全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備及其控制方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于一種進(jìn)出料裝置及其控制方法，且特別是有關(guān)于一種全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備及其控制方法。
【背景技術(shù)】
[0002]發(fā)光二極管(LED)晶片在制作完成后，會(huì)被貼附在藍(lán)膜(blue tape)上并切割成多顆晶粒。一般來(lái)說(shuō)，藍(lán)膜會(huì)被固定于晶片環(huán)(wafer ring)且因受張力而繃開(kāi)，使得貼附在藍(lán)膜上的各顆晶粒彼此分離。接著，晶片環(huán)可通過(guò)手動(dòng)或自動(dòng)的進(jìn)料過(guò)程送入各自獨(dú)立的外觀檢查機(jī)臺(tái)(例如自動(dòng)光學(xué)檢查(Α0Ι)裝置)或光電測(cè)試機(jī)臺(tái)，以進(jìn)行晶粒測(cè)試的動(dòng)作。
[0003]通常而言，經(jīng)外觀檢查機(jī)臺(tái)檢測(cè)后的晶片環(huán)上的各顆晶粒，需再以人工的方式移置到光電測(cè)試機(jī)臺(tái)，以針對(duì)晶片環(huán)上的各顆晶粒進(jìn)行光電測(cè)試。又或者是，先利用光電測(cè)試機(jī)臺(tái)針對(duì)晶片環(huán)上的各顆晶粒進(jìn)行光電測(cè)試，再在光電測(cè)試結(jié)束后以人工的方式移置到外觀檢查機(jī)臺(tái)，以針對(duì)晶片環(huán)上的各顆晶粒進(jìn)行外觀檢查。之后，經(jīng)外觀檢查與光電測(cè)試后的晶片環(huán)上的各顆晶粒再以人工方式移置到分選機(jī)臺(tái)。分選機(jī)臺(tái)可依照外觀檢查與光電測(cè)試后的結(jié)果，將晶片環(huán)上的各顆晶粒分選到不同等級(jí)的分選盒(bin)中。然而，以人工的方式將晶片環(huán)從外觀檢查機(jī)臺(tái)或光電測(cè)試機(jī)臺(tái)移置到分選機(jī)臺(tái)的這個(gè)過(guò)程上，極易發(fā)生人為疏失，對(duì)處理的可靠度造成危害。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備及其控制方法，有助于提高測(cè)試與分選發(fā)光二極管晶粒的效率與可靠度。
[0005]本發(fā)明提出一種全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備，其包括物料進(jìn)出平臺(tái)、滑軌、機(jī)械手臂、多個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)。物料進(jìn)出平臺(tái)適于送出或回收工作物件，其中工作物件包括載體以及位于載體上的多個(gè)待測(cè)物，且載體具有辨識(shí)碼。物料進(jìn)出平臺(tái)包括辨識(shí)單元以及控制單元，其中辨識(shí)單元用以辨識(shí)載體的辨識(shí)碼，且控制單元電性耦接于辨識(shí)單元。滑軌設(shè)置于物料進(jìn)出平臺(tái)的旁側(cè)。機(jī)械手臂可移動(dòng)地設(shè)置于滑軌上，且電性耦接于控制單元。前述測(cè)試機(jī)臺(tái)設(shè)置于滑軌的旁側(cè)。在辨識(shí)單元辨識(shí)完載體的辨識(shí)碼后，控制單元驅(qū)動(dòng)機(jī)械手臂自物料進(jìn)出平臺(tái)取出工作物件。機(jī)械手臂沿滑軌移動(dòng)至對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)，以將工作物件置放于對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)。
