有機發(fā)光顯示器件及其母板的制作方法

文檔序號：7234771閱讀：359來源：國知局

專利名稱：有機發(fā)光顯示器件及其母板的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及發(fā)光顯示器件及其母板。更具體地說，本發(fā)明涉及發(fā)光顯示器件，例如，有機發(fā)光顯示器件，這類顯示器能夠在對母板進行分隔之前對發(fā)光顯示器件進行單片單元測試，在單片測試期間單獨控制施加于各個發(fā)光
顯示器件的預定信號，和防止和/或減小對控制信號的電路損壞；以及還涉及發(fā)光顯示器件的母板。
背景技術(shù)：
一般來說，可以在一個母板上形成多個發(fā)光顯示器件，例如，有機發(fā)光顯示器件，隨后再對母板進行分隔并分成為各個發(fā)光顯示器件。對發(fā)光顯示器件的測試可以是對各個分隔后的發(fā)光顯示器件來進行測試。
對各個發(fā)光顯示器件的測試可以使用測試各個發(fā)光顯示器件的裝置來進行。然而，測試裝置或測試所需夾具需要可以根據(jù)構(gòu)成發(fā)光顯示器件的電路的變化或者根據(jù)發(fā)光顯示器件的尺寸的變化而變化。同樣，測試時間以及測試成本會根據(jù)對各個發(fā)光顯示器件所單獨進行測試的需要而延長和增加，這就會導致測試效率的降低。因此，希望能在發(fā)光顯示器件進行分隔之前對多個發(fā)光顯示器件進行測試。
如果在準備進行單片測試的母板上包括一些次品或者有缺陷的發(fā)光顯示器件的話，就不適宜進行對常規(guī)發(fā)光顯示器件的測試。因此，為了提高單片單元測試的可靠性和有效性，應該單獨控制施加于所選擇的發(fā)光顯示器件的預定信號，例如，通過截止有缺陷的發(fā)光顯示器件，以便于減小或者消除有缺陷發(fā)光顯示器件對其它被測發(fā)光顯示器件的影響。
同樣，施加于所選擇有機發(fā)光顯示器件的預定信號應該得到有效地控制，以便于減小和/或防止對控制信號的電路的損壞。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明提出了一種發(fā)光顯示器件及其母板，可以基本克服由于現(xiàn) 有技術(shù)的限制和缺點而產(chǎn)生一個或多個問題。
因此，本發(fā)明實施例所具有的一個性能是提供一種發(fā)光顯示器件，例如，有機發(fā)光顯示器件，它能夠?qū)δ赴迳纤纬傻亩鄠€發(fā)光顯示器件進行單片單
元測試；以及還提供一種發(fā)光顯示器件的母板。
因此，本發(fā)明實施例所具有的一個獨立特征是提供一種發(fā)光顯示器件，例如，有機發(fā)光顯示器件，它可以單獨控制施加于各個被測發(fā)光顯示器件的預定信號。
因此，本發(fā)明實施例所具有的一個獨立特征是提供一種發(fā)光顯示器件，例如，有機發(fā)光顯示器件，它可以防止和/或減小在對母板上所形成的至少一個發(fā)光顯示器件進行測試過程中損壞用于控制信號的電路；以及還提供一種發(fā)光顯示器件的母板。
本發(fā)明上述和其它性能和優(yōu)點中的至少一項可以通過提供發(fā)光顯示器件來實現(xiàn)，該發(fā)光顯示器件包括多個象素，多個用于將掃描信號選擇性施加于象素的掃描線，多個與掃描線交叉用于將數(shù)據(jù)信號施加于各個象素的數(shù)據(jù) 線，用于將掃描信號施加于掃描線的掃描驅(qū)動器，以及至少一個電性能連接著掃描驅(qū)動器的第一測試單元，其中，第一測試單元中的至少一個輸出線電性能連接著掃描驅(qū)動器，以及第一測試單元中的至少一個其它輸出線可以是電性能斷開和處于電性能開路狀態(tài)。
發(fā)光顯示器件可以是有機發(fā)光顯示器并且各個象素包括一個有機發(fā)光二極管。發(fā)光顯示器件可以包括用于接受來自外部驅(qū)動信號的焊點單元。第一測試單元可以通過焊點單元電性能連接著掃描驅(qū)動器，并且排列在發(fā)光顯示器件的邊緣區(qū)域內(nèi)。第一測試單元可以排列在距離發(fā)光顯示器件邊緣邊沿大約300拜的范圍內(nèi)。
第一測試單元可以包括至少一個邏輯門。邏輯門可以包括至少一個NOR 門、緩沖門和反相器。反相器可以是三態(tài)反相器。發(fā)光顯示器件可以包括第二測試/測量單元，排列在發(fā)光顯示器件的邊緣區(qū)域內(nèi)。第二測試/測量單元中的至少一個輸出線可以是電性能連接著多個掃描線中的任意一個，以及第二測試/測量單元中的至少一個其它輸出線可以是電性能斷開和處于電性能開路狀態(tài)。
第二測試/測量單元可以包括至少一個邏輯門。邏輯門可以包括至少一
個反相器。反相器可以是三態(tài)反相器。發(fā)光顯示器件可以包括一組晶體管組且它具有多個連接著數(shù)據(jù)線第一端的晶體管。數(shù)據(jù)線可以直接連接著象素。在晶體管組中的晶體管可以保持在截止狀態(tài)中，以便對應于從外部施加控制信號。發(fā)光顯示器件可以包括數(shù)據(jù)驅(qū)動器，用于向數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號的；以及數(shù)據(jù)分配器，它連接在數(shù)據(jù)驅(qū)動器和數(shù)據(jù)線的各個第二端之間，用于將通過數(shù)據(jù)驅(qū)動器的至少一個輸出線所提供的數(shù)據(jù)信號提供給多個數(shù)據(jù)線。發(fā)光顯示器件可以包括一個支撐基板和一個密封基板，其中象素夾在支撐基板和密封基板之間。發(fā)光顯示器件可以包括形成在支撐基板和密封基板之間和形成在象素外部的密封劑。密封劑可以包括至少一種過渡金屬元素和填充劑。密封劑可以是玻璃料。密封基板可以排列成保持第一測試單元的外露。發(fā)光顯示器件可以包括第一引線組和第二引線組中的至少一組，第一引線組在發(fā)光顯示器件的邊沿區(qū)域上以第一方向延伸，而第二引線組在邊沿區(qū)域上以第二方向延伸。第一和第二引線組的各端可以是電性能斷開和保持電性能開路狀態(tài)。本發(fā)明的上述和其它性能和優(yōu)點中的至少一項可以通過提供包括多個發(fā) 光顯示器件的母板來實現(xiàn)，該母板包括第一引線組和第二引線組，第一引線組在發(fā)光顯示器件的邊沿區(qū)域上以第一方向延伸而第二引線組在發(fā)光顯示器件的邊沿區(qū)域上以第二方向延伸，其中各個發(fā)光顯示器件包括多個象素，多個用于選擇性向象素施加掃描信號的掃描線，多個與掃描線交叉且將數(shù)據(jù)信號施加于象素的數(shù)據(jù)線，用于將掃描信號施加于掃描線的掃描驅(qū)動器，以及至少一個連接在掃描驅(qū)動器和第一或第二引線組中所包括的預定引線之間的第一測試單元，其中，掃描驅(qū)動器產(chǎn)生對應于第一測試單元所提供的控制信號以及通過第一或第二引線組所提供的電源和信號的掃描信號。第一測試單元可以排列在用于分離發(fā)光顯示器件的第一分隔線條和發(fā)光顯示器件的第二碾磨線條之間。各個發(fā)光顯示器件都可以包括用于接受驅(qū)動信號的焊點單元，以及第一測試單元排列在焊點單元和第一分隔線條之間。第一測試單元可以基于在第一和第二引線組中所包括的預定引線所提供的信號控制掃描驅(qū)動器。母板可以包括第二測試/測量單元，它連接在多個掃描線中的任何一個掃描線和在第一或第二引線組中所包括的預定引線之間。第二測試/測量單
元可以向第一或第二引線組中所包括的預定引線輸出一個輸出信號，該輸出信號對應于來自連接著自身第二電路單元的掃描線所提供的掃描信號以及第一或第二引線組所提供功率電源和信號。第二測試/測量單元可以排列在距離分離發(fā)光顯示器件的第一線條大約300pm的范圍內(nèi)。第二測試/測量單元可以排列在發(fā)光顯示器件的第一分隔線條和第二碾磨線條之間。發(fā)光顯示器件可以包括晶體管組，它具有多個連接在數(shù)據(jù)線的第一各端和在第一或第二引線組中所包括的預定引線之間的晶體管。晶體管組中所提供的晶體管可對應于第一或第二引線組提供的測試控制信號同時導通。晶體管組可以對應于測試控制信號向數(shù)據(jù)線輸出由第一或者第二引線組所提供的測試信號。附圖簡述附圖對其典型實施例的具體說明會變得更為清楚，其中

圖1圖示了根據(jù)本發(fā)明一個典型實施例的有機發(fā)光顯示器件的典型母板的示意圖；圖2圖示了圖1所示的一個典型有機發(fā)光顯示器件的示意圖；圖3圖示了圖1所示典型母板沿著A-A，線截取的剖面圖；圖4圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第一典型實施例的電路圖；圖5圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第二典型實施例的電路圖；圖6圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第三典型實施例的電路圖；圖7圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可釆用的邏輯門的第四典型實施例的電路圖；圖8圖示了如圖1所述區(qū)域B中形成的，圖7所示的邏輯門的第四典型實施例的布局圖；圖9圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第五典型實施例的電路圖IO圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第六典型實施例的電路圖；圖ll圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第七典型實施例的電路圖；圖12圖示了圖1和圖2所示的象素的典型實施例的電路圖；以及，圖13圖示了用于驅(qū)動圖12所示的象素電路的典型波形圖。
