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      用于高性能接口的互連圖案的制作方法

      文檔序號(hào):7243131閱讀:135來源:國(guó)知局
      專利名稱:用于高性能接口的互連圖案的制作方法
      用于高性能接口的互連圖案
      背景技術(shù)
      本申請(qǐng)涉及封裝設(shè)計(jì),更具體地涉及用于高性能裝置諸如高速差分信號(hào)收發(fā)器對(duì)和存儲(chǔ)器接口的電互連的圖案。如本領(lǐng)域所公知的,這種接口通常使用球柵陣列(BGA)或針柵陣列(PGA)實(shí)現(xiàn)。BGA是位于封裝表面上的焊球或焊料塊的面陣列。PGA是位于封裝表面之下的插針的面陣列。BGA或PGA被用于將封裝連接至下一級(jí)封裝。請(qǐng)參見R. R. Tummala的“Fundamentals of Microsystems Packaging (微型系統(tǒng)封裝基石出),,中的第67頁(yè)、第68頁(yè)、279-281頁(yè)、680-682頁(yè)、第925頁(yè)(McGraw-Hill,2001),其全部?jī)?nèi)容通過引用并入本文。為了方便起見,在下文中術(shù)語(yǔ)“觸點(diǎn)(contact) ”或“互連(interconnect) ”用于指焊球、焊料塊和互連的插針以及類似的連接件。在設(shè)計(jì)高速差分信號(hào)接口時(shí),一種方法是將差分信號(hào)對(duì)定位在接地觸點(diǎn)的附近。圖I描繪了基板120上的觸點(diǎn)位置110的行102和列104的傳統(tǒng)直線陣列100,其中相鄰的行和相鄰的列均間隔距離D,距離D通常被稱為間距。在傳統(tǒng)的接口中,多個(gè)接地觸點(diǎn)130 位于相隔距離3D或3個(gè)間距距離的某些觸點(diǎn)位置110處。多對(duì)差分觸點(diǎn)140、145或多或少地隨機(jī)分布在其它觸點(diǎn)位置110處。在圖I中,每個(gè)差分對(duì)由在一對(duì)觸點(diǎn)140、145之間延伸的實(shí)線指示。其它觸點(diǎn)諸如觸點(diǎn)160可提供功率或經(jīng)過接口的其它信號(hào)。一些觸點(diǎn)位置可以是空的。顯而易見地,差分對(duì)的觸點(diǎn)之間的距離存在變化,在一些情況下為一個(gè)間距距離D并且在其它情況下為七。在一些情況下,兩個(gè)或更多個(gè)差分對(duì)相鄰并且彼此平行,諸如由虛線A或虛線B圈起的那對(duì)。這些情況可能增加串?dāng)_(cross-talk)。如以下結(jié)合圖4所討論的,諸如圖I的互連圖案的性能不是最優(yōu)的。對(duì)與對(duì)之間的差分阻抗明顯變化,并且耦合系數(shù)過高。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明針對(duì)相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)圖案具有提高的性能的互連圖案。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式中,信號(hào)觸點(diǎn)和接地觸點(diǎn)位于行和列的、規(guī)則的直線陣列中,其中接地觸點(diǎn)相隔三倍的、相鄰行或列之間的間距,信號(hào)觸點(diǎn)緊鄰接地觸點(diǎn)。具體地,每個(gè)差分觸點(diǎn)對(duì)中的一個(gè)觸點(diǎn)離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離,該差分對(duì)中的另一觸點(diǎn)離同一接地觸點(diǎn)約七倍的間距距離。在本發(fā)明的另一實(shí)施方式中,信號(hào)觸點(diǎn)和接地觸點(diǎn)位于規(guī)則的六邊形陣列中,其中接地觸點(diǎn)相隔三倍的、相鄰的觸點(diǎn)之間的間距距離,信號(hào)觸點(diǎn)緊鄰接地觸點(diǎn)。具體地,每個(gè)差分觸點(diǎn)對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離。


      通過下面的詳細(xì)描述,本發(fā)明的這些和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將更加明顯,在附圖中圖I描繪了用于分布接地觸點(diǎn)和差分信號(hào)觸點(diǎn)的傳統(tǒng)觸點(diǎn)圖案;
      圖2描繪了本發(fā)明的第一實(shí)施方式;圖3描繪了本發(fā)明的第二實(shí)施方式;以及圖4是在圖I和2中所描繪的圖案的差分阻抗的曲線圖。
