專利名稱：具測試架構(gòu)的平面顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種平面顯示裝置，尤其涉及一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置。
背景技術(shù)：
平面顯示裝置(Flat Panel Display)為目前主要流行的顯示器，其中液 晶顯示裝置更因為具有外型輕薄、省電以及無輻射等特征，而被廣泛地應用于 計算機屏幕、行動電話、個人數(shù)字助理(PDA)、平面電視等電子產(chǎn)品上。液 晶顯示裝置的工作原理是利用改變液晶層兩端的電壓差來改變液晶層內(nèi)的液 晶分子的排列狀態(tài)，用以改變液晶層的透光性，再配合背光模塊所提供的光源 以顯示影像。
圖1為現(xiàn)有技術(shù)的具測試架構(gòu)的平面顯示裝置。如圖1所示，平面顯示 裝置100包含下基板110及上基板190，液晶層即夾置于下基板110與上基板 190之間。上基板190為彩色濾光片，用來使平面顯示裝置100可顯示彩色畫 面。下基板110包含可撓性印刷電路板(Flexible Printed Circuit Board) 接合區(qū)160、多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)120、多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)140， 多數(shù)條數(shù)據(jù)線130、多數(shù)條柵極線150、多數(shù)條短路配線125、水平總線135、 垂直總線155、及影像顯示區(qū)195?？蓳闲杂∷㈦娐钒褰雍蠀^(qū)160包含多數(shù)個 連接墊165，用以耦接水平總線135及垂直總線155的多數(shù)條水平傳輸線及多 數(shù)條垂直傳輸線。源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)120與柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)140分別用 以設(shè)置源極驅(qū)動芯片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片(未顯示)。水平總線135及垂直 總線155以陣列布線(Wiring On Array, WOA)型式設(shè)置于下基板110的外引腳 接合區(qū)(Outer Lead Bonding, OLB)。
通常在源極驅(qū)動芯片與柵極驅(qū)動芯片貼附至源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)120與 柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)140之前，會先執(zhí)行陣列測試(Array Test)及像素測試 (Cell Test),用以檢測平面顯示裝置100是否有陣列布線缺陷或像素異常顏色顯示，所以下基板110另設(shè)置多數(shù)個內(nèi)部測試墊170，分別耦接于多數(shù)條短 路配線125，再通過多數(shù)條外部信號傳輸線172分別耦接至多數(shù)個外部測試墊 175。如圖1所示，連接內(nèi)部測試墊170與外部測試墊175的外部信號傳輸線 172與垂直總線155相互交叉，甚至與水平總線135的部分水平傳輸線相互交 叉，所以可能造成交叉短路使線路工作不正常。此外，由于要在外引腳接合區(qū) 設(shè)置多數(shù)陣列內(nèi)部測試墊170，所以會顯著限縮陣列布線的設(shè)置空間，因而增 加布線阻抗，影響信號傳輸?shù)臏饰弧?br> 圖2為圖1所示的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的內(nèi)部布局示意圖。如圖2所示， 在源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)120中，另設(shè)置多數(shù)個接合墊121以及至少二個對準標 記123。在完成陣列測試及像素測試后，利用激光切割工藝沿著激光切割線124 切斷短路配線125與數(shù)據(jù)線130之間的聯(lián)機，此激光切割工藝利用對準標記 123來進行對位。柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)140的內(nèi)部布局與源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū) 120的內(nèi)部布局相似，因此不再贅述。完成激光切割工藝后，才將源極驅(qū)動芯 片與柵極驅(qū)動芯片貼附至源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)120與柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū) 140。然而，在進行激光切割工藝時，會產(chǎn)生微粒污染產(chǎn)品，降低產(chǎn)品輸出率， 而工藝所需的激光切割機臺則會增加生產(chǎn)成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置。 為實現(xiàn)上述目的，依據(jù)本發(fā)明的實施例，其揭露一種具測試架構(gòu)的平面 顯示裝置，包含基板、多數(shù)條信號線、多數(shù)條傳輸線以及多數(shù)條短路配線 (Shorting Bar)。基板包含多數(shù)個驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)。多數(shù)條信號線平行地設(shè)置 于基板上。多數(shù)條傳輸線設(shè)置于基板上。每一條短路配線設(shè)置于對應驅(qū)動芯片 設(shè)置區(qū)，并耦接于對應信號線及對應傳輸線。
