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      Nbt-bt晶體壓電體膜和具備該膜的壓電疊層結(jié)構(gòu)體的制作方法_4

      文檔序號(hào):8545346閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
      施例A1中形成的Pt層的濺射 條件相同。
      [0186] 接著,通過(guò)RF磁控派射在Pt層上形成了 [(Na,Bi)a93Baa(l7]Ti0jll5。以下記述 濺射條件。
      [0187] 靶:(Na,Bi)i-JiOfBaJiOs(x= 0? 07)
      [0188] 氣氛:氬和氧的混合氣體(Ar/^的流量比:60/40)
      [0189] RF輸出功率:150W
      [0190] 基板溫度:攝氏680度
      [0191] 與實(shí)施例A12的情況同樣地,實(shí)施例A13的壓電體膜具有與實(shí)施例A1的壓電體膜 相同的a軸長(zhǎng)和c軸長(zhǎng)。因此,實(shí)施例A13的壓電體膜顯示出與實(shí)施例A1的壓電體膜相同 的特性。這意味著壓電體膜的特性不取決于壓電體膜的制作方法,僅依賴(lài)于其a軸長(zhǎng)和c 軸長(zhǎng)。
      [0192] (實(shí)施例Bl)
      [0193] 除了Lai+yNihOjl13在攝氏200度的基板溫度的條件下形成以外,與實(shí)施例A1 同樣地制作了 [(Na,BiUajTiOjl15。
      [0194] (實(shí)施例B2)
      [0195] 除了y= -0? 05以外,與實(shí)施例A1同樣地制作了 [(Na,BiUajTiOjl15。
      [0196] (實(shí)施例B3)
      [0197] 除了y= 0. 15以外,與實(shí)施例A1同樣地制作了 [(Na,BiUajTiOjl15。
      [0198] (實(shí)施例B4)
      [0199] 除了x= 0? 00以外,與實(shí)施例A1同樣地制作了 [(Na,BUajTiOjl15。
      [0200] (實(shí)施例B5)
      [0201] 除了x= 0? 22以外,與實(shí)施例A1同樣地制作了 [(Na,BiUajTiOjl15。
      [0202] (比較例1)
      [0203] 除了Lai+yNihOjl13在攝氏300度的基板溫度的條件下形成以外,與實(shí)施例A1 同樣地制作了 [(Na,BiUajTiOjl15。
      [0204] 比較例1的[(Na,Bi) 1_!^&!£]1103層15具有攝氏160度這一低的退極化溫度Td。 在比較例1中,應(yīng)變量不與施加電場(chǎng)成比例。請(qǐng)留意壓電常數(shù)d31 (0. 3V/微米)/壓電常數(shù) d31(1.8V/微米)的比為0.76。該比值越接近1,應(yīng)變量與施加電場(chǎng)之間的關(guān)系就越接近準(zhǔn) 確的比例關(guān)系。
      [0205] (比較例2)
      [0206] 按照專(zhuān)利文獻(xiàn)5,使用了似;&11附03層(z= 0. 07)來(lái)代替Lai+yNi^Ojl13,并且,
      [(Na,Bi) 1_!^\]1103層15在攝氏650度的基板溫度的條件下形成,除此以外,與實(shí)施例A1 同樣地制作了[(NajDhBajTiOjl15。NazLai_zNiOJl(z= 0.07)在攝氏 300 度的溫度 下形成。
      [0207] (比較例3)
      [0208] 按照專(zhuān)利文獻(xiàn)6,使用了在表面具有(lll)Pt層的(001)Mg0基板來(lái)代替硅基板,并 且,[(NaJDa^^TiOjl15在以下的條件下形成,除此以外,與實(shí)施例A13同樣地制作 了 [(Na,BiUajTiOs層 15。
      [0209] 氣氛:氬和氧的混合氣體如/02的流量比:50/50)
      [0210] RF輸出功率:170W
      [0211] 基板溫度:攝氏650度
      [0212] 表1表示實(shí)施例A1~實(shí)施例A13、實(shí)施例B1~實(shí)施例B5、以及比較例1~比較例 3的結(jié)果。表2表不與實(shí)施例A1的不同點(diǎn)。
      [0213] 表 1
      [0214]