      具體實(shí)施例方式圖2描繪了在基板220上的觸點(diǎn)位置210的行202和列204的直線陣列200,其中相鄰的行和相鄰的列均間隔距離D,距離D通常被稱為間距(pitch)。多個(gè)接地觸點(diǎn)230位于相隔距離3D或3個(gè)間距距離的一些觸點(diǎn)位置210處。多對(duì)差分觸點(diǎn)240、245位于其它觸點(diǎn)位置210處,其中每對(duì)中的觸點(diǎn)彼此間隔一個(gè)間距距離D。每對(duì)差分觸點(diǎn)由在觸點(diǎn)240、245對(duì)之間延伸的實(shí)線標(biāo)識(shí)。每對(duì)中的一個(gè)觸點(diǎn)240通過與接地觸點(diǎn)230相隔一個(gè)間距距離D的方式位于陣列中,該對(duì)中的另一個(gè)觸點(diǎn)245與同一接地觸點(diǎn)230距離約V^*D。通過這種布置,每個(gè)差分對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)位于以接地觸點(diǎn)為中心的、觸點(diǎn)的3X3陣列235中;并 且如果兩個(gè)不同的差分對(duì)中的觸點(diǎn)在陣列中彼此間隔一個(gè)間距距離,則這兩個(gè)差分對(duì)是彼此垂直的而非彼此平行。而且,觸點(diǎn)的3X3陣列可重復(fù)而無需迫使兩個(gè)差分對(duì)彼此相鄰和平行并且一對(duì)中的每個(gè)觸點(diǎn)與另一相鄰對(duì)中的相應(yīng)觸點(diǎn)間隔相同的距離?;?20可以是包含電路的任意表面,該表面上的電路將與另一表面上的電路連接。例如,它可以是半導(dǎo)體集成電路、或芯片載體、或電路板。如上所述,觸點(diǎn)可以是插針(pin)、焊球、焊料塊或類似的連接件。差分觸點(diǎn)通常攜帶高速差分信號(hào),諸如在高性能存儲(chǔ)器接口中使用的諸如低壓差分信號(hào)(low voltage differential signal, LVDS)或高速差分選通信號(hào)(differential strobe signal,DQS)。諸如觸點(diǎn)260的其它觸點(diǎn)可用于提供功率或經(jīng)過接口的其它信號(hào),一些觸點(diǎn)位置可以是空的。圖2所示的觸點(diǎn)的圖案優(yōu)選地為重復(fù)的圖案,該重復(fù)的圖案通過將觸點(diǎn)位置的整個(gè)陣列200上的觸點(diǎn)圖案步進(jìn)重復(fù)而形成。示意性地,該重復(fù)的圖案是由矩形框250限定的18個(gè)觸點(diǎn)的圖案。圖3描繪了基板320上的觸點(diǎn)位置310的規(guī)則的六邊形陣列300,其中相鄰的觸點(diǎn)位置在彼此成60度的三個(gè)方向中的每個(gè)方向上隔開距離D,距離D通常被稱為間距。多個(gè)接地觸點(diǎn)330位于相隔距離3D或三個(gè)間距距離的一些觸點(diǎn)位置處。多對(duì)差分觸點(diǎn)340、345位于其它觸點(diǎn)位置310處,其中每對(duì)中的觸點(diǎn)彼此隔開一個(gè)間距距離D。每對(duì)觸點(diǎn)由在觸點(diǎn)340、345對(duì)之間延伸的實(shí)線標(biāo)識(shí)。每對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)與同一接地觸點(diǎn)330間隔一個(gè)間距距離D。通過這種布置,差分對(duì)的觸點(diǎn)包圍接地觸點(diǎn),并且沒有差分對(duì)彼此相鄰和平行。此外,圖案可重復(fù)而無需使差分對(duì)位于使它們彼此相鄰和平行的位置處。再者,基板320可以是包含電路的任意表面,該表面上的電路將與另一表面上的電路連接;并且觸點(diǎn)可以是插針、焊球、焊料塊或其它連接件。諸如觸點(diǎn)360的其它觸點(diǎn)可用于提供功率或經(jīng)過接口的其它信號(hào),一些觸點(diǎn)位置可以是空的。圖3所示的圖案是重復(fù)的圖案,該重復(fù)的圖案通過將觸點(diǎn)位置的整個(gè)陣列300上的觸點(diǎn)圖案步進(jìn)重復(fù)而形成。如圖所示,該重復(fù)的圖案是由框350限定的18個(gè)觸點(diǎn)。盡管圖2的互連圖案與圖I的圖案具有相同數(shù)量的接地觸點(diǎn),但是圖2的圖案的性能得到了顯著提高。如圖4所示,圖2的圖案中的不同信號(hào)對(duì)的差分阻抗的范圍為約140至150歐姆之間,并且與例如圖I的互連圖案中見到的差分阻抗相比具有明顯小的變化。串?dāng)_也得到了顯著的改善。