具體實施方式
2006年8月23日向韓國知識產(chǎn)權(quán)局提交申請、韓國專利申請?zhí)?No.2006-0079930、題為"有機發(fā)光顯示器件及其母板(Organic Light Emitting Display Device and Mother Substrate of the Same)"通過引用完整結(jié)合于本申請文本中。以下將參考附圖更全面地討論本發(fā)明，附示說明了本發(fā)明的典型實施例。然而，本發(fā)明可以各種不同的形式實現(xiàn)，不應解讀為限于本文所給出的各實施例。此外，這些實施例的提供，使得本披露更加全面和完整并將本發(fā)明保護范圍傳達給本領域中的技術(shù)人士。在整個說明書中，相同的標號表示的相同的元件。以下將參考附圖討論本發(fā)明的典型實施例，便于本領域內(nèi)的技術(shù)人士更加清晰了解。在以下討論中，當一個元件連接著另一個元件時，一個元件不僅可以直接地連接其它元件也可以通過另一個元件間接地連接其它元件。在下列典型實施例的描述中，有機發(fā)光顯示器件可以作為典型的有機發(fā) 光顯示器件使用。然而，本發(fā)明的實施例并不限制于有機發(fā)光顯示器件，而且本發(fā)明的一個或者多個方面可以應用于其它發(fā)光顯示器件。圖1圖示了根據(jù)本發(fā)明一個典型實施例的有機發(fā)光顯示器件的典型母板的示意圖。參考圖1，根據(jù)本發(fā)明典型實施例的有機發(fā)光顯示器件的母板200可以包括一矩陣方式排列的多個有機發(fā)光顯示器件210，設置在有機發(fā)光顯示器件210的邊沿區(qū)域內(nèi)的第一和第二引線組500、 600，以及設置在有機發(fā)光顯示器件210的分隔線條(第一線條)310和碾磨線條(第二線條)320之間區(qū)域內(nèi)的第一和第二電路280、 290。各個有機發(fā)光顯示器件210可以包括象素單元220、掃描驅(qū)動器230、數(shù)據(jù)驅(qū)動器240、數(shù)據(jù)分配器250、包括多個晶體管(M1至M3m)的晶體管組260以及用于接受來自外部的驅(qū)動信號的焊點單元270。象素單元220可以包括多個象素225、多個用于選擇性向象素225施加掃描信號的掃描線(S1至Sn)、多個用于選擇性向象素225施加發(fā)射控制信號的發(fā)射控制線(EM1至EMn)，以及多個排列成與掃描線(S1至Sn)和發(fā)射控制線(E1至EMn)相互交叉并且將測試信號或者數(shù)據(jù)信號施加于各個象素 225的數(shù)據(jù)線(D1至D3m)。各個象素225可以包括一個有機發(fā)光二極管。象素單元220可以顯示對應于來自第一和第二功率電源ELVDD、 ELVSS(未顯示)的電壓、來自掃描驅(qū)動器230的掃描信號和發(fā)射信號以及來自晶體管組260的測試信號的預定圖像。在對母板200上的有機發(fā)光顯示器件進行測試時，來自第一和第二功率電源ELVDD、 ELVSS的電壓可以分別由第一引線組500中的第一引線510和第二引線組600的第十四引線640來提供。在本發(fā)明的一些實施例中，根據(jù)在象素單元220中的象素225的結(jié)構(gòu)，象素單元220還可以接受其它電壓，例如，復位功率電源電壓Vinit。在對母板200進行了有機發(fā)光顯示器件210的測試和/或有機發(fā)光顯示器件210進行分隔之后，象素單元220可以顯示對應于數(shù)據(jù)分配器250所提供的數(shù)據(jù)信號的預定圖像。也就是說，在對母板200進行了有機發(fā)光顯示器件230的測試和/或有機發(fā)光顯示器件210進行分隔之后，在有機發(fā)光顯示器件210上可以顯示的圖像不是對應于晶體管組260所提供的測試信號的圖像，即，在分隔之后，晶體管組260不再向象素單元220提供產(chǎn)生圖像的信號。掃描驅(qū)動器230可以接受第三功率電源VDD的電壓、第四功率電源VSS 的電壓以及來自第一引線組500中的第三引線530、第四引線540和第五引線550的掃描控制信號，還可以在對母板200進行有機發(fā)光顯示器件的測試時接受來自第一電路單元280的控制信號。掃描驅(qū)動器230可以產(chǎn)生掃描信號和發(fā)射控制信號，這些信號都具有對應于功率電源電壓和提供掃描驅(qū)動器本身的信號的高電平或低電平電壓。由掃描驅(qū)動器230所產(chǎn)生的掃描信號和發(fā)射信號可以施加于掃描線(S1至Sn) 和發(fā)射控制線(EM1至EMn)。并隨后施加于象素單元220。掃描驅(qū)動器230可以產(chǎn)生掃描信號和發(fā)射控制信號，這些信號所具有的電壓對應于第三和第四功率電源VDD、 VSS的電壓以及在對母板200上的
提供的掃描控制信號(SCS)的電壓。在圖2和圖3所示的典型實施例中，顯示了一個掃描驅(qū)動器230排列在象素單元220的一邊。然而，本發(fā)明的實施例并不需要限制于此。例如，兩個掃描驅(qū)動器230可以排列在象素單元220的各邊，或者用于產(chǎn)生發(fā)射控制信號的發(fā)射控制驅(qū)動器排列在一個單獨的區(qū)域內(nèi)。在將有機發(fā)光顯示器件210從母板200上分隔下來之后，各個發(fā)光顯示器件210的數(shù)據(jù)驅(qū)動器240可以產(chǎn)生對應于從外部通過焊點單元270所提供的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)信號。在數(shù)據(jù)驅(qū)動器240中所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)信號可以通過數(shù)據(jù)分配器250提供數(shù)據(jù)線(D1至D3m)。數(shù)據(jù)分配器250可以連接在數(shù)據(jù)驅(qū)動器240和數(shù)據(jù)線(D1至D3m)之間，并且更具體地說，可以連接在數(shù)據(jù)驅(qū)動器240的輸出線(Ol至Om)和數(shù)據(jù)線 (Dl至D3m)的第一端之間。數(shù)據(jù)分配器250可以向多個數(shù)據(jù)線(D1至D3m) 分別提供數(shù)據(jù)信號，該數(shù)據(jù)信號可以通過數(shù)據(jù)驅(qū)動器240的輸出線(Ol至Om) 來接受。在有機發(fā)光顯示器件210從母板200分隔之后，數(shù)據(jù)分配器250可以從焊點單元270接受選擇信號，例如，CLR、 CLG、 CLB等等。在母板200上進行有機發(fā)光顯示器件210的測試時，數(shù)據(jù)分配器可以由來自第二引線組600的第十三引線630的偏置信號(Vbias)設置成截止。如果測試信號是通過數(shù)據(jù)分配器250來提供的，就不能顯示適宜的圖像或者就很難同步選擇信號，因為在這種情況下，選擇信號如果是通過數(shù)據(jù)分配器250 并通過第一或第二引線組500、 600來提供的話就會有延遲。因此，在這種情況下，就不能確保有足夠的時間來在象素中加上數(shù)據(jù)電壓。本發(fā)明的實施例通過例如為各個有機發(fā)光顯示器件210提供用于測試信號的單獨晶體管組260來克服了上述這類問題。也就是說，在本發(fā)明實施例中，在測試母板200上的有機發(fā)光顯示器件210時，可以通過單獨的晶體管組260而不是數(shù)據(jù)分配器250來提供各自的測試信號。在本發(fā)明的實施例中，晶體管組260可以連接著數(shù)據(jù)線(D1至D3m)的第二端。也就是說，在本發(fā) 明的一些實施例中，數(shù)據(jù)分配器250和晶體管組260可以排列成連接著數(shù) 據(jù)線(D1至D3m)的不同端，并且數(shù)據(jù)線(D1至D3m)的各端延長超出各個有機發(fā)光顯示器件210的象素單元220。