[0006]本發(fā)明提出一種全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備的控制方法包括以下步驟:首先，將工作物件送入物料進(jìn)出平臺(tái)，其中工作物件包括載體以及位于載體上的多個(gè)待測(cè)物，且載體具有辨識(shí)碼。接著，利用物料進(jìn)出平臺(tái)的辨識(shí)單元辨識(shí)載體的辨識(shí)碼。接著，通過(guò)控制單元驅(qū)動(dòng)機(jī)械手臂自物料進(jìn)出平臺(tái)取出工作物件。接著，通過(guò)控制單元驅(qū)動(dòng)機(jī)械手臂沿設(shè)置于物料進(jìn)出平臺(tái)的旁側(cè)的滑軌移動(dòng)，其中滑軌的旁側(cè)設(shè)置有多個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)。之后，通過(guò)控制單元驅(qū)動(dòng)機(jī)械手臂移動(dòng)至對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)，以將工作物件置放于對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)。
[0007]基于上述，本發(fā)明的全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備可在工作物件送入物料進(jìn)出平臺(tái)后，先以辨識(shí)單元快速掃描工作物件的載體，以判讀出載體的辨識(shí)碼。接著，再通過(guò)控制單元驅(qū)動(dòng)機(jī)械手臂取出工作物件，并使機(jī)械手臂沿著滑軌移動(dòng)至對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)，進(jìn)而將工作物件置放于其內(nèi)。詳細(xì)而言，不同工作物件的載體上承載有不同類(lèi)型的待測(cè)物，故需視各個(gè)載體上的待測(cè)物的類(lèi)型以進(jìn)行不同的測(cè)試步驟。舉例來(lái)說(shuō)，有部分類(lèi)型的待測(cè)物需經(jīng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)分別進(jìn)行光電測(cè)試與外觀檢查等步驟，而其他部分類(lèi)型的待測(cè)物則僅進(jìn)行光電測(cè)試的步驟。換言之，本發(fā)明的全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備可進(jìn)行前述自動(dòng)化辨識(shí)、輸送與測(cè)試等流程，藉以有效提高工作物件測(cè)試的效率與可靠度。
[0008]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。
【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本發(fā)明一實(shí)施例的全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備的俯視示意圖。
[0010]附圖標(biāo)記說(shuō)明:
[0011]10:工作物件；
[0012]11:載體；
[0013]11a:晶片環(huán)；
[0014]lib:藍(lán)膜；
[0015]13:待測(cè)物；
[0016]100:全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備；
[0017]110:物料進(jìn)出平臺(tái)；
[0018]111:辨識(shí)單元；
[0019]112:控制單元；
[0020]113:第二收發(fā)單元；
[0021]120:滑軌；
[0022]130:機(jī)械手臂；
[0023]140:測(cè)試機(jī)臺(tái)；
[0024]141?144:光電測(cè)試機(jī)臺(tái)；
[0025]141a?146a:第三收發(fā)單元；
[0026]145、146:外觀檢查機(jī)臺(tái)；
[0027]150:分選機(jī)臺(tái)；
[0028]150a:第四收發(fā)單元；
[0029]160:數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置；
[0030]161:第一收發(fā)單元。
【具體實(shí)施方式】
[0031]圖1是本發(fā)明一實(shí)施例的全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備的俯視示意圖。請(qǐng)參考圖1，在本實(shí)施例中，全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備100可應(yīng)用于發(fā)光二極管晶粒的測(cè)試與分選，其包括物料進(jìn)出平臺(tái)110、滑軌120、機(jī)械手臂130、多個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)140以及多個(gè)分選機(jī)臺(tái)150。在另一實(shí)施例中，全自動(dòng)進(jìn)出料設(shè)備也可由物料進(jìn)出平臺(tái)、滑軌、機(jī)械手臂、多個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)所組成，而未設(shè)置有分選機(jī)臺(tái)，本發(fā)明對(duì)此不加以限制。