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1?一種[(Na,Bi) ^xBaJ TiO3晶體壓電體膜(15),其中, 所述[(Nadi)1Jax]TiO3晶體壓電體膜僅具有(001)取向, 所述[(Na,Bi) hBaJ TiO3晶體壓電體膜具有0. 390納米以上且0. 395納米以下的a軸 長(zhǎng), 所述[(Na,Bi) hBaJ TiO3晶體壓電體膜具有0. 399納米以上且0. 423納米以下的c軸 長(zhǎng), X表示0以上且1以下的值,并且, 所述[(Na,BDhBaJTiC^sB體壓電體膜具有攝氏389度以上的退極化溫度。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的[(Na,Bi) hBajTiO^體壓電體膜, 所述[(Na,BDhBaJTiC^sB體壓電體膜具有攝氏470度以下的退極化溫度。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的[(Na,Bi) PxBaJTiO3晶體壓電體膜,還含有錳。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的[(Na,Bi) hBajTiC^l體壓電體膜,X為0. 00以上且0. 22 以下。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的[(Na,Bi) hBajTiO^體壓電體膜, 所述[(Na,Bi) ^xBaJTiO3晶體壓電體膜具有0. 391納米以上且0. 394納米以下的a軸 長(zhǎng), 所述[(Na,Bi) hBaJ TiO3晶體壓電體膜具有0. 399納米以上且0. 420納米以下的c軸 長(zhǎng),并且, X為0.02以上且0.20以下。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的[(Na,Bi) hBajTiC^l體壓電體膜, 所述[(Na,BiUaJTiO3晶體壓電體膜具有滿(mǎn)足以下的數(shù)式⑴的壓電常數(shù) d31(0. 3V/微米), 所述[(Na,BUaJTiO3晶體壓電體膜具有滿(mǎn)足以下的數(shù)式(II)的壓電常數(shù) d31(1.8V/微米),并且, 所述[(NadDhBaJTiO3晶體壓電體膜具有滿(mǎn)足以下的數(shù)式(III)的線(xiàn)性, 壓電常數(shù)d31(0. 3V/微米)I彡78 (I), 壓電常數(shù)d31(1.8V/微米)I彡78 (II), 0.98彡(壓電常數(shù)d31(0.3V/微米)/壓電常數(shù)d31(1.8V/微米))彡1.00(111)。
      7. -種壓電疊層結(jié)構(gòu)體,具備以下的層: LaLyNihyO3層(13);和 權(quán)利要求1所述的[(Na,Bi) PxBaJTiO3晶體壓電體膜(15),其中, 所述[(Na,Bi) JaJTiO3晶體壓電體膜(15)被層疊為與所述La LyNipyO^ (13)接 觸, y表示-0. 05以上且0. 15以下的值。
      8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的壓電疊層結(jié)構(gòu)體,y為0. 00以上且0. 10以下。
      9. 一種噴墨頭,具備: 壓電體膜,其被第1電極和第2電極夾著; 振動(dòng)層,其與所述壓電體膜接合;和 壓力室部件,其具有收容墨的壓力室,并且接合于所述振動(dòng)層中的與接合有所述壓電 體膜的面相反的一側(cè)的面上, 所述振動(dòng)層,與所述壓電體膜接合,使得其根據(jù)基于壓電效應(yīng)的所述壓電體膜的位移 而在該振動(dòng)層的膜厚方向上位移, 所述振動(dòng)層和所述壓力室部件相互接合,使得所述壓力室的容積根據(jù)所述振動(dòng)層的位 移而變化,并且,所述壓力室內(nèi)的墨根據(jù)所述壓力室的容積的變化而噴出, 所述壓電體膜為權(quán)利要求1所述的[(Na,BDhBaJTiO^sB體壓電體膜。
      10. -種使用噴墨頭形成圖像的方法,具備以下的工序: 工序(a),該工序準(zhǔn)備所述噴墨頭, 所述噴墨頭具備以下部分: 壓電體膜,其被第1電極和第2電極夾著; 振動(dòng)層,與所述壓電體膜接合;和 壓力室部件,其具有收容墨的壓力室,并且接合于所述振動(dòng)層中的與接合有所述壓電 體膜的面相反的一側(cè)的面上,其中, 所述振動(dòng)層,與所述壓電體膜接合,使得其根據(jù)基于壓電效應(yīng)的所述壓電體膜的位移 而在該振動(dòng)層的膜厚方向上位移, 所述振動(dòng)層和所述壓力室部件相互接合,使得所述壓力室的容積根據(jù)所述振動(dòng)層的位 移而變化,并且,所述壓力室內(nèi)的墨根據(jù)所述壓力室的容積的變化而噴出, 所述壓電體膜為權(quán)利要求1所述的[(Na,BDhBaJTiC^sB體壓電體膜;和 工序(b),該工序通過(guò)經(jīng)由所述第1電極和第2電極對(duì)所述壓電體層施加電壓,基于壓 電效應(yīng)使所述振動(dòng)層在該層的膜厚方向上位移,使得所述壓力室的容積變化,通過(guò)該位移 使墨從所述壓力室噴出。
