終端充電參數(shù)測試線的制作方法
【專利摘要】本公開提供給了終端充電參數(shù)測試線，包括A型USB公接頭、B型Micro USB公接頭和USB總線，A型USB公接頭的各個(gè)引腳通過USB總線連接B型Micro USB公接頭的各個(gè)引腳。而且，在USB總線的第一電源連接線上設(shè)置有第一測試接口和第二測試接口，并在第一電源連接線上串聯(lián)有第一檢測電阻，且位于第一測試接口和第二測試接口之間；在第二電源連接線上設(shè)置有第三測試接口。當(dāng)終端利用所述終端充電參數(shù)測試線充電時(shí)，測量第一測試接口和第三測試接口之間的電壓作為終端的充電電壓；利用電壓測量設(shè)備測量第一測試接口和第二測試接口之間的電壓，第一檢測電阻的阻值已知，利用歐姆定律計(jì)算得到充電電流。測試過程簡單、而且無需破壞充電器或線纜，節(jié)省測試成本。
【專利說明】終端充電參數(shù)測試線

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及數(shù)據(jù)線【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種應(yīng)用于終端充電參數(shù)測試線。

【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)終端的充電環(huán)節(jié)損壞進(jìn)行檢修或測試時(shí)，需要對(duì)終端的充電電流和/或充電電壓等充電參數(shù)進(jìn)行測試。
[0003]相關(guān)技術(shù)中，測量終端的充電器兩端的電壓作為充電電壓，但是一般情況下充電器及充電線纜外都包覆有絕緣介質(zhì)，若想測量充電器兩端的電壓，只能破壞充電器的絕緣介質(zhì)；而測量充電電流時(shí)，必須把充電回路斷開，然后在充電回路中串聯(lián)一電流測量器件(例如，萬用表)，才能測出充電電流。上述測量充電器的充電電壓或充電電流的方式都需要破壞充電器或充電線纜，導(dǎo)致資源浪費(fèi)和測試成本的增加。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型實(shí)施例中提供了一種終端充電參數(shù)測試線，以解決相關(guān)技術(shù)中測試過程復(fù)雜、測試成本高的問題。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型實(shí)施例公開了如下技術(shù)方案:
[0006]根據(jù)本公開實(shí)施例的第一方面，提供一種終端充電參數(shù)測試線，包括:A型通用串行總線USB公接頭、B型Micro USB公接頭及USB總線，所述A型USB公接頭的各個(gè)引腳分別通過所述USB總線對(duì)應(yīng)連接所述B型Micro USB公接頭的各個(gè)引腳，還包括:第一測試接口、第二測試接口、第三測試接口和第一檢測電阻；
[0007]所述第一測試接口和所述第二測試接口分別設(shè)置在所述USB總線的第一電源連接線上；
[0008]所述第三測試接口設(shè)置在所述USB總線的第二電源連接線上；
[0009]所述第一檢測電阻串聯(lián)在所述第一電源連接線上，且位于所述第一測試接口和所述第二測試接口之間。
[0010]結(jié)合第一方面，在第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中:
[0011]所述第一電源連接線為電源正極連接線，所述第二電源連接線為電源負(fù)極連接線.-^4 ，
[0012]或者，
[0013]所述第一電源連接線為電源負(fù)極連接線，所述第二電源連接線為電源正極連接線。
[0014]結(jié)合第一方面或第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述終端充電參數(shù)測試線還包括:第二檢測電阻和第四測試接口 ；
[0015]所述第四測試接口設(shè)置在所述第二電源連接線上；
[0016]所述第二檢測電阻串聯(lián)在所述第二電源連接線上，且位于所述第三測試接口和所述第四測試接口之間。
[0017]結(jié)合第一方面，在第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一檢測電阻的阻值范圍是5mΩ?50ι?Ω。
[0018]結(jié)合第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二檢測電阻的阻值范圍是5πιΩ?50πιΩ。