而且，為實現(xiàn)上述目的，依據(jù)本發(fā)明的實施例，其另揭露一種具測試架 構(gòu)的平面顯示裝置，包含基板、多數(shù)條傳輸線、多數(shù)條信號線、多數(shù)條短路配 線以及多數(shù)個晶體管?；灏蓳闲杂∷㈦娐钒褰雍蠀^(qū)，此可撓性印刷電路 板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊。多數(shù)條傳輸線設(shè)置于基板上，每一條傳輸線耦接 于可撓性印刷電路板接合區(qū)的對應連接墊。多數(shù)條信號線平行地設(shè)置于基板 上。多數(shù)條短路配線設(shè)置于基板上。多數(shù)個晶體管設(shè)置于基板上。每一個晶體管包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應短路配線，第二端耦 接于對應信號線，柵極端耦接于多數(shù)條傳輸線的柵極信號傳輸線。
以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的 限定。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)具測試架構(gòu)的平面顯示裝置； 圖2為圖1所示的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的內(nèi)部布局示意圖； 圖3為本發(fā)明第一實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖； 圖4為本發(fā)明第二實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖； 圖5為本發(fā)明第三實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖6顯示圖5的平面顯示裝置的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的另一實施例內(nèi)部布 局示意圖7為本發(fā)明第四實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖8為本發(fā)明第五實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。
其中，附圖標記
100、300、 400、 500、700、 800:平面顯示裝置
110、310、 510、 810:下基板
120、320、 520、 820:源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)
121、521:接合墊
123:對準標記
124:激光切割線
125、325、 525:短路配線130、330、 530、 830:數(shù)據(jù)線
135、335、 535、 835:水平總線
140、340、 540、跳柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)
150、350、 550、 850:柵極線
155、355、 555、 855:垂直總線
160、360、 560、 860:可撓性印刷電路板接合區(qū)
165、365、 565、 865:連接墊170:內(nèi)部測試墊 172:外部信號傳輸線 175:外部測試墊
190、 390、 590、 890:上基板 195、 395、 595、 895:影像顯示區(qū) 370、 570、 870:測試墊
526、 827:第一晶體管
527、 829:第二晶體管 528:第三晶體管 529:第四晶體管
541、 841:第一短路配線
542、 842:第二短路配線
543、 843:第三短路配線
544、 844:第四短路配線 546:第五晶體管
具體實施例方式
為讓本發(fā)明更顯而易懂，下文依本發(fā)明具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，特舉 實施例配合所附附圖作詳細說明，但所提供的實施例并不用以限制本發(fā)明所涵 蓋的范圍。
圖3為本發(fā)明第一實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖3所 示，平面顯示裝置300包含下基板310、上基板390、以及夾置于下基板310 與上基板390之間的液晶層(未顯示)。上基板390為彩色濾光片，用來使平面 顯示裝置300可顯示彩色畫面。下基板310包含可撓性印刷電路板接合區(qū)360、 多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)320、多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)340、多數(shù)條數(shù) 據(jù)線330、多數(shù)條柵極線350、多數(shù)條短路配線325、水平總線335、垂直總線 355、及影像顯示區(qū)395。多數(shù)條數(shù)據(jù)線330及多數(shù)條柵極線350相互交叉地 設(shè)置于影像顯示區(qū)395，用來傳輸多數(shù)個數(shù)據(jù)信號及多數(shù)個柵極信號以顯示影 像。可撓性印刷電路板接合區(qū)360包含多數(shù)個連接墊365，而水平總線335及 垂直總線355的多數(shù)條水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸線即分別耦接至多數(shù)個對應連接墊365。源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)320與柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)340分別用 以設(shè)置源極驅(qū)動芯片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片(未顯示)。水平總線335及垂直 總線355以陣列布線型式設(shè)置于下基板310的外引腳接合區(qū)。
