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      主動(dòng)組件數(shù)組基板的制作方法

      文檔序號(hào):7195677閱讀:138來源:國(guó)知局
      專利名稱:主動(dòng)組件數(shù)組基板的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      主動(dòng)組件數(shù)組基板
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型是有關(guān)于一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,且特別是有關(guān)于一種檢測(cè)電路能力
      良好的主動(dòng)組件數(shù)組基板。背景技術(shù)
      在諸多的平面顯示器中,具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu) 越特性的薄膜晶體管液晶顯示器(Thin FilmTransistor Liquid Crystal Display, TFT LCD),已成為顯示器領(lǐng)域中的主流。薄膜晶體管液晶顯示器主要是由主動(dòng)組件數(shù)組基板、彩 色濾光基板以及夾于此兩基板之間的液晶層所構(gòu)成。 在完成主動(dòng)組件數(shù)組基板的制程后,通常會(huì)對(duì)主動(dòng)組件數(shù)組基板上的畫素?cái)?shù)組進(jìn) 行電性檢測(cè),或是在完成面板制程后,對(duì)面板進(jìn)行簡(jiǎn)易的點(diǎn)燈檢測(cè),以判斷畫素?cái)?shù)組或面板 可否正常運(yùn)作。當(dāng)畫素?cái)?shù)組或面板無法正常運(yùn)作時(shí),便可對(duì)于不良的組件(如薄膜晶體管 或畫素電極等)或線路進(jìn)行修補(bǔ)。然而,為了對(duì)于畫素?cái)?shù)組或面板進(jìn)行檢測(cè),在主動(dòng)組件數(shù) 組基板的周邊區(qū)上便需要制作出檢測(cè)電路(Examiningcircuit)。 檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)主要是利用多個(gè)檢測(cè)開關(guān)分別連接主動(dòng)組件數(shù)組基板上的多條 掃描線以及多條數(shù)據(jù)線。此外,檢測(cè)電路中設(shè)有多條短路條(shorting bar)以將連接于掃 描線的檢測(cè)開關(guān)串接在一起,或是將連接于數(shù)據(jù)線的檢測(cè)開關(guān)串接在一起。如此一來,由短 路條的端部輸入對(duì)應(yīng)的檢測(cè)訊號(hào)就可以進(jìn)行檢測(cè)。 然而,每一條短路條連接至所有的掃描線或是所有的數(shù)據(jù)線將增加短路條上的檢 測(cè)開關(guān)的阻抗負(fù)荷。此外,掃描線之間的耦合效應(yīng)以及數(shù)據(jù)線之間的耦合效應(yīng)以及掃描線 與數(shù)據(jù)線之間的耦合效應(yīng)更會(huì)加重檢測(cè)開關(guān)的負(fù)擔(dān)。如此一來,檢測(cè)開關(guān)的充放電效能不 佳而使檢測(cè)主動(dòng)組件數(shù)組基板時(shí)容易發(fā)生假線等誤檢測(cè)現(xiàn)象。特別是,隨顯示面板的分辨 率提升,檢測(cè)開關(guān)的負(fù)擔(dān)更是沉重而更容易發(fā)生檢測(cè)效能不佳的情形。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明要解決的技術(shù)問題,在于提供一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,其檢測(cè)電路的效能 良好,正確率高。 本實(shí)用新型提出一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,包括一基板, 具有一顯示區(qū)以及該顯示區(qū)以外的一周邊區(qū);多條訊號(hào)線,位于所述顯示區(qū)中,且各訊號(hào)線 彼此平行;多個(gè)畫素結(jié)構(gòu),位于所述顯示區(qū)中,并電性連接所述訊號(hào)線;以及一檢測(cè)電路, 位于所述周邊區(qū)中,電性連接所述訊號(hào)線,該檢測(cè)電路包括一第一短路條、一第二短路條、 多個(gè)第一開關(guān)以及多個(gè)第二開關(guān),所述各訊號(hào)線的延伸線最多通過該第一短路條與該第二 短路條其中之一者,且該些第一開關(guān)連接至該第一短路條而該些第二開關(guān)連接至該第二短 路條。 其中,所述第一開關(guān)以及第二開關(guān)分別為一薄膜晶體管。所述薄膜晶體管包括一 閘極、一源極以及一汲極,且該閘極位于該源極與該汲極之間。所述汲極連接于其中一所述訊號(hào)線。 所述第一短路條以及所述第二短路條分別為一第一檢測(cè)閘極線以及一第二檢測(cè) 閘極線,該第一檢測(cè)閘極線用以將一第一閘極訊號(hào)輸入至所述第一開關(guān),而該第二檢測(cè)閘 極線用以將一第二閘極訊號(hào)輸入至所述第二開關(guān)。所述檢測(cè)電路還包括一檢測(cè)數(shù)據(jù)線,連 接至所述第一開關(guān)以及所述第二開關(guān);或者是所述檢測(cè)電路還包括一第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線以 及一第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線連接至所述第一開關(guān),而該第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線連 接至所述第二開關(guān)。 據(jù)線以及一第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第一紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)
