專利名稱：記錄和重放設(shè)備、記錄和重放方法以及記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一般，本發(fā)明涉及一種記錄和重放設(shè)備，一種使用在該記錄和重放設(shè)備中的記錄和重放方法，以及用于記錄該記錄和重放方法的記錄介質(zhì)。更具體地，本發(fā)明涉及一種校正聚焦精度的記錄和重放設(shè)備，一種使用在該記錄和重放設(shè)備中的記錄和重放方法，以及用于記錄該記錄和重放方法的記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
用于記錄音頻信號(hào)的由CD(光盤)表示的盤形記錄介質(zhì)已變得很普及。除了諸如CD之外的記錄介質(zhì)還包括用在比如計(jì)算機(jī)設(shè)備中用于存儲(chǔ)程序的CD-ROM(光盤只讀存儲(chǔ)器)和以高圖像質(zhì)量記錄運(yùn)動(dòng)圖像的DVD-視頻(數(shù)字通用光盤)記錄介質(zhì)。
另外，在用戶方面，可以記錄和重放信息的盤形記錄介質(zhì)也已正變得很普及。這種盤形記錄介質(zhì)的例子是采用磁光技術(shù)記錄和重放信息的MD(微型盤)、MO(磁光盤)，采用相變(phase-change)記錄技術(shù)記錄和重放信息的PD(相變光盤)和DVD-RAM(數(shù)字通用光盤-隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)。
如上所述，存在著能夠處理數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的各種盤形記錄介質(zhì)。另外，記錄在盤形記錄介質(zhì)上的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)還具有若干種記錄數(shù)據(jù)類型，例如字符、聲音、靜止圖像和運(yùn)動(dòng)圖像。隨著近年來諸如微處理器之類裝置的性能的提高，這種數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)可以實(shí)時(shí)的方式處理并記錄在記錄介質(zhì)上。
這就是描述在上面作為背景技術(shù)的原因，人們期望再增加存儲(chǔ)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的記錄容量。作為增加盤形記錄介質(zhì)的記錄容量的可實(shí)現(xiàn)的技術(shù)，減小在重放或記錄操作期間輻射到記錄介質(zhì)上的光束光點(diǎn)的大小，以增加記錄表面的密度。光束光點(diǎn)的大小是由如下公式(1)給出的a＝α×λ/NA ...(1)其中標(biāo)號(hào)α表示由光強(qiáng)分布確定的系數(shù)，標(biāo)號(hào)λ表示光束的波長(zhǎng)和標(biāo)號(hào)NA表示物鏡的數(shù)字孔徑。
正如從公式(1)看出的那樣，為了減小光束光點(diǎn)的大小，必須降低波長(zhǎng)λ和增加數(shù)字孔徑NA。因此，利用具有小波長(zhǎng)的半導(dǎo)體激光器和使用具有高數(shù)字孔徑NA的物鏡，可以獲得小的光束光點(diǎn)。結(jié)果，可以增加在盤形記錄介質(zhì)上的記錄數(shù)據(jù)的表面記錄密度。另外，還可能構(gòu)成能夠?qū)?shù)據(jù)記錄到具有大記錄容量的記錄介質(zhì)和重放來自該記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)的記錄和重放設(shè)備。
