本發(fā)明涉及到集成電路開關(guān)電源技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種電流控制方式的欠壓保護(hù)電路。
背景技術(shù):
隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展, 對電源管理芯片的開關(guān)頻率、傳輸延遲、穩(wěn)定性、功耗等各種要求越來越高, 以保證電源電壓在波動的情況下能夠可靠的工作。一般的電源芯片上電啟動時, 電源會通過輸入端的等效電阻和電容對其充電, 使得電源芯片的電壓逐步上升, 直到電壓上升到芯片的開啟電壓時電路正常工作。然而若系統(tǒng)的負(fù)載電流較大, 有可能把電路的電壓拉低到開啟電壓以下, 出現(xiàn)一開啟就關(guān)斷的情況。為了保證電路正常進(jìn)入啟動狀態(tài)并且穩(wěn)定工作, 同時也為了電路工作時電源電壓的波動不會對整個電路和系統(tǒng)造成損害, 一般使用所謂的欠壓保護(hù)電路對輸入進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控和保護(hù)。
欠壓保護(hù)電路最主要的特點(diǎn)就是具有簡單的電路結(jié)構(gòu)、高的反應(yīng)速度、低的溫度敏感性和精準(zhǔn)的門限電壓。傳統(tǒng)的欠壓保護(hù)電路采用電阻分壓,得到一個輸入電壓的分壓與固定電壓進(jìn)行比較,這種方法的缺點(diǎn)是反應(yīng)速度慢,靈敏度不高。電流控制方式的欠壓保護(hù)電路對輸入電壓變化更靈敏,所以反應(yīng)速度更快,更好地保護(hù)電路,因而存在一種電流控制方式的欠壓保護(hù)電路的需要。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供一種電流控制方式的欠壓保護(hù)電路,使得芯片工作更高效,避免芯片工作在欠壓模式下。
本發(fā)明公開的技術(shù)方案包括:
提供了一種電流控制方式的欠壓保護(hù)電路,其特征在于,包括:偏置電路,所述偏置電路通過外接一個電流鏡得到一個鏡像電流,但輸入端IN的變化會影響鏡像的電流大小,進(jìn)而影響偏置電路產(chǎn)生的輸出電壓大小;所述比較器電路包括正向輸入端VREF、反向輸入端和輸出端op_out,比較器電路的反向輸入端INN接到偏置電路產(chǎn)生的輸出電壓,比較器電路的正向輸入端VREF為基準(zhǔn)電壓,通過比較兩端輸入電壓的大小得到一個輸出電壓;共源級輸出電路,所述共源級輸出電路的輸入端連接到所述比較器電路的輸出端op_out,控制共源級場效應(yīng)管的導(dǎo)通與關(guān)閉,得到邏輯電平輸出UVLO。其中偏置電路的電流控制很精確,輸入端IN的大小會影響場效應(yīng)管的工作區(qū),進(jìn)而影響偏置電路的輸出電壓。
本發(fā)明的一個實(shí)例中,所述偏置電路包括第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第一場效應(yīng)管NM1、第二場效應(yīng)管NM2、第三場效應(yīng)管PM1,其中:所述第一電阻R1的一端連接到芯片輸入IN,另一端連接到所述第一場效應(yīng)管NM1的漏極和所述第三場效應(yīng)管PM1的柵極;所述第一場效應(yīng)管NM1的柵極接到電源端VDD,所述第一場效應(yīng)管NM1的源極接到所述第二場效應(yīng)管NM2的漏極;所述第二場效應(yīng)管NM2的柵極接到一個偏置電壓nbias,所述第二場效應(yīng)管NM2的源極接地;所述第三場效應(yīng)管PM1的源極接到芯片輸入IN,所述第三場效應(yīng)管PM1的漏極接到所述第二電阻R2的一端;所述第二電阻R2的另一端接到所述比較器電路的反向輸入端INN和所述第三電阻R3的一端;所述第三電阻R3的另一端接地。
本發(fā)明的一個實(shí)例中,所述共源級輸出電路包括第四場效應(yīng)管PM2、第五場效應(yīng)管NM3,其中:所述第四場效應(yīng)管PM2的源極接到電源端VDD,所述第四場效應(yīng)管PM2的柵極接到一個偏置電壓pbias,所述第四場效應(yīng)管PM2的漏極接到所述第五場效應(yīng)管NM3的漏極,成為輸出端UVLO;所述第五場效應(yīng)管NM3的柵極接到所述比較器電路的輸出端op_out,所述第五場效應(yīng)管NM3的源極接地。
