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      雙柵極晶體管的制作方法

      文檔序號:6876424閱讀:379來源:國知局
      專利名稱:雙柵極晶體管的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種晶體管(transistor)的結(jié)構(gòu)設(shè)計,特別是涉及一種具有雙柵極結(jié)構(gòu)(dual-gate structures)的晶體管。
      背景技術(shù)
      隨著顯示科技的進(jìn)步,與傳統(tǒng)的CRT顯示器相比,薄膜晶體管液晶顯示器(thin film transistor liquid crystal display,TFT-LCD)由于具有輕、薄、低輻射以及體積小而不占空間的優(yōu)勢,目前已經(jīng)成為顯示器市場的主力產(chǎn)品,為因應(yīng)液晶顯示產(chǎn)品的快速發(fā)展,液晶面板廠商的產(chǎn)業(yè)競爭日增。如何提升薄膜晶體管的效能、可靠性與降低制作成本,皆為重要的發(fā)展目標(biāo)。
      非晶硅薄膜晶體管(amorphous silicon thin film transistor)具有控制電流導(dǎo)通的功能,因此經(jīng)常被用來作為液晶顯示器(liquid crystal display,LCD)或有機(jī)發(fā)光二極管(organic light emitting diode,OLED)顯示器的像素(pixel)開關(guān)。
      近年來為了提升薄膜晶體管的電流導(dǎo)通能力,一種具有雙柵極結(jié)構(gòu)的薄膜晶體管也逐漸受到業(yè)界的重視。請參照圖1,其顯示現(xiàn)有具有雙柵極結(jié)構(gòu)的薄膜晶體管剖面圖。如圖1所示,該薄膜晶體管制作于基板10上,且其結(jié)構(gòu)主要包括了第一柵極11、第二柵極16、半導(dǎo)體層13、漏極14以及源極15。
      第一柵極11形成于基板10上表面,半導(dǎo)體層13則形成于第一柵極11之上,其中半導(dǎo)體層13包含了溝道層131及摻雜半導(dǎo)體層132。漏極14與源極15以對應(yīng)于第一柵極11兩端的方式形成于半導(dǎo)體層13上,且漏極14與源極15與半導(dǎo)體層13的結(jié)為摻雜半導(dǎo)體層132。第二柵極16以對應(yīng)于第一柵極11的方式形成于漏極14及源極15之上,并與第一柵極11電連結(jié)。其中第二柵極16的邊緣與漏極14及源極15的邊緣部份重疊。
      另外,此雙柵極薄膜晶體管更具有第一介電層12以及第二介電層17。第一介電層12形成于基板10之上,并覆蓋第一柵極11。第二介電層17則是覆蓋于漏極14及源極15之上,且位于第二柵極16之下。
      此雙柵極薄膜晶體管結(jié)構(gòu),比傳統(tǒng)單一柵極的薄膜晶體管具有更佳的導(dǎo)通電流能力,且可以有效的減低電場擁擠效應(yīng),對于元件光漏電流的問題有相當(dāng)大的改善。
      然而,在現(xiàn)有的雙柵極薄膜晶體管結(jié)構(gòu)中,由于第二柵極16的邊緣與漏極14及源極15的邊緣部份重疊,因此在液晶顯示器的驅(qū)動過程中,第二柵極16與源極14重疊的部分容易導(dǎo)致寄生電容Cgs增加。要特別說明的是,寄生電容Cgs的增加,會造成了饋入電壓(feed through voltage)加大,進(jìn)而影響像素電極的操作電壓,連帶影響到灰階顯示的正確性。
      綜上所述,發(fā)明人有感于既有的雙柵極薄膜晶體管結(jié)構(gòu)其寄生電容Cgs對顯示器的品質(zhì)影響甚大,故嘗試提出一種雙柵極晶體管的結(jié)構(gòu)設(shè)計,以便有效降低寄生電容的產(chǎn)生,進(jìn)而克服上述衍生的問題。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的在于提供一種具有雙柵極結(jié)構(gòu)的晶體管,其第二柵極的垂直映像位置并未與第二電極重疊,藉此減少第二柵極與第二電極間所可能產(chǎn)生的寄生電容,且減少饋入電壓,以增進(jìn)雙柵極晶體管的效能與可靠度。
      本發(fā)明的另一目的在于提供一種具有雙柵極結(jié)構(gòu)的晶體管,其中第二柵極及第一柵極的其中之一的垂直映像未與第二電極重疊(或第二電極所電連接的第一摻雜區(qū))重疊。所以,在液晶顯示器的驅(qū)動過程中,由于第二柵極及第一柵極的其中之一與第二電極(或第二電極所電連接的第一摻雜區(qū))并沒有重疊的部份,所以雙柵極晶體管所產(chǎn)生的寄生電容就會相對的減小很多。
      本發(fā)明所揭露的雙柵極晶體管,包括第一柵極,形成于基板上。第一介電層,覆蓋于第一柵極與基板上。半導(dǎo)體層,位于第一介電層與第一柵極上方。第一電極與第二電極,分別位于半導(dǎo)體層上,且第二電極與第一電極之間,具有一間隔,用以互相分離兩電極。第二介電層,覆蓋于第一電極、第二電極與部份的半導(dǎo)體層。第二柵極,位于第二介電層上,其中第二柵極及第一柵極的其中之一并未與第二電極重疊。