[0032]具體來(lái)說(shuō)，物料進(jìn)出平臺(tái)110主要是作為送出或回收多個(gè)工作物件10所用，其中各工作物件10例如是由載體11以及位于載體11上的多個(gè)待測(cè)物13所組成。一般來(lái)說(shuō)，載體11可包括晶片環(huán)11a以及固定于晶片環(huán)11a上的藍(lán)膜11b，由于藍(lán)膜lib在固定于晶片環(huán)11a后受張力而繃開(kāi)，因此可使貼附于藍(lán)膜lib上的各個(gè)待測(cè)物13彼此分離，且概呈矩陣排列，但本發(fā)明并不以此為限。此處，待測(cè)物13例如是待測(cè)的發(fā)光二極管晶粒，其具有一對(duì)或兩對(duì)電極。
[0033]為求全自動(dòng)地進(jìn)行多個(gè)工作物件10及其上的待測(cè)物13的測(cè)試與分選，故各個(gè)工作物件10的載體可具有特定的辨識(shí)碼，以圖1所示的待測(cè)物13的排列方式舉例說(shuō)明，待測(cè)物13的編號(hào)的排序可由上自下且由左自由的依次遞增，假使載體11的辨識(shí)碼為A，則待測(cè)物13的編號(hào)可排序?yàn)锳-1?A-9，但本發(fā)明并不以此為限。另一方面，物料進(jìn)出平臺(tái)110可包括辨識(shí)單元111以及控制單元112，其中辨識(shí)單元111即是作為辨識(shí)(或判讀)載體11的辨識(shí)碼所用。
[0034]在判讀出載體11的辨識(shí)碼之后，電性耦接于辨識(shí)單元111的控制單元112會(huì)接收到自辨識(shí)單元111所發(fā)出的電信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)物料輸送機(jī)構(gòu)來(lái)進(jìn)行工作物件10的輸送。在本實(shí)施例中，物料輸送機(jī)構(gòu)例如是由滑軌120與機(jī)械手臂130所組成，其中滑軌120設(shè)置于物料進(jìn)出平臺(tái)110的旁側(cè)，且機(jī)械手臂130為可移動(dòng)地設(shè)置于滑軌120上。因此，在控制單元112接收到前述電信號(hào)后，控制單元112便會(huì)驅(qū)動(dòng)與其電性耦接的機(jī)械手臂130自物料進(jìn)出平臺(tái)110取出工作物件10，并使機(jī)械手臂130沿著滑軌120來(lái)回移動(dòng)。通常而言，機(jī)械手臂130可通過(guò)真空吸附裝置、夾取裝置或托取裝置，以將工作物件10自物料進(jìn)出平臺(tái)110取出。
[0035]在本實(shí)施例中，測(cè)試機(jī)臺(tái)140以及分選機(jī)臺(tái)150設(shè)置于滑軌120的旁側(cè)(例如滑軌120的兩相對(duì)側(cè))，其中測(cè)試機(jī)臺(tái)140可包括光電測(cè)試機(jī)臺(tái)141?144以及外觀檢查機(jī)臺(tái)145與146。此處，雖然是以四臺(tái)光電測(cè)試機(jī)臺(tái)141?144、兩臺(tái)外觀檢查機(jī)臺(tái)145與146以及兩臺(tái)分選機(jī)臺(tái)150舉例說(shuō)明，但前述各類(lèi)型的機(jī)臺(tái)的數(shù)量自可視需求而適度地增減，本發(fā)明并不以此為限。如圖1所示，外觀檢查機(jī)臺(tái)145與146較光電測(cè)試機(jī)臺(tái)141?144靠近物料進(jìn)出平臺(tái)110，且分選機(jī)臺(tái)150較光電測(cè)試機(jī)臺(tái)141?144遠(yuǎn)離物料進(jìn)出平臺(tái)110。也就是說(shuō)，光電測(cè)試機(jī)臺(tái)141?144例如是位于外觀檢查機(jī)臺(tái)145與146以及分選機(jī)臺(tái)150之間，但前述各類(lèi)型的機(jī)臺(tái)之間的相對(duì)配置關(guān)系或相對(duì)于物料進(jìn)出平臺(tái)110的距離自可視需求而適度地調(diào)整，本發(fā)明并不以此為限。
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