      線以及第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān),而所述第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線包括一第二
      紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第二紅色檢測(cè)
      數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分別連接部分的第二開關(guān)。 所述第一短路條以及該第二短路條分別為一第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二檢測(cè)數(shù)
      據(jù)線,該第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線用以將一第一數(shù)據(jù)訊號(hào)輸入至所述第一開關(guān),而該第二檢測(cè)數(shù)據(jù)
      線用以將一第二數(shù)據(jù)訊號(hào)輸入至所述第二開關(guān)。 所述第一檢測(cè)資料線包括一第一紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一 第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第一紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及第一藍(lán)色檢測(cè) 數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān),而該第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線包括一第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第 二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測(cè) 數(shù)據(jù)線以及第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分別連接部分的第二開關(guān)。 所述檢測(cè)電路還包括一檢測(cè)閘極線,連接至該些第一開關(guān)以及該些第二開關(guān)。 所述檢測(cè)電路還包括一第三短路條以及多個(gè)第三開關(guān),該第三開關(guān)連接至該第三 短路條,且各所述訊號(hào)線的延伸線最多通過該第一短路條、該第二短路條以及該第三短路 條其中之一者。 所述訊號(hào)線為掃描線或數(shù)據(jù)線。 所述第一開關(guān)以及第二開關(guān)被同時(shí)開啟或分別開啟。 本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于本實(shí)用新型將同一側(cè)的檢測(cè)電路以兩條以上的短路條連接。 如此一來,每一條短路條僅連接部分的訊號(hào)線及部分的畫素,而不需承擔(dān)過大的負(fù)荷。在這 樣的設(shè)計(jì)之下,每一條短路條上的檢測(cè)開關(guān)可以更有效率的充放電而使檢測(cè)正確性提升。 換言之,本實(shí)用新型的主動(dòng)組件數(shù)組基板不容易發(fā)生檢測(cè)誤差。


      下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。 圖1為本實(shí)用新型第一實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板的上視示意圖。 圖2為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板。 圖3為本實(shí)用新型第三實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板示意圖。 圖4為本實(shí)用新型第四實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板。 圖5為本實(shí)用新型第五實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板。 圖6為本實(shí)用新型第六實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板示意圖。主要組件符號(hào)說明[0026] 100、200、300、400、500、600 :主動(dòng)組件數(shù)組基板 110 :基板 112:顯示區(qū) 114:周邊區(qū) 120 :訊號(hào)線 120R、120G、120B資料線 130 :畫素結(jié)構(gòu) 140、150、240、340、440、540、610、620 :檢測(cè)電路 142、242、342、144、244、344、546、548 :短路條 242R、242G、242B、244R、244G、244B、346 :檢測(cè)資料線 146:檢測(cè)閘極線 D :汲極 G:閘極 S :源極 Sl :第一開關(guān) S2:第二開關(guān) S3 :第三開關(guān) Vd、Vdl、Vd2、Vd3:數(shù)據(jù)訊號(hào) Vg、 Vgl、 Vg2、 Vg3 :閘極訊號(hào) I、 II、 III、 IV :檢測(cè)區(qū)