      本發(fā)明所揭露的雙柵極晶體管,包括第一柵極,位于基板上。第一介電層,覆蓋于第一柵極與基板上。半導(dǎo)體層,位于第一介電層與第一柵極上方,且半導(dǎo)體層的二端分別具有第一摻雜區(qū)。第二介電層,覆蓋于半導(dǎo)體層與基板上。第二柵極,位于第二介電層上。第三介電層,覆蓋于第二柵極與基板上。
      第一電極與第二電極,分別位于第三介電層上且分別電連接于半導(dǎo)體層的二端的第一摻雜區(qū)。其中,第二電極與第一電極之間,具有間隔,用以互相分離。其中,第一柵極及第二柵極的其中之一,并未與該第一摻雜區(qū)的其中之一重疊。
      為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征及內(nèi)容,請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖。


      圖1為現(xiàn)有中雙柵極晶體管的剖面示意圖;圖2為本發(fā)明雙柵極晶體管的剖面示意圖;圖3為本發(fā)明雙柵極晶體管的一實施例的剖面示意圖;圖4為本發(fā)明雙柵極晶體管的一實施例的剖面示意圖;圖5A至圖5H為雙柵極晶體管中半導(dǎo)體層的各種態(tài)樣;圖6為本發(fā)明雙柵極晶體管的一實施例的剖面示意圖;圖7為本發(fā)明雙柵極晶體管的一實施例的剖面示意圖;圖8A至圖8C為雙柵極晶體管的三種結(jié)構(gòu)態(tài)樣的上視圖;及圖9為單柵極晶體管、現(xiàn)有的雙柵極晶體管以及本發(fā)明的雙柵極晶體管在施加偏壓的過程中,所產(chǎn)生的寄生電容值所描繪而成的測試曲線。
      簡單符號說明10、200、300、400、600、700基板11、210、310、410、610、710第一柵極12、220、320、420、620、720第一介電層13、230、330、430、630、730、830半導(dǎo)體層14、240、340、440、640、740、840第一電極15、250、350、450、650、750、850第二電極255、355、455、655、755間隔16、260、360、460、660、760、860第二柵極17、270、370、470、670、770第二介電層132、232、332、432、5312摻雜半導(dǎo)體層
      390隔離區(qū)塊131、231、331、431、5311溝道層5311a第一淺摻雜層5311b第二淺摻雜層5321、5331、5341、5351、5361、5371、5381、631、731第一摻雜區(qū)5323、5333、5343、5353、5363、5373、5383、633、734非摻雜區(qū)5342、5352、5362、5372、5382、732第二摻雜區(qū)733第三摻雜區(qū)675、775第三介電層680、780第四介電層具體實施方式
      請參照圖2,其為本發(fā)明具有雙柵極結(jié)構(gòu)的晶體管結(jié)構(gòu)剖面圖。此雙柵極晶體管制作于基板200上,且其主要結(jié)構(gòu)包括了第一柵極210、第一介電層220、半導(dǎo)體層230、第一電極240、第二電極250、第二介電層270以及第二柵極260。
      如圖2所示,第一柵極210形成于基板200上。第一介電層220,覆蓋于第一柵極210與基板200上。半導(dǎo)體層230,形成于第一介電層220上。第一電極240與第二電極250,分別位于半導(dǎo)體層230上,且第二電極250與該第一電極240之間,具有間隔255,使兩電極彼此分離,而不會互相接觸,并曝露出部份的半導(dǎo)體層230。
      另外,上述間隔255的垂直映像落于第一柵極210上,換言之第一電極240與第二電極250的垂直映像分別與第一柵極210的兩端重疊。第二介電層270,覆蓋于第一電極240、第二電極250與部份的半導(dǎo)體層230上。在本實施例中,半導(dǎo)體層230,包含溝道層231及摻雜半導(dǎo)體層232。所以,第一電極240與第二電極250跟半導(dǎo)體層230的結(jié),分別具有摻雜半導(dǎo)體層232。
      第二柵極260,位于第二介電層270上,值得注意的是其中第二柵極260并未與第二電極250有所重疊。如圖中所示,第二柵極260靠近第二電極250的一側(cè),重疊于間隔255的上方,而并未與第二電極250有任何重疊。至于,第二柵極260遠(yuǎn)離第二電極250的另一側(cè),則與部份的第一電極240重疊。
      要特別強調(diào)的是,如果把第二柵極260朝著基板200作垂直映像,第二柵極260靠近第二電極250的側(cè)壁,在垂直映像后會落于間隔距第一電極240的1/3至第二電極250側(cè)壁之間的范圍內(nèi)。至于,第二柵極260遠(yuǎn)離第二電極250的另一側(cè)壁,在垂直映像后,則會落于第一電極240上。
      換言之,從第二柵極260與間隔255的相關(guān)位置來看,第二柵極260與部份的間隔255重疊,且此部份重疊的間隔占整個間隔255的1/3以上。