[0019]由以上技術(shù)方案可見，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的終端充電參數(shù)測試線的有益效果包括:所述測試線包括A型USB公接頭、B型Micro USB公接頭和USB總線，A型USB公接頭的各個(gè)引腳通過USB總線連接B型Micro USB公接頭的各個(gè)引腳。而且，在USB總線的第一電源連接線上設(shè)置有第一測試接口和第二測試接口，并在第一電源連接線上串聯(lián)有第一檢測電阻，該第一檢測電阻位于第一測試接口和第二測試接口之間；在舊8總線的第二電源連接線上設(shè)置有第三測試接口。當(dāng)終端利用所述終端充電參數(shù)測試線充電時(shí)，利用電壓測量設(shè)備測量第一測試接口和第三測試接口測量USB總線的兩根電源連接線之間的電壓作為充電電壓；利用電壓測量設(shè)備測量第一測試接口和第二測試接口之間的電壓，而且第一檢測電阻的阻值已知，根據(jù)歐姆定律就能夠計(jì)算得到充電電流。利用本公開實(shí)施例提供的終端充電參數(shù)測試線直接利用電壓測量設(shè)備測量相應(yīng)測試接口的電壓得到充電電壓，利用第一檢測電阻兩端的電壓和歐姆定律測得充電電流。測試過程簡單、而且無需破壞充電器或線纜，節(jié)省測試成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0021]圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端充電參數(shù)測試線的示意圖；
[0022]圖2是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端充電參數(shù)測試線的示意圖；
[0023]圖3是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的又一種終端充電參數(shù)測試線的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0024]為了使本【技術(shù)領(lǐng)域】的人員更好地理解本實(shí)用新型中的技術(shù)方案，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0025]圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端充電參數(shù)測試線的示意圖，如圖1所示，所述終端充電參數(shù)測試線包括=A型USB公接頭110、B型Micro USB公接頭120、USB總線130、第一測試接口 A、第二測試接口 B、第三測試接口 C和第一檢測電阻Rl。
[0026]A型USB公接頭110包括GND引腳、D+引腳、D-引腳和Vcc引腳。B型Micro USB公接頭包括GND引腳、ID引腳、D+引腳、D-引腳和Vcc引腳。USB總線包括GND連接線、Vcc連接線、D+連接線和D-連接線，其中，GND連接線為電源負(fù)極連接線，Vcc連接線為電源正極連接線，D+、D-連接線為數(shù)據(jù)傳輸線。
[0027]如圖1所示，第一測試接口 A和第二測試接口 B設(shè)置在Vcc連接線上，而且，第一測試接口 A的位置靠近A型USB公接頭110，第二測試接口 B的位置靠近B型Micro USB公接頭120。
[0028]第一檢測電阻Rl串聯(lián)于第一測試接口 A和第三測試接口 C之間的Vcc連接線上。第三測試接口 C設(shè)置在GND連接線上。Rl的阻值太大將影響充電效率，Rl的阻值太小將影響測量精度?？梢愿鶕?jù)充電器的額定充電電流和額定電壓確定Rl的阻值，本公開的實(shí)施例中，Rl的阻值范圍可以是5mΩ?50ι?Ω。
[0029]利用電壓測量設(shè)備(例如，萬用表)測量第一測試接口 A和第三測試接口 C之間的電壓，得到終端的充電電壓。
[0030]利用電壓測量設(shè)備測量第一檢測電阻Rl兩端的第一測試接口 A和第二測試接口B之間的電壓，而且，已知Rl的阻值，根據(jù)歐姆定律計(jì)算得到流經(jīng)第一檢測電阻Rl的電流，得到終端的充電電流。
[0031]例如，第一檢測電阻Rl的阻值為ΙΟπιΩ，測量第一測試接口 A和第二測試接口 B之間的電壓得到第一檢測電阻Rl兩端的電壓為15.2mV，則終端的充電電流為I =15.2mV/10mQ = 1.52A。
[0032]通過本實(shí)施例提供的終端充電參數(shù)測試線直接利用電壓測量設(shè)備測量相應(yīng)測試接口的電壓得到充電電壓，利用第一檢測電阻兩端的電壓和歐姆定律測得充電電流。測試過程簡單、而且無需破壞充電器或線纜，節(jié)省測試成本。
[0033]圖2是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端充電參數(shù)測試線的示意圖，如圖2所示，第一測試接口 A和第二測試接口 B設(shè)置在GND連接線上，其中，第一測試接口 A的位置靠近A型USB公接頭110，第二測試接口 B的位置靠近B型Micro USB公接頭120。
[0034]第一檢測電阻Rl串聯(lián)于第一測試接口 A和第二測試接口 B之間的GND連接線上。第三測試接口 C設(shè)置在Vcc連接線上。
[0035]測量第一測試接口 A和第三測試接口 C之間的電壓得到終端的充電電壓。測量第一測試接口 A和第二測試接口 B之間的電壓得到第一檢測電阻Rl兩端的電壓，第一檢測電阻Rl的阻值已知，利用歐姆定律，計(jì)算得到流經(jīng)第一檢測電阻Rl的電流，作為終端的充電電流。