每一條短路配線325設(shè)置于對應源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)320或?qū)獤艠O驅(qū) 動芯片設(shè)置區(qū)340。設(shè)置于源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)320的短路配線325耦接于對 應數(shù)據(jù)線330及水平總線335的對應水平傳輸線，設(shè)置于柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū) 340的短路配線325耦接于對應柵極線350及垂直總線355的對應垂直傳輸線。 在執(zhí)行陣列測試或像素測試時，通常需要將多數(shù)個第一測試信號及多數(shù)個第二 測試信號分別饋入至多數(shù)條數(shù)據(jù)線330及多數(shù)條柵極線350，用以檢測陣列布 線缺陷或像素異常顏色顯示。因此在具測試架構(gòu)的平面顯示裝置300中，多數(shù) 個第一測試信號即從可撓性印刷電路板接合區(qū)360的多數(shù)個對應連接墊365 饋入，經(jīng)由水平總線335的多數(shù)條對應水平傳輸線及源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)320 的多數(shù)條短路配線325而傳送至多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線330。此外，多數(shù)個第二測 試信號則從可撓性印刷電路板接合區(qū)360的多數(shù)個對應連接墊365饋入，經(jīng)由 垂直總線355的多數(shù)條對應垂直傳輸線與柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)340的多數(shù)條短 路配線325而傳送至多數(shù)條對應柵極線350。
由上述可知，本發(fā)明第一實施例具測試架構(gòu)液的平面顯示裝置，并不需 要設(shè)置多數(shù)個內(nèi)部測試墊、多數(shù)條外部信號傳輸線、及多數(shù)個外部測試墊，所 以在垂直傳輸線及水平傳輸線的布線設(shè)計中，不會形成與外部信號傳輸線相互 交叉的走線狀況，即可避免交叉短路的缺陷。另外，由于在下基板的外引腳接 合區(qū)不需要設(shè)置多數(shù)個內(nèi)部測試墊，所以不會限縮陣列布線的設(shè)置空間，即可 降低布線阻抗以避免影響信號傳輸?shù)臏饰弧?br> 圖4為本發(fā)明第二實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖4所 示，平面顯示裝置400在圖3的平面顯示裝置300的下基板310中，另設(shè)置多 數(shù)個測試墊370。在源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)320的每一條短路配線325包含第一 端及第二端，其中第一端耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)360的對應連接墊 365，第二端耦合于對應測試墊370。同理，在柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)340的每 一條短路配線325包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可撓性印刷電路板 接合區(qū)360的對應連接墊365，第二端耦合于對應測試墊370。所以在執(zhí)行平 面顯示裝置400的陣列測試或像素測試時，另可利用多數(shù)個探針從多數(shù)個測試墊370輸入多數(shù)個第一測試信號及多數(shù)個第二測試信號，即每一條短路配線
325的二端均饋入測試信號以避免測試信號衰減而影響檢測準確性。相較于現(xiàn)
有技術(shù)平面顯示裝置，本發(fā)明第二實施例的平面顯示裝置只設(shè)置少數(shù)的測試墊
370以輔助測試信號輸入，所以并不會顯著限縮陣列布線的設(shè)置空間。除i:述 結(jié)構(gòu)差異外，平面顯示裝置400的其余結(jié)構(gòu)同于平面顯示裝置300的結(jié)構(gòu)，所 以不再贅述。
圖5為本發(fā)明第三實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖5所 示，平面顯示裝置500包含下基板510、上基板590、以及夾置于下基板510 與上基板590之間的液晶層(未顯示)。上基板590為彩色濾光片，用來使平面 顯示裝置500可顯示彩色畫面。下基板510包含可撓性印刷電路板接合區(qū)560、 多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520、多數(shù)個第一晶體管526、多數(shù)個第二晶體管 527、多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540、多數(shù)個第三晶體管528、多數(shù)個第四晶 體管529、多數(shù)條數(shù)據(jù)線530、多數(shù)條柵極線550、多數(shù)條短路配線525、水平 總線535、垂直總線555、及影像顯示區(qū)595。