存儲(chǔ)器單元失效檢測方法與系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及失效檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及存儲(chǔ)器單元失效檢測方法與系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]存儲(chǔ)器單元用于存儲(chǔ)記錄數(shù)碼，其廣泛應(yīng)用于各類控制設(shè)備。
[0003]在實(shí)際生產(chǎn)生活中，存儲(chǔ)器單元刷寫次數(shù)有限，且易受到強(qiáng)電干擾。當(dāng)前，存儲(chǔ)器單元的主要失效模式包括:(I)固定故障:單元的邏輯值總為1、0和開路的情況。其中固定故障分為以下情況:單元的邏輯值恒定在O、單元的邏輯值恒定在I以及單元一直開路或者無法訪問，無法讀取數(shù)值；(2)轉(zhuǎn)換故障:轉(zhuǎn)換故障時(shí)SAF故障的一種特殊形式，當(dāng)寫數(shù)碼時(shí)某一存儲(chǔ)器單元失效0—1轉(zhuǎn)換或者1—0轉(zhuǎn)換無法進(jìn)行，表現(xiàn)為固定故障的形式；(3)耦合故障存儲(chǔ)器單元中某些位的跳變導(dǎo)致其他位的邏輯值發(fā)生非預(yù)期的變化，它既可以發(fā)生在不同單元之間，也可以發(fā)生在同一單元不同位之間。比如:當(dāng)往一個(gè)存儲(chǔ)器單元寫值時(shí)，相鄰存儲(chǔ)單位的數(shù)值在沒有寫的情況下發(fā)生了改變；(4)相鄰單元矢量敏化故障:一個(gè)單元的活動(dòng)導(dǎo)致其他單元的狀態(tài)不正常，一個(gè)單元的相鄰單元可以是5個(gè)，也可以是9個(gè)。
[0004]當(dāng)前，存儲(chǔ)器單元最常見的自檢方法是方格存儲(chǔ)器單元測試。方格存儲(chǔ)器單元測試是交替地把O和I寫到存儲(chǔ)器單元。往存儲(chǔ)器單元交替寫入O和1(如01010101)，然后再把寫入的數(shù)碼讀出檢查其準(zhǔn)確性。前一步準(zhǔn)確后輸入其互補(bǔ)樣式進(jìn)行測試(如01010101的互補(bǔ)樣式是10101010)，然后把寫入的數(shù)碼讀出檢查其準(zhǔn)確性。然而該種檢測方式無法準(zhǔn)確檢測存儲(chǔ)器單元是否失效，例如其不能檢測存儲(chǔ)器單元訪問讀寫間隔操作時(shí)，引發(fā)的存儲(chǔ)器單元轉(zhuǎn)換故障;不能檢測周邊存儲(chǔ)器單元數(shù)碼操作引發(fā)的單個(gè)存儲(chǔ)器單元的耦合故障。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于此，有必要針對(duì)一般存儲(chǔ)器單元失效檢測方式無法準(zhǔn)確檢測存儲(chǔ)器單元是否失效的問題，提供一種能夠準(zhǔn)確檢測存儲(chǔ)器單元是否失效的存儲(chǔ)器單元失效檢測方法與系統(tǒng)。
[0006]—種存儲(chǔ)器單元失效檢測方法，包括步驟:
[0007]將存儲(chǔ)器單元中每一位設(shè)為初始數(shù)碼，并讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容；
[0008]將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容從初始數(shù)碼修改為變反數(shù)碼；
[0009]檢測其他存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否發(fā)生改變，當(dāng)發(fā)生改變時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已失效，當(dāng)未發(fā)生改變時(shí)，讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容；
[0010]檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改不準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已經(jīng)失效，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，再次將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容由變反數(shù)碼修改為初始數(shù)碼，再次檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改不準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已經(jīng)失效，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元正常；
[0011]其中，初始數(shù)碼和變反數(shù)碼分別包括二進(jìn)制中兩個(gè)不同的數(shù)碼。
[0012]—種存儲(chǔ)器單元失效檢測系統(tǒng)，包括:
[0013]設(shè)置模塊，用于將存儲(chǔ)器單元中每一位設(shè)為初始數(shù)碼，并讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容；
[0014]修改模塊，用于將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容從初始數(shù)碼修改為變反數(shù)碼；
[0015]第一檢測模塊，用于檢測其他存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否發(fā)生改變，當(dāng)發(fā)生改變時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已失效，當(dāng)未發(fā)生改變時(shí)，讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容；