晶體管組260可以包括多個晶體管(M1至M3m),這些晶體管的柵極電極共同連接著第二引線組600的第十五引線650。各個晶體管(M1至M3m)的源極電極可以連接著第二引線組600的第十六引線至第十八引線660至680之一，并且各個晶體管(M1至M3m)的漏極電極可以連接著數(shù)據(jù)線(D1至D3m)之一。在本發(fā)明的一些實施例中，連接著第十八引線680的晶體管(Ml, M4, ...， M3m-2)可以連接著紅色子象素的數(shù)據(jù)線(D1，D4，…，D3m-2)，連接著第十七引線670的晶體管(M2，M5，…， M3m-1)可以連接著綠色子象素的數(shù)據(jù)線(D2， D5，…，D3m-1)，接著第十六引線660的晶體管(M3， M6， ...， M3m)可以連接著藍色子象素的數(shù)據(jù)線 (D3， D6，…，D3m)。在測試母板200上的有機發(fā)光顯示器件210時，晶體管組260的晶體管 (Ml至M3m)可以由測試控制信號同步導通，該測試控制信號可以通過第十五引線650來提供。正如以上所討論的那樣，第十五引線650可以連接著晶體管(M1至M3m)的柵極電極。于是，晶體管(M1至M3m)自身可以提供測試信號，由連接著晶體管組260的晶體管(M1至M3m)的源極電極的引線提供給數(shù)據(jù)線(D)。晶體管組260可以根據(jù)控制信號保持截止狀態(tài)，該控制信號可以在有機發(fā)光顯示器件210從母板200上分隔之后由外部提供。功率電源電壓和信號。例如，焊點單元270可以向象素單元220、掃描驅(qū)動器230、數(shù)據(jù)驅(qū)動器240和數(shù)據(jù)分配器250中的至少一個傳遞由諸如印刷電路板等所提供的功率電源電壓和驅(qū)動信號。焊點單元270可以包括多個焊點。第一電路單元280可以是可用于測試有機發(fā)光顯示器件210的電路，并且可以在對母板200中的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試時單獨控制提供給有機發(fā)光顯示器件210的預定信號。第一電路單元280可以單獨控制提供給掃描驅(qū)動器230的掃描控制信號SCS中的至少一個掃描控制信號。例如，當一個或者多個有機發(fā)光顯示器件210由于信號延遲而錯誤工作等情況時，這在母板200上排列至少一個有機發(fā)光顯示器件210時就會發(fā)生，第一電路單元280可以具有單獨截止錯誤工作的有機發(fā)光顯示器件的功能。于是，第一電路單元280可以連接在掃描驅(qū)動器230和在第一或者第二
引線組500、 600中所包括的預定引線之間。例如，第一電路單元280可以連接著掃描驅(qū)動器230，第一引線組500中的第二引線520、第三引線530 和第四引線540以及第二引線組600中的第十一引線610。這樣，第一電路單元280可以通過產(chǎn)生對應于功率電源電壓和來自第二引線520、第三引線530、第四引線540以及第十一引線610的信號的預定控制信號來控制掃描驅(qū)動器230，并且可以向掃描驅(qū)動器230輸出預定控制信號。第一電路單元280可以包括至少一個邏輯門，用于產(chǎn)生控制信號，例如，預定的控制信號。以下將詳細描述在第一電路單元280中所包括的邏輯門。在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210的測試完成之后和/ 或在有機發(fā)光顯示器件210已經(jīng)分隔之后，第一電路單元280不會影響有機發(fā)光顯示器件210的工作。于是，在本發(fā)明的一些實施例中，第一電路單元280可以排列在分隔線條(第一線條)310和碾磨線條(第二線條)320之間，并且在第一電路單元280 和第一與第二引線組500、 600之間的電性能連接點可以定位在分隔線條310 之外。在下列的描述中，分隔線條310可以對應于用于將各個有機發(fā)光顯示器件210與母板200分離的線條，而碾磨線條320可以對應于在完成分隔工藝之后沿著有機發(fā)光顯示器件的樣式碾磨的附加線條。碾磨線條320的位置一般可以對應于焊點單元270的下半端。在分隔線條310和碾磨線條320之間的區(qū)域可以稱之為邊緣區(qū)域。也就是說，將第一電路單元280可以排列在邊緣區(qū)域內(nèi)，即，在焊點單元270和分隔線條310之間。邊緣區(qū)域的寬度(W)可以根據(jù)有機發(fā)光顯示器件210的樣式而變化。在本發(fā)明的一些實施例中，邊緣區(qū)域距離分隔線條310可以小于或者等于士300 pm。也就是說，在本發(fā)明的一些實施例中，第一電路單元280可以排列距離分隔線條310大約300pm上或者范圍內(nèi)。第二電路單元290可以是測量電路，更具體地說，第二電路單元290可以測量各個有機發(fā)光顯示器件210的掃描驅(qū)動器230中所產(chǎn)生的掃描信號并且提供給象素單元220。第二電路單元290可以連接在多個掃描線中的任何一個掃描線和在第一或第二引線組500、 600中所包括的預定引線之間，并且可以包括至少一個邏輯門。例如，第二電路單元290可以連接在第n掃描線(Sn)和第一引線組 500中的第三引線530和第四引線540以及第二引線組600中的第十二引線 620的各端之間。在由第一電路單元280產(chǎn)生移位控制信號的實施例中，則第二電路單元290可以連接著第一電路單元280，使得它可以接受來自第一電路單元280的移位控制信號。這樣，第二電路單元290可以向第十二引線620輸出掃描測量信號。掃描測量信號可以對應于輸出到第n掃描線(Sn)的掃描信號，由第三引線530 和第四引線540分別提供的第三和第四電源VDD和VSS的電壓，以及由第一電路單元280提供的移位控制信號。隨后，在通過對母板200上的有機發(fā) 光顯示器件210進行測試時測量第十二引線620所輸出的信號來確定掃描信號是否能夠正常產(chǎn)生。在本發(fā)明的實施例中，類似于第一電路單元280，在有機發(fā)光顯示器件分隔之后，第二電路單元290不會影響有機發(fā)光顯示器件210的工作。于是，第二電路單元290可以排列在分隔線條310和碾磨線條320之間，并且在第二電路單元290和第一與第二引線組500、 600之間的電性能連接點可以形成在分隔線條310之外。在本發(fā)明的一些實施例中，第二電路單元2卯可以排列在距離分隔線條310大約300pm上或者范圍內(nèi)。第二電路單元290可以測量由各個有機發(fā)光顯示器件210的掃描驅(qū)動器 230所產(chǎn)生并且提供給象素單元220的發(fā)射控制信號，。在這類實施例中，第二電路單元290可以連接在多個發(fā)射控制線(EM1至EMn)中的任何一個輸出和在第一或第二引線組500、 600中所包括的預定引線之間。在本發(fā)明的一些實施例中，可以提供多個第二電路單元290，以便于測量多個信號，例如，兩個第二電路單元290可以被提供來測量掃描信號和發(fā)射控制信號。第一引線組500可以在有機發(fā)光顯示器件210邊緣區(qū)域上以第一方向延伸。更具體地說，第一引線組500可以共同連接著排列在母才反200同一列中的有機發(fā)光顯示器件210。這樣的第一引線組500可以包括，例如，第一至第十五引線510至550。第一引線520可以接受第一功率電源ELVDD的電壓。第二引線520可以接受垂直控制信號(VC)。第三引線530可以接受第三功率電源VDD的電壓。第四引線540可以接受第四功率電源電壓VSS。第五引線550可以接受掃描控制信號SCS。第一引線510可以將第一功率電源ELVDD的電壓提供給連接著第一引線510自身的有機發(fā)光顯示器件210的象素單元220，該電壓可以在對母板 200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第一引線 510。第二引線530可以將垂直控制信號(VC)提供連接著第二引線520自身的第一電路單元280，該信號可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第二引線520。第三引線530可以將第三功率電源的電壓提供給連接著第三引線530自身的有機發(fā)光顯示器件210的掃描驅(qū)動器230、第一電路單元280和第二電路單元290，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210 進行測試的過程中提供給第三引線530。第四引線540可以第四功率電源VSS的電壓提供給連接著第四引線540 自身的有機發(fā)光顯示器件210的掃描驅(qū)動器230、第一電路單元280和第二電路單元290，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210 進行測試的過程中提供給第四引線540。第五引線550可以將掃描控制信號SCS提供給連接著第五引線550自身的有機發(fā)光顯示器件210的掃描驅(qū)動器230，該信號可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第五引線550。提供給掃描驅(qū)動器230的掃描控制信號(SCS)可以包括時鐘信號、輸出使能信號和啟動脈沖信號，等等?？梢蕴峁┙o掃描驅(qū)動器230的許多掃描控制信號(SCS)可以根據(jù)掃描驅(qū)動器230的電路結(jié)構(gòu)而不同。因此，在第五引線550 中所包括的引線數(shù)量可以在較寬的范圍內(nèi)變化。雖然在下列典型實施例中討括，例如，少于或者多于三個引線。在本發(fā)明的一些實施例中，第五引線550中至少一個引線可以將時鐘信號提供給第一電路單元280。第二引線組600可以在有機發(fā)光顯示器件210 的邊緣區(qū)域上以第二方向延伸。更具體地說，第二引線組600 —般可以連接著排列在母板200上同一行中的有機發(fā)光顯示器件210。第二引線組600可以包括第十一至第十八引線610至680。第十一引線 610可以接受水平控制信號(HC)。第十二引線620可以輸出掃描測量信號。第十三引線630可以接受偏置電壓(Vbias)。第十四引線640可以接受第二功率電源ELVSS的電壓。第十五引線650可以接受測試控制信號。第十六