多數(shù)條數(shù)據(jù)線530及多數(shù)條柵 極線550相互交叉地設(shè)置于影像顯示區(qū)595，用來傳輸多數(shù)個數(shù)據(jù)信號及多數(shù) 個柵極信號以顯示影像。可撓性印刷電路板接合區(qū)560包含多數(shù)個連接墊565， 而水平總線535及垂直總線555的多數(shù)條水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸線即分 別耦接至多數(shù)個對應連接墊565。源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520與柵極驅(qū)動芯片設(shè) 置區(qū)540分別用以設(shè)置源極驅(qū)動芯片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片(未顯示)。水平 總線535及垂直總線555以陣列布線型式設(shè)置于下基板510的外引腳接合區(qū)。
每一個源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520設(shè)置多數(shù)條短路配線525、多數(shù)個第一晶 體管526、及多數(shù)個第二晶體管527，其中多數(shù)條短路配線525包含多數(shù)條第 一短路配線541及第二短路配線542。第一晶體管526包含第一端、第二端與 柵極端，其中第一端耦接于對應第一短路配線541，第二端耦接于水平總線535 的對應水平傳輸線，柵極端耦接于第二短路配線542。第二晶體管527包含第 一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第一短路配線541，第二端耦 接于對應數(shù)據(jù)線530，柵極端耦接于第二短路配線542。請注意，多數(shù)個源極 驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520由水平總線535所串接，除了串接于最后的源極驅(qū)動芯片 設(shè)置區(qū)520,其余源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520的二側(cè)邊均設(shè)置有多數(shù)個第一晶體 管526，而串接于最后的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520只有一側(cè)邊設(shè)置有多數(shù)個第
10一晶體管526。
每 一個柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540設(shè)置多數(shù)條短路配線525、多數(shù)個第三晶 體管528、及多數(shù)個第四晶體管529，其中多數(shù)條短路配線525包含多數(shù)條第 三短路配線543及第四短路配線544。第三晶體管528包含第一端、第二端與 柵極端，其中第一端耦接于對應第三短路配線543，第二端耦接于垂直總線555 的對應垂直傳輸線，柵極端耦接于第四短路配線544。第四晶體管529包含第 一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第三短路配線543，第二端耦 接于對應柵極線550，柵極端耦接于第四短路配線544。請注意，多數(shù)個柵極 驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540由垂直總線555所串接，除了串接于最后的柵極驅(qū)動芯片 設(shè)置區(qū)540，其余柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540的二側(cè)邊均設(shè)置有多數(shù)個第三晶體 管528，而串接于最后的柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540只有一側(cè)邊設(shè)置有多數(shù)個第 三晶體管528。
在執(zhí)行平面顯示裝置500的陣列測試或像素測試時，多數(shù)個第一測試信 號即從可撓性印刷電路板接合區(qū)560的多數(shù)個對應連接墊565饋入，經(jīng)由水平 總線535的多數(shù)條對應水平傳輸線、多數(shù)個第一晶體管526、多數(shù)條第一短路 配線541、及多數(shù)個第二晶體管527而傳送至多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線530。另有第 一測試致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū)560的對應連接墊565、水平總 線535的對應水平傳輸線、及第二短路配線542而饋入至多數(shù)個第一晶體管 526的柵極及多數(shù)個第二晶體管527的柵極，用以致能多數(shù)個第一晶體管526 及多數(shù)個第二晶體管527。
此外，多數(shù)個第二測試信號則從可撓性印刷電路板接合區(qū)560的多數(shù)個 對應連接墊565饋入，經(jīng)由垂直總線555的多數(shù)條對應垂直傳輸線、多數(shù)個第 三晶體管528、多數(shù)條第三短路配線543、及多數(shù)個第四晶體管529而傳送至 多數(shù)條對應柵極線550。另有第二測試致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū) 560的對應連接墊565、垂直總線555的對應垂直傳輸線、及第四短路配線544 而饋入至多數(shù)個第三晶體管528的柵極及多數(shù)個第四晶體管529的柵極，用以 致能多數(shù)個第三晶體管528及多數(shù)個第四晶體管529。