但是，隨著光束光點(diǎn)直徑的降低，聚焦點(diǎn)的深度也不可避免地降低了。因此散焦的裕度，即，聚焦偏差的裕度也降低了。聚焦點(diǎn)的深度成如下表達(dá)式所示的關(guān)系d∝λ/(NA)*2 ...(2)正如從上面給出的比例關(guān)系(2)看出的那樣，按照波長(zhǎng)λ與數(shù)字孔徑NA的比值關(guān)系，波長(zhǎng)λ越短，數(shù)字孔徑NA越大，聚焦點(diǎn)深度d就越小。
因此，為了在以高記錄密度實(shí)現(xiàn)記錄和重放操作中在聚焦點(diǎn)深度內(nèi)定位記錄表面，必須高精度地執(zhí)行聚焦控制。
如上所述，通過降低激光器光束的波長(zhǎng)λ，增加物鏡的數(shù)字孔徑NA并執(zhí)行較高精度的聚焦控制，記錄介質(zhì)的記錄容量可以被增加。在聚焦控制中的聚焦偏差解釋如下。
在聚焦控制中產(chǎn)生聚焦偏差的原因包括由于在伺服時(shí)間上的殘余偏移引起穩(wěn)態(tài)偏移；由于盤與盤之間的厚度變化引起的聚焦點(diǎn)位置的偏移；和由于安裝盤的盤驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部溫度增加引起的偏移變化。
由于在伺服時(shí)間上的殘余偏移引起的穩(wěn)態(tài)偏移是由聚焦外部擾動(dòng)部件的幅度和增益確定的。因此，在以高記錄密度將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)和重放來自記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)的操作中，通過減少諸如盤表面的振動(dòng)的數(shù)量或每個(gè)外部擾動(dòng)的幅度并通過提高增益，穩(wěn)態(tài)偏差可以被降低。
由于盤與盤之間的厚度變化引起聚焦點(diǎn)位置的偏移可以在插入盤到盤驅(qū)動(dòng)器時(shí)通過調(diào)整盤到最佳點(diǎn)的位置，從而改善聚焦的精度。通過參考事先設(shè)置在盤上的ROM區(qū)的諸如重放RF(射頻)信號(hào)抖動(dòng)次數(shù)和幅度的系數(shù)，將盤的位置調(diào)整到最佳點(diǎn)。ROM區(qū)是用于記錄諸如盤與盤變化的ID信息的區(qū)。實(shí)際上，最佳點(diǎn)是通過將聚焦偏置值改變到各變化值求出的。
如上所述，由于在伺服時(shí)間上的殘余偏移引起的穩(wěn)態(tài)偏移和由于盤與盤之間的厚度變化引起的聚焦點(diǎn)位置的偏移可以通過在將數(shù)據(jù)記錄到盤上或者重放來自盤上的數(shù)據(jù)的操作之前在該聚焦控制處理中執(zhí)行減少聚焦點(diǎn)的偏移的處理而被減少。而當(dāng)進(jìn)行將數(shù)據(jù)記錄到盤上或者重放來自盤上的數(shù)據(jù)的操作時(shí)，需要降低由于安裝盤的盤驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部溫度的增加而引起的偏移變化。
作為防止在聚焦控制中的偏移變化引起的聚焦偏差的方法，一般，用于記錄RF信號(hào)的一個(gè)校正區(qū)被事先設(shè)置在盤上，并且存取光盤的光拾取頭的位置被改變到校正位置，以便在記錄和重放設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)中，在溫度增加的情況下進(jìn)行校正。
但是，在移動(dòng)存取光盤的光拾取頭到校正區(qū)進(jìn)行校正時(shí)，出現(xiàn)記錄或重放操作必須被暫時(shí)擱置的問題。為了解決這個(gè)問題，在數(shù)據(jù)必須以實(shí)時(shí)的方式進(jìn)行處理的情況下，必須提供一種具有諸如在校正期間暫時(shí)存儲(chǔ)待處理數(shù)據(jù)的緩沖器之類的附加部件的記錄和重放設(shè)備。必須提供具有用于諸如實(shí)現(xiàn)校正諸如緩沖器之類的附加部件的記錄和重放設(shè)備而出現(xiàn)使得記錄和重放設(shè)備的配置更復(fù)雜的另外的問題。

