電極84也可包括開(kāi)口，圖中未示出。
[0030]參考圖4，質(zhì)量選擇檢測(cè)器120可包括操作地對(duì)準(zhǔn)在端蓋122和124之間的成組電極。端蓋122和124中的一者或二者可包括開(kāi)口 126和/或128。根據(jù)示例實(shí)施方式，質(zhì)量選擇檢測(cè)器中的一個(gè)或多個(gè)可配置為具有端蓋122和124的線性離子阱。端蓋122和124可以取向并配置為產(chǎn)生沿著與電極組120平行的軸線的電場(chǎng)，和/或限定沿著該軸線的離子。端蓋和/或電極可被粘附在具有諸如圖5A和5B中的件或間隔塊142的絕緣安裝塊的位置中。開(kāi)口 126和128可沿著在檢測(cè)器的電極間限定的體積內(nèi)延伸的一個(gè)軸線而彼此對(duì)準(zhǔn)。
[0031]接下來(lái)參考圖5A和5B，示出了質(zhì)量選擇檢測(cè)器130的可替代實(shí)施例。在圖5A中，示出檢測(cè)器組件的正視圖，并且在圖5B中，示出檢測(cè)器組件130的局部(slight)透視圖。如在這些視圖中可以看出的，組件130可包括成組的電極132，133，134和136。這些電極具有本文所限定的表面，包括所描述的臺(tái)階上升部和/或上升部或伸展部表面。參考圖5B以及透視圖，圖示了電極133內(nèi)的開(kāi)口 140，并且這些電極彼此正交地相關(guān)。根據(jù)示例實(shí)施方式，組件130還可包括間隔塊142。
[0032]分析物可使用本文所描述的質(zhì)量分離器進(jìn)行存儲(chǔ)和/或捕獲，諸如，通過(guò)對(duì)電極施加適當(dāng)?shù)臒o(wú)線電頻率和/或直流電壓的線性離子講。例如，并且僅僅通過(guò)示例的方式，RF電壓可施加到本文所描述的一個(gè)或多個(gè)電極上。所產(chǎn)生的離子可被引入到限定在電極之間的體積中。分析物可被存儲(chǔ)和/或捕獲在通過(guò)利用RF電壓而在間隔中所產(chǎn)生的振動(dòng)的勢(shì)阱中。
[0033]另外，以這樣的方式將RF和/或DC電壓施加在電極上以在間隔中產(chǎn)生電場(chǎng)，并且同時(shí)捕獲單一(m/z)值的分析物。然后將電壓步進(jìn)到下一個(gè)(m/z)值，改變間隔中的電場(chǎng)，其中具有該值的分析物被捕獲，而具有先前值的分析物被發(fā)射到檢測(cè)器?？梢灾鸩竭M(jìn)行該分析以記錄所需要的(m/z)范圍上的整個(gè)質(zhì)量光譜。這里所描述的以及施加在其上的電場(chǎng)可認(rèn)為是質(zhì)量分離參數(shù)。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，可以通過(guò)改變上升部和/或伸展部的高度和/或?qū)挾葋?lái)改變電極的特定表面，從而向所感興趣的具體的分析提供非常具體的電場(chǎng)。
[0034]因此，例如，提供一種用于優(yōu)化質(zhì)量選擇檢測(cè)器內(nèi)的質(zhì)量分離的方法。該方法可包括提供質(zhì)量分離參數(shù)，諸如上文描述的電場(chǎng)參數(shù)，并且繼而在分離器內(nèi)提供一組電極，該組電極具有與該分離器操作地對(duì)準(zhǔn)的表面。該方法可提供電極的表面，該表面在一個(gè)橫截面上可以限定經(jīng)由上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部，其中上升部正交地連接到伸展部。該方法還可提供通過(guò)修改上升部和/或伸展部中的一者或二者來(lái)獲得所希望的質(zhì)量分離參數(shù)。
[0035]以這種方式，例如，可將電極打磨成具有具體幾何以提供具體的質(zhì)量分離參數(shù)。根據(jù)這樣的一個(gè)示例，可使用固定在質(zhì)量選擇檢測(cè)器內(nèi)朝向中的一組電極來(lái)獲得所希望的質(zhì)量分離參數(shù)?？蓪⑦@些電極移除，而另一組電極則可以被定位在相同的固定朝向內(nèi)。但是，該另一組電極可具有不同的臺(tái)階或上升部和伸展部的幾何。這允許操作者獲得不同的質(zhì)量分離參數(shù)，該不同的質(zhì)量分離參數(shù)能夠被聚焦并且連接到具體的幾何地設(shè)計(jì)的電極。關(guān)于被施加的或者所希望的質(zhì)量分離參數(shù)，可參考美國(guó)專利7294832，其全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用的方式并入本文。
[0036]根據(jù)本公開(kāi)的實(shí)施方式，在較高階的電場(chǎng)上改變步進(jìn)電極幾何的第一臺(tái)階的寬度的效果在圖6A-6C中示出，并且改變步進(jìn)電極幾何的第二臺(tái)階的效果在圖7A-7C中示出，以及改變第三臺(tái)階的效果在圖8A-8C中示出。
[0037]遵照法規(guī)，本公開(kāi)的實(shí)施例以或多或少具體語(yǔ)言對(duì)結(jié)構(gòu)和方法的特征進(jìn)行了描述。但是，可以理解的是，整個(gè)發(fā)明不限于具體特征和/或所示出和/或描述的實(shí)施例，因?yàn)樗_(kāi)的實(shí)施例包括實(shí)現(xiàn)發(fā)明的形式。
[0038]相關(guān)申請(qǐng)交叉引用
[0039]本申請(qǐng)要求2014年5月16日提交的序列號(hào)為61/994778的美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán)，將其全部?jī)?nèi)容通過(guò)引用的方式并入本文。
[0040]作為聯(lián)邦政府贊助的研究和開(kāi)發(fā)下做出的發(fā)明的權(quán)利的聲明:
