專利名稱：直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及石英晶體諧振器生產(chǎn)設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。
技術(shù)背景石英晶體諧振器又稱為石英晶體，俗稱晶振.是利用石英晶體的壓電效應(yīng)而制成的諧振元件。與半導(dǎo)體器件和阻容元件一起使用，便可構(gòu)成石英晶體振蕩器。石英晶體振蕩器是高精度和高穩(wěn)定度的振蕩器，被廣泛應(yīng)用于彩電、計(jì)算機(jī)、遙控器等各類(lèi)振蕩電路中，以及通信系統(tǒng)中用于頻率發(fā)生器、為數(shù)據(jù)處理設(shè)備產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)和為特定系統(tǒng)提供基準(zhǔn)信號(hào)。 現(xiàn)有技術(shù)中，生產(chǎn)石英晶體諧振器使用的直線微調(diào)機(jī)不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)石英晶體電阻等參數(shù)，所以，石英晶體微調(diào)完成后必須單獨(dú)進(jìn)行參數(shù)檢測(cè)，以判定石英晶體的性能，如此便增加了石英晶體的生產(chǎn)工序，延長(zhǎng)了生產(chǎn)周期
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種工作效率高的直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，能在微調(diào)的同時(shí)根據(jù)客戶需要，檢測(cè)不同的晶體參數(shù)，判定產(chǎn)品性能，以解決現(xiàn)有技術(shù)中石英晶體微調(diào)完成后必須單獨(dú)進(jìn)行參數(shù)檢測(cè)，工序繁瑣的問(wèn)題。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于包括安裝在直線微調(diào)機(jī)內(nèi)的限位托板，限位托板上方設(shè)置有微調(diào)檢測(cè)頭，微調(diào)檢測(cè)頭安裝在一端鉸接在工作箱體內(nèi)壁上的搖臂上，所述微調(diào)檢測(cè)頭連接信號(hào)采集器，信號(hào)采集器通過(guò)數(shù)據(jù)線連接計(jì)算機(jī)。所述限位托板安裝在滑動(dòng)安裝座內(nèi)。所述限位托板上設(shè)置的限位槽排列成矩形。將需要檢測(cè)的晶體參數(shù)在計(jì)算機(jī)里設(shè)定后，限位托板帶動(dòng)晶體移動(dòng)，微調(diào)檢測(cè)頭接觸晶體，檢測(cè)晶體的差數(shù)，并通過(guò)信號(hào)采集器和數(shù)據(jù)線將檢測(cè)的參數(shù)在計(jì)算機(jī)上顯示，檢測(cè)速度快，精度高。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)合理，微調(diào)檢測(cè)頭可在微調(diào)的同時(shí)檢測(cè)出晶體參數(shù)，參數(shù)可在計(jì)算機(jī)上立刻顯示出來(lái)，檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn)單快捷，檢測(cè)精度高，能根據(jù)客戶需要，檢測(cè)不同的晶體參數(shù)，判定產(chǎn)品性能，簡(jiǎn)化了石英晶體的生產(chǎn)工藝，提高了生產(chǎn)效率。

圖I為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。其中I.計(jì)算機(jī)；2.數(shù)據(jù)線；3.信號(hào)采集器；4.搖臂；5.微調(diào)檢測(cè)頭；6.限位托板；7.工作箱體；8.滑動(dòng)安裝座；9.限位槽。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示及具體實(shí)施例，進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型，但不是用來(lái)限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。請(qǐng)參考圖I，一種直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，包括安裝在直線微調(diào)機(jī)內(nèi)的限位托板6，限位托板6上方設(shè)置有微調(diào)檢測(cè)頭5，微調(diào)檢測(cè)頭5安裝在一端鉸接在工作箱體7內(nèi)壁上的搖臂4上，微調(diào)檢測(cè)頭5連接信號(hào)采集器3，信號(hào)采集器3通過(guò)數(shù)據(jù)線2連接計(jì)算機(jī)1，限位托板6安裝在滑動(dòng)安裝座8內(nèi)，限位托板6上設(shè)置的限位槽9排列成矩形。將需要檢測(cè)的晶體參數(shù)在計(jì)算機(jī)I里設(shè)定后，限位托板6帶動(dòng)晶體移動(dòng)，微調(diào)檢測(cè)頭5接觸晶體，檢測(cè)晶體的差數(shù)，并通過(guò)信號(hào)采集器3和數(shù)據(jù)線2將檢測(cè)的參數(shù)在計(jì)算機(jī)I上顯示，檢測(cè)速度快，精度高。以上顯示和描述了本實(shí)用新型的基本原理、主要特征和本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)。僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本領(lǐng)域的 技術(shù)人員在本實(shí)用新型所揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。本實(shí)用新型要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書(shū)及其等效物界定。
權(quán)利要求1.一種直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于包括安裝在直線微調(diào)機(jī)內(nèi)的限位托板，限位托板上方設(shè)置有微調(diào)檢測(cè)頭，微調(diào)檢測(cè)頭安裝在一端鉸接在工作箱體內(nèi)壁上的搖臂上，所述微調(diào)檢測(cè)頭連接信號(hào)采集器，信號(hào)采集器通過(guò)數(shù)據(jù)線連接計(jì)算機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述限位托板安裝在滑動(dòng)安裝座內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述限位托板上設(shè)置的限位槽排列成矩形。
專利摘要一種直線微調(diào)機(jī)的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，涉及石英晶體諧振器生產(chǎn)設(shè)備領(lǐng)域，解決現(xiàn)有技術(shù)中石英晶體微調(diào)完成后必須單獨(dú)進(jìn)行參數(shù)檢測(cè)，工序繁瑣的問(wèn)題，包括安裝在直線微調(diào)機(jī)內(nèi)的限位托板，限位托板上方設(shè)置有微調(diào)檢測(cè)頭，微調(diào)檢測(cè)頭安裝在一端鉸接在工作箱體內(nèi)壁上的搖臂上，所述微調(diào)檢測(cè)頭連接信號(hào)采集器，信號(hào)采集器通過(guò)數(shù)據(jù)線連接計(jì)算機(jī)。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)合理，微調(diào)檢測(cè)頭可在微調(diào)的同時(shí)檢測(cè)出晶體參數(shù)，參數(shù)可在計(jì)算機(jī)上立刻顯示出來(lái)，檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn)單快捷，檢測(cè)精度高，能根據(jù)客戶需要，檢測(cè)不同的晶體參數(shù)，判定產(chǎn)品性能，簡(jiǎn)化了石英晶體的生產(chǎn)工藝，提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)H03H3/02GK202794390SQ201220438949
公開(kāi)日2013年3月13日 申請(qǐng)日期2012年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月31日
發(fā)明者謝小東 申請(qǐng)人:銅陵日科電子有限責(zé)任公司