      具體實(shí)施方式
      圖1為本實(shí)用新型第一實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板的上視示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)Dl,主 動(dòng)組件數(shù)組基板IOO包括一基板110、多條訊號(hào)線120、多個(gè)畫素結(jié)構(gòu)130以及一檢測(cè)電路 140。基板110具有一顯示區(qū)112以及顯示區(qū)112以外的一周邊區(qū)114。所有訊號(hào)線120均 位于顯示區(qū)112中,且各訊號(hào)線120彼此平行。所有畫素結(jié)構(gòu)130均位于顯示區(qū)112中,并 電性連接訊號(hào)線120。檢測(cè)電路140位于周邊區(qū)114中,并電性連接訊號(hào)線120。 主動(dòng)組件數(shù)組基板100中,各畫素結(jié)構(gòu)130需要連接至一條掃描線(未標(biāo)示)以 及一條數(shù)據(jù)線(未標(biāo)示),以由掃描線與資料線(未標(biāo)示)傳送顯示畫面所需的訊號(hào)。掃描 線以及數(shù)據(jù)線的延伸方向不同。為了清楚且明確地描述本實(shí)施例的設(shè)計(jì),本實(shí)施例以訊號(hào) 線120來表示掃描線以及數(shù)據(jù)線其中一以進(jìn)行說明。換言之,以下說明的技術(shù)手段可以應(yīng) 用于所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者所知悉的掃描線或是數(shù)據(jù)線,當(dāng)然也可以同時(shí)應(yīng)用于 此兩者。 檢測(cè)電路140包括一第一短路條142、一第二短路條144、多個(gè)第一開關(guān)S1以及多 個(gè)第二開關(guān)S2。第一開關(guān)Sl連接至第一短路條142而第二開關(guān)S2連接至第二短路條144, 且各訊號(hào)線120的延伸線最多通過第一短路條142與第二短路條144其中一。也就是說, 第一短路條142與第二短路條144在各訊號(hào)線120的延伸軌跡上不重疊。 第一開關(guān)S1以及第二開關(guān)S2分別為一薄膜晶體管,其包括一閘極G、一源極S以 及一汲極D。閘極G位于源極S與汲極D之間,而汲極D例如連接于其中一條訊號(hào)線120。第一短路條142以及第二短路條144分別為一第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線,其 分別連接至第一開關(guān)S1的源極S以及第二開關(guān)S2的源極S。另外,檢測(cè)電路140更包括一 檢測(cè)閘極線146,其連接至第一開關(guān)S1的閘極G以及第二開關(guān)S2的閘極G。 由這樣的連接關(guān)系可知,第一短路條142僅連接于部分訊號(hào)線120以劃分出第一 檢測(cè)區(qū)I,而第二短路條144連接于另一部分訊號(hào)線120以劃分出第二檢測(cè)區(qū)II。在這樣 的設(shè)計(jì)之下,僅有第一檢測(cè)區(qū)I中的訊號(hào)線120彼此耦合的效應(yīng)會(huì)影響第一開關(guān)S1的充放 電效能。同樣地,僅有第二檢測(cè)區(qū)II中的訊號(hào)線120彼此耦合的效應(yīng)會(huì)影響第二開關(guān)S2 的充放電效能。所以,第一開關(guān)S1與第二開關(guān)S2都可以具有較佳的充放電效能。相較于 以往所有訊號(hào)線120皆影響檢測(cè)開關(guān)之效能的設(shè)計(jì),本實(shí)施例可以大幅地降低第一開關(guān)S1 與第二開關(guān)S2的負(fù)擔(dān)。 另外,第一短路條142與第二短路條144在各訊號(hào)線120的延伸軌跡上不重疊。因 此,本實(shí)施例可以避免兩條短路條142與144之間的耦合效應(yīng)而更進(jìn)一步地減輕第一開關(guān) Sl與第二開關(guān)S2的負(fù)荷。第一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2的充放電效能越好則越不容易產(chǎn)生 假線等誤檢測(cè)的情形。因此,檢測(cè)電路140能夠正確地檢測(cè)出主動(dòng)組件數(shù)組基板100的缺 陷。 在本實(shí)施例中,檢測(cè)閘極線146可以傳輸一閘極訊號(hào)Vg以控制第一開關(guān)Sl以及 第二開關(guān)S2的開啟與關(guān)閉。第一短路條142用以將一第一數(shù)據(jù)訊號(hào)Vdl輸入至第一開關(guān) Sl,而第二短路條144則用以將一第二數(shù)據(jù)訊號(hào)Vd2輸入至第二開關(guān)S2。 具體而言,主動(dòng)組件數(shù)組基板100可采用其中一種的檢測(cè)方法如下。