發(fā)明內(nèi)容
解決上述問題的本發(fā)明的一個(gè)目的是，通過在聚焦控制中將光拾取頭移動(dòng)到數(shù)據(jù)已經(jīng)被記錄的和正在進(jìn)行的記錄和重放的操作中最接近光拾取頭的當(dāng)前位置并利用表示已經(jīng)被記錄在最接近位置的數(shù)據(jù)的RF信號(hào)的位置來縮短進(jìn)行校正的時(shí)間。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的第一個(gè)方面，提供一種記錄和重放設(shè)備，包括判斷裝置，用于形成有關(guān)將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)的第N軌跡或重放來自第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中是否校正聚焦精度的判斷；校正裝置，如果判斷裝置利用表示現(xiàn)存的已經(jīng)記錄在最接近第N軌跡的數(shù)據(jù)的信號(hào)形成將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)的第N軌跡或重放來自第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作進(jìn)行校正聚焦精度的判斷時(shí)，用于校正聚焦精度。
如果確定已經(jīng)經(jīng)過了預(yù)定時(shí)間周期，則該判斷裝置能夠形成校正聚焦精度的判斷。
如果確定安裝記錄介質(zhì)的盤驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部溫度已經(jīng)增加到預(yù)定溫度值時(shí)，該判斷裝置能夠形成校正聚焦精度的判斷。
校正裝置通過利用從緊接著第N軌跡之前的第(N-1)軌跡重放的信號(hào)能夠校正聚焦精度。
校正裝置通過確定提供在閾值k的范圍內(nèi)的差的絕對(duì)值的聚焦偏置值fd能夠校正聚焦精度，這里該差是在(fd+a)聚焦偏置上獲得的信號(hào)與在(fd-a)聚焦偏置上獲得的信號(hào)之間的幅度上的差或在抖動(dòng)值的差，并且標(biāo)號(hào)a表示變化量。
按照本發(fā)明第二方面的記錄和重放方法，提供一種記錄和重放方法，包括判斷步驟，形成有關(guān)在將數(shù)據(jù)記錄到第N軌跡或重放來自第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中是否校正聚焦精度的判斷；和校正步驟，如果在判斷步驟形成在將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)的第N軌跡或重放來自第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中校正聚焦精度的判斷，則通過利用存在于已經(jīng)記錄在最接近第N軌跡的軌跡上的表示數(shù)據(jù)的信號(hào)執(zhí)行校正聚焦精度的校正步驟。
按照本發(fā)明的第三方面，提供一種記錄在記錄介質(zhì)上的程序，包括判斷步驟，形成有關(guān)在將數(shù)據(jù)記錄到第N軌跡或重放來自第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中是否校正聚焦精度的判斷；和校正步驟，如果在判斷步驟形成在將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)的第N軌跡或重放來自第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中校正聚焦精度的判斷，則通過利用存在于已經(jīng)記錄在最接近第N軌跡的軌跡上的表示數(shù)據(jù)的信號(hào)執(zhí)行校正聚焦精度的校正步驟。
