電路48根據(jù)從差分放大器OP1供給的跟蹤誤差信號形成記錄槽驅(qū)動信號。
從上述跟蹤控制電路48輸出的記錄槽驅(qū)動信號供給上述跟蹤方向的驅(qū)動線圈32。還有，在上述跟蹤控制電路48中使用的跟蹤誤差信號供給線性電機(jī)控制電路28。
如上所述的那樣，在已進(jìn)行了聚焦、跟蹤的狀態(tài)下的光檢測器44的各光檢測單元44a～44d的輸出的和信號，即在加法器46e中把來自加法器46c、46d的輸出信號相加了的信號，反映了從形成在記錄槽上的槽(記錄數(shù)據(jù))的反射率的變化。該信號供給數(shù)據(jù)再生電路38，在該數(shù)據(jù)再生電路38中再生出被記錄的數(shù)據(jù)。
由該數(shù)據(jù)再生電路38再生出的再生數(shù)據(jù)用所添加的糾錯碼EDD在糾錯電路52中進(jìn)行了糾錯后，經(jīng)由接口電路55輸出到作為外部裝置的光盤控制裝置56。
還有，在用上述跟蹤控制電路48移動物鏡30之際，線性電機(jī)控制電路28移動線性電機(jī)26(即光學(xué)頭25)，使物鏡30位于光學(xué)頭25內(nèi)的中心位置近旁。
還有，在激光控制電路33的前緣設(shè)有數(shù)據(jù)生成電路34。該數(shù)據(jù)生成電路34具有把從糾錯電路52供給的圖5所示那樣的作為記錄數(shù)據(jù)的ECC塊的格式數(shù)據(jù)，如圖6所示那樣，變換為添加了ECC塊用的同步碼的記錄用ECC塊的格式數(shù)據(jù)的ECC塊數(shù)據(jù)生成電路34a、把來自該ECC塊數(shù)據(jù)生成電路34a的記錄數(shù)據(jù)按8-16碼變換方式調(diào)制的調(diào)制電路34b。
數(shù)據(jù)生成電路34中被供給由糾錯電路52添加了糾錯碼的記錄數(shù)據(jù)和從存儲器10讀出的檢錯用的虛數(shù)據(jù)。糾錯電路52經(jīng)由接口電路55以及總線49被供給來自作為外部裝置的光盤控制裝置56的記錄數(shù)據(jù)。
糾錯電路52對從光盤控制裝置56供給的32K字節(jié)的記錄數(shù)據(jù)對于每個(gè)4K字節(jié)扇區(qū)單位的記錄數(shù)據(jù)添加上橫向和縱向各自的糾錯碼(ECC1、ECC2)，同時(shí)，添加上扇區(qū)ID(邏輯地址號)，使之生成如圖5所示那樣的ECC塊的格式數(shù)據(jù)。
還有，該光盤裝置中分別設(shè)置有用于進(jìn)行聚焦控制電路47、跟蹤控制電路48、線性電機(jī)控制電路28與控制光盤裝置總體的CPU50之間信息收發(fā)的D/A變換器51。
上述電機(jī)控制電路24、線性電機(jī)控制電路28、激光控制電路33、數(shù)據(jù)再生電路38、聚焦控制電路47、跟蹤控制電路48、糾錯電路53等經(jīng)由總線49由CPU50控制，該CPU50根據(jù)記錄在存儲器10中的控制程序進(jìn)行規(guī)定的動作。
上述存儲器10記錄控制程序或用于數(shù)據(jù)記錄。該存儲器10中具有對于上述各區(qū)3a、…、3x、4、5、6的記錄著作為轉(zhuǎn)速的速度數(shù)據(jù)和1個(gè)記錄槽的扇區(qū)數(shù)的表10a和記錄了從光盤1的替換管理區(qū)6a讀出的初始缺陷清單(PDL)15和二次缺陷清單(SDL)16的表10b。
還有，圖1、圖11中，在上述光盤1的下部設(shè)置有檢測有無收納光盤1的盤盒20的檢測器21和檢測有無上述盤盒20的貫通孔20a檢測器22。上述探測器21、22用例如微動開關(guān)等構(gòu)成。
上述盤盒20是收納上述光盤1的部件，該盤盒20成為哪怕打開1次(取出光盤1)則打開上述貫通孔20a的構(gòu)造。上述檢測器21、22的檢測信號經(jīng)由總線49供給到CPU50。
由此，CPU50根據(jù)來自檢測器21的檢測信號判斷有無盤盒。另外，CPU50在判斷為有盤20之際，依據(jù)來自檢測器22的檢測信號，判斷盤盒20是否打開過哪怕1次。
下面，參照圖12所示的流程，說明在制造時(shí)或開始使用等時(shí)進(jìn)行初始化初時(shí)進(jìn)行的初始缺陷清單作成處理。
例如現(xiàn)在，在把開始使用時(shí)的光盤1裝入上述光盤裝置之際，CPU50判斷滑移替換處理，從存儲10讀出虛數(shù)據(jù)，控制由該虛數(shù)據(jù)進(jìn)行的對于光盤1的數(shù)據(jù)區(qū)3的各扇區(qū)的記錄(ST1)。
由此，在以數(shù)據(jù)區(qū)3的各區(qū)域不同的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動光盤1的狀態(tài)下，依據(jù)從數(shù)據(jù)生成電路34調(diào)制了虛數(shù)據(jù)的信號控制激光控制電路33，驅(qū)動半導(dǎo)體激光振蕩器39，由此，對應(yīng)于虛數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的激光照射到光盤1上。其結(jié)果是，在光盤1數(shù)據(jù)區(qū)3的各扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)域中記錄下對應(yīng)于虛數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的數(shù)據(jù)。