本發(fā)明的一個實(shí)例中,所述比較器電路包括第六場效應(yīng)管PM3、第七場效應(yīng)管PM4、第八場效應(yīng)管PM5、第九場效應(yīng)管NM4、第十場效應(yīng)管NM5,其中:所述第六場效應(yīng)管PM3的柵極接到偏置電壓pbias,所述第六場效應(yīng)管PM3的源極接到電源端VDD,所述第六場效應(yīng)管PM3的漏級接到所述第七場效應(yīng)管PM4的源極和所述第八場效應(yīng)管PM5的源極;所述第七場效應(yīng)管PM4的柵極接到基準(zhǔn)電壓VREF,所述第七場效應(yīng)管PM4的漏極接到所述第九場效應(yīng)管NM4的漏極和柵極;所述第八場效應(yīng)管PM5的柵極接到所述偏置電路的輸出端INN,所述第八場效應(yīng)管PM5的漏極連接到所述第十場效應(yīng)管NM5的漏極,即所述比較器電路的輸出端op_out;所述第九場效應(yīng)管NM4的源極接地;所述第十場效應(yīng)管NM5的柵極接到所述九場效應(yīng)管NM4的柵極和漏級,所述第十場效應(yīng)管NM5的源極接地。
本發(fā)明的實(shí)例中,如果輸入電壓IN發(fā)生變化,偏置電路的電流會發(fā)生變化,進(jìn)而比較器電路的負(fù)端輸入電壓發(fā)生變化,進(jìn)而共源級輸出電路會發(fā)生高低電平變化。偏置電路的電流控制方式比較精確,輸入端IN的大小會影響場效應(yīng)管的工作區(qū),進(jìn)而影響偏置電路的輸出電壓。因此通過電流控制方式的欠壓保護(hù)電路,對于芯片輸入的欠壓檢測更加精確和靈敏。讓芯片在較低的輸入條件下停止工作,避免了芯片的非正常工作功耗,提高了芯片的正常工作效率。
附圖說明
圖1是本發(fā)明實(shí)施例的電流控制方式的欠壓保護(hù)電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本發(fā)明實(shí)施例的比較器電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例的電流控制方式的欠壓保護(hù)電路的具體結(jié)構(gòu)。
圖1為本發(fā)明一個實(shí)施例的電流控制方式的欠壓保護(hù)電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖1所示,本發(fā)明一些實(shí)施例中,一種電流控制方式的欠壓保護(hù)電路包括偏置電路10、比較器電路20和共源級輸出電路30。
偏置電路通過外接一個電流鏡得到一個鏡像電流,但輸入端IN的變化會影響鏡像的電流大小,進(jìn)而影響偏置電路產(chǎn)生的輸出電壓大??;所述比較器電路20包括正向輸入端VREF、反向輸入端INN和輸出端op_out,比較器電路20的反向輸入端INN接到偏置電路10產(chǎn)生的輸出電壓,比較器電路20的正向輸入端VREF為基準(zhǔn)電壓,通過比較兩端輸入電壓的大小得到一個輸出電壓;共源級輸出電路30,所述共源級輸出電路30的輸入端連接到所述比較器電路20的輸出端op_out,控制共源級場效應(yīng)管的導(dǎo)通與關(guān)閉,得到邏輯電平輸出UVLO。其中偏置電路10的電流控制很精確,輸入端IN的大小會影響場效應(yīng)管的工作區(qū),進(jìn)而影響偏置電路的輸出電壓。
如圖1所示,本發(fā)明的一些實(shí)施例中,偏置電路10包括第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第一場效應(yīng)管NM1、第二場效應(yīng)管NM2、第三場效應(yīng)管PM1,其中:所述第一電阻R1的一端連接到芯片輸入IN,另一端連接到所述第一場效應(yīng)管NM1的漏極和所述第三場效應(yīng)管PM1的柵極;所述第一場效應(yīng)管NM1的柵極接到電源端VDD,所述第一場效應(yīng)管NM1的源極接到所述第二場效應(yīng)管NM2的漏極;所述第二場效應(yīng)管NM2的柵極接到一個偏置電壓nbias,所述第二場效應(yīng)管NM2的源極接地;所述第三場效應(yīng)管PM1的源極接到芯片輸入IN,所述第三場效應(yīng)管PM1的漏極接到所述第二電阻R2的一端;所述第二電阻R2的另一端接到所述比較器電路20的反向輸入端INN和所述第三電阻R3的一端;所述第三電阻R3的另一端接地。