      在本發(fā)明的實施例中,各層結(jié)構(gòu)的材料可包括如下。基板200的材料包括透明基板(如玻璃基板、石英基板、或類似的材料)、可撓性基板(如丙醯類聚合物、酯類聚合物、橡膠、環(huán)氧類聚合物或類似的材料)或不透光基板(如陶瓷、晶片或類似的材料)。至于第一柵極210與第二柵極260的材料包括氧化銦錫(ITO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋁鋅(AZO)、鋁(Al)、鉻(Cr)、鈦(Ti)、鎢(W)、鉭(Ta)、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)、鉬(Mo)、釹(Nd)或上述的組合。
      半導(dǎo)體層230的材料包含非晶硅、多晶硅、單晶硅、微晶硅或上述的組合。第一電極240與第二電極250的材料包括氧化銦錫(ITO)、氧化銦鋅(IZO)、氧化鋁鋅(AZO)、鋁(Al)、鉻(Cr)、鈦(Ti)、鎢(W)、鉭(Ta)、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)、鉬(Mo)、釹(Nd)或上述的組合。第一介電層220及第二介電層270的材料包含氮化硅、氧化硅、氮氧化硅、碳化硅、有機(jī)硅化合物或上述的組合。
      由于第一柵極210與第二柵極260電連結(jié),當(dāng)?shù)谝粬艠O210及第二柵極260被施加電壓時,半導(dǎo)體層230會在靠近第一介電層220與第二介電層270的上下兩接口感應(yīng)出電荷,如同在半導(dǎo)體層230的上下表面處形成兩電流溝道,且第二柵極的偏壓會降低晶體管的臨界電壓。所以,雙柵極晶體管比傳統(tǒng)的單柵極晶體管具有更高的電流導(dǎo)通能力。
      請參照圖3,其為本發(fā)明具有雙柵極結(jié)構(gòu)的晶體管的另一實施例。此雙柵極晶體管制作于基板300上,且其主要結(jié)構(gòu)包括了第一柵極310、第一介電層320、半導(dǎo)體層330、第一電極340、第二電極350、第二介電層370以及第二柵極360。在本實施例中,半導(dǎo)體層330,包含溝道層331及摻雜半導(dǎo)體層332。所以,第一電極340與第二電極350跟半導(dǎo)體層330的結(jié),分別具有摻雜半導(dǎo)體層332。
      上述各層結(jié)構(gòu)的材料與位置大致上與圖2所顯示的實施例相同。有差異性的地方在于,圖3所顯示的雙柵極晶體管中,還包括隔離區(qū)塊390。此隔離區(qū)塊390位于半導(dǎo)體層330上。至于第一電極340與第二電極350則分別由隔離區(qū)塊390的左右二側(cè)延伸覆蓋住部份隔離區(qū)塊390。值得注意的是,隔離區(qū)塊390的上表面,未被第一電極340與第二電極350覆蓋的部份,構(gòu)成間隔355,且其曝露出部份的隔離區(qū)塊390。而隔離區(qū)塊390的作用在用以防止在進(jìn)行第一電極340與第二電極350的光刻蝕刻程序時,對下方的半導(dǎo)體層330造成傷害。一般來說,隔離區(qū)塊的材料包含氮化硅、氧化硅、氮氧化硅、碳化硅、有機(jī)硅化合物或上述的組合。
      請參照圖4,其為本發(fā)明雙柵極晶體管的另一實施例。此雙柵極晶體管制作于基板400上,且其主要結(jié)構(gòu)包括了第一柵極410、第一介電層420、一半導(dǎo)體層430、第一電極440、第二電極450、第二介電層470以及第二柵極460。
      如圖4所示,第一柵極410形成于基板400上。第一介電層420,則覆蓋于第一柵極410與基板400上。半導(dǎo)體層430,形成于第一介電層420上。第一電極440與第二電極450,分別位于半導(dǎo)體層430上,且第二電極450與該第一電極440之間,具有一間隔455,使兩電極彼此分離,而不會互相接觸,并曝露出部份的半導(dǎo)體層430。第二介電層470,則覆蓋于第一電極440、第二電極450與部份的半導(dǎo)體層430上。第二柵極460,位于第二介電層470上。在本實施例中,半導(dǎo)體層430,包含溝道層431及摻雜半導(dǎo)體層432。所以,第一電極440與第二電極450,分別與摻雜半導(dǎo)體層432接觸。
      值得注意的是,其中第一柵極410并未與第二電極450有所重疊。如圖中所示,第一柵極410靠近第二電極450的一側(cè),而并未與第二電極450有任何重疊。至于,第一柵極410遠(yuǎn)離第二電極450的另一側(cè),則與部份的第一電極440重疊。
      要特別強調(diào)的是,如果把第一柵極410作垂直映像,第一柵極410靠近第二電極450的側(cè)壁,在垂直映像后會落于間隔距第一電極440的1/3至第二電極450側(cè)壁之間的范圍內(nèi)。至于,第一柵極410遠(yuǎn)離第二電極450的另一側(cè)壁,在垂直映像后,則會落于第一電極440上。
      換言之,從第一柵極410與間隔455的相關(guān)位置來看,第一柵極410與部份的間隔455重疊,且此部份重疊的間隔占整個間隔455的1/3以上。