而且，在對于光盤1的數(shù)據(jù)區(qū)3的各扇區(qū)的記錄結(jié)束時(shí)，CPU50控制各扇區(qū)的虛數(shù)據(jù)的讀出(ST2)。
由此，在以數(shù)據(jù)區(qū)3的各區(qū)域不同的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)光盤1的狀態(tài)下，通過把基于來自半導(dǎo)體激光振蕩器39的再生用激光的反射光導(dǎo)入光檢測器44，用數(shù)據(jù)再生電路38再生記錄在各扇區(qū)的標(biāo)題部分11的物理扇區(qū)號，同時(shí)，解調(diào)再生記錄在其扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)。
根據(jù)該再生，CPU50能夠正確地再生出標(biāo)題部分11的物理扇區(qū)號，比較已記錄的虛數(shù)據(jù)和再生后的數(shù)據(jù)，在扇區(qū)內(nèi)的錯誤的狀態(tài)沒有超過第1規(guī)定值時(shí)，判斷為正確地記錄了數(shù)據(jù)，在不能正確地再生標(biāo)題部分11的物理扇區(qū)號或扇區(qū)內(nèi)的錯誤數(shù)超過第1規(guī)定數(shù)時(shí)，判斷為由于不能正確地記錄數(shù)據(jù)引起的一次缺陷(初始缺陷)，判斷為滑移替換處理的對象(ST3)。
上述第1規(guī)定值在182字節(jié)13行結(jié)構(gòu)的1個(gè)扇區(qū)中，例如可規(guī)定為錯誤字節(jié)數(shù)4個(gè)以上的行大于5行。
其判斷結(jié)果，在判斷為滑移替換處理的對象時(shí)，CPU50把該扇區(qū)判斷為缺陷扇區(qū)，把其物理扇區(qū)號作為缺陷扇區(qū)記錄在存儲器10中(ST4)。
接著，CPU50在對于數(shù)據(jù)區(qū)3的所有扇區(qū)的檢查結(jié)束了之后(ST5)，就把對已記錄在存儲器10中的缺陷扇區(qū)的物理扇區(qū)號上添加上其數(shù)字和初始缺陷清單信息的作為初始缺陷清單的數(shù)據(jù)，并控制進(jìn)行該清單的數(shù)據(jù)對光盤1的替換管理區(qū)6a的記錄(ST6)。
由此，在以對應(yīng)于數(shù)據(jù)區(qū)6的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)光盤1的狀態(tài)下，根據(jù)從數(shù)據(jù)生成電路34調(diào)制了作為上述初始缺陷清單的數(shù)據(jù)的信號控制激光控制電路33，驅(qū)動半導(dǎo)體激光振蕩器39，由此對應(yīng)于作為初始缺陷清單的數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的激光照射到光盤1上。其結(jié)果是，在光盤1的數(shù)據(jù)區(qū)3的替換管理區(qū)6a中記錄下對應(yīng)于作為初始缺陷清單的數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的數(shù)據(jù)。
下面，參照圖13、圖14、圖15說明基于初始缺陷清單的、扇區(qū)單位的滑差替換處理(滑移、復(fù)位、算法)。
即，在光盤1以ECC塊單位記錄數(shù)據(jù)之際，根據(jù)初始缺陷清單，進(jìn)行跳過缺陷扇區(qū)的扇區(qū)單位的滑移替換。
例如，現(xiàn)在要使用光盤1的從物理扇區(qū)號m-1到物理扇區(qū)號m+14的16個(gè)扇區(qū)記錄1個(gè)ECC塊的數(shù)據(jù)，在上述扇區(qū)內(nèi)的物理扇區(qū)號的扇區(qū)登錄在初始缺陷清單中時(shí)，除去物理扇區(qū)號m的扇區(qū)，使用從物理扇區(qū)號m-1到物理扇區(qū)號m+15共16個(gè)扇區(qū)進(jìn)行1個(gè)ECC塊的數(shù)據(jù)記錄。
這種情況下，如圖13、圖14所示，在作為對于物理扇區(qū)號m-1的邏輯扇區(qū)號被給出為(m-1)時(shí)，則對于物理扇區(qū)號m+1記錄邏輯扇區(qū)號m，對于物理扇區(qū)號m+2記錄邏輯扇區(qū)號m+1，對于物理扇區(qū)號m+3記錄邏輯扇區(qū)號m+2，對于物理扇區(qū)號m+4記錄邏輯扇區(qū)號m+3，對于物理扇區(qū)號m+5記錄邏輯扇區(qū)號m+4，對于物理扇區(qū)號m+6記錄邏輯扇區(qū)號m+5，對于物理扇區(qū)號m+7記錄邏輯扇區(qū)號m+6，對于物理扇區(qū)號m+8記錄邏輯扇區(qū)號m+7，對于物理扇區(qū)號m+9記錄邏輯扇區(qū)號m+8，對于物理扇區(qū)號m+10記錄邏輯扇區(qū)號m+9，對于物理扇區(qū)號m+11記錄邏輯扇區(qū)號m+10，對于物理扇區(qū)號m+12記錄邏輯扇區(qū)號m+11，對于物理扇區(qū)號m+13記錄邏輯扇區(qū)號m+12，對于物理扇區(qū)號m+14記錄邏輯扇區(qū)號m+12，對于物理扇區(qū)號m+15記錄邏輯扇區(qū)號m+14。