通過圖2的互連圖案,兩對(duì)觸點(diǎn)之間觀察到的最差耦合系數(shù)為0. 073,而在圖I的互連圖案的兩對(duì)之間觀察到的最差耦合系數(shù)為0. 082。對(duì)于圖2的互連圖案而言,從所有相鄰觸點(diǎn)觀察到的總的最差耦合系數(shù)為0. 132,而對(duì)于圖I的互連圖案而言,從所有相鄰觸點(diǎn)觀察到的總的最差耦合系數(shù)為0. 169。因此,圖2的圖案使兩對(duì)之間的最差情況耦合系數(shù)降低了約11%,并且使總的最差情況耦合系數(shù)降低了約22%。圖3的六邊形對(duì)串?dāng)_的減少程度不如圖2的直線陣列,因?yàn)椴罘謱?duì)彼此不成直角。然而,它允許觸點(diǎn)位置具有更大的密度,允許接地觸點(diǎn)與差分對(duì)的兩個(gè)觸點(diǎn)之間具有一致的間隔,并且可能在這些特性有利時(shí)是有用的。 對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言顯而易見的是,可在本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)上面的各種變型。
      權(quán)利要求
      1.在基板上的觸點(diǎn)位置的規(guī)則陣列中的多個(gè)觸點(diǎn),所述觸點(diǎn)位置相互之間至少在第一和第二方向上隔開一個(gè)間距距離,所述多個(gè)觸點(diǎn)包括 多個(gè)接地觸點(diǎn),位于所述觸點(diǎn)位置中的部分觸點(diǎn)位置處,并且在所述第一和第二方向上隔開三個(gè)間距距離;以及 多對(duì)差分觸點(diǎn),每個(gè)觸點(diǎn)均位于觸點(diǎn)位置處,每對(duì)差分觸點(diǎn)中的觸點(diǎn)彼此隔開一個(gè)間距距離,每對(duì)差分觸點(diǎn)中的一個(gè)觸點(diǎn)定位于所述陣列中離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離,而且每對(duì)差分觸點(diǎn)中的另一個(gè)觸點(diǎn)定位成離同一接地觸點(diǎn)不超過約萬倍的間距距離,并且沒有兩個(gè)差分對(duì)以彼此平行且一對(duì)的每個(gè)觸點(diǎn)與另一對(duì)的相應(yīng)觸點(diǎn)距離一個(gè)間距距離的方式位于所述陣列中。
      2.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述觸點(diǎn)為焊球或焊料塊。
      3.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述觸點(diǎn)為插針。
      4.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述第一和第二方向彼此垂直。
      5.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述第一和第二方向彼此成約60度的角度。
      6.如權(quán)利要求5所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中每個(gè)差分對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)定位成離同一接地觸點(diǎn)約一個(gè)間距距離。
      7.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為信號(hào)觸點(diǎn)。
      8.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為控制觸點(diǎn)。
      9.如權(quán)利要求I所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為存儲(chǔ)器選通信號(hào)。
      10.在基板上的觸點(diǎn)位置的規(guī)則的直線陣列中的多個(gè)觸點(diǎn),所述觸點(diǎn)位置相互之間在相互垂直的第一和第二方向上隔開一個(gè)間距距離,所述多個(gè)觸點(diǎn)包括 多個(gè)接地觸點(diǎn),位于所述觸點(diǎn)位置中的部分觸點(diǎn)位置處,并且在所述第一和第二方向上隔開三個(gè)間距距離;以及 多對(duì)差分觸點(diǎn),每個(gè)觸點(diǎn)均位于觸點(diǎn)位置處,每對(duì)差分觸點(diǎn)中的觸點(diǎn)彼此隔開一個(gè)間距距離,每對(duì)差分觸點(diǎn)中的一個(gè)觸點(diǎn)定位于所述陣列中離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離,而且每對(duì)差分觸點(diǎn)中的另一個(gè)觸點(diǎn)定位成離同一接地觸點(diǎn)約^倍的間距距離,并且沒有兩個(gè)差分對(duì)以彼此平行且一對(duì)的每個(gè)觸點(diǎn)與另一對(duì)的相應(yīng)觸點(diǎn)距離一個(gè)間距距離的方式位于所述陣列中。