[0036]使用本實(shí)施例提供的終端充電參數(shù)測試線直接利用電壓測量設(shè)備測量相應(yīng)測試接口的電壓得到充電電壓，利用第一檢測電阻兩端的電壓和歐姆定律測得充電電流。測試過程簡單、而且無需破壞充電器或線纜，節(jié)省測試成本。
[0037]圖3是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的又一種終端充電參數(shù)測試線的示意圖，如圖3所示，在圖1所示的實(shí)施例基礎(chǔ)上，增設(shè)第二檢測電阻R2和第四測試接口 D。
[0038]其中，第四測試接口 D設(shè)置在GND連接線上，第二檢測電阻R2串聯(lián)在第三測試接口 C和第四測試接口 D之間的GND連接線上。而且，第三測試接口 C的位置靠近A型USB公接頭110，第四測試接口 D的位置靠近B型Micro USB公接頭120。
[0039]其中，第二檢測電阻R2的阻值范圍也可以是5πιΩ?50πιΩ。其中，第二檢測電阻R2的阻值與第一檢測電阻Rl的阻值可以相同，也可以不相同，本公開對(duì)此不進(jìn)行限制。只要保證兩者的阻值都在允許范圍內(nèi)即可。
[0040]測量第一測試接口 A和第三測試接口 C之間的電壓得到終端的充電電壓。
[0041 ] 測量第一測試接口 A和第二測試接口 B之間電壓，得到第一檢測電阻Rl兩端的電壓，根據(jù)Rl兩端的電壓和Rl的阻值，利用歐姆定律計(jì)算得到流經(jīng)Rl的電流II。同時(shí)，測量第三測試接口 C和第四測試接口 D之間的電壓，得到第二檢測電阻R2兩端的電壓，根據(jù)R2兩端的電壓和R2的阻值，利用歐姆定律計(jì)算得到流經(jīng)R2的電流12。然后，計(jì)算Il和12的平均值得到終端的充電電流。
[0042]本實(shí)施例提供的終端充電參數(shù)測試線，在充電回路中設(shè)置兩個(gè)檢測電阻，分別兩個(gè)檢測電阻兩端的電壓，根據(jù)歐姆定律計(jì)算得到分別流經(jīng)兩個(gè)檢測電阻的電流，然后，計(jì)算兩個(gè)檢測電阻的電流的平均值作為終端的充電電流，提高充電電流的測量精度。
[0043]本說明書中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的情況下，即可以理解并實(shí)施。
[0044]需要說明的是，在本文中，諸如“第一”和“第二”等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個(gè)……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。
[0045]以上所述僅是本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.終端充電參數(shù)測試線，包括:A型通用串行總線USB公接頭、B型MicroUSB公接頭及USB總線，所述A型USB公接頭的各個(gè)引腳分別通過所述USB總線對(duì)應(yīng)連接所述B型MicroUSB公接頭的各個(gè)引腳，其特征在于，還包括:第一測試接口、第二測試接口、第三測試接口和第一檢測電阻； 所述第一測試接口和所述第二測試接口分別設(shè)置在所述USB總線的第一電源連接線上； 所述第三測試接口設(shè)置在所述USB總線的第二電源連接線上； 所述第一檢測電阻串聯(lián)在所述第一電源連接線上，且位于所述第一測試接口和所述第二測試接口之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的終端充電參數(shù)測試線，其特征在于； 所述第一電源連接線為電源正極連接線，所述第二電源連接線為電源負(fù)極連接線； 或者， 所述第一電源連接線為電源負(fù)極連接線，所述第二電源連接線為電源正極連接線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的終端充電參數(shù)測試線，其特征在于，還包括:第二檢測電阻和第四測試接口； 所述第四測試接口設(shè)置在所述第二電源連接線上； 所述第二檢測電阻串聯(lián)在所述第二電源連接線上，且位于所述第三測試接口和所述第四測試接口之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的終端充電參數(shù)測試線，其特征在于，所述第一檢測電阻的阻值范圍是5mΩ?50ι?Ω。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的終端充電參數(shù)測試線，其特征在于，所述第二檢測電阻的阻值范圍是5mΩ?50ι?Ω。
【文檔編號(hào)】H01R27/00GK204215023SQ201420562095
【公開日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2014年9月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月26日
【發(fā)明者】曾劍, 張健, 張義亮 申請(qǐng)人:小米科技有限責(zé)任公司