在完成陣列測試及像素測試后，貼附多數(shù)個源極驅(qū)動芯片及多數(shù)個柵極 驅(qū)動芯片以執(zhí)行影像顯示時，第一測試致能信號被設(shè)為除能信號，使多數(shù)個第 一晶體管526及多數(shù)個第二晶體管527均切換至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第一短路配線541與多數(shù)條數(shù)據(jù)線530之間的信號傳輸功能，此外第二測試致能 信號也被設(shè)為除能信號，使多數(shù)個第三晶體管528及多數(shù)個第四晶體管529 均切換至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第三短路配線543與多數(shù)條柵極線550 之間的信號傳輸功能。因此平面顯示裝置500可在不受多數(shù)條第一短路配線 541及多數(shù)條第三短路配線543的影響下，而執(zhí)行正常影像顯示操作。由上述 可知，在本發(fā)明第三實施例平面顯示裝置的工藝中，并不需要利用激光切割工 藝以切斷多數(shù)條第一短路配線541與多數(shù)條數(shù)據(jù)線530之間的聯(lián)機，及切斷多 數(shù)條第三短路配線543與多數(shù)條柵極線550之間的聯(lián)機，所以可避免因進行激 光切割工藝而產(chǎn)生微粒污染產(chǎn)品導致低產(chǎn)品輸出率，此外，現(xiàn)有技術(shù)工藝所需 的激光切割機臺就可省略不用而降低生產(chǎn)成本。
在另一實施例中，圖5的平面顯示裝置500的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520 的內(nèi)部布局為圖6所示的布局。請參考圖6，圖6顯示圖5的平面顯示裝置的 源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的另一實施例內(nèi)部布局示意圖。如圖6所示，源極驅(qū)動芯 片設(shè)置區(qū)520包含多數(shù)個第一晶體管526、多數(shù)個第二晶體管527、多數(shù)條第 一短路配線541、第二短路配線542、多數(shù)個第五晶體管546、及多數(shù)個接合 墊521。多數(shù)個接合墊521用以耦合水平總線535的多數(shù)條對應水平傳輸線及 源極驅(qū)動芯片，或用以耦合多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線530及源極驅(qū)動芯片。第一晶體 管526及第二晶體管527的耦接關(guān)系同上所述。第五晶體管546包含第一端、 第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第一晶體管526的第一端，第二端耦 接于水平總線535的對應水平傳輸線，柵極端耦接于第二短路配線542。同理， 圖5的平面顯示裝置500的柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540的內(nèi)部布局也可如上述圖 6的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520的內(nèi)部布局，而作均等變更。
在圖6所示的實施例中，于執(zhí)行陣列測試或像素測試時，每一條第一短 路配線541可耦接于水平總線535的二條對應水平傳輸線，即第一測試信號可 經(jīng)由二條對應水平傳輸線，并行饋入至對應第一短路配線541，用以降低第一 測試信號的傳輸衰減。在另一均等實施例中，于執(zhí)行陣列測試或像素測試時， 每一條第一短路配線541可耦接于水平總線535的多數(shù)條對應水平傳輸線，即 第一測試信號可經(jīng)由多數(shù)條對應水平傳輸線，并行饋入至對應第一短路配線 541，用以降低第一測試信號的傳輸衰減。
圖7為本發(fā)明第四實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖7所示，平面顯示裝置700在圖5的平面顯示裝置500的下基板510中，另設(shè)置多 數(shù)個測試墊570。在源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520的每一條短路配線525包含第一 端及第二端，其中第一端耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)560的對應連接墊 565，第二端耦合于對應測試墊570。同理，在柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540的每 一條短路配線525包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可撓性印刷電路板 接合區(qū)560的對應連接墊565，第二端耦合于對應測試墊570。此外，串接于 最后的源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520的二側(cè)邊，如同其余源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)520， 均設(shè)置有多數(shù)個第一晶體管526，而串接于最后的柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540的 二側(cè)邊，也如同其余柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)540，均設(shè)置有多數(shù)個第三晶體管 528。所以在執(zhí)行平面顯示裝置700的陣列測試或像素測試時，另可利用多數(shù) 個探針從多數(shù)個測試墊570輸入多數(shù)個第一測試信號及多數(shù)個第二測試信號， 即每一條短路配線525的二端均饋入測試信號以避免測試信號衰減而影響檢 測準確性。相較于現(xiàn)有技術(shù)平面顯示裝置，本發(fā)明第四實施例的平面顯示裝置 只設(shè)置少數(shù)的測試墊570以輔助測試信號輸入，所以并不會顯著限縮陣列布線 的設(shè)置空間。除上述結(jié)構(gòu)差異外，平面顯示裝置700的其余結(jié)構(gòu)同于平面顯示 裝置500的結(jié)構(gòu)，所以不再贅述。
