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      晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法

      文檔序號(hào):7004455閱讀:281來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及太陽(yáng)能電池鈍化實(shí)現(xiàn)方法技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法。
      背景技術(shù)
      太陽(yáng)能電池的鈍化是提高電池效率一個(gè)主要的途徑?,F(xiàn)有的鈍化技術(shù)有PECVD沉積的SiNx、熱氧化法生長(zhǎng)的Si02、SiNx和Si02兩種薄膜的疊層,其它的一些鈍化膜例如 MgF2、A1203等也都被用在鈍化表面上。商業(yè)上比較常用的是SiNx薄膜,高效電池上用的比較多的是熱氧化生長(zhǎng)的Si02,可以降低表面的復(fù)合速率到lOcm/s以下,效率可以達(dá)到20% 以上。Si02鈍化膜雖然在高效電池上的應(yīng)用很廣泛,但是熱氧化所需要的溫度都在 1000°C,對(duì)于高效電池所用的FZ的硅片來(lái)說(shuō),在氧化過(guò)程中少子壽命不會(huì)受到影響,而商業(yè)化生產(chǎn)所用的CZ硅片一般少子壽命較低,雜質(zhì)含量比較高,因此在高溫氧化過(guò)程中硅片的少子壽命會(huì)大幅度降低。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法,克服傳統(tǒng)熱氧化生長(zhǎng)二氧化硅的缺陷,在降低了生產(chǎn)的成本的同時(shí)提高電池的效率。本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的方案是一種晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法,在低溫下用熱氧化的方法在硅片的表面生長(zhǎng)一層厚度為5-50nm的二氧化硅薄膜,溫度范圍為 600°C _800°C,氧化時(shí)間為 5-60min。進(jìn)一步地,二氧化硅薄膜作為太陽(yáng)能電池的一層鈍化層,在這層鈍化層的表面另外再沉積一層鈍化層,形成疊層的鈍化膜來(lái)鈍化電池的表面。再進(jìn)一步地,另外再沉積的一層鈍化層為SiNx、SiOx或者A1203鈍化膜。本發(fā)明的有益效果是在太陽(yáng)能電池的表面多增加一層本發(fā)明所涉及的二氧化硅鈍化膜,再加上一層如SiNx薄膜的鈍化層之后,相對(duì)于單層的SiNx薄膜或高溫下生長(zhǎng)的二氧化硅薄膜的疊層鈍化的鈍化,效率可以提升0. 2%以上,電壓可以提高5-8mV,電流也有 50-100mA的提升。


      下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明;圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;圖中,1. 二氧化硅薄膜,2. SiNx。
      具體實(shí)施例方式如圖1所示,在SE電池的基礎(chǔ)上加上低溫下熱氧化生長(zhǎng)的二氧化硅薄膜1作為疊層鈍化膜的一層。電池的制作工藝流程如下1、堿制絨;2、掩膜生長(zhǎng);3、選擇性擴(kuò)散結(jié)的形成;4、后清洗及邊緣刻蝕;5、在低溫下用熱氧化的方法在硅片表面生長(zhǎng)一層厚度為5-50nm的二氧化硅薄膜 (1),溫度范圍為6000C _800°C,氧化時(shí)間為5-60min ;6、PECVD 法沉積 SiNx2 ;7、正面和背面漿料的印刷和燒結(jié),測(cè)試。測(cè)試結(jié)果顯示,相對(duì)于單層SiNx2或高溫下生長(zhǎng)的二氧化硅薄膜1的疊層鈍化, Voc開路電壓有5-8mV的提升,電流有50-100mA的提升,效率有0. 2%以上的提升。具體的
      電性能數(shù)據(jù)如下
      權(quán)利要求
      1.一種晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法,其特征是在低溫下用熱氧化的方法在硅片表面生長(zhǎng)一層厚度為5-50nm的二氧化硅薄膜(1),溫度范圍為600°C -800°C,氧化時(shí)間為 5_60mino
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法,其特征是所述的二氧化硅薄膜(1)作為太陽(yáng)能電池的一層鈍化層,在這層鈍化層的表面另外再沉積一層鈍化層,形成疊層的鈍化膜來(lái)鈍化電池的表面。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法,其特征是所述的另外再沉積的一層鈍化層為SiNx (2)、SiOx或者A1203鈍化膜。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及太陽(yáng)能電池鈍化實(shí)現(xiàn)方法技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種晶體硅太陽(yáng)能電池的鈍化方法。該方法為在低溫下用熱氧化的方法在硅片的表面生長(zhǎng)一層厚度為5-50nm的二氧化硅薄膜,溫度范圍為600℃-800℃,氧化時(shí)間為5-60min。二氧化硅薄膜作為太陽(yáng)能電池的一層鈍化層,在這層鈍化層的表面另外再沉積一層鈍化層,形成疊層的鈍化膜來(lái)鈍化電池的表面。本發(fā)明的有益效果是在太陽(yáng)能電池的表面多增加一層本發(fā)明所涉及的二氧化硅鈍化膜,再加上一層如SiNx薄膜的鈍化層之后,相對(duì)于單層的SiNx薄膜或高溫下生長(zhǎng)的二氧化硅薄膜的疊層鈍化的鈍化,效率可以提升0.2%以上,電壓可以提高5-8mV,電流也有50-100mA的提升。
      文檔編號(hào)H01L31/18GK102364696SQ20111017974
      公開日2012年2月29日 申請(qǐng)日期2011年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月30日
      發(fā)明者馮志強(qiáng), 鄧偉偉 申請(qǐng)人:常州天合光能有限公司
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