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      一種基于soi的橫向恒流二極管及其制造方法

      文檔序號:8320829閱讀:599來源:國知局
      一種基于soi的橫向恒流二極管及其制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于半導(dǎo)體功率器件技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于SOI的橫向恒流二極管及其制造方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]恒流源是一種常用的電子設(shè)備和裝置,在電子線路中使用相當(dāng)廣泛。恒流源用于保護(hù)整個(gè)電路,即使出現(xiàn)電壓不穩(wěn)定或負(fù)載電阻變化很大的情況,都能確保供電電流的穩(wěn)定。恒流二極管(CRD,Current Regulative D1de)是一種半導(dǎo)體恒流器件,S卩用二極管作為恒流源代替普通的由晶體管、穩(wěn)壓管和電阻等多個(gè)元件組成的恒流源,目前恒流二極管的輸出電流在幾毫安到幾十毫安之間,可直接驅(qū)動(dòng)負(fù)載,實(shí)現(xiàn)了電路結(jié)構(gòu)簡單、器件體積小、器件可靠性高等目的。另外恒流二極管的外圍電路非常簡單,使用方便,已廣泛應(yīng)用于自動(dòng)控制、儀表儀器、保護(hù)電路等領(lǐng)域。但是,目前恒流二極管的擊穿電壓高位普遍為30?100V,因此存在擊穿電壓較低的問題,同時(shí)能提供的恒定電流也較低。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明針對恒流二極管夾斷電壓高、擊穿電壓低、恒流能力差等問題,提出了一種基于SOI的橫向恒流二極管及其制造方法。本發(fā)明提供的基于SOI的橫向恒流二極管采用PN結(jié)短接的結(jié)構(gòu),可減小芯片面積,降低成本,在恒流大小相同的情況下縮小芯片面積等效于提高芯片的電流密度,從而使器件的恒流能力得到提高;本發(fā)明采用SOI (SiIicon-On-1nsulator,絕緣襯底上的娃)技術(shù),可有效防止在集成系統(tǒng)中襯底漏電流帶來的不利影響,同時(shí)可以利用雙載流子導(dǎo)電,增加了器件的電流密度,使器件的線性區(qū)更加陡峭,夾斷電壓在5V以下。
      [0004]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
      [0005]一種基于SOI的橫向恒流二極管,由多個(gè)結(jié)構(gòu)相同的元胞叉指連接形成,所述元胞包括襯底2,絕緣層上N型輕摻雜硅3、P型重?fù)诫s區(qū)4、N型重?fù)诫s區(qū)5、氧化介質(zhì)層6、金屬陰極7、金屬陽極8、P型摻雜區(qū)9、埋氧層10 ;所述埋氧層10位于襯底2之上,所述N型輕摻雜硅3位于埋氧層10之上,所述P型重?fù)诫s區(qū)4、N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9位于N型輕摻雜硅3之中,所述P型重?fù)诫s區(qū)4位于N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9之間,所述N型重?fù)诫s區(qū)5部分包含于P型重?fù)诫s區(qū)4之中,所述N型重?fù)诫s區(qū)5與P型重?fù)诫s區(qū)4短接并與金屬陰極7形成歐姆接觸,所述P型摻雜區(qū)9與金屬陽極8形成歐姆接觸。
      [0006]進(jìn)一步地,元胞中所述N型重?fù)诫s區(qū)5還可以全部包含于P型重?fù)诫s區(qū)4之中。
      [0007]進(jìn)一步地,所述元胞中的金屬陰極7和金屬陽極8可沿氧化介質(zhì)層6上表面延伸形成場板,場板的長度可調(diào)節(jié),以使器件達(dá)到更好的恒流能力和更高的耐壓值。
      [0008]進(jìn)一步地,所述N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9的結(jié)深相同。
      [0009]進(jìn)一步地,所述N型重?fù)诫s區(qū)5、P型摻雜區(qū)9和P型重?fù)诫s區(qū)4的結(jié)深均相同。