首先,由檢測(cè) 閘極線146輸入閘極訊號(hào)Vg,并且由第一短路條142輸入第一數(shù)據(jù)訊號(hào)Vdl。此時(shí),第一開 關(guān)Sl會(huì)將第一數(shù)據(jù)訊號(hào)Vdl輸入至位于第一檢測(cè)區(qū)I中的畫素結(jié)構(gòu)130。在這一檢測(cè)步驟 中,可以檢測(cè)第一檢測(cè)區(qū)I中的組件是否有缺陷產(chǎn)生。接著,由檢測(cè)閘極線146輸入閘極訊 號(hào)Vg,以及由第二短路條144輸入第二數(shù)據(jù)訊號(hào)Vd2,以檢測(cè)第二檢測(cè)區(qū)II中的畫素結(jié)構(gòu) 130。 另一種檢測(cè)方法例如是由檢測(cè)閘極線146輸入閘極訊號(hào)Vg,由第一短路條142輸 入第一數(shù)據(jù)訊號(hào)Vdl,并同時(shí)由第二短路條144輸入第二數(shù)據(jù)訊號(hào)Vd2。這樣的檢測(cè)方法可 以同時(shí)檢測(cè)顯示區(qū)112中所有的組件。亦即,本實(shí)施例可以將第一開關(guān)S1以及第二開關(guān)S2 同時(shí)開啟或分別開啟。此外,第一開關(guān)S1與第二開關(guān)S2所承擔(dān)的負(fù)荷較以往設(shè)計(jì)減輕許 多,所以同時(shí)檢測(cè)顯示區(qū)112中所有的組件時(shí),第一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2仍可以很有效率 地充放電。也因此,主動(dòng)組件數(shù)組基板100的缺陷可以更正確地被檢測(cè)出來。 值得一提的是,本實(shí)施例是以訊號(hào)線120來描述掃描線以及數(shù)據(jù)線其中一者的檢 測(cè)電路140設(shè)計(jì),另一者的檢測(cè)電路150可以與檢測(cè)電路140相同或是相異。實(shí)際上,主動(dòng) 組件數(shù)組基板100中只要有一側(cè)的檢測(cè)電路140設(shè)計(jì)有不重疊的兩條短路條(如142與 144)以劃分出多個(gè)檢測(cè)區(qū)就有助于降低檢測(cè)開關(guān)(如S1與S2)的負(fù)擔(dān)以及誤檢測(cè)的情形。 另外,圖2為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板。請(qǐng)參照?qǐng)D2,主動(dòng)組件 數(shù)組基板200的設(shè)計(jì)是由主動(dòng)組件數(shù)組基板100衍生而來。主動(dòng)組件數(shù)組基板200的設(shè)計(jì) 是應(yīng)用于彩色平面顯示面板。因此,若訊號(hào)線120為數(shù)據(jù)線,則訊號(hào)線120包括有紅色數(shù)據(jù) 線120R、綠色數(shù)據(jù)線120G以及藍(lán)色數(shù)據(jù)線120B。 在這樣的組件設(shè)計(jì)下,若要依照不同顏色的畫素結(jié)構(gòu)130進(jìn)行檢測(cè),則檢測(cè)電路
      7240中,第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線242包括一第一紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線242R、 一第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線242G 以及一第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線242B,其分別連接部分的第一開關(guān)Sl,而第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線244 包括一第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線244R、一第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線244G以及一第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù) 線244B,其分別連接部分的第二開關(guān)S2。這樣的設(shè)計(jì)非但更進(jìn)一步減輕第一開關(guān)S1與第 二開關(guān)S2的負(fù)擔(dān),還可以分別檢測(cè)不同顏色的畫素結(jié)構(gòu)130。 圖3本實(shí)用新型第三實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D3,主動(dòng)組件數(shù) 組基板300與主動(dòng)組件數(shù)組基板100有大致相同的組件設(shè)計(jì),其中同樣的組件符號(hào)將表示 為相同設(shè)計(jì)的組件。不過,主動(dòng)組件數(shù)組基板300中檢測(cè)電路340的第一短路條342以及 第二短路條344分別地連接于第一開關(guān)S1的閘極G以及第二開關(guān)S2的閘極G。此外,第一 開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2的源極S接連接至同一條檢測(cè)資料線346。 換言之,第一短路條342以及第二短路條344分別為一第一檢測(cè)閘極線以及一第 二檢測(cè)閘極線。