從而，如圖15所示，在記錄了動畫等連續(xù)數(shù)據(jù)的ECC塊n-1、n、n+2、…中，當(dāng)在ECC塊n內(nèi)進(jìn)行了上述扇區(qū)單位的滑移替換時(shí)，通過在ECC塊n的過程中僅中斷對于缺陷扇區(qū)的記錄，使記錄了數(shù)據(jù)的ECC塊(邏輯扇區(qū))和物理扇區(qū)的關(guān)系錯開1個(gè)扇區(qū)部分。
其結(jié)果，在動畫和聲音等連續(xù)數(shù)據(jù)記錄在上述ECC塊上時(shí)，雖然將產(chǎn)生由缺陷扇區(qū)引起的再生中斷，但由于對于1個(gè)扇區(qū)部分的再生中斷時(shí)間短，故不存在對于被再生的圖象和聲音的影響。
如果與以往那樣在以ECC塊單位進(jìn)行滑移替換處理時(shí)的1個(gè)ECC塊內(nèi)中斷記錄的情況相比，可知這是短時(shí)間的中斷。由此，能夠幾乎不間斷地記錄連續(xù)數(shù)據(jù)。
由于上述扇區(qū)單位的滑移替換處理根據(jù)初始缺陷清單進(jìn)行，故在光盤1裝入光盤裝置，并且把從光盤1的替換管理區(qū)6a讀出的初始缺陷清單記錄在存儲器10的表10b中之際，分配對于各ECC塊的物理扇區(qū)，并判定對于各ECC塊的邏輯扇區(qū)的物理扇區(qū)的關(guān)系，存入到存儲器10中。
下面，參照圖16、圖17、圖18說明ECC塊單位的線性替換處理(線性、復(fù)位、算法)。
例如，現(xiàn)在假設(shè)如圖16所示，在ECC塊(n-1)、ECC塊(n)、ECC塊(n+1)、ECC塊(n+2)…、光盤1上連續(xù)的ECC塊中記錄了動畫、聲音等連續(xù)的數(shù)據(jù)的情況。
在實(shí)際的數(shù)據(jù)記錄時(shí)，若判明在ECC塊(n)的某扇區(qū)中存在二次缺陷，則含有該二次缺陷的ECC塊(n)以塊為單位借助于線性替換處理，替換記錄于替換用ECC塊(n)中，這時(shí)，表示進(jìn)行了線性替換處理的數(shù)據(jù)記錄在存儲器10中。這樣被記錄下來的數(shù)據(jù)再生順序如圖17所示，先再生ECC塊(n-1)，接著再生替換用的ECC塊(1)，然后，再生ECC塊(n+1)，最后再生ECC塊(n+2)。
在這種情況下，沒有必要像以往那樣進(jìn)行扇區(qū)單位的替換處理，即，沒有必要在1個(gè)ECC塊的再生過程中，存取替換用的ECC塊，然后再次返回到原來的ECC塊繼續(xù)再生，能夠確保不形成實(shí)際損害程序的再生速度。
還有，在已進(jìn)行了上述那樣ECC塊單位的替換處理時(shí)，如圖18所示，在已變成了線性替換處理前的包含二次缺陷扇區(qū)的ECC塊(n)中的各扇區(qū)的物理扇區(qū)號m～m+15和邏輯扇區(qū)號m～m+15的情況下，規(guī)定在線性替換處理后，對于替換用的ECC塊(1)中的各扇區(qū)的物理扇區(qū)號y～y+15，賦與邏輯扇區(qū)號m～m+15。
下面，參照圖19、圖20所示的流程圖說明進(jìn)行對于預(yù)定ECC塊的數(shù)據(jù)記錄時(shí)的處理。
例如，現(xiàn)在假設(shè)對于供往光盤1的數(shù)據(jù)區(qū)3內(nèi)的預(yù)定ECC塊進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的指令和記錄數(shù)據(jù)，從光盤控制裝置S6經(jīng)由接口電路55供給到光盤裝置中。由此，對預(yù)定的ECC塊進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的指令供給到CPU50，記錄數(shù)據(jù)由糾錯電路52添加了糾錯碼后，以扇區(qū)單位的記錄數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)生成電路34(ST10)。
還有，在裝入光盤1時(shí)，CPU50讀出記錄在光盤1的替換管理區(qū)6a上的初始缺陷清單和二次缺陷清單，記錄在存儲器10的表10b中，判定并記錄對于基于初始缺陷清單的ECC塊的各扇區(qū)的物理扇區(qū)號(初始缺陷扇區(qū)滑移完畢)(ST11)。
還有，CPU50以對應(yīng)于包含記錄ECC塊的區(qū)域的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)光盤1(ST12)。
在這種狀態(tài)下，在依據(jù)標(biāo)題部分11的再生形成了上述ECC塊的起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號之際，由數(shù)據(jù)生成電路34把作為記錄數(shù)據(jù)的ECC塊的格式數(shù)據(jù)(起始的1個(gè)扇區(qū)部分)變換為添加了ECC塊用的同步碼的記錄用ECC塊的格式數(shù)據(jù)，實(shí)施8-16的代碼調(diào)制后輸出到激光控制電路33。通過用該激光控制電路33驅(qū)動半導(dǎo)體激光振蕩器39，把對應(yīng)于ECC塊的格式化數(shù)據(jù)的調(diào)制信號的激光照射到光盤1上。其結(jié)果是在光盤1的數(shù)據(jù)區(qū)3中預(yù)定的ECC塊的起始扇區(qū)中記錄數(shù)據(jù)(ST13)。