      [0010]進(jìn)一步地,所述基于SOI的橫向恒流二極管是由相同的元胞叉指連接形成,其中,相鄰的P型摻雜區(qū)9和金屬陽極8可共用,相鄰的N型重?fù)诫s區(qū)5和金屬陰極7可以共用或者不共用。
      [0011]進(jìn)一步地,所述基于SOI的橫向恒流二極管所用半導(dǎo)體材料為硅或碳化硅等。
      [0012]進(jìn)一步地,所述基于SOI的橫向恒流二極管中各摻雜類型可相應(yīng)變?yōu)橄喾吹膿诫s,即P型摻雜變?yōu)镹型摻雜的同時(shí),N型摻雜變?yōu)镻型摻雜。
      [0013]進(jìn)一步地,所述基于SOI的橫向恒流二極管P型重?fù)诫s區(qū)4的長度可以調(diào)節(jié),以使器件的恒流能力和夾斷電壓得到優(yōu)化;所述P型重?fù)诫s區(qū)4與P型摻雜區(qū)9之間的距離可以調(diào)節(jié),以使器件得到不同的耐壓值。
      [0014]上述基于SOI的橫向恒流二極管的制造方法,包括以下步驟:
      [0015]步驟1:采用SOI硅片作為襯底,進(jìn)行P型重?fù)诫s區(qū)4注入前預(yù)氧,進(jìn)行窗口刻蝕;
      [0016]步驟2:進(jìn)行P型重?fù)诫s區(qū)4注入,然后進(jìn)行P型重?fù)诫s區(qū)4推結(jié),刻蝕多余的氧化層;
      [0017]步驟3:進(jìn)行N型重?fù)诫s區(qū)5注入前預(yù)氧,進(jìn)行窗口刻蝕;
      [0018]步驟4:進(jìn)行N型重?fù)诫s區(qū)5注入,刻蝕多余的氧化層;
      [0019]步驟5:進(jìn)行P型摻雜區(qū)9注入前預(yù)氧,進(jìn)行窗口刻蝕;
      [0020]步驟6:進(jìn)行P型摻雜區(qū)9注入,刻蝕多余的氧化層,所述P型重?fù)诫s區(qū)4位于N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9之間;
      [0021 ] 步驟7:淀積前預(yù)氧,淀積氧化物,致密;
      [0022]步驟8:光刻歐姆孔;
      [0023]步驟9:淀積金屬層,刻蝕,形成金屬陰極8和金屬陽極9。
      [0024]對于淺結(jié)P型重?fù)诫s區(qū)4,上述基于SOI的橫向恒流二極管的制造方法,包括以下步驟:
      [0025]步驟1:采用SOI硅片作為襯底,進(jìn)行P型重?fù)诫s區(qū)4和P型摻雜區(qū)9注入前預(yù)氧,進(jìn)行窗口刻蝕;
      [0026]步驟2:進(jìn)行P型重?fù)诫s區(qū)4和P型摻雜區(qū)9注入,刻蝕多余的氧化層;
      [0027]步驟3:進(jìn)行N型重?fù)诫s區(qū)5注入前預(yù)氧,進(jìn)行窗口刻蝕;
      [0028]步驟4:進(jìn)行N型重?fù)诫s區(qū)5注入,刻蝕多余的氧化層,所述P型重?fù)诫s區(qū)4位于N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9之間;
      [0029]步驟5:淀積前預(yù)氧,淀積氧化物,致密,同時(shí)激活雜質(zhì)原子;
      [0030]步驟6:光刻歐姆孔;
      [0031]步驟7:淀積金屬層,刻蝕,形成金屬陰極8和金屬陽極9。
      [0032]對于淺結(jié)P型重?fù)诫s區(qū)4并且P型重?fù)诫s區(qū)4和P型摻雜區(qū)9距離較長的器件,可以省略P型重?fù)诫s區(qū)4的推結(jié)過程,但是采取較大的注入能量,即便對于同樣的注入能量,注入硼的結(jié)深也要比注入磷的結(jié)深要深,P型雜質(zhì)原子的激活可以在步驟5致密的過程中和N型重?fù)诫s區(qū)的N型雜質(zhì)原子一起進(jìn)行激活,從而減少工序,節(jié)省芯片制造時(shí)間。
      [0033]本發(fā)明的有益效果為:
      [0034]1、本發(fā)明基于SOI的橫向恒流二極管中P型重?fù)诫s區(qū)4與N型重?fù)诫s區(qū)5短接形成了 PN結(jié)短路結(jié)構(gòu),大大減小了同等恒流大小下器件的面積,提高了器件的電流密度,提升了器件的恒流能力。