第一短路條342用以將一第一閘極訊號(hào)Vgl輸入至第一開關(guān)Sl,而第二短 路條344用以將一第二閘極訊號(hào)Vg2輸入至第二開關(guān)S2。本實(shí)施例是利用不同的檢測(cè)閘極 線來劃分出第一檢測(cè)區(qū)I以及第二檢測(cè)區(qū)II。 具體來說,主動(dòng)組件數(shù)組基板300的檢測(cè)方法可以是依序由第一短路條342與第 二短路條344將第一閘極訊號(hào)Vgl以及第二閘極訊號(hào)Vg2輸入畫素結(jié)構(gòu)130。同時(shí),由檢測(cè) 數(shù)據(jù)線346將數(shù)據(jù)訊號(hào)Vd輸入至畫素結(jié)構(gòu)130。 另一種檢測(cè)方法也可以是同時(shí)由第一短路條342與第二短路條344將第一閘極訊 號(hào)Vgl以及第二閘極訊號(hào)Vg2輸入畫素130。并且,由檢測(cè)數(shù)據(jù)線346將數(shù)據(jù)訊號(hào)Vd輸入 至畫素130。 上述的檢測(cè)方法中,第一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2所承載的負(fù)荷較小,而具有良好的 充放電效能。因此,主動(dòng)組件數(shù)組基板300可以有效率地被檢測(cè),且不容易因?yàn)殚_關(guān)組件 (Sl與S2)的能力不足而有誤檢測(cè)的情形發(fā)生。 值得一提的是,本實(shí)施例不限定檢測(cè)數(shù)據(jù)線的設(shè)計(jì)為一條或是多條。訊號(hào)線120 若為數(shù)據(jù)線時(shí),檢測(cè)數(shù)據(jù)線346的設(shè)計(jì)可以參考圖2的第一短路條242,而由紅色檢測(cè)資料 線(未繪示)、綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線(未繪示)以及藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線(未繪示)組成。 圖4為本實(shí)用新型第四實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板。請(qǐng)參照?qǐng)D4,主動(dòng)組件數(shù)組基 板400結(jié)合了前述主動(dòng)組件數(shù)組基板100與主動(dòng)組件數(shù)組基板300的設(shè)計(jì)。檢測(cè)電路440 包括多個(gè)第一開關(guān)Sl、多個(gè)第二開關(guān)S2、第一短路條142、342及第二短路條144、344。 具體而言,第一短路條142為第一檢測(cè)資料線,第一短路條342為第一檢測(cè)閘極 線。并且,第二短路條144為第二檢測(cè)資料線,第二短路條344為第二檢測(cè)閘極線。即第一 開關(guān)S1與第二開關(guān)S2未由任何一條共同的線路連接。誠(chéng)如前述,這樣的設(shè)計(jì)可以減輕第 一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2的負(fù)擔(dān)而有助于降低誤檢測(cè)的情形而提高檢測(cè)效能。 當(dāng)訊號(hào)線120為數(shù)據(jù)線時(shí),第一短路條342及第二短路條344的設(shè)計(jì)可以如圖2之 第一短路條242與第二短路條244的設(shè)計(jì)。也就是說,第一短路條342及第二短路條344可 以分別由三條檢測(cè)數(shù)據(jù)線所構(gòu)成以針對(duì)不同顏色的畫素結(jié)構(gòu)130分別地進(jìn)行檢測(cè)。另外, 另一側(cè)的檢測(cè)電路150可以按照前述的檢測(cè)電路140、240或340的方式設(shè)計(jì)。 圖5為本實(shí)用新型第五實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板。請(qǐng)參照?qǐng)D5,主動(dòng)組件數(shù)組基 板500是由主動(dòng)組件數(shù)組基板400的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)延伸而來的。主動(dòng)組件數(shù)組基板500包括了主動(dòng)組件數(shù)組基板400中所有的組件,且檢測(cè)電路540更包括多個(gè)第三開關(guān)S3以及連接于 第三開關(guān)S3的第三短路條546、548。各訊號(hào)線120的延伸線最多通過第一短路條142與 342、第二短路條144與344以及第三短路條546與548其中之一者。另外,第三短路條546 可以是第三檢測(cè)閘極線,而第三短路條548可以是第三檢測(cè)數(shù)據(jù)線。 本實(shí)施例可以依照不同的短路條將顯示區(qū)112劃分出三個(gè)檢測(cè)區(qū)I、II以及III。 各檢測(cè)區(qū)I、 II以及III中的畫素結(jié)構(gòu)130可以分別被點(diǎn)亮或同時(shí)被點(diǎn)亮以進(jìn)行感測(cè)。此 外,第一開關(guān)Sl、第二開關(guān)S2與第三開關(guān)S3的負(fù)荷較小而具有較佳的充放電能力。所以, 主動(dòng)組件數(shù)組基板500的檢測(cè)效能相當(dāng)良好。 本實(shí)施例中,不同檢測(cè)區(qū)I、II以及III中的開關(guān)S1、S2以及S3都是連接獨(dú)立的 線路且以不同的訊號(hào)(Vgl、Vg2、Vg3以及Vdl、Vd3、Vd3)來控制。