圖8為本發(fā)明第五實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖8所 示，平面顯示裝置800包含下基板810、上基板890、以及夾置于下基板810 與上基板890之間的液晶層(未顯示)。上基板890為彩色濾光片，用來使平面 顯示裝置800可顯示彩色畫面。下基板810包含可撓性印刷電路板接合區(qū)860、 多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)820、多數(shù)個第一晶體管827、多數(shù)個第二晶體管 829、多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)840、多數(shù)條數(shù)據(jù)線830、多數(shù)條柵極線850、 多數(shù)條第一短路配線841、第二短路配線842、多數(shù)條第三短路配線843、第 四短路配線844、多數(shù)個測試墊870、水平總線835、垂直總線855、及影像顯 示區(qū)895。多數(shù)條數(shù)據(jù)線830及多數(shù)條柵極線850相互交叉地設(shè)置于影像顯示 區(qū)895，用來傳輸多數(shù)個數(shù)據(jù)信號及多數(shù)個柵極信號以顯示影像?？蓳闲杂∷?電路板接合區(qū)860包含多數(shù)個連接墊865，而水平總線835及垂直總線855的 多數(shù)條水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸線即分別耦接至多數(shù)個對應連接墊865。 源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)820與柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)840分別用以設(shè)置源極驅(qū)動芯 片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片(未顯示)。水平總線835及垂直總線855以陣列布線型式設(shè)置于F基板810的外引腳接合區(qū)。
第一晶體管827包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應 第一短路配線841,第二端耦接于對應數(shù)據(jù)線830，柵極端耦接于第二短路配 線842。第二晶體管829包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對 應第三短路配線843，第二端耦接于對應柵極線850，柵極端耦接于第四短路 配線844。第一短路配線841的兩端均耦接于對應測試墊870，第三短路配線 843的兩端也均耦接于對應測試墊870。第二短路配線842包含第一端及第二 端，其中第一端耦接于對應測試墊870，第二端經(jīng)由垂直總線855的對應垂直 傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865，即第二端耦接 于柵極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)840的對應垂直傳輸線，用以接收可撓性印刷電路板接 合區(qū)860的對應連接墊865所饋入的測試信號。第四短路配線844包含第一端 及第二端，其中第一端耦接于對應測試墊870，第二端經(jīng)由水平總線835的對 應水平傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865，即第二 端耦接于源極驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)820的對應水平傳輸線，用以接收可撓性印刷電 路板接合區(qū)860的對應連接墊865所饋入的測試信號。
在一實施例中，第一短路配線841可以只有一端耦接于對應測試墊870， 第三短路配線843也可以只有一端耦接于對應測試墊870。第二短路配線842 的第二端可以經(jīng)由水平總線835的對應水平傳輸線耦合于可撓性印刷電路板 接合區(qū)860的對應連接墊865，或直接耦接于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的 對應連接墊865。第四短路配線844的第二端可以經(jīng)由垂直總線855的對應垂 直傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865，或直接耦接 于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865。在另一實施例中，第二短 路配線842可以耦接于第四短路配線844，并均經(jīng)由水平總線835的對應水平 傳輸線或垂直總線855的對應垂直傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860 的對應連接墊865，或均直接耦接于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接 墊865。