以后，在每次再生和由CPU50指定的物理扇區(qū)號一致的物理扇區(qū)號時(shí)，與上述相同，記錄扇區(qū)單位的數(shù)據(jù)(ST13)。
這時(shí)，根據(jù)對于基于記錄在存儲器10中的初始缺陷清單的ECC塊的各扇區(qū)的物理扇區(qū)號記錄數(shù)據(jù)。即，進(jìn)行上述滑移替換處理，跳過缺陷扇區(qū)記錄數(shù)據(jù)。
接著，在對于其預(yù)定的ECC塊的數(shù)據(jù)記錄結(jié)束時(shí)，CPU50根據(jù)來自上述檢測器21的檢測信號，判斷有無盤盒20(是否裝入)(ST14)，在判斷為有盤盒20之際，根據(jù)來自檢測器22的檢測信號，判斷盤盒20是否哪怕打開過1次(ST15)。
根據(jù)該判斷結(jié)果，在CPU50已判斷為進(jìn)行1次也未打開的盤盒20的裝入之際，判斷為不需要記錄檢查，結(jié)束數(shù)據(jù)的記錄處理(ST16)。
在上述步驟14中，在未判斷裝入盤盒20或雖然判斷了裝入盤盒20而且判斷了盤盒20曾經(jīng)打開過時(shí)，CPU50控制上述ECC塊的各扇區(qū)的數(shù)據(jù)讀出(ST17)。
由此，通過把基于來自半導(dǎo)體激光振蕩器39的再生用激光的反射光導(dǎo)入光檢測器，用數(shù)據(jù)再生電路38再生已進(jìn)行了上述記錄的各扇區(qū)標(biāo)題部分11中記錄的物理扇區(qū)號的同時(shí)，解調(diào)并再生已記錄在各扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)(ST18)。
根據(jù)該再生，在能夠正確地再生標(biāo)題部分11的物理扇區(qū)號，或者比較已記錄下表的各扇區(qū)的數(shù)據(jù)和所再生后的各扇區(qū)的數(shù)據(jù)，當(dāng)各扇區(qū)內(nèi)的錯誤狀態(tài)沒有超過所定的規(guī)定值時(shí)，CPU50判斷為已正確地記錄了數(shù)據(jù)；在不能夠正確地再生標(biāo)題部分11的物理扇區(qū)編號或扇區(qū)內(nèi)的錯誤數(shù)超過預(yù)定的規(guī)定數(shù)時(shí)，判斷為由于沒有正確地記錄數(shù)據(jù)引起的二次缺陷，判斷為線性替換處理的對象(ST19)。
作為上述各扇區(qū)內(nèi)錯誤的狀態(tài)，使用下面4個(gè)條件中的任一個(gè)。
第1條件，不能夠正確地再生標(biāo)題部分11的物理扇區(qū)號。
第2條件，至少1個(gè)扇區(qū)內(nèi)的錯誤狀態(tài)超過了第1規(guī)定值。
第3條件，雖然至少1個(gè)扇區(qū)內(nèi)的錯誤狀態(tài)未超過第1規(guī)定值，但超過第2規(guī)定值而且ECC塊總體超過第3規(guī)定值。
第4條件，雖然至少1個(gè)扇區(qū)內(nèi)的錯誤狀態(tài)未超過第1規(guī)定值，但超過第2規(guī)定值而且ECC塊總體上其扇區(qū)超過第4規(guī)定值。
把上述第3條件和第4條件作為線性替換對象的理由是因?yàn)槿绻麅H是ECC塊內(nèi)的1個(gè)扇區(qū)，則即使錯誤再多，也能夠在ECC塊總體上修正數(shù)據(jù)。ECC塊總體為208行，其中，可以修正最多16個(gè)包含5個(gè)以上錯誤的行。由此，決定了上述各規(guī)定值。
即，上述第1規(guī)定值在182字節(jié)13行結(jié)構(gòu)的1個(gè)扇區(qū)中，例如錯誤字節(jié)數(shù)為4個(gè)以上的行大于5行。
上述第2規(guī)定值為錯誤字節(jié)數(shù)為4個(gè)以上的行大于3行。
上述第3規(guī)定值為錯誤字節(jié)數(shù)為4個(gè)以上的行大于10行。
上述第4規(guī)定值為2個(gè)扇區(qū)。
上述步驟19的結(jié)果，在已判斷為線性替換處理的對象時(shí)，把成為對象的ECC塊作為缺陷塊，進(jìn)行把應(yīng)記錄在該缺陷塊中的ECC塊單位的數(shù)據(jù)記錄在替換用ECC塊中的線性替換處理(ST20)，在未判斷為線性替換對象時(shí)，結(jié)束其數(shù)據(jù)記錄處理。
還有，在已進(jìn)行了上述線性替換處理時(shí)，CPU50把其缺陷塊的起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號(缺陷塊的地址)和替換用ECC塊的起始扇區(qū)的物理扇區(qū)號(替換塊的地址)更新記錄在存儲器10的二次缺陷清單中，結(jié)束其數(shù)據(jù)的記錄處理(ST21)。
還有，在已進(jìn)行了上述線性替換處理的光盤1從光盤裝置中取出之際，或者記錄在表10b中的二次缺陷清單已被更新之際，CPU 50把存儲器10的二次缺陷清單的記錄內(nèi)容更新記錄在光盤1的替換管理區(qū)6a中。
如上所述，在以由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成的ECC塊為單位記錄數(shù)據(jù)的光盤中，在制造時(shí)或者開始使用等初始化時(shí)，記錄假數(shù)據(jù)，再生其假數(shù)據(jù)并判斷初始缺陷的扇區(qū)，把所判斷的初始缺陷扇區(qū)的地址記錄在光盤中，在數(shù)據(jù)記錄時(shí)，跳過上述初始缺陷的扇區(qū)進(jìn)行ECC塊單位的數(shù)據(jù)的記錄。