      11.如權(quán)利要求10所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述觸點(diǎn)為焊球或焊料塊。
      12.如權(quán)利要求10所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述觸點(diǎn)為插針。
      13.如權(quán)利要求10所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為信號(hào)觸點(diǎn)。
      14.如權(quán)利要求10所述的多個(gè)觸點(diǎn),其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為控制觸點(diǎn)。
      15.在基板上的觸點(diǎn)的行和列的直線陣列,所述觸點(diǎn)相互之間在相互垂直的第一和第二方向上隔開一個(gè)間距距離,所述陣列包括 多個(gè)接地觸點(diǎn),在所述第一和第二方向上隔開三個(gè)間距距離; 多對(duì)差分觸點(diǎn),每對(duì)中的觸點(diǎn)彼此隔開一個(gè)間距距離,每對(duì)差分觸點(diǎn)中的一個(gè)觸點(diǎn)定位于所述陣列中離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離,而且每對(duì)差分觸點(diǎn)中的另一個(gè)觸點(diǎn)定位成離同一接地觸點(diǎn)約^倍的間距距離,并且沒有兩個(gè)差分對(duì)以彼此平行且一對(duì)的每個(gè)觸點(diǎn)與另一對(duì)的相應(yīng)觸點(diǎn)距離一個(gè)間距距離的方式位于所述陣列中。
      16.如權(quán)利要求15所述的陣列,其中所述觸點(diǎn)為焊球或焊料塊。
      17.如權(quán)利要求15所述的陣列,其中所述觸點(diǎn)為插針。
      18.如權(quán)利要求15所述的陣列,其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為信號(hào)觸點(diǎn)。
      19.如權(quán)利要求15所述的陣列,其中所述差分觸點(diǎn)中的至少一些為控制觸點(diǎn)。
      全文摘要
      在一個(gè)實(shí)施方式中,差分信號(hào)觸點(diǎn)和接地觸點(diǎn)位于行和列的直線陣列中,接地觸點(diǎn)隔開三倍的、相鄰的行或列之間的間距距離,信號(hào)觸點(diǎn)緊鄰接地觸點(diǎn)定位。具體地,每個(gè)差分對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)彼此間隔一個(gè)間距距離,每個(gè)差分觸點(diǎn)對(duì)中的一個(gè)觸點(diǎn)定位成離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離,該差分對(duì)中的另一個(gè)觸點(diǎn)定位成離同一接地觸點(diǎn)約倍的間距距離。在第二實(shí)施方式中,差分信號(hào)觸點(diǎn)和接地觸點(diǎn)位于六邊形陣列中,其中接地觸點(diǎn)隔開三倍的、相鄰的觸點(diǎn)之間的間距距離,信號(hào)觸點(diǎn)緊鄰接地觸點(diǎn)定位。具體地,每個(gè)差分對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)彼此間隔一個(gè)間距距離,而且每個(gè)差分觸點(diǎn)對(duì)中的兩個(gè)觸點(diǎn)定位成離接地觸點(diǎn)一個(gè)間距距離。
      文檔編號(hào)H01L21/60GK102782825SQ201180008590
      公開日2012年11月14日 申請(qǐng)日期2011年2月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月9日
      發(fā)明者劉輝 申請(qǐng)人:阿爾特拉公司
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