在執(zhí)行平面顯示裝置800的陣列測試或像素測試時，多數(shù)個第一測試信 號即從多數(shù)個對應測試墊870饋入，經(jīng)由多數(shù)條第一短路配線841及多數(shù)個第 一晶體管827而傳送至多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線830。另有第一測試致能信號經(jīng)由可 撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865、垂直總線855的對應垂直傳輸線、及第二短路配線842而饋入至多數(shù)個第一晶體管827的柵極，用以致能多 數(shù)個第一晶體管827。此外，多數(shù)個第二測試信號則從多數(shù)個對應測試墊870 饋入，經(jīng)由多數(shù)條第三短路配線843及多數(shù)個第二晶體管829而傳送至多數(shù)條 對應柵極線850。另有第二測試致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū)860的 對應連接墊865、水平總線835的對應水平傳輸線、及第四短路配線844而饋 入至多數(shù)個第二晶體管829的柵極，用以致能多數(shù)個第二晶體管829。
在完成陣列測試及像素測試后，貼附多數(shù)個源極驅(qū)動芯片及多數(shù)個柵極 驅(qū)動芯片以執(zhí)行影像顯示時，第一測試致能信號被設(shè)為除能信號，使多數(shù)個第 一晶體管827均切換至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第一短路配線841與多數(shù)條 數(shù)據(jù)線830之間的信號傳輸功能，此外第二測試致能信號也被設(shè)為除能信號， 使多數(shù)個第二晶體管829均切換至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第三短路配線 843與多數(shù)條柵極線850之間的信號傳輸功能。因此平面顯示裝置800可在不 受多數(shù)條第一短路配線841及多數(shù)條第三短路配線843的影響下，而執(zhí)行正常 影像顯示操作。
由上述可知，在本發(fā)明第五實施例的平面顯示裝置的工藝中，并不需要 利用激光切割工藝以切斷多數(shù)條第一短路配線841與多數(shù)條數(shù)據(jù)線830之間的 聯(lián)機，及切斷多數(shù)條第三短路配線843與多數(shù)條柵極線850之間的聯(lián)機，所以 可避免因進行激光切割工藝而產(chǎn)生微粒污染產(chǎn)品導致低產(chǎn)品輸出率，此外，現(xiàn) 有技術(shù)工藝所需的激光切割機臺就可省略不用而降低生產(chǎn)成本。
當然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的 情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形， 但這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，其特征在于，包含一基板，包含多數(shù)個驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)；多數(shù)條信號線，平行地設(shè)置于該基板上；多數(shù)條傳輸線，設(shè)置于該基板上；以及多數(shù)條短路配線，每一條短路配線設(shè)置于該些驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的一對應驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)，并耦接于該些信號線的一對應信號線及該些傳輸線的一對應傳輸線。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，該基板另包含一可 撓性印刷電路板接合區(qū)，該可撓性印刷電路板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊，該些 連接墊的至少一個連接墊耦接于該些傳輸線的一對應傳輸線。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，另包含至少一測 試墊，設(shè)置于該基板上，該測試墊耦接于該些傳輸線的一對應傳輸線。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，該些信號線為多數(shù) 條數(shù)據(jù)線或多數(shù)條柵極線。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，該基板另包含一外 引腳接合區(qū)，該些傳輸線以陣列布線型式設(shè)置于該基板的外引腳接合區(qū)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，該些短路配線包含 多數(shù)條第一短路配線及多數(shù)條第二短路配線，該平面顯示裝置另包含多數(shù)個第一晶體管，每一個第一晶體管設(shè)置于該些驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的一對應驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)，該第一晶體管包含一第一端，耦接于該些第一短路配線的一對應第一短路配線；一第二端，耦接于該些傳輸線的一對應傳輸線；以及一柵極端，耦接于該些第二短路配線的一對應第二短路配線；以及多數(shù)個第二晶體管，每一個第二晶體管設(shè)置于該些驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的一對應驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)，該第二晶體管包含一第一端，耦接于該些第一短路配線的一對應第一短路配線； 一第二端，耦接于該些信號線的一對應信號線；以及 一柵極端，耦接于該些第二短路配線的一對應第二短路配線。