也就是說,第一開關(guān)S1由 第一短路條142與342連接,第二開關(guān)S2由第二短路條144與344連接,而第三開關(guān)S3由 第三短路條546與548連接。不過,本實(shí)施例中,也可以將第一短路條142、第二短路條144 與第三短路條546連接在一起?;蚴菍⒌谝欢搪窏l342、第二短路條344與第三短路條548 連接在一起。即所有開關(guān)Sl、 S2以及S3可以連接至同一條檢測(cè)閘極線或是同一條檢測(cè)數(shù) 據(jù)線。也就是說,本實(shí)施例的設(shè)計(jì)僅需兩條以上的短路條組成檢測(cè)閘極線或是檢測(cè)數(shù)據(jù)線 至少其中之一者就可以有效地降低檢測(cè)開關(guān)的負(fù)擔(dān),而達(dá)到提高檢測(cè)效率的功效。 訊號(hào)線120可以是橫向的掃描線或是縱向的數(shù)據(jù)線,不過上述的實(shí)施例皆以其中 一個(gè)方向的訊號(hào)線120來進(jìn)行說明。實(shí)際上,上述檢測(cè)電路140、240、340、440以及540也 可以應(yīng)用于另一側(cè)的檢測(cè)電路150。 圖6為本實(shí)用新型第六實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D6,主動(dòng)組件 數(shù)組基板600在橫向以及縱向分別設(shè)置有檢測(cè)電路610以及620。檢測(cè)電路610與檢測(cè)電 路620的設(shè)計(jì)分別為上述檢測(cè)電路140、240、340、440以及540其中之一者。此時(shí),主動(dòng)組 件數(shù)組基板600可劃分出多個(gè)檢測(cè)區(qū)I IV。各檢測(cè)區(qū)I、 II、 III以及IV可以分別進(jìn)行 檢測(cè)或是同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)。由前述實(shí)施例的內(nèi)容可知,檢測(cè)電路610與檢測(cè)電路620中組件 的負(fù)荷較小。所以,主動(dòng)組件數(shù)組基板600具有良好的檢測(cè)正確性及高檢測(cè)效率。 綜上所述,本實(shí)用新型利用多條短路條來連接同一側(cè)的檢測(cè)開關(guān)。因此,各檢測(cè)開 關(guān)的負(fù)擔(dān)大幅減少,而具有較佳的充放電效能。此外,不同組的短路條在訊號(hào)線的延伸軌跡 上不重疊而不易產(chǎn)生顯著的耦合效應(yīng),而更進(jìn)一步降低了檢測(cè)開關(guān)的負(fù)擔(dān)。如此一來,主動(dòng) 組件數(shù)組基板的缺陷可以有效率且正確地被檢測(cè)出來,而不易有誤檢測(cè),例如假線的情形 發(fā)生。
      權(quán)利要求一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于,包括一基板,具有一顯示區(qū)以及該顯示區(qū)以外的一周邊區(qū);多條訊號(hào)線,位于所述顯示區(qū)中,且各訊號(hào)線彼此平行;多個(gè)畫素結(jié)構(gòu),位于所述顯示區(qū)中,并電性連接所述訊號(hào)線;以及一檢測(cè)電路,位于所述周邊區(qū)中,電性連接所述訊號(hào)線,該檢測(cè)電路包括一第一短路條、一第二短路條、多個(gè)第一開關(guān)以及多個(gè)第二開關(guān),所述各訊號(hào)線的延伸線最多通過該第一短路條與該第二短路條其中之一者,且該些第一開關(guān)連接至該第一短路條而該些第二開關(guān)連接至該第二短路條。
      2. 如權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述第一開關(guān)以及第二開關(guān) 分別為一薄膜晶體管。
      3. 如權(quán)利要求2所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述薄膜晶體管包括一閘極、 一源極以及一汲極,且該閘極位于該源極與該汲極之間。
      4. 如權(quán)利要求3所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述汲極連接于其中一所述 訊號(hào)線。
      5. 如權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述第一短路條以及所述第 二短路條分別為一第一檢測(cè)閘極線以及一第二檢測(cè)閘極線,該第一檢測(cè)閘極線用以將一第 一閘極訊號(hào)輸入至所述第一開關(guān),而該第二檢測(cè)閘極線用以將一第二閘極訊號(hào)輸入至所述 第二開關(guān)。
      6. 如權(quán)利要求5所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述檢測(cè)電路還包括一檢測(cè) 數(shù)據(jù)線,連接至所述第一開關(guān)以及所述第二開關(guān)。
      7. 如權(quán)利要求5所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述檢測(cè)電路還包括一第一 檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線連接至所述第一開關(guān),而該第二 檢測(cè)數(shù)據(jù)線連接至所述第二開關(guān)。