      本發(fā)明所揭露的雙柵極晶體管,除了以上所述的不同結(jié)構(gòu)設(shè)計外,更可根據(jù)不同的結(jié)構(gòu)需求,采用不同的半導(dǎo)體層結(jié)構(gòu)態(tài)樣。相關(guān)的半導(dǎo)體層結(jié)構(gòu)態(tài)樣如下所述。
      請參照圖5A,圖中所顯示的半導(dǎo)體層包含溝道層5311及摻雜半導(dǎo)體層5312。在優(yōu)選實施例中,溝道層5311包含第一淺摻雜層5311a及第二淺摻雜層5311b,其中第二淺摻雜層5311b位于第一淺雜層5311a之上,且摻雜半導(dǎo)體層5312的摻雜濃度實質(zhì)上大于第一淺摻雜層5311a及第二淺摻雜層5311b,而第一淺摻雜層5311a與第二淺摻雜層5311b的摻雜濃度實質(zhì)上相等或?qū)嵸|(zhì)上不相等(如小于或大于,優(yōu)選者,第一淺摻雜層5311a的摻雜濃度實質(zhì)上小于第二淺摻雜層5311b的摻雜濃度)。
      至于,在部份實施例中,半導(dǎo)體層則會具有第一摻雜區(qū)、第二摻雜區(qū)、以及非摻雜區(qū)。例如,在圖5B中,半導(dǎo)體層包括了位于中間的非摻雜區(qū)5323、以及分別位于此非摻雜區(qū)5323兩端的第一摻雜區(qū)5321。
      在圖5C中,第一摻雜區(qū)5331位于半導(dǎo)體層的兩端,且兩端的第一摻雜區(qū)5331的區(qū)塊大小可以不盡相同,而非摻雜區(qū)5333則位于半導(dǎo)體層兩端的第一摻雜區(qū)5331之間,上述各區(qū)塊呈水平向排列。
      請參照圖5D,第一摻雜區(qū)5341位于半導(dǎo)體層的兩端,且非摻雜區(qū)5343則位于半導(dǎo)體層兩端的第一摻雜區(qū)5341之間。第二摻雜區(qū)5342,位于第一摻雜區(qū)5341與非摻雜區(qū)5343之間。也就是說,非摻雜區(qū)5343位于第一摻雜區(qū)5341及第二摻雜區(qū)5342之間。其中,第一摻雜區(qū)5341及第二摻雜區(qū)5342的面積可相等或不相等(如小于或大于),且上述各區(qū)塊呈水平向排列,而第二摻雜區(qū)5342與第一摻雜區(qū)5341的摻雜濃度實質(zhì)上相等于或不相等(如小于或大于,優(yōu)選者,第二淺摻雜層5342的摻雜濃度實質(zhì)上小于第一淺摻雜層5341的摻雜濃度)。
      請參照圖5E,第一摻雜區(qū)5351定義于半導(dǎo)體層的兩端,且非摻雜區(qū)5353則位于半導(dǎo)體層兩端的第一摻雜區(qū)5341之間。具有兩個第二摻雜區(qū)5352,皆位于第一摻雜區(qū)5351與非摻雜區(qū)5353之間。而且,非摻雜區(qū)5353位于兩個第二摻雜區(qū)5352之間。其中,第一摻雜區(qū)5351及第二摻雜區(qū)5352的面積可相等或不相等(如小于或大于),且各區(qū)塊呈水平向排列,而第二摻雜區(qū)5352與第一摻雜區(qū)5351的摻雜濃度實質(zhì)上相等或不相等(如小于或大于)。
      請參照圖5F,第二摻雜區(qū)5362位于第一摻雜區(qū)5361及非摻雜區(qū)5363之間,且各區(qū)塊呈垂直向排列,而第二摻雜區(qū)5362與第一摻雜區(qū)5361的摻雜濃度實質(zhì)上相等于或不相等(如小于或大于)。
      請參照圖5G,非摻雜區(qū)5373位于第一摻雜區(qū)5371及第二摻雜區(qū)5372之間,且各區(qū)塊呈垂直向排列,而第二摻雜區(qū)5372與第一摻雜區(qū)5371的摻雜濃度實質(zhì)上相等于或不相等(如小于或大于)。
      請參照圖5H,非摻雜區(qū)5383位于第一摻雜區(qū)5381及第二摻雜區(qū)5382之間,且各區(qū)塊呈水平向排列,而第二摻雜區(qū)5382與第一摻雜區(qū)5381的摻雜濃度實質(zhì)上相等于或不相等(如小于或大于)。
      請參照圖6,其為本發(fā)明具有雙柵極結(jié)構(gòu)的晶體管結(jié)構(gòu)剖面圖。此雙柵極晶體管制作于基板600上,且其主要結(jié)構(gòu)包括了第一柵極610、第一介電層620、半導(dǎo)體層630、第二介電層670、第二柵極660、第三介電層675、第一電極640及第二電極650。
      如圖6所示,第一柵極610形成于基板600上。第一介電層620,覆蓋于第一柵極610與基板600上。半導(dǎo)體層630,形成于第一介電層620上表面及帝一柵極610的上方。其中,半導(dǎo)體層630的兩端分別具有第一摻雜區(qū)631,并具有非摻雜區(qū)633位于兩第一摻雜區(qū)631之間。第二介電層670,覆蓋于半導(dǎo)體層630與基板600上。第二柵極660,位于第二介電層670上。第三介電層675,覆蓋于第二柵極660與基板600上。
      另外,此雙柵極晶體管還包括第四介電層680,形成于第二介電層670與第三介電層675之間,并覆蓋于第二柵極660。