按照在本發(fā)明第一方面描述的記錄和重放設(shè)備、在第二方面描述的記錄和重放方法、和在第三方面描述的記錄介質(zhì)，如果在記錄數(shù)據(jù)到記錄介質(zhì)的第N軌跡或從第N軌跡重放數(shù)據(jù)的操作中形成校正聚焦精度的判斷，則通過利用存在于最接近第N軌跡上的表示數(shù)據(jù)的信號(hào)進(jìn)行校正。


圖1是表示實(shí)施由本發(fā)明提供的盤驅(qū)動(dòng)器的實(shí)施例的配置圖；圖2是表示盤驅(qū)動(dòng)器的操作的流程圖；圖3是表示在圖2的流程圖中的在步驟S7進(jìn)行的處理細(xì)節(jié)的流程圖；圖4是用于描述一種性能函數(shù)值的說明圖；圖5A和5B是用于描述性能函數(shù)值的說明圖；和圖6是用于描述記錄媒體的說明圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例是參照如下各附圖進(jìn)行描述的。圖1是表示由本發(fā)明提供的盤驅(qū)動(dòng)器1的配置圖。盤驅(qū)動(dòng)器1使用于記錄和重放設(shè)備中，用于將一般通過圖中沒有表示出的天線接收的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)記錄到光盤11上并將從光盤11重放的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)饋送到圖中也沒有表示出的電視接收機(jī)中。
通常連接到記錄和重放的主計(jì)算機(jī)，接口電路12被用于與主計(jì)算機(jī)交換數(shù)據(jù)并從主計(jì)算機(jī)接收命令，該主計(jì)算機(jī)沒有在圖中表示出。通過接口電路12將圖象數(shù)據(jù)等饋送到ECC(糾錯(cuò)碼)電路13。該電路增加一些碼，用于在饋送的數(shù)據(jù)進(jìn)行輸出之前對(duì)饋送的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)校正并增加一些碼到調(diào)制器14。調(diào)制器14采用一種由記錄和重放設(shè)備所包含的與記錄技術(shù)一致的調(diào)制技術(shù)調(diào)制該數(shù)據(jù)并饋送該調(diào)制信號(hào)到記錄波形控制電路15。
記錄波形控制電路15變換輸入數(shù)據(jù)為將要實(shí)際記錄到光盤11上的數(shù)據(jù)。也就是說，由調(diào)制器14調(diào)制的數(shù)據(jù)是二進(jìn)制變換的數(shù)據(jù)并且，如果控制是按照二進(jìn)制變換的數(shù)據(jù)執(zhí)行實(shí)際接通和關(guān)斷激光束，則光斑(pit)不能以精細(xì)的形式產(chǎn)生。為了解決這個(gè)問題，由調(diào)制器14產(chǎn)生的數(shù)據(jù)被變換為使激光光束接通和關(guān)斷并且控制激光光束亮度數(shù)據(jù)，以這樣的方法數(shù)據(jù)被以精細(xì)形式產(chǎn)生光斑的方式記錄到光盤11上。
由記錄波形控制電路15輸出的數(shù)據(jù)被饋送到APC(自動(dòng)相位控制)電路16。APC電路16基于記錄波形控制電路15提供的數(shù)據(jù)，控制由光拾取頭17輸出的激光光束。以這種方式，數(shù)據(jù)被按照精細(xì)形式產(chǎn)生的光斑記錄在光盤11上。應(yīng)當(dāng)注意到，光拾取頭17包括諸如包含用于產(chǎn)生激光光束的激光器、反饋放大器和2軸致動(dòng)器的光學(xué)系統(tǒng)的各個(gè)部件。