[0041]本發(fā)明是由政府支持在美國(guó)國(guó)土安全部門授予的CRAD計(jì)劃DHS合同HSHQDC-09-C-00057下做出的。政府對(duì)于本發(fā)明具有一定的權(quán)利。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種質(zhì)量分離器，包括至少一個(gè)電極部件，所述電極部件具有在所述分離器內(nèi)操作地對(duì)準(zhǔn)的表面，所述表面在一個(gè)橫截面上限定經(jīng)由至少一個(gè)上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部，所述上升部正交地連接到所述伸展部。2.權(quán)利要求1所述的分離器，其中所述表面在所述一個(gè)橫截面上進(jìn)一步限定從所述伸展部中的至少一個(gè)延伸的另一上升部。3.權(quán)利要求2所述的分離器，其中所述表面在所述一個(gè)橫截面上進(jìn)一步限定由所述上升部中的至少兩個(gè)和伸展部組成的基座。4.權(quán)利要求1所述的分離器，其中所述表面在所述一個(gè)橫截面上限定相對(duì)的上升部和伸展部。5.權(quán)利要求4所述的分離器，其中所述相對(duì)的上升部和伸展部在所述電極的表面上限定基座。6.權(quán)利要求1所述的分離器，其中所述表面在所述一個(gè)橫截面上限定在所述至少一個(gè)上升部?jī)?nèi)的開(kāi)口，所述開(kāi)口延伸穿過(guò)所述電極部件至所述電極部件的相對(duì)的表面。7.—種質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其包括至少第一對(duì)相對(duì)的電極，所述相對(duì)的電極中的每個(gè)具有互補(bǔ)的表面，所述表面在一個(gè)橫截面上限定經(jīng)由上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部，所述上升部正交地連接到所述伸展部。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，還包括第二對(duì)相對(duì)的電極，所述第一對(duì)的每一個(gè)與所述第二對(duì)相鄰并且正交。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其中所述檢測(cè)器的電極中的至少一個(gè)限定在所述電極的相對(duì)的表面之間延伸的開(kāi)口。10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其中所述檢測(cè)器的電極中的至少一個(gè)限定在所述電極的相對(duì)的表面之間延伸的開(kāi)口。11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其中所述檢測(cè)器的兩個(gè)相對(duì)的電極二者都限定在每個(gè)單獨(dú)電極的相對(duì)的表面之間延伸的互補(bǔ)的開(kāi)口。12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其中所述第一對(duì)電極被配置作為線性離子阱的電極。13.根據(jù)權(quán)利要求7所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其中所述第一對(duì)電極經(jīng)由相對(duì)的端蓋而關(guān)于彼此固定。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其中所述相對(duì)的端蓋中的每個(gè)限定開(kāi)口，所述端蓋的開(kāi)口彼此對(duì)準(zhǔn)。15.一種用于優(yōu)化質(zhì)量選擇檢測(cè)器內(nèi)的質(zhì)量分離的方法，所述方法包括: 提供質(zhì)量分離參數(shù)； 在分離器內(nèi)提供一組電極，所述一組電極具有在所述分離器內(nèi)操作地對(duì)準(zhǔn)的表面，所述表面在一個(gè)橫截面上限定經(jīng)由上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部，所述上升部正交地連接到所述伸展部；并且 修正所述上升部和/或伸展部中的一個(gè)或兩個(gè)以獲得所述質(zhì)量分離參數(shù)。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述質(zhì)量分離參數(shù)包括由所述一組電極在被操作地接合時(shí)所提供的電場(chǎng)。17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中所述質(zhì)量分離器被配置作為線性離子阱，并且所述一組電極是所述阱的一組電極。18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，還包括在所述檢測(cè)器內(nèi)將所述一組電極提供至固定取向，所述方法還包括，將所述一組電極從所述固定取向上移除、并用另一組電極替換所述一組電極，所述另一組電極與所述一組電極具有不同的上升部和/或伸展部配置。
【專利摘要】提供一種質(zhì)量分離器，其可以包括具有表面的至少一個(gè)電極部件，該表面在一個(gè)橫截面上限定經(jīng)由至少一個(gè)上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部，上升部正交地連接到伸展部。提供一種質(zhì)量選擇檢測(cè)器，其可以包括至少第一對(duì)相對(duì)的電極，相對(duì)的電極中的具有互補(bǔ)的表面，該表面在一個(gè)橫截面上限定經(jīng)由上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部。還提供一種用于優(yōu)化質(zhì)量選擇檢測(cè)器內(nèi)的質(zhì)量分離的方法，包括提供質(zhì)量分離參數(shù)；提供檢測(cè)器內(nèi)的一組電極，該組電極具有在檢測(cè)器內(nèi)可操作地對(duì)準(zhǔn)的表面，該表面在一個(gè)橫截面上限定經(jīng)由至少一個(gè)上升部而相關(guān)聯(lián)的至少兩個(gè)伸展部，上升部正交地連接到伸展部；并且修正上升部和/或伸展部中的一個(gè)或兩個(gè)以獲得質(zhì)量分離參數(shù)。
【IPC分類】H01J49/26, H01J29/02
【公開(kāi)號(hào)】CN105405737
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510433622
【發(fā)明人】M·古德溫, J·M·韋爾斯
【申請(qǐng)人】弗利爾探測(cè)股份有限公司
【公開(kāi)日】2016年3月16日
【申請(qǐng)日】2015年5月18日
【公告號(hào)】US20150332905