      第一電極640與第二電極650,分別位于第三介電層675上,且分別電連接于半導(dǎo)體層630兩端的第一摻雜區(qū)631。其中,第二電極650與該第一電極640之間,具有間隔655,使兩電極彼此分離,而不會互相接觸。當(dāng)然,此間隔655與非摻雜區(qū)的長度實質(zhì)上可相等或不相等,視晶體管結(jié)構(gòu)設(shè)計的需求。
      值得注意的是,其中第一柵極610及第二柵極660的其中之一并未與第一摻雜區(qū)的其中之一重疊。
      如圖中所示,第二柵極660靠近第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的一側(cè),重疊于間隔655的上方,而并未與第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631有任何重疊。至于,第二柵極260遠(yuǎn)離第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的另一側(cè),則與部份的第一電極640所電連接的第一摻雜區(qū)631重疊。
      要特別強調(diào)的是,如果把第二柵極660作垂直映像,第二柵極660靠近第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的側(cè)壁,在垂直映像后會落于間隔655距第一電極640所電連接的第一摻雜區(qū)631的1/3至第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631側(cè)壁之間的范圍內(nèi)。至于,第二柵極660遠(yuǎn)離第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的另一側(cè)壁,在垂直映像后,則會落于第一電極640所電連接的第一摻雜區(qū)631上。
      換言之,從第二柵極660與間隔655的相關(guān)位置來看,第二柵極660與部份的間隔655重疊,且此部份重疊的間隔占整個間隔655的1/3以上。
      如圖中所示,第一柵極610靠近第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的一側(cè)。至于,第一柵極610遠(yuǎn)離第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的另一側(cè),則與部份的第一電極640所電連接的第一摻雜區(qū)631重疊。
      要特別強調(diào)的是,如果把第一柵極610作垂直映像,第一柵極610靠近第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的側(cè)壁,在垂直映像后會落于間隔距第一電極640所電連接的第一摻雜區(qū)631的1/3至第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631側(cè)壁之間的范圍內(nèi)。至于,第一柵極610遠(yuǎn)離第二電極650所電連接的第一摻雜區(qū)631的另一側(cè)壁,在垂直映像后,則會落于第一電極640所電連接的第一摻雜區(qū)631上。
      換言之,從第一柵極610與間隔655的相關(guān)位置來看,第一柵極610與部份的間隔655重疊,且此部份重疊的間隔占整個間隔655的1/3以上。
      請參照圖7,其為本發(fā)明具有雙柵極結(jié)構(gòu)的晶體管的另一實施例。此雙柵極晶體管制作于一基板700上,且其主要結(jié)構(gòu)包括了第一柵極710、第一介電層720、半導(dǎo)體層730、第二介電層770、第二柵極760、第四介電層780、第三介電層775、第一電極740及第二電極750。
      上述各層結(jié)構(gòu)的材料與位置大致上與圖6所顯示的實施例相同。有差異性的地方在于,圖7所顯示的雙柵極晶體管中,半導(dǎo)體層730除了第一摻雜區(qū)731之外,更定義出了第二摻雜區(qū)732、第三摻雜區(qū)733及非摻雜區(qū)734。其中,第二摻雜區(qū)732、第三摻雜區(qū)733及非摻雜區(qū)734,位于半導(dǎo)體層730二端的第一摻雜區(qū)731之間。非摻雜區(qū)734,位于第二摻雜區(qū)732與第三摻雜區(qū)733之間。
      另外,圖6所代表的實施例中,其半導(dǎo)體層730的結(jié)構(gòu)亦可類似圖5D的型態(tài)。半導(dǎo)體層730定義出第一摻雜區(qū)5341、第二摻雜區(qū)5342及非摻雜區(qū)5343。其中第一摻雜區(qū)5341定義于半導(dǎo)體層730的兩端,而第二摻雜區(qū)5342及非摻雜區(qū)5343,位于二端的第一摻雜區(qū)5341之間。也就是說,非摻雜區(qū)5343位于第二摻雜區(qū)5342及半導(dǎo)體層730其中一端的第一摻雜區(qū)5341之間。當(dāng)然,亦可類似圖5C、圖5E的型態(tài)。
      請繼續(xù)參照圖6及圖7,其中第一柵極660、760及第二柵極610、710的其中之一的垂直映像位置亦均未與第二電極650、750重疊。