伺服電路18按照控制器19發(fā)出的命令，執(zhí)行光拾取頭17的跟蹤控制和聚焦控制。如上所述的數(shù)據(jù)按照根據(jù)由PLL(鎖相環(huán))電路21產(chǎn)生的時(shí)鐘信號(hào)的定時(shí)發(fā)生電路20確定的定時(shí)被記錄到光盤11上。
由光拾取頭17讀出記錄在光盤11上的數(shù)據(jù)并通過APC電路16的方式被饋送到波形等效(waveform equivalent)電路22。被饋送到波形等效電路22的表示數(shù)據(jù)的RF信號(hào)在輸出到數(shù)據(jù)讀取電路23之前經(jīng)受預(yù)定處理。作為由波形等效電路22和數(shù)據(jù)讀取電路23進(jìn)行處理的數(shù)據(jù)段的結(jié)果，可以獲得與由調(diào)制器14的數(shù)據(jù)輸出相同的數(shù)據(jù)形式。如上所述，由調(diào)制器14輸出的數(shù)據(jù)是二進(jìn)制變換的數(shù)據(jù)。
在解調(diào)器24中，由數(shù)據(jù)讀取電路23輸出的數(shù)據(jù)經(jīng)受與由調(diào)制器14進(jìn)行的調(diào)制相反的解調(diào)。解調(diào)的結(jié)果被饋送到ECC電路13。ECC電路13糾正解調(diào)結(jié)果的差錯(cuò)并通過接口電路12的方式饋送經(jīng)糾錯(cuò)的數(shù)據(jù)到圖中沒有表示出的諸如主計(jì)算機(jī)之類的設(shè)備。
性能功能值計(jì)算電路25是主要用于聚焦精度校正的電路。參照如圖2所示的流程圖解釋由盤驅(qū)動(dòng)器1進(jìn)行的聚焦精度校正的操作。在下面所述的操作中，假設(shè)光盤11已經(jīng)安裝在盤驅(qū)動(dòng)器1中。
如圖所示，該流程圖從步驟S1開始，在該步驟中控制器19形成有關(guān)是否已經(jīng)從主計(jì)算機(jī)通過接口電路12的方式接收到命令的判斷?？刂破?9重復(fù)形成這個(gè)步驟S1的判斷，直至從主計(jì)算機(jī)接收到命令。也就是說，控制器19進(jìn)入一種等待將從主計(jì)算機(jī)發(fā)出命令的狀態(tài)。作為指示已經(jīng)接收來自主計(jì)算機(jī)命令的判斷結(jié)果，操作的流程前進(jìn)到步驟S2以形成該命令是將數(shù)據(jù)記錄到光盤11還是重放來自光盤11的數(shù)據(jù)的命令的判斷。
如果在步驟S2形成的判斷結(jié)果指示既不是記錄數(shù)據(jù)到光盤11的命令也不是從光盤11重放數(shù)據(jù)的命令，操作流程前進(jìn)到步驟S3，在步驟S3進(jìn)行由接收命令請(qǐng)求的處理。例如，在輸入命令暫時(shí)停止操作的情況下，控制器19控制伺服電路18不改變光拾取頭17的位置。
另一方面，如果在步驟S2的判斷結(jié)果指示命令是一將數(shù)據(jù)記錄到光盤11的命令或重放來自光盤11的數(shù)據(jù)的命令，則流程前進(jìn)到步驟S4，在步驟S4進(jìn)行由接收的命令請(qǐng)求的記錄或重放操作。也就是說，例如，如果該命令作出對(duì)于記錄操作的請(qǐng)求，則通過各種部件進(jìn)行如上所述的各處理，以將通過接口12接收的數(shù)據(jù)記錄到光盤11上。另一方面，如果該命令作出作出對(duì)于重放操作的請(qǐng)求，則通過各種部件進(jìn)行如上所述處理，以將由光拾取頭17從光盤11讀出的數(shù)據(jù)作為重放數(shù)據(jù)饋送到在圖中沒有表示出的諸如電視接收機(jī)之類的設(shè)備。
然后，操作的流程前進(jìn)到步驟S5，形成是否校正聚焦精度的判斷。如果在步驟S5形成的判斷結(jié)果指示將不校正聚焦精度，則操作流程返回到S1，進(jìn)行步驟S1以及后續(xù)各步驟的各個(gè)處理。另一方面，如果在步驟S5形成的判斷結(jié)果指示將校正聚焦精度，則流程前進(jìn)到步驟S6。