引線660可以接受藍色測試信號；第十七引線670可以接受綠色測試信號；以及第十八引線6 80可以接受紅色測試信號。第十一引線610可以將水平控制信號(HC)提供給連接著第十一引線610 自身的有機發(fā)光顯示器件210的第一電路單元280,該信號可以在對母板200 上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十一引線 610。
第十二引線620可以輸出掃描測量信號，該信號可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十二引線620。第十三引線630可以將偏置電壓(Vbias)提供給連接著第十三引線630自身的有機發(fā)光顯示器件210的數(shù)據(jù)分配器250，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十三引線 630。
第十四引線640可以將第二功率電源ELVSS的電壓提供給連接著第十四引線640自身的有機發(fā)光顯示器件210的象素單元220，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供。
第十五引線650可以將測試控制信號提供給連接著第十五引線650自身的有機發(fā)光顯示器件210的晶體管組260的晶體管(M1至M3m)，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十五引線650。
第十六引線660可以將藍色測試信號提供給連接著第十六引線660自身的有機發(fā)光顯示器件210的晶體管組260的晶體管(M1至M3m)，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十六引線660。
第十七引線670可以將綠色測試信號提供給連接著第十七引線670自身的有機發(fā)光顯示器件210的晶體管組260，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十七引線670。第十八引線680可以將綠色測試信號提供給連接著第十八引線680自身的有機發(fā)光顯示器件210的晶體管組260，該電壓可以在對母板200上的至少一個有機發(fā)光顯示器件210進行測試的過程中提供給第十八引線680。在母板200上的各個有機發(fā)光顯示器件210可以從母板200上分隔下來，例如，在完成單片單元測試之后。在本發(fā)明的一些實施例中，分隔線條
310可以排列成在分隔之后第一引線組500和第二引線組600都與象素單元 220、掃描驅(qū)動器230、數(shù)據(jù)驅(qū)動器240、數(shù)據(jù)分配器250和晶體管組260電性能隔離。也就是說，在本發(fā)明的一些實施例中，在第一引線組500和第二引線組600、以及象素單元220、掃描驅(qū)動器230、數(shù)據(jù)驅(qū)動器240、數(shù)據(jù)分配器250和晶體管組260之間的電性能連接點都可以排列在有機發(fā)光顯示器件210的分隔線條310之外。因此，本發(fā)明的各個實施例可以防止和/或減小提供給象素單元220、掃描驅(qū)動器230、數(shù)據(jù)驅(qū)動器240、數(shù)據(jù)分配器250 和晶體管組260的噪聲，例如，從外部流經(jīng)第一引線組500和第二引線組600 的靜電。在采用上述所討論的典型母板200的情況下，因為該母板200可以包括第一和第二引線組500、 600，所以可以在沒有對形成于母板200上的多個有機發(fā)光顯示器件210進行分隔的條件下，對一個、一些或者所有有機發(fā)光顯示器件210進行測試。提供第一和第二功率電源ELVDD、 ELVSS的引線可以不同的方向延伸，并且可以在對母板200上的有機發(fā)光顯示器件進行測試的過程中用于分別測試各個有機發(fā)光顯示器件210。提供給各個有機發(fā)光顯示器件210的預定信號可以單獨控制，例如，使用在母板200上的第一和第二電路單元280、 290。因此，各個有機發(fā)光顯示器件210可以單獨控制，例如，在對有機發(fā)光顯示器件210中的另一個器件或者其它器件進行測試時可以截止各個有機發(fā)光顯示器件210。在本發(fā)明的一些實施例中，各個有機發(fā)光顯示器件210可以單獨驅(qū)動，例如，完全獨立的驅(qū)動，并且通過將第一和第二電路單元280、 290排列在分隔線條310和碾磨線條320之間以及分開在第一和第二電路單元280、 290 與第一和第二引線組500、 600之間的電性能連接點可以基本上和/或完全避免例如在分隔之后由第一和第二引線組500、 600之間的引線干擾所引起的錯誤操作。圖2圖示了圖1所示的典型有機發(fā)光顯示器件的示意圖。參考圖2，各個有機發(fā)光顯示器件210可以單獨被驅(qū)動，例如，完全單獨的驅(qū)動，并且可以通過在分隔之后將有機發(fā)光顯示器件210與第一和第二引線組500、 600的電性能斷開，來避免由于引線干擾所引起的錯誤操作。也就是說，在本發(fā)明的一些實施例中，第一和第二引線組500、 600的一端
可以電性能斷開并且保持電性能開路狀態(tài)，用于驅(qū)動有機發(fā)光顯示器件210的功率電源和信號可以通過外部電路(未顯示)，例如，通過連接著焊點單元270的印刷電路板來提供。第一電路單元280和第二電路單元290可以排列在焊點單元270和有機發(fā)光顯示器件210的邊緣之間。例如，正如圖2所示，第一電路單元280和第二電路單元290可以設置在焊點部分之下，邊緣部分之上，對應于分隔線條310。更具體地說，例如，在本發(fā)明的一些實施例中，如果在焊點單元270 和有機發(fā)光顯示器件210的邊緣區(qū)域之間的寬度為300pm，則第一和第二電路單元280、 290就可以排列在距離有機發(fā)光顯示器件210邊緣300^im的范圍內(nèi)。在本發(fā)明的一些實施例中，第一電路單元280可以排列在掃描驅(qū)動器230 和有機發(fā)光顯示器件210的邊緣之間。也就是說，正如圖2所示，第一電路單元280的一個或多個信號線，如從一邊開始延伸的信號線，可以連接著諸如焊點部分270和/或掃描驅(qū)動器230，第一電路單元280的其它信號線，諸如從另一邊開始延伸的信號線，可以電性能斷開和保持處于開路狀態(tài)。類似的是，第二電路單元290的一個或多個信號線，如從一邊開始延伸的信號線，可以連接著多個掃描線中的一個或者幾個掃描線(例如，第n掃描線Sn)以及第二電路單元290的其它信號線，諸如從另一邊開始延伸的信號線，可電性能斷開和保持處于開路狀態(tài)。圖2圖示了典型有機發(fā)光顯示器件210處于有機發(fā)光顯示器件210還沒有進行碾磨處理的情況。也就是說，圖2所示的典型有機發(fā)光顯示器件210 只是進行沿著分隔線條310的分隔處理，以便于將有機發(fā)光顯示器件210從母板200上分離和/或使第一和/或第二引線組500、 600與象素部分220、掃描驅(qū)動器230、數(shù)據(jù)分配器250、數(shù)據(jù)驅(qū)動器240等電性能斷開。于是，在本發(fā)明的一些實施例中，有機發(fā)光顯示器件210僅僅只進行分隔工藝。然而，本發(fā)明的各個實施例并不需要限制于此。例如，在本發(fā)明的一些實施例中，有機發(fā)光顯示器件可進行分隔工藝和碾磨工藝。在這種情況下，例如，碾磨工藝可以沿著碾磨線條320來進行。在第一和第二電路單元280、 290排列在碾磨線條320之外的情況下，第一和第二電路單元280、 290可以由于碾磨工藝而與有機發(fā)光顯示器件210相互分離。正如以上所討論的那樣，第一和第二電路單元280、 290可以單獨控制
