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      一種智能復(fù)合開關(guān)的制作方法

      文檔序號:7421348閱讀:343來源:國知局
      專利名稱:一種智能復(fù)合開關(guān)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型涉及一種電力系統(tǒng)中的開關(guān)執(zhí)行元件,尤其涉及一種對電 力系統(tǒng)中電容器進行過零投切的智能復(fù)合開關(guān)。
      背景技術(shù)
      智能復(fù)合開關(guān)是一種安裝在配電箱或配電柜內(nèi),系統(tǒng)電壓過零時對電 力電容器進行投切的低壓裝置。智能復(fù)合開關(guān)的工作原理是將可控硅與磁 保持繼電器并聯(lián)連接,控制電力電容器的電壓過零投切。投入時在電壓過
      零瞬間可控硅先過零觸發(fā),穩(wěn)定后再將磁保持繼電器吸合導(dǎo)通;切出時先 將可控硅導(dǎo)通,磁保持繼電器斷開,可控硅延時過零斷開,從而實現(xiàn)電流 過零切除?,F(xiàn)有技術(shù)中,智能復(fù)合開關(guān)的電壓過零檢測電路檢測到電壓過 零信號后,由于電壓過零檢測電路具有遲滯特性,檢測到的電壓過零點并 不是準確的電壓過零點,此時觸發(fā)可控硅將產(chǎn)生一定程度的涌流,涌流為 正常電流的幾倍甚至幾十倍,嚴重時甚至會燒毀可控硅及縮短電容器的使 用壽命;智能復(fù)合開關(guān)的主拓撲結(jié)構(gòu)一般釆用可控硅串聯(lián)電路,在可控硅 斷開的瞬間,可控硅兩端承受的壓降較高,容易將可控硅擊穿;另外,復(fù) 合開關(guān)的工作環(huán)境一般都比較惡劣,與上位機的通訊往往會受到嚴重的干 擾。

      實用新型內(nèi)容
      本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種無投切涌流、可靠性高以及 能準確的檢測出電壓過零點的智能復(fù)合開關(guān)。
      為解決上述技術(shù)問題,本實用新型要采取以下技術(shù)方案
      一種智能復(fù)合開關(guān),包括故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示屏 電路、復(fù)位電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路,還包括極性轉(zhuǎn)換 電路、數(shù)字信號處理DSP芯片,所述故障檢測電路、運行指示電路、LED 顯示電路、復(fù)位電路、極性轉(zhuǎn)換電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電 路分別與DSP芯片電連接。
      進一步,所述DSP芯片內(nèi)設(shè)有電壓過零檢測電路的模型參考自適應(yīng)系統(tǒng)。當DSP芯片接收到過零信號后,DSP芯片把此時的過零點與DSP芯片 內(nèi)的電壓過零檢測電路的模型參考相比較,即可求出準確的過零點。
      所述可控硅控制電路還包括可控硅保護電路,保護電路并聯(lián)連接有均 壓作用的電阻R3、 R4。保護電路還可并聯(lián)連接有壓敏電阻。
      再進一步,DSP芯片采用現(xiàn)有技術(shù)的C一MBUS總線系統(tǒng)與上位機連接進 行通信。
      本實用新型能準確的檢測出電壓過零點,實現(xiàn)了電容器投切時無涌流 的目的,也減小了功率的損耗;由于可控硅保護電路并聯(lián)連接有壓敏電阻 及均壓電路,使得可控硅在斷開瞬間兩端的壓降不會太高,不易損壞可控 硅,大大提高了工作的可靠性;DSP芯片與上位機之間通過C—MBUS總線系 統(tǒng)連接,極大地提高了抗干擾能力,充分保證了智能復(fù)合開關(guān)與上位機通 信的可靠性。

