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      不管備用單元配置情況如何都能進(jìn)行測試的半導(dǎo)體存儲器的制作方法

      文檔序號:6747352閱讀:335來源:國知局
      專利名稱:不管備用單元配置情況如何都能進(jìn)行測試的半導(dǎo)體存儲器的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲器。
      圖7A是說明現(xiàn)有的一般的半導(dǎo)體存儲器的數(shù)據(jù)輸出用的圖,圖7B是說明上述半導(dǎo)體存儲器的數(shù)據(jù)輸入用的圖。
      如圖7A所示,在現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲器中,存儲單元1中存儲的數(shù)據(jù)通過讀出放大器3,由輸出緩沖器5輸出。這里,輸出緩沖器5包括前置放大器7和主放大器9,從前置放大器7輸出信號DBR。
      另外,如圖7B所示,在現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲器中,通過輸入緩沖器11向存儲單元1輸入數(shù)據(jù)。這時從輸入緩沖器11輸出信號DSW。
      圖8表示現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲器中使用四分之一槽距的存儲單元的配置情況,白點表示連接在位線BL上、存儲數(shù)據(jù)的存儲單元,黑點表示連接在位線/BL上、存儲反相數(shù)據(jù)的存儲單元。
      這里,存儲單元陣列包括由正常單元構(gòu)成的塊A、B,以及由備用單元SC構(gòu)成的塊C、D。而且,例如在塊A被置換成單元的配置形式不同的塊D的情況下,存儲數(shù)據(jù)(或反相數(shù)據(jù))的正常單元能被置換成存儲反相數(shù)據(jù)(或數(shù)據(jù))的備用單元SC,以往在這種情況下也能進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀寫。
      可是,在圖8中,在塊A被置換成塊D、塊B被置換成塊C的情況下,在所置換的備用單元SC中,由于變成能存儲正常單元中存儲的數(shù)據(jù)的反相數(shù)據(jù),所以在與正常單元相同的條件下,在測試時存在所施加的應(yīng)力不加在備用單元SC上的問題。
      本發(fā)明的目的在于提供一種在將正常單元置換成備用單元SC的情況下,不管備用單元SC的配置情況如何,都能進(jìn)行施加應(yīng)力的測試的半導(dǎo)體存儲器。
      本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲器備有字線;備用字線;與字線和備用字線相交的位線;配置在字線和位線的交點上的至少一個存儲單元;配置在備用字線和位線的交點上的至少一個備用單元;在將存儲單元置換成備用單元時,在備用單元是存儲被存儲在存儲單元中的數(shù)據(jù)的反相數(shù)據(jù)的備用單元的情況下,生成使數(shù)據(jù)反相用的反相信號的數(shù)據(jù)反相電路;在將數(shù)據(jù)寫入存儲反相數(shù)據(jù)的備用單元時,根據(jù)從數(shù)據(jù)反相電路供給的反相信號,將寫入備用單元的數(shù)據(jù)反相的反相寫入電路;以及在從存儲反相數(shù)據(jù)的備用單元讀出數(shù)據(jù)時,根據(jù)從數(shù)據(jù)反相電路供給的反相信號,將從備用單元讀出的數(shù)據(jù)反相的反相讀出電路。
      因此,本發(fā)明的優(yōu)點在于不管備用單元的配置情況如何,能可靠地將應(yīng)力與存儲單元同樣地加在備用單元上。


      圖1是表示本發(fā)明的實施例1的半導(dǎo)體存儲器的總體結(jié)構(gòu)圖。
      圖2A-2B是說明圖1所示的半導(dǎo)體存儲器的工作用的說明圖。
      圖3是表示圖1所示的塊判斷部和數(shù)據(jù)編碼控制電路的結(jié)構(gòu)圖。
      圖4是表示圖2B所示的編碼電路的結(jié)構(gòu)圖。
      圖5是表示圖2A所示的編碼電路的結(jié)構(gòu)圖。
      圖6是表示本發(fā)明的實施例2的半導(dǎo)體存儲器的總體結(jié)構(gòu)圖。
      圖7A-7B是說明現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲器的工作用的說明圖。
      圖8是表示現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲器中的存儲單元的配置圖。