并且可以測量施加于各個有機發(fā)光顯示器件210的預定信號。在本發(fā)明的一些實施例中，第一和第二電路單元280、 290可以排列在分隔線條310和碾磨線條320之間，但是本發(fā)明的各個實施例并不限制于此。例如，第一和/ 或第二電路單元280、 290中的一些電路可以排列在分隔線條310之外。在這類情況下，排列在分隔線條310之外的第一和/或第二電路280、 290可以隨著分隔工藝而去除。在本發(fā)明的一些實施例中，第一和第二電路單元280、 290中的至少一些電路可以排列在分隔線條310和碾磨線條320之間，并且第一和第二電路單元280、 290中的一些電路可以排列在分隔線條310之外。在本發(fā)明的一些實施例中，上述在母板200上的有機發(fā)光顯示器件210 可以通過密封劑430得到保護而隔絕氧氣和潮氣，其中密封劑可以設置在支撐基板410和密封基板42之間。密封基板420可以排列成與支撐基板410 中的至少一部分相重疊。圖3圖示了圖1所示的母板200沿著線A-A，截取的剖面圖。結(jié)合圖1來參考圖3，形成在母板200上的各個有機發(fā)光顯示器件210 可以包括支撐基板410、密封基板420以及密封劑430。支撐基板410可以排列在象素單元220和掃描驅(qū)動器230之下，即，象素單元220和掃描驅(qū)動器230可以設置在支撐基板410上。密封基板420可以排列在支撐基板410之上，即，密封基板420可以設置排列在支撐基板410 之上，并且更具體地說，密封基板420可以排列在象素單元220和掃描驅(qū)動器230之上。密封劑430可以設置在支撐基板410和密封基板420之間。更具體地說，為了防止有機發(fā)光二極管免受氧氣和潮氣的滲透，密封基板420可以首先排列在象素單元220和/或掃描驅(qū)動器230之上，并隨后使用密封劑430粘合于支撐基板410。即，由密封劑430密封的密封基板420 和支撐基板410之間的區(qū)域可以包括至少一個象素單元220。例如，密封基板420可以排列在象素單元220和掃描驅(qū)動器230之上，而密封劑430可以沿著密封基板420的邊緣涂覆，以便于將支撐基板410和密封基板430相互粘合在一起。即，密封劑430可以形成在象素單元220之外的區(qū)域內(nèi)，其中象素單元220包括有機發(fā)光二極管。在本發(fā)明的一些實施例中，密封基板420可以形成不與數(shù)據(jù)驅(qū)動器240 和數(shù)據(jù)分配器250相重疊。更具體地說，例如，在一些情況下，數(shù)據(jù)驅(qū)動器 240等等可以在完成密封工藝之后，例如，在密封基板420和支撐基板410
密封在一起之后，作為一個芯片來安裝。在本發(fā)明的一些實施例中，正如以上所討論的那樣，可以沿著碾磨線條320進行其它碾磨工藝，并且第一和第二電路單元280、 290可以隨著這類碾磨而從有機發(fā)光顯示器件210中去除。然而，在采用激光來密封支撐基板 410和密封基板420的情況下，有機發(fā)光顯示器件210的元件可以排列在距離照射區(qū)域的預定距離。例如，在數(shù)據(jù)驅(qū)動器240和數(shù)據(jù)分配器250都在密封工藝之后作為芯片來安裝的情況下，就需要小心，以便于防止損壞第一和第二電路單元280、 290。在一些實施例中，為了防止第一和第二電路單元 280、 290被密封工藝中的激光照射所損壞，可以將密封基板420排列成不與第一和第二電路單元280、 290相重疊，并且密封劑430可以與第一和第二電路單元280、 290隔開預定的距離。在一些情況下，玻璃料可以用作為密封劑430。在這類情況下，例如，即使沒有采用吸收劑，玻璃料可以完全密封在支撐基板410和密封基板420 之間的區(qū)域，從而可以有效地防止氧氣和潮氣滲透到密封區(qū)域(特別是，象素單元220)。更具體地說，在一些情況下，兩個基板可以通過固化熔融的玻璃料來完全密封。在一些情況下，玻璃料可以采用包括添加劑的粉末狀玻璃材料來提供，或者可以采用玻璃料是普遍熔融的玻璃和在相關(guān)玻璃工藝中形成的玻璃來提供，因此，可以認為在該項應用中玻璃料包括玻璃材料和玻璃制品。這類玻璃料可以包括過渡金屬。隨著玻璃料完全密封在支撐基板410和密封基板420 之間的區(qū)域，就能夠防止氧氣和潮氣滲透到兩個基板之間。玻璃料可以采用激光或者紅外射線來融化和固化。具體地說，在本發(fā)明的一些實施例中，玻璃料可以玻璃膠的狀態(tài)涂覆在密封基板420上，可以包括用于吸收激光或者紅外射線的吸收劑以及用于減小熱膨脹系數(shù)的填充劑，并且可以通過焙燒來去除在膠中所包含的潮氣和有機粘結(jié)劑。玻璃膠可以通過向玻璃粉末中添加氧化粉末或者有機材料而成凝膠狀態(tài)。設置在支撐基板410和密封基板420之間的玻璃料可以采用激光(或者類似)進行照射。然而，激光可能會損壞在玻璃料附近的電路元件，例如，采用玻璃料覆蓋的電路元件。因此，在本發(fā)明的一些實施例中，第一和第二電路單元280、 290可以不與玻璃料430相重疊，以防止損壞第一和第二電路單元280、 290。于是，在本發(fā)明的一些實施例中，第一和第二電路單元280、 290可以設置在與玻璃料隔開預定距離的邊緣區(qū)域內(nèi)。在一些情況下，有機發(fā)光顯示器件210的密封基板420可以設置在母板200上的第n+l(n是整數(shù))行中，并且可以預定距離與排列在第n行中的有機發(fā)光顯示器件210的分隔線條310隔開。因此，通過將第一和第二電路單元280、 290排列在距離玻璃料至少一個預定的距離，本發(fā)明的各個實施例能夠防止在密封區(qū)域內(nèi)隔離的缺陷所引起的電性能短路和/或激光所引起的熱損壞。因此，本發(fā)明的各個實施例能夠使第一和第二電路單元280、 290防止來自諸如激光的損壞或變形，從而在對母板200上的有機發(fā)光顯示器件210 進行測試時，第一和第二電路單元280、 290可以單獨控制和測量施加于各個有機發(fā)光顯示器件的預定信號。圖4圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元280所采用的邏輯門380的第一典型實施例的電路圖。圖5圖示了圖1和圖2所示的第一電路單元280 所采用的邏輯門380，的第二典型實施例的電路圖。更具體地說，圖5所示的第二典型邏輯門380，包括圖4所示的第一典型邏輯門380。參考圖4和圖5，第一邏輯門380可以包括一個NOR門。NOR門可以包括連接在第三功率電源電壓VDD和第四功率電源電壓 VSS之間的第一至第四晶體管(T1至T4)，其中第四功率電源電壓VSS具有低于第三功率電源電壓VDD的電壓。更具體地說，第一和第二晶體管(T1、 T2)可以串聯(lián)連接在第三功率電源 VDD和第四功率電源VSS之間，并且可以是P型晶體管。第三和第四晶體管(T3、 T4)可以并行連接在第二晶體管(T2)和第四功率電源電壓VSS之間，并且可以是N型晶體管。第一和第四晶體管(T1、 T4)的柵極電極可以連接著第十一引線610,以便于接受水平控制信號(HC),以及第二和第三晶體管 (T2、 T3)的柵極電極可以連接著第二引線520，以便于接受垂直控制信號(vc)。這類NOR門可以輸出具有對應于第三功率電源VDD的高電平電壓數(shù) 值的信號，只要施加于NOR門自身的水平控制信號(HC)和垂直控制信號(VC) 具有低電平電壓數(shù)值。上述NOR門可以通過輸出具有預定電壓數(shù)值的輸出信號來用于產(chǎn)生移位控制信號，其中預定電壓數(shù)值對應于水平控制信號(HC)和垂直控制信號(VC)。參考圖4和圖5, NOR門的輸出信號可以用作為第一移位控制信號 (SCTL)。參考圖5，第二移位控制信號(SCTLB)可以通過將一個反相器(IN) 連接著NOR門的輸出端以反相第一移位控制信號(SCTL)來產(chǎn)生。也就是說，第二典型邏輯門380，可以包括反相器(IN)和第一典型邏輯門380中的NOR門。第二典型邏輯門380，中的反相器(IN)可以包括串聯(lián)連接在第三功率電源 VDD和第四功率電源VSS之間的第五和第六晶體管(T5、 T6)。第五和第六晶體管(T5、 T6)的柵極電極可以連接著NOR門的輸出端。第五和第六晶體管(T5、 T6)可以由不同類型的晶體管來形成，即，第五晶體管(T5)可以是P 型晶體管，而第六晶體管(T6)可以是N型晶體管。正如以上所討論的，由圖4和圖5所示的邏輯門輸出的第一移位控制信號(SCTL)和第二移位控制信號(SCTLB)可以用于產(chǎn)生移位時鐘信號以控制掃描驅(qū)動器230。以下將詳細討論這些特征。圖6和圖7分別圖示了圖1和圖2所示第一電路電源280中所包括的邏輯門的第三和第四典型實施例480、 580。正如圖7所示，第四典型邏輯門580 可以包括圖6所示的第三典型邏輯門480。參考圖6和圖7,第一和第二典型邏輯門480、 580可以包括第一移位時鐘信號(SFTCLK)的產(chǎn)生電路，該電路具有三態(tài)反相器(T—IN)、控制晶體管(Tc)和反相器(INl)。三態(tài)反相器(T一IN)可以包括串聯(lián)連接在第三功率電源VDD和第四功率電源VSS之間的第十一至第十四晶體管(Tll至T14)。第十一和第十二晶體管(Tll、 Tl"可以是P型晶體管，而第十三和第十四晶體管(T13、 Tl勺可以是N型晶體管。第十一晶體管(T11)的柵極電極可以連接著NOR門的輸出端，正如圖4和圖5所示，從而可以接受第一移位控制信號(SCTL)。第十二和第十三晶體管(T12、 T13)的柵極電極可以連接著接受掃描控制信號的第五引線之一，從而可以接受第一時鐘信號(CLK1)。第十四晶體管(T14)的柵極電極可以連接著圖5所示的NOR門和反相器(IN)的組合邏輯門的輸出端，從而可以接受第二移位控制信號(SCTLB)?？