順便提及，一旦用戶發(fā)出記錄或重放指令給包含盤驅(qū)動(dòng)器1的設(shè)備，用戶不再需要發(fā)其它的指令，除了暫停由記錄或重放指令要求的記錄或重放操作外。另一方面，記錄和重放設(shè)備需要向盤驅(qū)動(dòng)器1發(fā)送用于每個(gè)預(yù)定數(shù)據(jù)單元的記錄或重放命令。換言之，在由用戶發(fā)出的記錄或重放指令和由用戶發(fā)出的暫停由該記錄或重放指令要求的記錄或重放操作的另外指令之間的周期期間，由記錄和重放設(shè)備使用的主計(jì)算機(jī)需要發(fā)送記錄或重放命令給在盤驅(qū)動(dòng)器1中使用的控制器19。
如果在步驟S5取消判斷，則對(duì)于每個(gè)記錄或重放命令，聚焦精度將被不可避免地被校正。但是，因?yàn)橛捎趯?duì)每個(gè)記錄或重放命令的校正使得聚焦精度不穩(wěn)定，所以，僅在需要時(shí)才進(jìn)行聚焦校正。
引起聚焦偏差的原因是隨著記錄或重放操作中時(shí)間的流逝造成的盤驅(qū)動(dòng)器1內(nèi)部溫度的增加而增加。為此，在步驟S5中通過事先確定是否已經(jīng)經(jīng)過時(shí)間周期，形成是否校正聚焦精度的判斷。事先確定的時(shí)間周期是聚焦偏差的可能性完全發(fā)生在該周期期間內(nèi)的一個(gè)時(shí)間周期。如果采用這樣一種技術(shù)，當(dāng)確定已經(jīng)經(jīng)過預(yù)定時(shí)間周期時(shí)，則認(rèn)為需要聚焦精度校正。
按照在步驟S5形成判斷的另外一種方法，利用提供在盤驅(qū)動(dòng)器1內(nèi)部的傳感器檢測(cè)的溫度進(jìn)行檢驗(yàn)，確定是否溫度已經(jīng)增加到預(yù)定的溫度。如果采用這種判斷方法，當(dāng)由提供在盤驅(qū)動(dòng)器1內(nèi)部的傳感器檢測(cè)的溫度被確定為增加了預(yù)定的溫度，則認(rèn)為需要聚焦精度的校正。
無須多說，可以采用任何其他方法形成是否要校正聚焦精度的判斷。然后在步驟S5形成的判斷的結(jié)果指示聚焦精度將需要按照如上所述的任何方法進(jìn)行校正，操作的流程圖前進(jìn)到步驟S6，在步驟S6控制器19向伺服電路18發(fā)出命令，將光拾取頭17從當(dāng)前位置移動(dòng)到當(dāng)前位置的前一個(gè)軌跡的位置。
在步驟S6進(jìn)行處理的狀態(tài)下，已經(jīng)執(zhí)行了記錄或重放操作。具體地講，如果已經(jīng)執(zhí)行了記錄操作，至少在步驟S4記錄的數(shù)據(jù)現(xiàn)存在于光盤11上。另一方面，如果已經(jīng)執(zhí)行重放操作，已經(jīng)記錄的數(shù)據(jù)必須存在于光盤11上。
在任何情況下，即，在已經(jīng)執(zhí)行記錄操作或已經(jīng)執(zhí)行重放操作的情況下，記錄的數(shù)據(jù)必須存在于光盤11上的光拾取頭17的當(dāng)前位置的前一個(gè)軌跡上。另外，通過重放現(xiàn)存的數(shù)據(jù)，可以獲得一個(gè)RF信號(hào)。在這個(gè)實(shí)施例中，利用表示記錄在光盤11上的光拾取頭17的前一個(gè)軌跡上的RF信號(hào)校正聚焦精度。
在步驟S6光拾取頭17被移動(dòng)到光盤11上的光拾取頭17的當(dāng)前位置的前一個(gè)軌跡的位置時(shí)，操作的流程前進(jìn)到步驟S7，在步驟S7校正聚焦精度。圖3是表示在步驟S7進(jìn)行的聚焦精度校正的細(xì)節(jié)的流程圖。