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的平面顯示裝置，其特征在于，另包含 多數(shù)個第三晶體管，每一個第三晶體管設(shè)置于該些驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的一對應驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)，該第三晶體管包含一第一端，耦接于該些第一晶體管的一對應第一晶體管的第一端； 一第二端，耦接于該些傳輸線的一對應傳輸線；以及 一柵極端，耦接于該些第二短路配線的一對應第二短路配線。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的平面顯示裝置，其特征在于，該基板另包含一可 撓性印刷電路板接合區(qū)，該可撓性印刷電路板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊，該些 連接墊的至少一個連接墊耦接于該些傳輸線的一對應傳輸線。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的平面顯示裝置，其特征在于，另包含至少一測試墊，設(shè)置于該基板上，該測試墊耦接于該些傳輸線的一對應傳 輸線。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的平面顯示裝置，其特征在于，該些信號線為多 數(shù)條數(shù)據(jù)線或多數(shù)條柵極線。
11. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的平面顯示裝置，其特征在于，該基板另包含一 外弓I腳接合區(qū)，該些傳輸線以陣列布線型式設(shè)置于該基板的外引腳接合區(qū)。
12. —種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，其特征在于，包含一基板，包含一可撓性印刷電路板接合區(qū)，該可撓性印刷電路板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊；多數(shù)條傳輸線，設(shè)置于該基板上，每一條傳輸線耦接于該些連接墊的一對 應連接墊；多數(shù)條信號線，平行地設(shè)置于該基板上； 多數(shù)條短路配線，設(shè)置于該基板上；以及 多數(shù)個晶體管，設(shè)置于該基板上，每一個晶體管包含 一第一端，耦接于該些短路配線的一對應短路配線； 一第二端，耦接于該些信號線的一對應信號線；以及 一柵極端，耦接于該些傳輸線的一柵極信號傳輸線。
13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的平面顯示裝置，其特征在于，該基板另包含多 數(shù)個驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)，該柵極信號傳輸線經(jīng)由該些驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的至少一個 驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)耦接于該些連接墊的一對應連接墊。
14. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的平面顯示裝置，其特征在于，另包含至少一 測試墊，設(shè)置于該基板上，該測試墊耦接于該些短路配線的一對應短路配線。
15. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的平面顯示裝置，其特征在于，另包含 一測 試墊，設(shè)置于該基板上，耦接于該柵極信號傳輸線。
16. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的平面顯示裝置，其特征在于，該些信號線為多 數(shù)條數(shù)據(jù)線或多數(shù)條柵極線。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，用以避免短路配線設(shè)置于外引腳接合區(qū)而限縮總線的陣列布線面積。此平面顯示裝置主要包含具多數(shù)個驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的基板、設(shè)置于基板上的多數(shù)條信號線與多數(shù)條傳輸線、以及設(shè)置于驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)的多數(shù)條短路配線。每一條短路配線耦接于對應信號線及對應傳輸線。此外，為使平面顯示裝置工藝省略激光切割程序以降低生產(chǎn)成本，每一個驅(qū)動芯片設(shè)置區(qū)另可設(shè)置多數(shù)個晶體管，用以控制短路配線與信號線之間的信號連結(jié)，及控制短路配線與傳輸線之間的信號連結(jié)。
文檔編號H01L29/66GK101315508SQ20081009834
公開日2008年12月3日 申請日期2008年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月23日
發(fā)明者劉俊欣, 劉柏源, 蔡宗廷, 陳勇志 申請人:友達光電股份有限公司