刂凭w管(Tc)可以連接在第四功率電源VSS和第一結(jié)點(N1)之間，第一結(jié)點(N1)可以是三態(tài)反相器(TJN)的輸出端，控制晶體管Tc可以是N型晶體管?？刂凭w管(Tc)的柵極電極可以連接著圖4和圖5所示的NOR門的輸出端，從而可以接受第一移位控制信號(SCTL)。反相器(IN1)可以包括串聯(lián)連接著第三功率電源VDD和第四功率電源 VSS之間的第十五和第十六晶體管(T15、 T16)。第十五和第十六晶體管(T15、 T16)的柵極電極可以共同連接著第一結(jié)點(N1)。第一移位時鐘信號(SFTCLK)的這種產(chǎn)生電路可以產(chǎn)生第一移位時鐘信號(SFTCLK),該信號具有高電平的電壓且與第一時鐘信號(CLK1)無關(guān)，只要施加于其的第一移位控制信號(SCTL)具有高電平電壓和第二移位控制信號(SCTLB)具有低電平電壓。在其它情況下，第一移位時鐘信號(SFTCLK) 的產(chǎn)生電路可以產(chǎn)生第一移位時鐘信號(SFTCLK)且具有與第一時鐘信號 (CLK1)相同的波形。例如，如果產(chǎn)生電路接受具有低電平電壓的第一移位控制信號(SCTL)和具有高電平電壓的第二移位控制信號(SCTLB)，則產(chǎn)生電路可以產(chǎn)生第一時鐘信號(CLK1)且使其具有與第一時鐘信號(CLK1)相同的波形。在本發(fā)明的一些實施例中，第一電路單元280可以包括一些邏輯門，這些邏輯門還可以包括第二移位時鐘信號(SFTCLKB)的產(chǎn)生電路，正如圖7 所示。除了圖7所示的邏輯門在圖6所示的第一移位時鐘信號(SFTCLK)的產(chǎn) 生電路的第一時鐘信號的輸入端(CLK1)還包括兩個反相器(IN2、 IN3),即，緩沖器(BU)，以及第二移位時鐘信號(SFTCLKB)的第一和第二移位控制信號(SCTL、 SCTLB)的輸入端是反相的，圖7所示的邏輯門與圖6所示的邏輯門相同。因此，省略圖7所示邏輯門的詳細描述。第一和第二移位時鐘信號(SETCLK、 SETCLKB)的這類產(chǎn)生電路可以產(chǎn) 生第一和第二移位時鐘信號(SETCLK、 SETCLKB)且具有高電平電壓而與第一時鐘信號(CLK1)無關(guān)，只要施加于其的第一移位控制信號(SCTL)具有高電平電壓和第二移位控制信號(SCTLB)具有低電平電壓。在其它情況下，例如，只要第一和第二移位時鐘信號(SETCLK、 SETCLKB)接受到具有低電平電壓的第一移位控制信號(SCTL)和具有高電平電壓的第二移位控制信號 (SCTLB)，第一和第二移位時鐘信號(SETCLK、 SETCLKB)的產(chǎn)生電路就可以產(chǎn)生具有與第一時鐘信號(CLK1 )相同波形的第一移位時鐘信號(SETCLK)
以及具有與第一時鐘信號(CLK1)相反波形的第二移位時鐘信號 (SFTCLKB)。正如以上所討論的那樣，只要圖4至圖7所示的邏輯門都包括于第一電路單元280中，則第一和第二移位時鐘信號(SFTCLK、 SFTCLKB)的產(chǎn)生電路可以產(chǎn)生對應于預定水平控制信號(HC)和預定垂直控制信號(VC)的第一和第二移位時鐘信號(SFTCLK、 SFTCLKB)，并且可以向掃描驅(qū)動器230輸出第一和第二移位時鐘信號(SFTCLK、 SFTCLKB),以便于獨立控制掃描驅(qū) 動器230。例如，如果某一特定的或者某些特定的有機發(fā)光顯示器件210已經(jīng)截止，以便于測試在母板200上的一個或者一些其它有機發(fā)光顯示器件，則具有低電平的垂直控制信號(VC)和具有低電平的水平控制信號(HC)可以分別施加于連接著特定有機發(fā)光顯示器件210的第二引線520和第十一引線 610。隨后，接受具有低電平的垂直控制信號(VC)和具有低電平的水平控制信號(HC)的第一電路單元280可以產(chǎn)生適用于第一和第二移位時鐘信號 (SFTCLK、 SFTCLKB)的高電平且與第一時鐘信號(CLK1)無關(guān)。在第一電路單元280中產(chǎn)生的第一和第二移位時鐘信號(SFTCLK、 SFTCLKB)的高電平可以輸入到掃描驅(qū)動器230中，以便于產(chǎn)生掃描驅(qū)動信號和/或用于控制象素單元220截止的發(fā)射控制信號。然而，這僅僅只是本發(fā)明的一個或者多個方面的一個典型實施例。在本發(fā)明的實施例中，輸入的信號及其它們的電壓電平可以根據(jù)掃描驅(qū)動器230的電路結(jié)構(gòu)而變化。正如以上所討論的那樣，在本發(fā)明的一些實施例中，第一電路單元280 中的至少部分電路可以排列在分隔線條310和碾磨線條320之間的邊緣區(qū)域內(nèi)，并且在這種情況下，上述電路單元可以排列在有機發(fā)光顯示器件210的邊緣區(qū)域內(nèi)。圖8圖示了圖7所示的邏輯門的第四典型實施例的布局圖，正如在圖1 所示的區(qū)域B中所形成的。例如，像三態(tài)反相器(T—IN )、緩沖器(BU)和反相器(IN)之類的邏輯門區(qū)可以排列在第二引線組600的分隔線條310和焊點單元270之下的碾磨線條320之間。正如圖8所示，沿著有機發(fā)光顯示器件 210的邊緣區(qū)域在碾磨線條320和分隔線條310之間的區(qū)域?qū)挾?W)可以在大約200至300)im的范圍之內(nèi)。正如圖6所示，在本發(fā)明的一些實施例中，控制晶體管(Tc)可以是N型
晶體管。然而，本發(fā)明的各個實施例并不限制于此。圖9圖示了由圖1和圖2所示第一電路單元可采用的邏輯門的第五典型實施例的電路圖。圖9所示的典型邏輯門480，基本對應于圖6所示的典型邏輯門480，除了控制晶體管(Tc)是P型晶體管。在這種情況下，圖9所示的邏輯門480，可以與圖6所示的邏輯門480的相同方式來構(gòu)成和驅(qū)動，除了控制晶體管(Tc，)可以接受第二移位控制信號(SCTLB)。因此，圖9所示的邏輯門480，的其它元件具有與圖6所示的邏輯門480相同的標號，并省略它們的詳細描述。圖IO圖示了由圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第六典型實施例的電路圖。參考圖10，第一電路單元280可以包括多個反相器(IN)，各個反相器(IN) 可以包括串聯(lián)連接在第三功率電源VDD和第四功率電源V S S之間的不同類型的晶體管。第一電路單元280可以接受來自第一引線組500的第十五引線 550之一的掃描控制信號(SCS),并且可以重復反相(在圖10中為三次)并且使用各個反相器(IN)輸出掃描控制信號(SCS)。如果輸入信號延遲的話，則這類第一電路單元280可以通過對掃描控制信號(SCS)延遲的補償來有效地防止有機發(fā)光顯示器件210(特別是，掃描驅(qū) 動器230)的錯誤操作，其中當對母板200上的有機發(fā)光顯示器件210進行測試時，這可以由第一或第二引線組500、 600來提供。也就是說，在本發(fā) 明的一些實施例中，第一電路單元280可以具有補償延遲的功能。如果，正如以上所討論的那樣，第一電路單元280包括多個反相器(IN)，以便于補償輸入信號的延遲，則第一電路單元280可排列在掃描驅(qū)動器230 和從外部提供的掃描控制信號(SCS)輸出至的第十五引線550之間。在本發(fā)明的一些實施例中，除了以上所討論的邏輯門之外，第一電路單元280還可以包括傳輸門，NAND門或者專用XOR門。傳輸門可以用于選擇在母板200上所形成的各個有機發(fā)光顯示器件210的導通的目的，以及 NAND門或者專用XOR門可以用于產(chǎn)生移位控制信號(SCTL)和/或移位時鐘信號(SFTCLK)這類的目的。圖11圖示了由圖1和圖2所示的第一電路單元可采用的邏輯門的第七典型實施例的電路圖。參考圖11，第二電路單元290可以包括連接在第三功率電源VDD和第四功率電源VSS之間的三態(tài)反相器390。三態(tài)反相器可以包括串聯(lián)連接在第三功率電源VDD和第四功率電源 VSS之間的第二十一至第二十四晶體管(T21至T24)。第二十一和第二十二晶體管(T21、 T22)可以是P型晶體管，而第二十三和第二十四晶體管(T23、 T24)可以是N型晶體管。第二十一晶體管(T21)的柵極電極可以連接著第一電路單元280，以便于接受第一移位控制信號(SCTL)。第二十二和第二十三晶體管(T22、 T23)的柵極電極可以連接著第n掃描線(Sn)，以便于接受第n 掃描信號(SSn)。第二十四晶體管(T24)的柵極電極可以連接著第一電路單元 280，以便于接受第二移位控制信號(SCTLB)。如果連接著第二電路單元290的有機發(fā)光顯示器件210正常工作的話，例如，在對母板200上的有機發(fā)光顯示器件210進行測試時，除了在第一移位控制信號(SCTL)處于高電平和第二移位控制信號(SCTLB)處于低電平的情況下，這類第二電路單元290可以向第十二引線620輸出掃描測量信號，對應于第n掃描信號(SSn)。因此，在對母板200上的有機發(fā)光顯示器件210 進行測試時，通過測量來自第十二引線620輸出的信號，就能夠測試是否正常產(chǎn)生掃描信號。