      [0035]2、本發(fā)明采用SOI (Silicon-On-1nsulator,絕緣襯底上的娃)技術(shù),在襯底上設(shè)置埋氧層,可有效防止集成系統(tǒng)中襯底漏電流帶來的不利影響。
      [0036]3、本發(fā)明基于SOI的橫向恒流二極管采用兩種載流子導(dǎo)電,增大了器件的電流密度,提高了器件的恒流能力;使器件的線性區(qū)更加陡峭,夾斷電壓在5V以下。
      [0037]4、本發(fā)明基于SOI的橫向恒流二極管中的P型重?fù)诫s區(qū)4可以不推結(jié),和P型摻雜區(qū)9 一起形成,簡化了芯片制造的工藝;采用的工藝與B⑶工藝相一致,有利于器件的集成,可用于大規(guī)模集成電路中。
      【附圖說明】
      [0038]圖1為本發(fā)明提供的基于SOI的橫向恒流二極管的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0039]圖2為本發(fā)明提供的基于SOI的橫向恒流二極管的元胞的結(jié)構(gòu)示意圖;(a)為沒有金屬場板的結(jié)構(gòu);(b)為有金屬場板的結(jié)構(gòu)。
      [0040]圖3為本發(fā)明實(shí)施例的元胞的工藝仿真示意圖;
      [0041]圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的基于SOI的橫向恒流二極管的電流電壓特性曲線圖;
      [0042]圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的基于SOI的橫向恒流二極管的制造方法的工藝流程示意圖;
      [0043]圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的基于SOI的橫向恒流二極管制造過程中對應(yīng)的工藝仿真圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0044]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,詳述本發(fā)明的技術(shù)方案。
      [0045]一種基于SOI的橫向恒流二極管,由多個(gè)結(jié)構(gòu)相同的元胞I⑴、I⑵、I (3)…I (i)叉指連接形成,元胞的個(gè)數(shù)i可根據(jù)具體的電流能力要求進(jìn)行調(diào)節(jié),所述元胞包括襯底2,絕緣層上N型輕摻雜硅3、P型重?fù)诫s區(qū)4、N型重?fù)诫s區(qū)5、氧化介質(zhì)層6、金屬陰極7、金屬陽極8、P型摻雜區(qū)9、埋氧層10 ;所述埋氧層10位于襯底2之上,所述N型輕摻雜硅3位于埋氧層10之上,所述P型重?fù)诫s區(qū)4、N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9位于N型輕摻雜硅3之中,所述氧化介質(zhì)層6、金屬陰極7和金屬陽極8覆蓋所述元胞表面,所述P型重?fù)诫s區(qū)4位于N型重?fù)诫s區(qū)5和P型摻雜區(qū)9之間,所述N型重?fù)诫s區(qū)5部分包含于P型重?fù)诫s區(qū)4之中,所述N型重?fù)诫s區(qū)5與P型重?fù)诫s區(qū)4短接,所述N型重?fù)诫s區(qū)5、P型重?fù)诫s區(qū)4和金屬陰極7形成歐姆接觸,所述P型摻雜區(qū)9與金屬陽極8形成歐姆接觸,所述P型摻雜區(qū)9和P型重?fù)诫s區(qū)4之間有間距。
      [0046]進(jìn)一步地,所述基于SOI的橫向恒流二極管P型重?fù)诫s區(qū)4和埋氧層10之間形成導(dǎo)電溝道,溝道的寬度可通過調(diào)整P型重?fù)诫s區(qū)4的結(jié)深進(jìn)行調(diào)節(jié),以使器件得到不同大小的恒流值和不同的飽和壓降;P型重?fù)诫s區(qū)4的長度可以調(diào)節(jié),以使器件的恒流能力和夾斷電壓得到優(yōu)化;P型重?fù)诫s區(qū)4和P型摻雜區(qū)9的距離可以調(diào)節(jié),以使器件獲得不同的耐壓值。
      [0047]進(jìn)一步地,元胞中所述N型重?fù)诫s區(qū)5還可以全部包含于P型重?fù)诫s區(qū)4之中。
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