      附圖1為本實用新型的電路原理框圖;附圖2可控硅控保護電路原理 示意圖;附圖3為C—MBUS總線系統(tǒng)電路原理示意圖。
      具體實施方式

      為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解,下面結(jié)合具體實施例與附圖對本實 用新型作進一步的說明
      如附圖1所示,本實用新型公開了一種無投切涌流、可靠性高以及能 準確的檢測出電壓過零點的智能復(fù)合開關(guān)。
      一種智能復(fù)合開關(guān),包括故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示電 路、復(fù)位電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路,還包括極性轉(zhuǎn)換電 路、DSP芯片,所述故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示電路、復(fù)位 電路、極性轉(zhuǎn)換電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路分別與DSP芯 片電連接。DSP芯片內(nèi)設(shè)有電壓過零檢測電路的模型參考系統(tǒng)。如附圖2 所示,可控硅控制電路包括可控硅保護電路,可控硅保護電路并聯(lián)連接有 壓敏電阻M0V1、 M0V2,有效防止了可控硅在斷開瞬間因兩端電壓的突變, 導(dǎo)致因壓降高而燒毀可控硅的危險,保護電路還并聯(lián)連接有電阻R3、 R4, 起到分壓的作用,有效保證了電路的穩(wěn)定性。DSP芯片通過C—MBUS總線系 統(tǒng)與上位機相連接進行通信,由于C_MBUS總線系統(tǒng)具有通訊速率高、抗
      4干擾能力強的特點,因而充分保證了本智能復(fù)合開關(guān)與上位機通訊的可靠 性,并使智能復(fù)合開關(guān)得到有效控制。
      本實用新型的工作原理為智能復(fù)合開關(guān)接收到投切命令后,首先通 過電壓過零檢測電路對電壓零點進行檢測。由于電壓過零檢測電路具有遲 滯特性,此時檢測到的電壓零點并不是真正的零點。當DSP芯片接收到電
      壓零點的信號后,DSP芯片把此時的電壓零點與其內(nèi)的電壓過零檢測電路
      的模型參考相比較,求得準確的電壓過零點。在下一周期對可控硅進行過 零觸發(fā),從而實現(xiàn)了電容器真正意義上的過零投入,實現(xiàn)無涌流投入的目 的。
      上述實施例為本實用新型較佳的實現(xiàn)方式之一,除此之外,本實用新 型還可以其他實現(xiàn)方式,需要說明的是,在沒有脫離本實用新型的發(fā)明構(gòu) 思的前提下任何顯而易見的替換均在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求1. 一種智能復(fù)合開關(guān),包括故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示屏電路、復(fù)位電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路,其特征在于還包括極性轉(zhuǎn)換電路、數(shù)字信號處理DSP芯片,所述故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示電路、復(fù)位電路、外部信號控制電路、極性轉(zhuǎn)換電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路分別與DSP芯片電連接。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能復(fù)合開關(guān),其特征在于所述DSP芯片 內(nèi)設(shè)有電壓過零檢測電路的模型參考自適應(yīng)系統(tǒng)。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的智能復(fù)合開關(guān),其特征在于所述可控硅控 制電路包括可控硅保護電路,保護電路并聯(lián)連接有均壓作用的無感電阻 R3、 R4。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的智能復(fù)合開關(guān),其特征在于所述可控硅保 護電路上還并聯(lián)連接有壓敏電阻。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的智能復(fù)合開關(guān),其特征在于所述DSP芯片 通過帶供電功能的設(shè)備端串行雙總線通信系統(tǒng)C—MBUS與上位機連接進行 通信。
      專利摘要一種智能復(fù)合開關(guān),包括故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示屏電路、復(fù)位電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路,還包括極性轉(zhuǎn)換電路、數(shù)字信號處理芯片,所述故障檢測電路、運行指示電路、LED顯示電路、復(fù)位電路、極性轉(zhuǎn)換電路、電壓過零檢測電路及可控硅控制電路分別與數(shù)字信號處理芯片電連接。數(shù)字信號處理芯片內(nèi)設(shè)有電壓過零檢測電路的模型參考自適應(yīng)系統(tǒng),可控硅控制電路上還并聯(lián)連接有壓敏電阻。本實用新型很好的實現(xiàn)了電容器投切時無涌流的目的,而且大大減小了功率損耗,提高了可靠性。
      文檔編號H02J3/18GK201315491SQ20082020585
      公開日2009年9月23日 申請日期2008年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月19日
      發(fā)明者劉秀立, 耀 孫, 張振環(huán), 曾保權(quán), 黎 楊, 王明功, 許曉暉, 鉦 赫 申請人:河源市雅達電子有限公司
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