由此，在上述ECC塊中記錄了動畫和聲音等連續(xù)的數(shù)據(jù)是，雖然將產(chǎn)生由缺陷扇區(qū)引起的再生的中斷，但由于對于1個(gè)扇區(qū)部分的再生中斷時(shí)間短，因此不存在對于所再生的圖象和聲音的影響。
如果與以往那樣進(jìn)行了以ECC塊單位的滑移替換處理時(shí)的1個(gè)ECC塊中把記錄中斷的情況相比可知這種情況下中斷時(shí)間短。由此，能夠幾乎不間斷地記錄連續(xù)數(shù)據(jù)。
還有，在以ECC塊單位記錄數(shù)據(jù)的光盤中，在除初始時(shí)之外的記錄時(shí)間內(nèi)，記錄數(shù)據(jù)、再生其數(shù)據(jù)，并且判斷有二次缺陷的扇區(qū)的ECC塊，把所判斷的具有二次缺陷扇區(qū)的ECC塊的數(shù)據(jù)記錄到其它準(zhǔn)備好的ECC塊上去。
由此，即使是在進(jìn)行了對于初始時(shí)以后的記錄時(shí)的缺陷替換處理的情況下，也能夠抵制再生速度的下降。
即，沒有必要像以往那樣進(jìn)行扇區(qū)單位的替換處理，即沒有必要在ECC塊再生的過程中，存取替換用的ECC塊，然后再回到原來的ECC塊繼續(xù)再生，能夠確保不帶來實(shí)際損害程度的再生速度。
權(quán)利要求
1.一種光盤的替換處理方法，在定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽，由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且以由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄的數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域?yàn)閱挝贿M(jìn)行記錄的光盤中，特征在于檢測上述光盤上存在缺陷的扇區(qū)；對于被順序地賦與了上述光盤上的物理地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)，在進(jìn)行對于塊區(qū)域單位的多個(gè)扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)的記錄之際，以扇區(qū)單位跳過上述被檢測出的存在缺陷的扇區(qū)，在后面的其它扇區(qū)記錄邏輯地址數(shù)據(jù)和規(guī)定的數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述地址區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)已預(yù)先記錄好，由不可改寫的壓紋狀的凹坑構(gòu)成。
3.如權(quán)利要求1中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述數(shù)據(jù)區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)是可改寫的地址數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求1中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于記錄在上述地址區(qū)的地址數(shù)據(jù)是不能改寫的物理地址，被順序地分派在上述光盤上，記錄在上述數(shù)據(jù)區(qū)的地址數(shù)據(jù)是可改寫的邏輯地址，以扇區(qū)單位，跳過存在缺陷的扇區(qū)被分派在上述光盤上。
5.如權(quán)利要求1中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述塊區(qū)域的每一個(gè)都由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求1中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于旋轉(zhuǎn)上述光盤，沿上述光盤的半徑方向分割多個(gè)區(qū)域，各區(qū)中光務(wù)的轉(zhuǎn)速不同。
7.如權(quán)利要求6中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述各區(qū)域中預(yù)備有空扇區(qū)，即使以扇區(qū)單位跳過存在缺陷的扇區(qū)，也能夠以預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)構(gòu)成上述塊區(qū)域。
