專利名稱：掃描馬達(dá)的定子組的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種掃描馬達(dá)，更具體地說(shuō)，涉及一種掃描馬達(dá)的定子組。
背景技術(shù)：
如圖l所示，掃描馬達(dá)通常包括相互組合的定子組10和轉(zhuǎn)子組20。其中 定子組10包括相互連接的軸承座11和后蓋12，軸承14通過(guò)過(guò)盈配合固定在 軸承座11內(nèi)。軸承座11多為多階柱形。鐵心13固定在軸承座11的其中一階 的外部周面上，其高度小于所在階的高度，并且與該階間隙配合；用于纏繞銅 線，并在通電后通過(guò)磁場(chǎng)與轉(zhuǎn)子組20的磁石21相互作用，從而使對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)子 組20轉(zhuǎn)動(dòng)。在組裝過(guò)程中，在該階的相應(yīng)配合表面15上點(diǎn)膠后，再組裝鐵心 13，其缺陷是容易將膠合劑刮落，影響膠合強(qiáng)度，嚴(yán)重的情況下會(huì)造成掃描馬 達(dá)在運(yùn)轉(zhuǎn)一段時(shí)間后無(wú)法正常工作。
其次，點(diǎn)膠后固定鐵心13時(shí)，由于鐵心13與其所在階采用間隙配合，故 兩者間的間隙較大，間隙例如為0.06mm，需要使用特定的夾具，才能保證鐵 心13的回轉(zhuǎn)中心軸與軸承14的中心軸處于所要求的同軸度范圍內(nèi)。在鐵心 13的外周有絕緣涂覆層，涂覆層的厚度因不同生產(chǎn)批次而有差異，這對(duì)于產(chǎn) 品的穩(wěn)定品質(zhì)有一定的影響。如果鐵心13與軸承14的同軸度不良，在馬達(dá)的 運(yùn)轉(zhuǎn)過(guò)程中發(fā)生摩擦，會(huì)產(chǎn)生異音，起動(dòng)轉(zhuǎn)速穩(wěn)定性較差。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種 掃描馬達(dá)的定子組，包括軸承座、與所述軸承座連接的后蓋、設(shè)置在所述軸承 座內(nèi)的軸承、以及鐵心，其中，所述軸承座為多階柱形，所述鐵心與所述軸承 座的其中一階的外部周面過(guò)盈配合；所述鐵心的高度大于其所在階的高度；且
所述鐵心與所述上一階之間的間隙形成點(diǎn)膠槽。
在本實(shí)用新型所述的掃描馬達(dá)的定子組中，所述鐵心所在階的直徑小于其 下一階，且所述鐵心的底部與所述下一階的頂面相貼合。
在本實(shí)用新型所述的掃描馬達(dá)的定子組中，還包括基板。
在本實(shí)用新型所述的掃描馬達(dá)的定子組中，所述基板固定在所述軸承座的 其中一階的外部周面上，其底部與下一階的頂面相貼合，且所述下一階的外徑 大于基板所在階的外徑。
在本實(shí)用新型所述的掃描馬達(dá)的定子組中，所述軸承座是逐階變小的多階 柱形。
在本實(shí)用新型所述的掃描馬達(dá)的定子組中，所述軸承座是向兩端分別逐階 變小的多階柱形。
實(shí)施本實(shí)用新型的掃描馬達(dá)的定子組，具有以下有益效果簡(jiǎn)化了組裝過(guò) 程，可有效保證鐵心與軸承的同軸度；與現(xiàn)有的掃描馬達(dá)的定子組相比，避免
了鐵心與軸承座之間的間隙對(duì)同軸度帶來(lái)的影響；在組裝過(guò)程中易于定位，不 需要另外使用夾具；點(diǎn)膠槽有利于點(diǎn)膠固定，節(jié)約了成本，縮短了組裝的時(shí)間。


下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，附圖中 圖1是現(xiàn)有技術(shù)的掃描馬達(dá)的局部剖視圖2是本實(shí)用新型的掃描馬達(dá)的定子組與對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)子組組合后的局部剖 視圖3是本實(shí)用新型的掃描馬達(dá)的定子組的剖視圖。
具體實(shí)施方式

如圖2和圖3所示，在本實(shí)用新型的掃描馬達(dá)定子組的實(shí)施例中，定子組 100包括相互連接的軸承座101和后蓋102。軸承座101為多階柱形，帶有軸 向的中心通孔103。軸承104通過(guò)過(guò)盈配合的方式安裝在軸承座101的中心通 孔103內(nèi)，用于使對(duì)應(yīng)轉(zhuǎn)子組200的軸202定位于其中并可在其中轉(zhuǎn)動(dòng)。在軸
承座101的外部周面上，固定有鐵心106。
鐵心106用于纏繞銅線，通電后產(chǎn)生磁場(chǎng)，與對(duì)應(yīng)轉(zhuǎn)子組200上的磁石 201相互作用，從而使對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)子組200轉(zhuǎn)動(dòng)。為了在組裝過(guò)程中使鐵心106 更好地定位、節(jié)省工時(shí)，鐵心106通過(guò)過(guò)盈配合的方式安裝在軸承座101的其 中一階107的外部周面上，其底部與下一階108的頂面相貼合，且該下一階 108的外徑大于鐵心106所在階107的外徑。