      以下,參照附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實施例。圖中同一符號表示同一或相當(dāng)?shù)牟糠?。圖1是表示本發(fā)明的實施例1的半導(dǎo)體存儲器的總體結(jié)構(gòu)圖。如圖1所示,該半導(dǎo)體存儲器備有輸入并緩存地址信號A0~A9的緩沖器17;與緩沖器17連接的行譯碼器13及列譯碼器15;選擇備用字線的備用行譯碼器14;存儲單元1;讀出更新放大器輸入輸出控制電路3;與地址緩沖器17連接,存儲不良地址的程序電路19;與行譯碼器13及備用行譯碼器14連接的塊判斷部16;與程序電路19及塊判斷部16連接的數(shù)據(jù)編碼控制電路20;輸入列地址選通信號/CAS和行地址選通信號/RAS的時鐘脈沖發(fā)生電路21;輸入寫入指定信號/W和來自時鐘脈沖發(fā)生電路21的輸出信號的邏輯門22;輸入數(shù)據(jù)的輸入緩沖器11;與輸入緩沖器11連接的編碼電路10;以及包括前置放大器7、編碼電路8和主放大器9、輸出數(shù)據(jù)的輸出緩沖器5。
      另外,存儲單元1形成如圖8所示的以四分之一槽間距的單元配置為單位的陣列。
      圖3是表示圖1所示的塊判斷部16和數(shù)據(jù)編碼控制電路20的結(jié)構(gòu)圖。如圖3所示,塊判斷部16包括“異或”電路160,正常單元塊判斷信號和備用單元塊判斷信號被供給“異或”電路160。
      這里,正常單元塊判斷信號是根據(jù)字線選擇信號生成的,在所選擇的字線WL是圖8所示的塊A中包括的字線的情況下呈高(H)電平,在被包括在塊B中的情況下呈低(L)電平。
      另外,同樣備用單元塊判斷信號是根據(jù)備用字線選擇信號生成的,在所選擇的備用字線SWL是圖8所示的塊C中包括的備用字線的情況下呈高電平,在被包括在塊D中的情況下呈低電平。
      另外,數(shù)據(jù)編碼控制電路20包括與“異或”電路160連接的反相器200,以及輸入來自反相器200的輸出信號和備用行允許信號/SRE,并輸出編碼起動信號SON的邏輯門201。
      其次,說明本實施例的半導(dǎo)體存儲器的工作情況。
      首先,參照圖2B說明數(shù)據(jù)寫入工作。如圖2B所示,被輸入到輸入緩沖器11中的數(shù)據(jù)DQ1~DQ8被輸入緩沖器11所緩存,信號DBW被從輸入緩沖器11供給編碼電路12。這里,圖4是表示編碼電路12的結(jié)構(gòu)的電路圖。如圖4所示,編碼電路12包括“異或”電路120,當(dāng)編碼起動信號SON呈高電平時,將把信號DBW反相后的信號DBW’供給存儲單元1。另外,當(dāng)編碼起動信號SON呈低電平時,編碼電路12不將信號DBW反相就供給存儲單元1。
      現(xiàn)在,參照圖3說明編碼起動信號SON被激活到高電平的情況。如圖3所示,首先,為了使編碼起動信號SON呈高電平,需要將備用行允許信號/SRE激活到低電平。這時,由程序電路19生成備用行允許信號/SRE,被輸入到地址緩沖器17的地址信號AO~A9是當(dāng)所指定的正常單元被置換成備用單元時被激活到低電平的信號。
      另外,只有當(dāng)將圖8所示的塊A置換成塊D,或?qū)KB置換成塊C,即只有當(dāng)將正常單元置換成單元的配置不同的備用單元時,編碼起動信號SON才被激活。即,這時由于正常單元塊判斷信號和備用單元塊判斷信號的電平相反,所以從“異或”電路160輸出高電平信號,低電平信號被從反相器200輸入到邏輯門201后,輸出高電平的編碼起動信號SON。
      其次,參照圖2A說明數(shù)據(jù)讀出工作。
      如圖2A所示,存儲單元1中存儲的數(shù)據(jù)通過讀出放大器3,被送給輸出緩沖器5。然后,被送給輸出緩沖器5的數(shù)據(jù)被前置放大器7放大,信號DBR被供給編碼電路8。這里,圖5是表示編碼電路8的結(jié)構(gòu)的電路圖。如圖5所示,編碼電路8包括“異或”電路80,只有當(dāng)編碼起動信號S0N呈高電平時,才將信號DBR被反相后的信號DBR’供給主放大器9。
      這里,編碼起動信號SON呈高電平的條件與上述相同。
      另外,當(dāng)編碼起動信號SON呈低電平時,編碼電路8不將信號DBR反相而供給主放大器9。
      如果采用以上的工作方式,則在正常單元被置換成備用單元SC的情況下,當(dāng)備用單元SC與正常單元不同而存儲反相數(shù)據(jù)時,通過將寫入正常單元的數(shù)據(jù)的反相數(shù)據(jù)作為對備用單元SC的寫入數(shù)據(jù),能使電荷狀態(tài)與置換備用單元SC之前的正常單元相同。
      因此,在正常單元被置換成備用單元SC的情況下,不管備用單元SC的配置情況如何,在老化試驗等中能將應(yīng)力加給所有的單元。圖6是表示本發(fā)明的實施例2的半導(dǎo)體存儲器的總體結(jié)構(gòu)圖。