8.一種光盤裝置，在對于定義了具有多個(gè)具有記發(fā)數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽、由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式，并且按照由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)域在內(nèi)的塊區(qū)域單位進(jìn)行記錄的光盤中，特征在于具備檢測上述光盤上存在缺陷的扇區(qū)的檢測裝置；對于被順序地賦與了上述光盤上的物理地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)，在進(jìn)行對于塊區(qū)域單位的多個(gè)扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)的記錄之際，以扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)的記錄之際，以扇區(qū)單位跳過由上述檢測裝置檢測出的存在缺陷的扇區(qū)，在后面的其它扇區(qū)記錄邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定數(shù)據(jù)的記錄裝置。
9.如權(quán)利要求8中所述的光盤裝置，其特征還在于上述地址區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)已預(yù)先記錄好，由不可改寫的壓紋狀的凹坑構(gòu)成。
10.如權(quán)利要求8中所述的光盤裝置，其特征還在于上述數(shù)據(jù)區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)是可改寫的地址數(shù)據(jù)。
11.如權(quán)利要求8中所述的光盤裝置，其特征還在于記錄在上述地址區(qū)的地址數(shù)據(jù)是不可改寫的物理地址，被順序地分派在上述光盤上；記錄在上述數(shù)據(jù)區(qū)的址數(shù)據(jù)是可改寫的邏輯地址，以扇區(qū)單位跳過存在缺陷的扇區(qū)被分派在上述光盤上。
12.如權(quán)利要求8中所述的光盤裝置，其特征還在于上述塊區(qū)域的每一個(gè)都由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。
13.如權(quán)利要求7中所述的光盤裝置，其特征還在于旋轉(zhuǎn)上述光盤、沿上述光盤的半徑方向分割多個(gè)區(qū)域，各區(qū)中光盤的轉(zhuǎn)速不同。
14.如權(quán)利要求13中所述的光盤裝置，其特征還在于上述各區(qū)域中預(yù)備有空扇區(qū)，即使按扇區(qū)單位跳過存在缺陷的扇區(qū)，也能夠以規(guī)定數(shù)目的扇區(qū)構(gòu)成上述塊區(qū)域。
15.一種光盤的替換處理方法，在定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽、由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及規(guī)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式、并且按照由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄數(shù)據(jù)的糾錯的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域單位進(jìn)行記錄的光盤中，特征在于在制造時(shí)或者任用開始時(shí)等初始化時(shí)之外，連續(xù)地把數(shù)據(jù)記錄在上述光盤上多個(gè)連續(xù)的塊區(qū)域中，而且順序地把數(shù)據(jù)記錄在各塊區(qū)域內(nèi)的多個(gè)扇區(qū)中；再生記錄在上述各塊區(qū)域中的各扇區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)；通過對該再生后的數(shù)據(jù)和上述已記錄的數(shù)據(jù)的比較，判斷具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域；根據(jù)該判斷，把對于具有存在缺陷的扇區(qū)的1個(gè)塊區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)記錄到其它替換用的塊區(qū)域的各扇區(qū)中，同時(shí)，把被替換的塊區(qū)域的各扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)記錄到替換目的地塊區(qū)域的各扇區(qū)中。
16.如權(quán)利要求15中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述地址區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)已預(yù)先被記錄好，由不可改寫的壓紋狀的凹坑構(gòu)成。
17.如權(quán)利要求15中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述數(shù)據(jù)區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)是可改寫的地址數(shù)據(jù)。
18.如權(quán)利要求15中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于上述塊區(qū)域的每一個(gè)都16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。