      請參照圖8A至圖8C,圖中顯示了本發(fā)明所揭露的雙柵極晶體管的結(jié)構(gòu)上視圖(top view),包括半導(dǎo)體層830、第一電極840、第二電極850以及第二柵極860。藉由此前側(cè)視圖顯示雙柵極晶體管為非對稱結(jié)構(gòu),且第一電極840會有兩端位于第二電極850的兩側(cè)。
      請先參照圖8A,圖中具有涵蓋范圍C,此即為第二柵極860的涵蓋范圍,一般為距第一電極840的1/3處至第二電極850切齊處。
      而圖8A、圖8B及圖8C三圖,代表雙柵極晶體管的三種結(jié)構(gòu)態(tài)樣,主要的差異在于第二柵極860所涵蓋區(qū)域的不同。圖8A中,第二柵極860在半導(dǎo)體層830內(nèi),且第二柵極860與第一電極840的兩端點切齊。圖8B中,第二柵極860兩端點所涵蓋的半導(dǎo)體層830較第一電極840兩端點所涵蓋的半導(dǎo)體層830更多。圖8C中,第二柵極860涵蓋所有第一電極840及部分半導(dǎo)體層830。
      再者,本發(fā)明上述的實施例的摻雜區(qū)、摻雜半導(dǎo)體層中,所摻雜的摻雜子包括N型(如磷、砷、或類似的材料)、P型(如硼或類似的材料)或上述的組合。并且,本發(fā)明上述的實施例的雙柵極晶體管的結(jié)構(gòu)可用于不同類型的顯示器,包括液晶顯示器、電激發(fā)光顯示器(electroluminescence display)、場發(fā)射顯示器(field-emission display)、納米碳管顯示器(nano-carbon tubedisplay)或類似的顯示器,其中,電激發(fā)光顯示器包括有機(jī)型(如小分子、高分子)、無機(jī)型或上述的混合。
      綜上所述,經(jīng)由圖2及圖3的實施例的描述,本發(fā)明所揭露的雙柵極晶體管中,第二柵極的結(jié)構(gòu)垂直映像位置并未與第二電極重疊,其中上述實施例的第二電極,為雙柵極晶體管的源極。在液晶顯示器的驅(qū)動過程中,由于第二柵極與源極并沒有重疊的部份,所以雙柵極晶體管所產(chǎn)生的寄生電容Cgs就會相對的減小很多。
      另外,由于第一柵極與第二電極重疊時,也會有類似的寄生電容Cgs產(chǎn)生。因此,可參照圖4、圖6及圖7的實施例的描述,其中,第一柵極及第二柵極的其中之一均未與第二電極(或第二電極所電連接的第一摻雜區(qū))重疊。所以,在液晶顯示器的驅(qū)動過程中,由于第一柵極及第二柵極的其中之一與源極(或與源極所電連接的摻雜區(qū))并沒有重疊的部份,所以雙柵極晶體管所產(chǎn)生的寄生電容Cgs就會相對的減小很多。
      所以,實際上在本發(fā)明的所有實施例中,第一柵極及第二柵極的其中之一并未與第二電極(或第二電極所電連接的第一摻雜區(qū))重疊。
      請參照圖9,圖中的三條曲線分別代表單柵極晶體管、現(xiàn)有的雙柵極晶體管以及本發(fā)明的雙柵極晶體管在施加偏壓的過程中,所產(chǎn)生的寄生電容值所描繪而成的測試曲線。比較各曲線可看出,本發(fā)明的雙柵極晶體管所測得的寄生電容Cgs值比起現(xiàn)有的雙柵極晶體管所測得的寄生電容Cgs值,明顯地降低非常多。
      因此,本發(fā)明所揭露的雙柵極晶體管比起傳統(tǒng)的單柵極晶體管,具有更大的導(dǎo)通電流以及可降低光漏電的情形。同時,本發(fā)明的雙柵極晶體管比起現(xiàn)有的雙柵極晶體管具有更低的寄生電容Cgs值,并降低所造成的饋入電壓,使得雙柵極晶體管更具可靠度,液晶屏幕的顯示更為正確且穩(wěn)定。
      雖然本發(fā)明以優(yōu)選實施例揭露如上,然而其并非用以限定本發(fā)明,本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),可作些許的更動與潤飾,因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
      權(quán)利要求
      1.一種雙柵極晶體管,包括第一柵極,位于基板上;第一介電層,覆蓋于該第一柵極與該基板上;半導(dǎo)體層,位于該第一介電層與該第一柵極上;第一電極與第二電極,分別位于該半導(dǎo)體層上,且該第二電極與該第一電極之間具有間隔,用以互相分離;第二介電層,覆蓋于該第一電極、該第二電極、與部份半導(dǎo)體層;及第二柵極,位于該第二介電層上,其中該第二柵極及該第一柵極的其中之一并未與該第二電極重疊。
      2.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極靠近該第二電極的一側(cè)。
      3.如權(quán)利要求2所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極遠(yuǎn)離該第二電極的另一側(cè),與部份第一電極重疊。
      4.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極靠近該第二電極的側(cè)壁,距該第一電極1/3處至與該第二電極側(cè)壁切齊之間。