如果在第一電路單元280中沒有包括第一和第二移位控制信號(SCTL、 SCTLB)的產(chǎn)生電路，則第二電路單元290可以接受來自第一或第二引線組 500、 600的第一和第二移位控制信號(SCTL、 SCTLB)。圖12圖示了由圖1和圖2所示象素的典型實施例的電路圖。參考圖12，象素225可以包括有機發(fā)光二極管(OLED)，以及連接著第n掃描線(Sn)、第n發(fā)射控制線(EMn)、第m數(shù)據(jù)線(Dm)、第一功率單元電壓ELVDD、復位功率電源電壓Vinit和有機發(fā)光二極管(OLED)發(fā)光以使得有機發(fā)光二極管發(fā)光的象素電路227。當對母板200上的有機發(fā)光顯示器件210進行測試時，將復位功率電源Vinit通過屬于第一或第二引線組500、 600的預定引線(未顯示)提供給各個象素225。有機發(fā)光二極管(OLED)的陽極電極可以連接著象素電路227，而有機發(fā) 光二極管(OLED)的陰極可以連接著第二功率電源電壓ELVSS。這類有機發(fā)身電流的預定亮度。象素電路227可以包括第一至第六晶體管(M1至M6)和存儲電容器 (Cst)。第一至第六晶體管(M1至M6)可以是P型晶體管，正如圖12所示。本發(fā)明的一些實施例并不限制于此。第一晶體管(Ml)的第一電極可以連接著第二結(jié)點(N2),第一晶體管(M1)的第二電極可以連接著第三結(jié)點(N3)。第一晶體管(M1)的柵極電極可以連接著第一結(jié)點(N1)。第一晶體管(M1)可以向第三結(jié)點(N3)提供對應于在存儲電容器(Cst)存儲電壓的電流。第二晶體管(M2)的第一電極可以連接著第m數(shù)據(jù)線(Dm)，第二晶體管 (M2)的第二電極可以連接著第三結(jié)點(N3)。第二晶體管(M2)的柵極電極可以連接著第n掃描線(Sn)。當掃描信號施加于第n掃描線(Sn)時，第二晶體管(M2) 導通，從而將提供給第m數(shù)據(jù)線(Dm)的數(shù)據(jù)信號提供第三結(jié)點(N3)。第三晶體管(M3)的第一電極可以連接著第二結(jié)點(N2)，第三晶體管(M3) 的第二電極可以連接著第一結(jié)點(N1)。第三晶體管(M3)的柵極電極可以連接著第n掃描線(Sn)。當掃描信號提供給第n掃描線(Sn)時，第三晶體管(M3) 導通，從而采用二極管連接模式連接第一晶體管(M1)。第四晶體管(M4)的第一電極可以連接著復位功率電源電壓Vinit，第四晶體管(M4)的第二電極連接著第一結(jié)點(N1)。第四晶體管(1VM)的柵極電極可以連接著第n-l掃描線(Sn-l)。當掃描信號提供給第n-l掃描線(Sn-l)時，第四晶體管(M4)導通，從而可以復位存儲電容器(Cst)和第一晶體管(Ml)的柵極端。于是，復位功率電源電壓Vinit的電壓電平可以設置在低于數(shù)據(jù)信號的電壓電平范圍內(nèi)。第五晶體管(M5)的第一電極可以連接著第一功率電源電壓ELVDD,第五晶體管(M5)的第二電極可以連接著第二結(jié)點(N2)。第五晶體管(M5)的柵極電極可以連接著第n發(fā)射控制線(EMn)。當發(fā)射控制信號提供給第n發(fā)射控制線(EMn)時，第五晶體管(M5)導通，從而將第一功率電源電壓ELVDD的電壓數(shù)值傳遞給第二結(jié)點(N2)。第六晶體管(M6)的第一電極可以連接著第三結(jié)點(N3)，第六晶體管(M6) 的第二電極可以連接著有機發(fā)光二極管(OLED)的陽極。第六晶體管(M6)的柵極電極可以連接著第n發(fā)射控制線(EMn)。當發(fā)射控制信號提供給第n發(fā) 射控制線(EMn)時，第六晶體管(M6)導通，從而使有機發(fā)光二極管(OLED) 與第三結(jié)點(N3)電性能連接。存儲電容器(Cst)的一端可以連接著第一功率電源電壓ELVDD和第五晶體管(M5)的第一電極，而存儲電容器(Cst)的另一端可以連接著第一結(jié)點 (Nl)。當掃描信號提供給第n掃描線(Sn)時，存儲電容器(Cst)可以對應于數(shù) 據(jù)信號和第一晶體管(Tl)的閾值電壓(Vth)的電壓進行充電，并且可以在一幀的時間周期內(nèi)保持充電電壓。圖13圖示了用于驅(qū)動圖12所示象素電路的驅(qū)動信號的典型波形圖。以下結(jié)合圖12和圖13詳細描述圖12所示的象素225的典型工作系統(tǒng)。參考圖13，在第一時間周期tl內(nèi)，掃描信號(SS)可以提供給第n-l掃描線(Sn-l),發(fā)射控制信號(EMI)可以提供給第n發(fā)射控制線(EMn)。如果發(fā) 射控制信號(EMI)具有高電平且提供給第n發(fā)射控制線(EMn)，則第五和第六晶體管(M5、 M6)可以截止。如果掃描信號(SS)提供給第n-l掃描線(Sn-l) 時，則第四晶體管(M4)可以導通。如果第四晶體管(M4)導通時，則存儲電容器(Cst)和第一晶體管(Ml)的柵極端可以連接著復位功率電源(Vinit)。如果存儲電容器(Cst)和第一晶體管(M 1)的柵極端連接著復位功率電源(Vinit)，則復位功率電源(Vinit)可以提供給存儲電容器(Cst)和第一晶體管(Ml)的柵極端，并隨后復位。隨后，在第二時間周期t2內(nèi)，掃描信號可以提供給第n掃描線(Sn)。如果掃描信號(SS)提供給第n掃描線(Sn),則第二和第三晶體管(M2、 M3)可以導通。如果第三晶體管(M3)導通，則第一晶體管(M1)可以是二極管連接。如果第二晶體管(M2)導通，則提供給第m數(shù)據(jù)線(Dm)的數(shù)據(jù)信號可以傳遞給第三結(jié)點(N3)。這時，提供給第三結(jié)點(N3)的電壓可以通過第一和第三晶體管(M1、 M3)提供給第一結(jié)點(N1)，因為第一晶體管(M1)的柵極端可以籍助于復位功率電源(Vinit)復位成比數(shù)據(jù)信號更低的電壓數(shù)值。于是，對應于第一晶體管(M1)的閾值電壓和數(shù)據(jù)信號的電壓可以存儲于存儲電容器 (Cst)。接著，第五和第六晶體管(M5、 M6)可以導通，只要發(fā)射控制信號(EMI) 沒有提供給第n發(fā)射控制線(EMn),即，發(fā)射控制信號(EMI)具有低電平。如果第五和第六晶體管(M5、 M6)導通，則對應于數(shù)據(jù)信號的電流可以從第一功率電源電壓ELVDD流向有機發(fā)光二極管(OLED)，并因此，有機發(fā)光二極管(OLED)可以產(chǎn)生對應于數(shù)據(jù)信號的光。在對母板200上的有機發(fā)光顯示器件進行測試時，如果有機發(fā)光顯示器件210籍助于預定的垂直控制信號(VC)和水平控制信號(HC)設置成截止，則上述象素225可以接受掃描信號(SS)和發(fā)射控制信號(EMI)，它可以控制
所有開關(guān)晶體管(M2至M6)截止，是由接受來自第一電路單元280的預定第一和第二移位時鐘信號(SFTCLK、 SFTCLKB)的掃描驅(qū)動器230輸出的。正如以上所討論的那樣，根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的有機發(fā)光顯示器件及其母板可以在分隔有機發(fā)光顯示器件之前對母板上所形成的多個有機發(fā)光顯示器件進行單片單元測試，因為母板可以包括第一和第二引線組。因此，測試時間可以縮短，并且費用可以降低，這是因為提高了測試效率。同樣，提供給特定有機發(fā)光顯示器件的預定信號可以單獨控制，因為母板可以包括第一和第二電路單元。因此，有可能單獨控制和測量各個有機發(fā) 光顯示器件，例如，通過在對母板上的多個有機發(fā)光顯示器件進行測試時使操作出錯的有機發(fā)光顯示器件截止。同樣，第一和第二電路單元可以通過防止在密封工藝時可能產(chǎn)生的第一和第二電路單元的變型和損壞來有效地控制有機發(fā)光顯示器件，因為第一和第二電路單元可以排列在分隔線條和碾磨線條之間，并且與密封劑(特別是，玻璃料)隔開預定的距離。本文已經(jīng)披露了本發(fā)明的一些典型實施例，盡管已經(jīng)采用了一些專用術(shù) 語，但只是在總體說明的意義上使用并進行解釋，并不用于限定。因此，本領域技術(shù)人士應該理解到，在不背離后附權(quán)利要求的本發(fā)明實質(zhì)和保護范圍的條件下，可在形式和細節(jié)上作出各種變化。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光顯示器件，它包括多個象素；多個掃描線，用于選擇性地向所述象素施加掃描信號；多個數(shù)據(jù)線，與所述掃描線相互交叉，用于向各個所述象素施加數(shù)據(jù)信號；掃描驅(qū)動器，用于向所述掃描線施加掃描信號；至少一個第一測試單元，它電性能連接著所述掃描驅(qū)動器；其中，所述第一測試單元的至少一個輸出線電性能連接著所述掃描驅(qū)動器，并且所述第一測試單元的至少一個其它輸出線電性能斷開和處于電性能開路狀態(tài)。
2. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述發(fā)光顯示器件是有機發(fā)光顯示器件并且各個所述象素包括有機發(fā)光二極管。
3. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括用于從外部接受驅(qū)動信號的焊點單元。
4. 如權(quán)利要求3所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述第一測試單元通過所述焊點單元電性能連接著所述掃描驅(qū)動器，并且排列在所述有機發(fā) 光顯示器件的邊緣區(qū)域內(nèi)。
5. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述第一測試單元排列在距離所述有機發(fā)光顯示器件邊緣大約300 pm的范圍內(nèi)。
6. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述第一測試單元包括至少一個邏輯門。
7. 如權(quán)利要求6所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述邏輯門包括至少一個NOR門、緩沖器和反相器。
8. 如權(quán)利要求7所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述反相器是三態(tài)反相器。
9. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括第二測試/ 測量單元，它排列在所述發(fā)光顯示器件的邊緣區(qū)域內(nèi)。
10. 如權(quán)利要求9所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述第二測試/ 測量單元中的至少一個輸出線電性能連接著多個掃描線中的任一掃描線，并且第二測試/測量單元中的至少一個其它輸出線電性能斷開和處于電性能開路狀態(tài)。
11. 如權(quán)利要求IO所述的發(fā)光顯示器件測量單元包括至少一個邏輯門。
12. 如權(quán)利要求11所述的發(fā)光顯示器件括至少一個反相器。
13. 如權(quán)利要求12所述的發(fā)光顯示器件三態(tài)反相器。
14. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括一組晶體管組，它具有多個連接著所述數(shù)據(jù)線的各個第一端的晶體管。
15. 如權(quán)利要求14所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線直接連接著所述象素。
16. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，在所述晶體管組中所提供的晶體管處于截止狀態(tài)，以對應于外部所提供的控制信號。
17. 如權(quán)利要求15所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括數(shù)據(jù)驅(qū)動器，用于向所述數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號；以及，數(shù)據(jù)分配器，連接在所述數(shù)據(jù)驅(qū)動器和所述數(shù)據(jù)線的各個第二端之間，所述數(shù)據(jù)線用于將通過所述數(shù)據(jù)驅(qū)動器的至少一個數(shù)據(jù)線所提供的所述數(shù)據(jù) 信號提供多個所述數(shù)據(jù)線。
18. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括支撐基板和密封基板，其中所述象素是夾在所述支撐基板和所述密封基板之間的。
19. 如權(quán)利要求18所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括密封劑，所述密封劑形成于所述支撐基板和所述密封基板之間，并且形成在所述象素的外部。
20. 如權(quán)利要求19所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述密封劑包括至少一種過渡金屬和填充劑。
21. 如權(quán)利要求20所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述密封劑是玻璃料。
22. 如權(quán)利要求18所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，所述密封基板排列成保持所述第一測試單元外露。，其特征在于，，其特征在于, ，其特征在于,所述第二測試/ 所述邏輯門包所述反相器是
23. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括第一引線組和第二引線組中的至少一組，其中所述第一引線組在所述有機發(fā)光顯示器件的邊緣區(qū)域上以第一方向延伸，所述第二引線組在邊緣區(qū)域上以第二方向延伸。
24. 如權(quán)利要求23所述的發(fā)光顯示器件，其特征在于，還包括第一引線組和第二引線組的各端電性能斷開和保持電性能開路狀態(tài)。
25. —種包括多個發(fā)光顯示器件的母板，所述母板包括第一引線組，在所述發(fā)光顯示器件的邊緣區(qū)域上以第一方向延伸；第二引線組，在所述發(fā)光顯示器件的邊緣區(qū)域上以第二方向延伸；其中，所述各個發(fā)光顯示器件包括多個象素；多個掃描線，用于選擇性地向所述象素施加掃描信號；多個數(shù)據(jù)線，與所述掃描線相互交叉，用于向各個所述象素施加數(shù)據(jù)信號；掃描驅(qū)動器，用于向所述掃描線施加掃描信號；以及，至少一個第一測試單元，它連接在所述掃描驅(qū)動器和在所述第一或第二引線組中所包括的預定引線之間；其中，所述掃描驅(qū)動器產(chǎn)生掃描信號，所述掃描信號對應于所述第一測試單元所提供的控制信號，以及功率電源和通過所述第一或第二引線組所提供的信號。
26. 如權(quán)利要求25所述的母板，其特征在于，所述第一測試單元排列在用于分隔發(fā)光顯示器件的第一分隔線條和發(fā)光顯示器件的第二碾磨線條之間。
27. 如權(quán)利要求26所述的母板，其特征在于，所述各個發(fā)光顯示器件包括用于接受驅(qū)動信號的焊點單元，以及排列在所述焊點單元和第一分隔線條之間的第一測試單元。
28. 如權(quán)利要求25所述的母板，其特征在于，所述第一測試單元根據(jù) 在第一或者第二引線組中所包括預定引線所提供的信號來控制所述掃描驅(qū)動器。
29. 如權(quán)利要求25所述的母板，其特征在于，還包括第二測試/測量單元，它連接在多個掃描線中的任意掃描線和第一或第二引線組中所包括的預定引線之間。
30. 如權(quán)利要求29所述的母板，其特征在于，所述第二測試/測量單元向第一或第二引線組中所包括的預定引線輸出輸出信號，所述輸出信號對應于連接著所述第二電路單元自身的掃描線所提供的掃描信號，功率電源和所述第一或第二引線組所提供的信號。
31. 如權(quán)利要求29所述的母板，其特征在于，所述第二測試/測量電路單元排列在距離分隔發(fā)光顯示器件的第一線條大約300pm的范圍內(nèi)。
32. 如權(quán)利要求31所述的母板，其特征在于，所述第二測試/測量單元排列在所述發(fā)光顯示器件的所述第一分隔線條和第二碾磨線條之間。
33. 如權(quán)利要求25所述的母板，其特征在于，所述發(fā)光顯示器件還包括晶體管組，所述晶體管組具有多個連接在所述數(shù)據(jù)線的各個第一端和所述第一或第二引線組中所包括的預定引線之間的晶體管。
34. 如權(quán)利要求33所述的母板，其特征在于，所述晶體管組中所提供的晶體管在對應于所述第一或者第二引線組所提供的測試控制信號時導通。
35. 如權(quán)利要求34所述的母板，其特征在于，所述晶體管組向?qū)?所述測試控制信號的數(shù)據(jù)線輸出由所述第一或第二引線組所提供的觀'J試信號。
全文摘要
一種發(fā)光顯示器件可以包括多個象素、多個用于選擇性地將掃描信號施加于象素的掃描線、多個與掃描線相互交叉且用于將數(shù)據(jù)信號施加于各個象素的數(shù)據(jù)線、用于將掃描信號施加于掃描線的掃描驅(qū)動器，以及至少一個電性能連接著掃描驅(qū)動器的第一測試單元，其中第一測試單元中的至少一個輸出線電性能連接著掃描驅(qū)動器，以及第一測試單元中的至少一個其它輸出線電性能斷開和處于電性能開路狀態(tài)。
文檔編號H01L51/50GK101131805SQ200710148518
公開日2008年2月27日申請日期2007年8月22日優(yōu)先權(quán)日2006年8月23日
發(fā)明者郭源奎申請人:三星Sdi株式會社

完整全部詳細技術(shù)資料下載