19.如權(quán)利要求15中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于旋轉(zhuǎn)上述光盤，沿上述光盤的半徑方向分割多個(gè)區(qū)域，各區(qū)中光盤的轉(zhuǎn)速不同。
20.如權(quán)利要求15中所述的光盤替換處理方法，其特征還在于對于上述具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域的起始扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)，記錄把該數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄的其它塊區(qū)域的起始扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)的缺陷清單記錄區(qū)在上述光盤上。
21.一種光盤裝置，在對于定義了具有多個(gè)記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽、由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式，并且按照由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)域在內(nèi)的塊區(qū)域單位進(jìn)行記錄的光盤中，特征在于具備除去制造時(shí)或者開始使用時(shí)等初始時(shí)這外，連續(xù)地把數(shù)據(jù)記錄在上述光盤上多個(gè)連續(xù)的塊區(qū)域而且順序地把數(shù)據(jù)記錄在各塊區(qū)域的多個(gè)扇區(qū)中的第1記錄裝置；再生由該第1記錄裝置記錄在上述各塊區(qū)域的各扇區(qū)中的數(shù)據(jù)的再生裝置；通過對由該再生裝置再生的數(shù)據(jù)和由上述第1記錄裝置記錄下來的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，判斷具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域的判斷裝置；根據(jù)該判斷，把對于具有存在缺陷的扇區(qū)的1個(gè)塊區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)記錄到其它替換用的塊區(qū)域的各扇區(qū)中，同時(shí)，把被替換的塊區(qū)域的各扇區(qū)的邏輯各扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)記錄到替換目的地塊區(qū)域的各扇區(qū)的第2記錄裝置。
22.如權(quán)利要求21中所述的光盤裝置，其特征還在于上述地址區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)已預(yù)先被記錄好，由不可改寫的壓紋狀的凹坑構(gòu)成。
23.如權(quán)利要求21中所述的光盤裝置，其特征還在于上述數(shù)據(jù)區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)是可改寫的數(shù)據(jù)。
24.如權(quán)利要求21中所述的光盤裝置，其特征還在于上述塊區(qū)域的每一個(gè)都由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。
25.如權(quán)利要求21中所述的光盤裝置，其特征還在于旋轉(zhuǎn)上述光盤，沿上述光盤的半徑方向分割多個(gè)區(qū)域，各區(qū)中的光盤轉(zhuǎn)速不同。
26.如權(quán)利要求21中所述的光盤裝置，其特征還在于清單對于上述具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域中起始扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)，記錄把該數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄的其它塊區(qū)域的起始扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)的缺陷清單記錄區(qū)在光盤上。