如圖1所示,本發(fā)明的一些實(shí)施例中,共源級輸出電路30包括第四場效應(yīng)管PM2、第五場效應(yīng)管NM3,其中:所述第四場效應(yīng)管PM2的源極接到電源端VDD,所述第四場效應(yīng)管PM2的柵極接到一個偏置電壓pbias,所述第四場效應(yīng)管PM2的漏極接到所述第五場效應(yīng)管NM3的漏極,成為輸出端UVLO;所述第五場效應(yīng)管NM3的柵極接到所述比較器電路20的輸出端op_out,所述第五場效應(yīng)管NM3的源極接地。
在這些實(shí)施例中,輸入電壓IN可以達(dá)到比較高的電位,第一場效應(yīng)管NM1是耐高壓型的場效應(yīng)管,起到保護(hù)第二場效應(yīng)管NM2不被擊穿的作用。
如圖2所示,本發(fā)明的一些實(shí)例中,比較器電路20包括第六場效應(yīng)管PM3、第七場效應(yīng)管PM4、第八場效應(yīng)管PM5、第九場效應(yīng)管NM4、第十場效應(yīng)管NM5,其中:所述第六場效應(yīng)管PM3的柵極接到偏置電壓pbias,所述第六場效應(yīng)管PM3的源極接到電源端VDD,所述第六場效應(yīng)管PM3的漏級接到所述第七場效應(yīng)管PM4的源極和所述第八場效應(yīng)管PM5的源極;所述第七場效應(yīng)管PM4的柵極接到基準(zhǔn)電壓VREF,所述第七場效應(yīng)管PM4的漏極接到所述第九場效應(yīng)管NM4的漏極和柵極;所述第八場效應(yīng)管PM5的柵極接到所述偏置電路10的輸出端INN,所述第八場效應(yīng)管PM5的漏極連接到所述第十場效應(yīng)管NM5的漏極,即所述比較器電路20的輸出端op_out;所述第九場效應(yīng)管NM4的源極接地;所述第十場效應(yīng)管NM5的柵極接到所述九場效應(yīng)管NM4的柵極和漏級,所述第十場效應(yīng)管NM5的源極接地。
本發(fā)明的實(shí)例中,如果輸入電壓IN發(fā)生變化,偏置電路的電流會發(fā)生變化,進(jìn)而比較器電路20的負(fù)端輸入電壓發(fā)生變化,進(jìn)而共源級輸出電路30會發(fā)生高低電平變化。通過電流控制方式的欠壓保護(hù)電路,對于芯片輸入的欠壓檢測更加精確。讓芯片在較低的輸入條件下停止工作,避免了芯片的非正常工作功耗,提高了芯片的正常工作效率。
下面簡要說明本發(fā)明實(shí)施例的電路的工作原理。
例如,圖1所示的實(shí)施例中,當(dāng)芯片輸入電壓IN比較低的時候,會使得第二場效應(yīng)管NM2進(jìn)入到三極管區(qū),這樣就不能按照比例鏡像外部提供的偏置電流。第二場效應(yīng)管NM2的漏電流會因?yàn)镮N的降低不滿足線性鏡像關(guān)系,導(dǎo)致第一電阻R1兩端壓差降低。第一電阻R1兩端壓差即為第三場效應(yīng)管PM1的柵源電壓,控制著該條支路的電流大小,進(jìn)而通過電阻分壓控制比較器電路20的負(fù)端電壓INN大小。
當(dāng)芯片輸入電壓IN正常的時候,偏置電路的場效應(yīng)管都工作在飽和區(qū),比較器的負(fù)端輸入電壓INN比基準(zhǔn)電壓VREF高,進(jìn)而得到穩(wěn)定的邏輯電平UVLO使得電路其他模塊正常工作。
可見本發(fā)明的實(shí)施例通過把輸入電壓IN的變化轉(zhuǎn)化為電流變化,設(shè)置合適的電阻值即可精確地檢測輸入電壓IN是否處于欠壓狀態(tài)。讓芯片在較低的輸入條件下停止工作,避免了芯片的非正常工作功耗,提高了芯片的工作效率。
以上通過具體的實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了說明,但本發(fā)明并不限于這些具體的實(shí)施例。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白,還可以對本發(fā)明做各種修改、等同替換、變化等等,這些變換只要未背離本發(fā)明的精神,都應(yīng)在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。此外,以上多處所述的“一個實(shí)施例”表示不同的實(shí)施例,當(dāng)然也可以將其全部或部分結(jié)合在一個實(shí)施例中。