      5.如權(quán)利要求4所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極遠(yuǎn)離該第二電極的另一側(cè)壁,其垂直映像落于該第一電極。
      6.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極與部份間隔重疊,該部份間隔占該間隔的1/3以上。
      7.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極靠近該第二電極的一側(cè)。
      8.如權(quán)利要求7所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極遠(yuǎn)離該第二電極的另一側(cè),與部份第一電極重疊。
      9.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該半導(dǎo)體層的材料包含非晶硅、多晶硅、單晶硅、微晶硅或上述的組合。
      10.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極靠近該第二電極的側(cè)壁,距該第一電極1/3處至與該第二電極側(cè)壁切齊之間。
      11.如權(quán)利要求10所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極遠(yuǎn)離該第二電極的另一側(cè)壁,其垂直映像落于該第一電極。
      12.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極與部份間隔重疊,該部份間隔占該間隔的1/3以上。
      13.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中還包括隔離區(qū)塊,位于該半導(dǎo)體層上,該第一電極與該第二電極分別由該隔離區(qū)塊的左右二側(cè)延伸覆蓋住部份隔離區(qū)塊上,該隔離區(qū)塊未被該第一電極與該第二電極覆蓋的部份則構(gòu)成該間隔。
      14.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中,該半導(dǎo)體層,包含溝道層及摻雜半導(dǎo)體層,位該溝道層之上。
      15.如權(quán)利要求14所述的雙柵極晶體管,其中,該溝道層,包含第一淺摻雜層及第二淺摻雜層,位于該第一淺雜層之上。
      16.如權(quán)利要求1所述的雙柵極晶體管,其中,該半導(dǎo)體層,包含至少一第一摻雜區(qū)、至少一第二摻雜區(qū)及至少一非摻雜區(qū)。
      17.如權(quán)利要求16所述的雙柵極晶體管,其中,該第一摻雜區(qū),位于該半導(dǎo)體層的二端,且該非摻雜區(qū)位于該半導(dǎo)體層的二端的該第一摻雜區(qū)之間。
      18.如權(quán)利要求16所述的雙柵極晶體管,其中,該第二摻雜區(qū),位于該第一摻雜區(qū)及該非摻雜區(qū)之間。
      19.如權(quán)利要求16所述的雙柵極晶體管,其中,該非摻雜,位于該第一摻雜區(qū)及該第二摻雜區(qū)之間。
      20.一種雙柵極晶體管,包括第一柵極,位于基板上;第一介電層,覆蓋于該第一柵極與該基板上;半導(dǎo)體層,位于該第一介電層與該第一柵極上,且該半導(dǎo)體層的二端分別具有第一摻雜區(qū);第二介電層,覆蓋于該半導(dǎo)體層與該基板上;第二柵極,位于該第二介電層上;第三介電層,覆蓋于該第二柵極與該基板上;以及第一電極與第二電極,分別位于該第三介電層上且分別電連接于該半導(dǎo)體層的二端的該第一摻雜區(qū),其中,第二電極與該第一電極之間,具有間隔,用以互相分離,且該第一柵極及該第二柵極的其中之一,并未與該第一摻雜區(qū)的其中之一重疊。
      21.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,還包括第四介電層,形成于該第二介電層與該第三介電層之間,且其覆蓋該第二柵極。
      22.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極靠近該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的一側(cè),重疊于該間隔的上方。
      23.如權(quán)利要求22所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極遠(yuǎn)離該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的另一側(cè),與部份第一電極所電連接的該第一摻雜區(qū)重疊。