如圖所示，鐵心106的高度大于其所在階107的高度而與上一階109形成 間隙，且鐵心106的所在階107的直徑大于其上一階109。將鐵心106組裝到 軸承座101上后，鐵心106與其所在階107緊密配合，兩者的間隙較佳為0. Olmm 以下。鐵心106與上一階109之間的間隙形成點(diǎn)膠槽110，沿點(diǎn)膠槽110進(jìn)行 點(diǎn)膠，從而將鐵心106固定在軸承座101上。
由于鐵心106與軸承座101的外部周面緊密配合，因此可保證鐵心106 與軸承104的同軸度位于允許的范圍內(nèi)，避免了現(xiàn)有技術(shù)中鐵心106與軸承座 101之間的間隙對(duì)同軸度帶來(lái)的影響。組裝完畢后，定子組100與對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)子 組200之間的同軸度也可得到有效的保證。
在該實(shí)施例中，定子組IOO還包括基板105?；?05通過(guò)鉚接的方式固 定在軸承座101的其中一階的外部周面上，其底部與下一階的頂面相貼合，且 該下一階的外徑大于基板105所在階的外徑。這種結(jié)構(gòu)有利于在組裝過(guò)程中使 基板105快速定位。當(dāng)然，基板105也可固定在后蓋102上。
為了便于固定鐵心106和基板105，較佳地，軸承座101為逐階變小的多 階柱形，在組裝過(guò)程中先后組裝基板105、鐵心106。選擇性地，軸承座101 也可以是兩端分別逐階變小的多階柱形，在組裝過(guò)程中，從不同的端部分別組 入基板105和鐵心106。
本實(shí)用新型的掃描馬達(dá)的定子組結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，簡(jiǎn)化了組裝過(guò)程，可有效保證 鐵心106與軸承104的同軸度；與現(xiàn)有的掃描馬達(dá)的定子組相比，避免了鐵心 106與軸承座101之間的間隙對(duì)同軸度帶來(lái)的影響；在組裝過(guò)程中易于定位， 不需要另外使用夾具；點(diǎn)膠槽有利于點(diǎn)膠固定，節(jié)約了成本，縮短了組裝的時(shí)
權(quán)利要求1、一種掃描馬達(dá)的定子組，包括軸承座、與所述軸承座連接的后蓋、設(shè)置在所述軸承座內(nèi)的軸承、以及鐵心，其特征在于，所述軸承座為多階柱形，所述鐵心與所述軸承座的其中一階的外部周面過(guò)盈配合；所述鐵心的高度大于其所在階的高度；且所述鐵心與所述上一階之間的間隙形成點(diǎn)膠槽。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掃描馬達(dá)的定子組，其特征在于，所述鐵心所 在階的直徑小于其下一階，且所述鐵心的底部與所述下一階的頂面相貼合。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掃描馬達(dá)的定子組，其特征在于，還包括基板。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的掃描馬達(dá)的定子組，其特征在于，所述基板固 定在所述軸承座的其中一階的外部周面上，其底部與下一階的頂面相貼合，且 所述下一階的外徑大于基板所在階的外徑。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的掃描馬達(dá)的定子組，其特征在于，所述軸承座是逐階變小的多階柱形。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的掃描馬達(dá)的定子組，其特征在于，所述軸承座是向兩端分別逐階變小的多階柱形。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掃描馬達(dá)的定子組，其特征在于，所述鐵心所 在階的直徑大于其上一階的直徑。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種掃描馬達(dá)的定子組，包括軸承座、與所述軸承座連接的后蓋、設(shè)置在所述軸承座內(nèi)的軸承、以及鐵心，其中，所述軸承座為多階柱形，所述鐵心與所述軸承座的其中一階的外部周面過(guò)盈配合；所述鐵心的高度大于其所在階的高度，且所述鐵心所在階的直徑大于其上一階的直徑；所述鐵心與所述上一階之間的間隙形成點(diǎn)膠槽。這種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)化了組裝過(guò)程，可有效保證鐵心與軸承的同軸度；與現(xiàn)有的掃描馬達(dá)的定子組相比，避免了鐵心與軸承座之間的間隙對(duì)同軸度帶來(lái)的影響；在組裝過(guò)程中易于定位，不需要另外使用夾具；節(jié)約了成本，縮短了組裝的時(shí)間。
文檔編號(hào)H02K5/16GK201008103SQ20072013954
公開(kāi)日2008年1月16日 申請(qǐng)日期2007年2月14日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月14日
發(fā)明者蕤 劉 申請(qǐng)人:亞洲光學(xué)股份有限公司