      8. 如權(quán)利要求7所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述第一檢測(cè)資料線包括一 第一紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第一紅色 檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān),而 所述第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線包括一第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二藍(lán)色 檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分 別連接部分的第二開關(guān)。
      9. 如權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述第一短路條以及該第二 短路條分別為一第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線,該第一檢測(cè)數(shù)據(jù)線用以將一第一 數(shù)據(jù)訊號(hào)輸入至所述第一開關(guān),而該第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線用以將一第二數(shù)據(jù)訊號(hào)輸入至所述第 二開關(guān)。
      10. 如權(quán)利要求9所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述第一檢測(cè)資料線包括一 第一紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第一紅色 檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及第一藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān),而 該第二檢測(cè)數(shù)據(jù)線包括一第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、一第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及一第二藍(lán)色檢 測(cè)數(shù)據(jù)線,且該第二紅色檢測(cè)數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測(cè)數(shù)據(jù)線以及第二藍(lán)色檢測(cè)數(shù)據(jù)線分別 連接部分的第二開關(guān)。
      11. 如權(quán)利要求9所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述檢測(cè)電路還包括一檢測(cè) 閘極線,連接至該些第一開關(guān)以及該些第二開關(guān)。
      12. 如權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述檢測(cè)電路還包括一第三 短路條以及多個(gè)第三開關(guān),該第三開關(guān)連接至該第三短路條,且各所述訊號(hào)線的延伸線最 多通過該第一短路條、該第二短路條以及該第三短路條其中之一者。
      13. 如權(quán)利要求l所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述訊號(hào)線為掃描線或數(shù)據(jù)線。
      14. 如權(quán)利要求l所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于所述第一開關(guān)以及第二開關(guān) 被同時(shí)開啟或分別開啟。
      專利摘要本實(shí)用新型提供一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,包括一基板、多條訊號(hào)線、多個(gè)畫素結(jié)構(gòu)以及一檢測(cè)電路。基板具有一顯示區(qū)以及顯示區(qū)以外的一周邊區(qū)。訊號(hào)線位于顯示區(qū)中,且各訊號(hào)線彼此平行。畫素結(jié)構(gòu)位于顯示區(qū)中,并電性連接訊號(hào)線。檢測(cè)電路位于周邊區(qū)中,并電性連接訊號(hào)線。檢測(cè)電路包括一第一短路條、一第二短路條、多個(gè)第一開關(guān)以及多個(gè)第二開關(guān)。各訊號(hào)線的延伸線最多通過第一短路條與第二短路條其中一者,且第一開關(guān)連接至第一短路條而第二開關(guān)連接至第二短路條。本實(shí)用新型將每一條短路條僅連接部分的訊號(hào)線及部分的畫素,而不需承擔(dān)過大的負(fù)荷,使檢測(cè)正確性有效提升。
      文檔編號(hào)H01L27/12GK201548772SQ200920181548
      公開日2010年8月11日 申請(qǐng)日期2009年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月1日
      發(fā)明者張錫明 申請(qǐng)人:福建華映顯示科技有限公司;中華映管股份有限公司
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