      如圖6所示,雖然該半導(dǎo)體存儲器具有與圖1所示的半導(dǎo)體存儲器相同的結(jié)構(gòu),但不同之點在于還備有地址鍵電路30,它有正常工作方式和測試方式,根據(jù)輸入的地址信號A0~A8,進(jìn)入測試方式,生成測試信號。
      該地址鍵電路30是根據(jù)地址信號A0-A8的電平,生成測試信號的電路,通過供給該測試信號,數(shù)據(jù)編碼控制電路20被激活。
      由上可知,如果采用本發(fā)明的實施例2的半導(dǎo)體存儲器,則由于只有在測試方式時,數(shù)據(jù)編碼控制電路才被激活,所以能防止在正常工作方式時由于數(shù)據(jù)反相而造成的工作速度下降。
      雖然以上用具體實施例對本發(fā)明進(jìn)行了說明,但應(yīng)理解到本發(fā)明不限于此,本發(fā)明的精神和范圍應(yīng)用下述的權(quán)利要求有所限定。
      權(quán)利要求
      1.一種半導(dǎo)體存儲器,其特征在于備有字線(WL);備用字線(SWL);與上述字線和上述備用字線相交的位線(BL、/BL);配置在上述字線和上述位線的交點上的至少一個存儲單元(1);配置在上述備用字線和上述位線的交點上的至少一個備用單元(SC);在將上述存儲單元置換成上述備用單元時,在上述備用單元是存儲被存儲在存儲單元中的數(shù)據(jù)的反相數(shù)據(jù)的備用單元的情況下,生成使數(shù)據(jù)反相用的反相信號的數(shù)據(jù)反相裝置(20);在將數(shù)據(jù)寫入存儲上述反相數(shù)據(jù)的備用單元時,根據(jù)從上述數(shù)據(jù)反相裝置供給的上述反相信號,將寫入上述備用單元的數(shù)據(jù)反相的反相寫入裝置(10);以及在從存儲上述反相數(shù)據(jù)的備用單元讀出數(shù)據(jù)時,根據(jù)從上述數(shù)據(jù)反相裝置供給的上述反相信號,將從上述備用單元讀出的數(shù)據(jù)反相的反相讀出裝置(8)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲器,其特征在于還備有判斷與所輸入的地址對應(yīng)的上述存儲單元是否被置換成上述備用單元,在被置換成上述備用單元的情況下,生成備用允許信號的置換判斷裝置(19),上述數(shù)據(jù)反相裝置(20)收到上述備用允許信號時被激活。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體存儲器,其特征在于還備有根據(jù)選擇上述字線的字線選擇信號和選擇上述備用字線的備用字線選擇信號,判斷置換上述存儲單元的上述備用單元是否是存儲在上述存儲單元中存儲的數(shù)據(jù)的反相數(shù)據(jù)的備用單元的單元狀態(tài)判斷裝置(16),在由上述單元狀態(tài)判斷裝置斷定為上述備用單元是存儲上述反相數(shù)據(jù)的備用單元的情況下,上述數(shù)據(jù)反相裝置(20)被激活,同時在斷定為上述備用單元不是存儲上述反相數(shù)據(jù)的備用單元的情況下,上述數(shù)據(jù)反相裝置(20)不被激活。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲器,其特征在于還備有輸入緩沖器(11);以及包括前置放大器及主放大器的輸出緩沖器(5),上述反相寫入裝置(10)根據(jù)上述反相信號,將從上述輸入緩沖器輸出的數(shù)據(jù)反相,上述反相讀出裝置(8)根據(jù)上述反相信號,將從上述前置放大器輸出的數(shù)據(jù)反相。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲器,其特征在于還備有根據(jù)從外部供給的地址信號,生成測試方式信號的地址鍵電路(30),上述數(shù)據(jù)反相裝置(20)接收上述測試方式信號后被激活。
      全文摘要
      一種半導(dǎo)體存儲器,它備有:判斷與正常單元置換的備用單元(SC)的配置的異同的塊判斷部;在用備用單元(SC)置換了正常單元的情況下,當(dāng)備用單元(SC)是存儲反相數(shù)據(jù)的備用單元時,生成編碼起動信號(SON)的數(shù)據(jù)編碼控制電路;接收編碼起動信號(SON),將寫入數(shù)據(jù)反相的編碼電路;以及接收編碼起動信號(SON),將讀出數(shù)據(jù)反相的編碼電路。
      文檔編號G11C29/00GK1224220SQ9811966
      公開日1999年7月28日 申請日期1998年9月21日 優(yōu)先權(quán)日1998年1月19日
      發(fā)明者高見和彥, 押越清臣, 朝倉干雄 申請人:三菱電機(jī)株式會社
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