[0016]第二檢測模塊，用于檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改不準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已經(jīng)失效，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，再次將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容由變反數(shù)碼修改為初始數(shù)碼，再次檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改不準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已經(jīng)失效，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元正常；
[0017]其中，初始數(shù)碼和變反數(shù)碼分別包括二進(jìn)制中兩個(gè)不同的數(shù)碼。
[0018]本發(fā)明存儲(chǔ)器單元失效檢測方法與系統(tǒng)，將存儲(chǔ)器單元中每一位設(shè)為初始數(shù)碼，并讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容，將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容從初始數(shù)碼修改為變反數(shù)碼，當(dāng)其他存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容未發(fā)生改變時(shí)，讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容，檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，再次將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容修改，再次檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元正常。整個(gè)過程，能夠檢測可能發(fā)生的存儲(chǔ)器單元轉(zhuǎn)換故障以及對(duì)周邊存儲(chǔ)器單元數(shù)據(jù)操作引發(fā)的單個(gè)存儲(chǔ)器單元的耦合故障，能夠準(zhǔn)確檢測存儲(chǔ)器單元是否失效。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明存儲(chǔ)器單元失效檢測方法第一個(gè)實(shí)施例的流程示意圖；
[0020]圖2為本發(fā)明存儲(chǔ)器單元失效檢測系統(tǒng)第一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021 ]如圖1所示，一種存儲(chǔ)器單元失效檢測方法，包括步驟:
[0022 ] SI 00:將存儲(chǔ)器單元中每一位設(shè)為初始數(shù)碼，并讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容。
[0023]初始數(shù)碼與后續(xù)的變反數(shù)碼分別包括二進(jìn)制中兩個(gè)不同的數(shù)碼，即初始數(shù)碼包括O和I，變反數(shù)碼包括O和I，在存儲(chǔ)器單元的相同位上的初始碼和變反碼是相互對(duì)立的，即在存儲(chǔ)器單元的相同位上，當(dāng)初始碼為O時(shí)，其變反碼為I;當(dāng)初始碼為I時(shí)，其變反碼為O。將存儲(chǔ)器單元中每一位設(shè)置為初始數(shù)碼(例如設(shè)置后為0110)，并讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容，若存儲(chǔ)器單元未失效，此時(shí)讀出的每一位的內(nèi)容應(yīng)均為初始數(shù)碼(存儲(chǔ)器單元存儲(chǔ)為0110)，若出現(xiàn)某一位的內(nèi)容不為初始數(shù)碼，則表明存儲(chǔ)器單元已經(jīng)出現(xiàn)故障已經(jīng)失效(例如讀取存儲(chǔ)器單元為0001)。
[0024]S200:將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容從初始數(shù)碼修改為變反數(shù)碼。
[0025]將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容從初始數(shù)碼修改為變反數(shù)碼，例如從0000修改為
Illlo
[0026]S300:檢測其他存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否發(fā)生改變，當(dāng)發(fā)生改變時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已失效，當(dāng)未發(fā)生改變時(shí)，讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容。
[0027]其他存儲(chǔ)單元是指存儲(chǔ)單元周圍的存儲(chǔ)單元，檢測存儲(chǔ)單元中內(nèi)容被修改后是否會(huì)引起其他存儲(chǔ)單元每一位的內(nèi)容改變，當(dāng)其他存儲(chǔ)單元中每一位的內(nèi)容發(fā)生改變時(shí)，表明存儲(chǔ)單元引發(fā)了耦合故障，即表明存儲(chǔ)單元已經(jīng)失效，當(dāng)未發(fā)生改變時(shí)，表明存儲(chǔ)單元未引發(fā)耦合故障，讀出存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容。
[0028]S400:檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改不準(zhǔn)確時(shí)，表明存儲(chǔ)器單元已經(jīng)失效，當(dāng)修改準(zhǔn)確時(shí)，再次將存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容由變反數(shù)碼修改為初始數(shù)碼，再次檢測存儲(chǔ)器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準(zhǔn)確，當(dāng)修改不準(zhǔn)