      11. 一種角速度傳感器,具備: 基板,其具有振動(dòng)部;和 壓電體膜,其與所述振動(dòng)部接合,并且被第1電極和第2電極夾著, 所述壓電體膜為權(quán)利要求1所述的[(Na,BDhBaJTiO^sB體壓電體膜, 選自所述第1電極和第2電極中的一方電極由電極群構(gòu)成,所述電極群包含驅(qū)動(dòng)電極 和讀出電極,所述驅(qū)動(dòng)電極對(duì)所述壓電體層施加使所述振動(dòng)部振蕩的驅(qū)動(dòng)電壓,所述讀出 電極用于測(cè)定由于施加于振蕩中的所述振動(dòng)部的角速度而在所述振動(dòng)部產(chǎn)生的位移。
      12. -種使用角速度傳感器測(cè)定角速度的方法,具備以下的工序: 工序(a),該工序準(zhǔn)備所述角速度傳感器,其中, 所述角速度傳感器具備以下部分: 基板,其具有振動(dòng)部;和 壓電體膜,其與所述振動(dòng)部接合,并且被第1電極和第2電極夾著,其中, 所述壓電體膜為權(quán)利要求1所述的[(Na,BDhBaJTiO^sB體壓電體膜, 選自所述第1電極和第2電極中的一方電極由包含驅(qū)動(dòng)電極和讀出電極的電極群構(gòu) 成; 工序(b),該工序通過(guò)經(jīng)由選自所述第1電極和第2電極中的另一方電極和所述驅(qū)動(dòng)電 極對(duì)所述壓電體層施加驅(qū)動(dòng)電壓,使所述振動(dòng)部振蕩;和 工序(c),該工序通過(guò)經(jīng)由所述另一方電極和所述讀出電極測(cè)定由于施加于振蕩中的 所述振蕩部的角速度而在所述振動(dòng)部產(chǎn)生的位移,得到所述施加了的角速度的值。
      13. -種壓電發(fā)電兀件,具備以下部分: 基板,其具有振動(dòng)部;和 壓電體膜,其與所述振動(dòng)部接合,并且被第1電極和第2電極夾著,其中, 所述壓電體膜為權(quán)利要求1所述的[(Na,BDhBaJTiO^sB體壓電體膜。
      14. 一種使用壓電發(fā)電元件發(fā)電的方法,具備以下工序: 工序(a),該工序準(zhǔn)備所述壓電發(fā)電元件, 所述壓電發(fā)電元件具備以下部分: 基板,其具有振動(dòng)部;和 壓電體膜,其與所述振動(dòng)部接合,并且被第1電極和第2電極夾著,其中, 所述壓電體膜為權(quán)利要求1所述的[(Na,BDhBaJTiC^sB體壓電體膜;和 工序(b),該工序通過(guò)對(duì)所述振動(dòng)部給予振動(dòng),經(jīng)由所述第1電極和第2電極獲得電。
      【專(zhuān)利摘要】提供一種具有更高的退極化溫度的NBT-BT膜。本發(fā)明為一種[(Na,Bi)1-xBax]TiO3晶體壓電體膜,該[(Na,Bi)1-xBax]TiO3晶體壓電體膜僅具有(001)取向,該[(Na,Bi)1-xBax]TiO3晶體壓電體膜具有0.390納米以上且0.395納米以下的a軸長(zhǎng),該[(Na,Bi)1-xBax]TiO3晶體壓電體膜具有0.399納米以上且0.423納米以下的c軸長(zhǎng),x表示0以上且1以下的值,該[(Na,Bi)1-xBax]TiO3晶體壓電體膜具有攝氏389度以上的退極化溫度。
      【IPC分類(lèi)】H01L41-187, B41J2-14
      【公開(kāi)號(hào)】CN104868049
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410602181
      【發(fā)明人】田中良明, 橋本和彌, 張?zhí)尜F圣, 足立秀明, 藤井映志
      【申請(qǐng)人】松下知識(shí)產(chǎn)權(quán)經(jīng)營(yíng)株式會(huì)社
      【公開(kāi)日】2015年8月26日
      【申請(qǐng)日】2014年10月31日
      【公告號(hào)】US20150243878
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