27.一種光盤的替換處理方法，在定義了具有多個(gè)具有記錄數(shù)據(jù)的同心圓狀或螺旋狀的記錄槽、由預(yù)定的記錄槽長度組成的而且包含記錄表示在記錄槽上的物理位置的物理地址數(shù)據(jù)的地址區(qū)和記錄表示邏輯位置的地址數(shù)據(jù)及預(yù)定數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)的多個(gè)連續(xù)扇區(qū)的格式，并且以由多個(gè)扇區(qū)中預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合構(gòu)成的包括對于預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)的集合一并記錄用于再生這些預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)中所記錄數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)的糾錯數(shù)據(jù)記錄區(qū)在內(nèi)的塊區(qū)域單位進(jìn)行記錄的光盤中；特征在于在制造時(shí)或者開始使用時(shí)等的初始化時(shí)，檢測上述光盤上存在缺陷的扇區(qū)；對于被順序地賦與了上述光盤上的物理地址數(shù)據(jù)的扇區(qū)，在進(jìn)行對于塊區(qū)域單位的多個(gè)扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)和規(guī)定的數(shù)據(jù)的記錄之際，以扇區(qū)單位跳過上述被檢測出的存在缺陷的扇區(qū)，在后面的其它扇區(qū)記錄邏輯地址數(shù)據(jù)和預(yù)定的數(shù)據(jù)；在上述初始時(shí)之外，連續(xù)地把數(shù)據(jù)記錄在上述光盤上多個(gè)連續(xù)的塊區(qū)域中，而且順序地把數(shù)據(jù)記錄在各塊區(qū)域內(nèi)的多個(gè)扇區(qū)中；再生記錄在上述各塊區(qū)域中的各扇區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)；通過上面再生出的數(shù)據(jù)和上述記錄了的數(shù)據(jù)的比較，判斷具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域；根據(jù)該判斷，把對于具有存在缺陷的扇區(qū)的1個(gè)塊區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)記錄到其它替換用的塊區(qū)域的各扇區(qū)中，同時(shí)，把被替換的塊區(qū)域的各扇區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)記錄到替換目的地塊區(qū)域的各扇區(qū)中。
28.如權(quán)利要求27中所述的光盤的替換處理方法，其特征還在于上述地址區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)是預(yù)先被記錄的，由不可改寫的壓紋狀的凹坑構(gòu)成。
29.如權(quán)利要求27中所述的光盤的替換處理方法，其特征還在于上述數(shù)據(jù)區(qū)的邏輯地址數(shù)據(jù)是可改寫的地址數(shù)據(jù)。
30.如權(quán)利要求27中所述的光盤的替換處理方法，其特征還在于上述塊區(qū)域的每一個(gè)都16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。
31.如權(quán)利要求27中所述的光盤的替換處理方法，其特征還在于旋轉(zhuǎn)上述光盤，沿上述光盤的半徑方向分割多個(gè)區(qū)域，各區(qū)中光盤的轉(zhuǎn)數(shù)不同。
32.如權(quán)利要求31中所述的光盤的替換處理方法，其特征還在于上述各區(qū)域中預(yù)備有空扇區(qū)，即使按扇區(qū)單位跳過存在缺陷的扇區(qū)，也能夠以預(yù)定數(shù)目的扇區(qū)構(gòu)成上述塊區(qū)域。
33.如權(quán)利要求27中所述的光盤的替換處理方法，其特征還在于對于上述具有存在缺陷的扇區(qū)的塊區(qū)域中起始扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)，記錄把該數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄的其它塊區(qū)域的起始扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)的缺陷清單記錄區(qū)在光盤上。
全文摘要
本發(fā)明在以由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成的ECC塊單位記錄數(shù)據(jù)的光盤中，制造時(shí)或者開始使用時(shí)等初始時(shí)，記錄假數(shù)據(jù)，再生其假數(shù)據(jù)判斷初始缺陷的扇區(qū)，把該所判斷的初始缺陷的扇區(qū)的物理地址數(shù)據(jù)作為初始缺陷清單記錄在光盤中，記錄時(shí)，跳過上述初始缺陷的扇區(qū)進(jìn)行ECC塊單位的數(shù)據(jù)記錄。另外，在以ECC塊單位記錄數(shù)據(jù)的光盤中，初始時(shí)之外的數(shù)據(jù)記錄時(shí)，記錄數(shù)據(jù)，再生其數(shù)據(jù)。判斷具有二次缺陷扇區(qū)的ECC塊，把所判斷的具有二次缺陷扇區(qū)的ECC塊的數(shù)據(jù)記錄到其它預(yù)備好的ECC塊中。
文檔編號G11B7/004GK1163452SQ97103370
公開日1997年10月29日 申請日期1997年3月24日 優(yōu)先權(quán)日1996年3月25日
發(fā)明者山室美規(guī)男 申請人:株式會社東芝