      24.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極靠近該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的側(cè)壁,距該第一電極所電連接的該第一摻雜區(qū)1/3處至與該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)側(cè)壁切齊之間。
      25.如權(quán)利要求24所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極遠(yuǎn)離該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的另一側(cè)壁,其垂直映像落于該第一電極所電連接的該第一摻雜區(qū)。
      26.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第二柵極與部份間隔重疊,該部份間隔占該間隔的1/3以上。
      27.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極靠近該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的一側(cè)。
      28.如權(quán)利要求27所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極遠(yuǎn)離該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的另一側(cè),與部份第一電極所電連接的該第一摻雜區(qū)重疊。
      29.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該半導(dǎo)體層的材料包含非晶硅、多晶硅、單晶硅、微晶硅或上述的組合。
      30.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極靠近該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的側(cè)壁,距該第一電極所電連接的該第一摻雜區(qū)1/3處至與該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)側(cè)壁切齊之間。
      31.如權(quán)利要求30所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極遠(yuǎn)離該第二電極所電連接的該第一摻雜區(qū)的另一側(cè)壁,其垂直映像于該第一電極所電連接的該第一摻雜區(qū)。
      32.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極與部份間隔重疊,該部份間隔占該間隔的1/3以上。
      33.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該半導(dǎo)體層包含第二摻雜區(qū)、第三摻雜區(qū)及非摻雜區(qū),其中該第二摻雜區(qū)、該第三摻雜區(qū)及該非摻雜區(qū),位于該半導(dǎo)體層的二端的該第一摻雜區(qū)之間。
      34.如權(quán)利要求33所述的雙柵極晶體管,其中該非摻雜區(qū),位于該第二摻雜區(qū)及該第三摻雜區(qū)之間。
      35.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該半導(dǎo)體層包含第二摻雜區(qū)及非摻雜區(qū),其中該第二摻雜區(qū)及該非摻雜區(qū),位于該半導(dǎo)體層的二端的該第一摻雜區(qū)之間。
      36.如權(quán)利要求35所述的雙柵極晶體管,其中該非摻雜區(qū),位于該第二摻雜區(qū)及該半導(dǎo)體層的其中一端的該第一摻雜區(qū)之間。
      37.如權(quán)利要求20所述的雙柵極晶體管,其中該第一柵極及該第二柵極的其中之一并未與該第二電極重疊。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種雙柵極晶體管,包括第一柵極,形成于基板上。第一介電層,覆蓋于第一柵極與基板上。半導(dǎo)體層,位于第一介電層與第一柵極上方。第一電極與第二電極,分別形成于半導(dǎo)體層上,且第一電極與第二電極之間,具有間隔,用以分離兩電極。第二介電層,覆蓋于第一電極、第二電極與部份的半導(dǎo)體層。第二柵極,位于第二介電層上,其中第二柵極及第一柵極的其中之一并未與第二電極重疊。
      文檔編號H01L29/40GK1885563SQ20061010560
      公開日2006年12月27日 申請日期2006年7月10日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月10日
      發(fā)明者梁中瑜, 甘豐源, 張鼎張 申請人:友達(dá)光電股份有限公司
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