如圖所示，流程圖從步驟S11開始，在步驟S11設(shè)置聚焦偏置值fd。在步驟S11設(shè)置的聚焦偏置值fd被事先存儲(chǔ)在控制器19中。一般，是在盤驅(qū)動(dòng)器1進(jìn)行制造時(shí)將在步驟S11設(shè)置的聚焦偏置值fd存儲(chǔ)在控制器19中，或如下所述作為以前校正聚焦精度結(jié)果確定的值進(jìn)行存儲(chǔ)的。
然后，在下一步驟S12，確定變化量a和閾值k。接下來，在下一個(gè)步驟S13，求出性能-功能值F(fd+a)。然后，在下一步驟S14，求出性能-功能值F(fd-a)。
下面解釋性能-功能值F(fd)。圖4是表示由水平軸表示的聚焦偏置值fd與由垂直軸表示的性能-功能值F(fd-a)之間的關(guān)系。
性能-功能值F(fd-a)是根據(jù)利用APC電路16的方式饋送給性能-功能值計(jì)算電路25的RF信號(hào)的幅度或抖動(dòng)值通過性能-功能值計(jì)算電路25進(jìn)行計(jì)算的。該RF信號(hào)表示由光拾取頭17從光盤11中的受控聚焦位置上讀出的數(shù)據(jù)。聚焦是是在控制器19設(shè)置的聚焦偏置值fd的基礎(chǔ)上由伺服電路18控制的。由控制器19設(shè)置的聚焦偏置值fd連續(xù)地變化。對(duì)于聚焦fd的每個(gè)值，性能-功能值F(fd)被進(jìn)行計(jì)算，以產(chǎn)生聚焦偏置值fd與聚焦fd之間的關(guān)系，也就是如圖4所示表示的關(guān)系。
性能-功能值計(jì)算電路25根據(jù)適合盤驅(qū)動(dòng)器1配置的抖動(dòng)值或幅度計(jì)算性能-功能值F(fd)。具體地講，性能-功能值F(fd)的計(jì)算是根據(jù)在類似如圖4所示的曲線峰值更陡峭的傾斜度提供的抖動(dòng)值或幅度。在峰值曲線提供的更陡峭傾斜度無論抖動(dòng)值還是幅度是更適合于校正聚焦精度的處理，正如將在下面所描述的那樣。
如圖4示出了類似曲線的形狀和值，其形狀和值的變化取決于光盤11并且其形狀的變化取決于包括該溫度的條件。也就是說，該曲線不具有單一的形狀。換言之，該性能功能不能僅由一個(gè)公式表示。盡管如此，該形狀仍然具有如圖4所示的一個(gè)峰值，提供相對(duì)于通過峰點(diǎn)的垂直線對(duì)稱的曲線。下面的描述解釋表示性能功能值F(fd)與聚焦偏置值fd之間關(guān)系的曲線。
聚焦精度校正的一個(gè)目的是確定在如圖4所示的曲線的與最佳點(diǎn)聚焦偏置值fd相一致的聚焦偏置值fd，即，提供最大性能功能值F(fd)的聚焦偏置值fd。
回到如圖3所示的流程圖。正如上面所解釋的那樣，在步驟S13，按照如下方式求出性能功能值F(fd+a)。首先，控制器19將在步驟S12求出的變化量a加到在步驟S11讀出的聚焦偏置值fd，并且給出一個(gè)命令到伺服電路18，根據(jù)聚焦偏置值(fd+a)進(jìn)行聚焦。
按照這個(gè)命令，伺服電路18根據(jù)聚焦偏置值(fd+a)進(jìn)行聚焦。然后，在這個(gè)聚焦位置上，表示由光拾取頭17出光盤11讀出的數(shù)據(jù)的RF信號(hào)通過APC電路16的方式被饋送到性能-功能值計(jì)算電路25。性能-功能值計(jì)算電路25根據(jù)從RF信號(hào)中提取的抖動(dòng)值或幅度計(jì)算聚焦偏置值(fd+a)?？刂破?9獲得按這種處理計(jì)算的結(jié)果得到聚焦偏置值F(fd+a)。
在步驟S14，通過進(jìn)行相同的處理，控制器19獲得聚焦偏置值F(fd-a)。
然后，操作的流程前進(jìn)到步驟S15，形成是否(F(fd+a)-F(fd-a))的絕對(duì)值小于閾值k的判斷。對(duì)于如圖5A所示偏離最佳點(diǎn)的聚焦偏置值fd，(F(fd+a)-F(fd-a))的絕對(duì)值相對(duì)地大。另一方面，對(duì)于如圖5B所示的接近于最佳點(diǎn)的聚焦偏置值fd，(F(fd+a)-F(fd-a))的絕對(duì)值相對(duì)地小。從這些關(guān)系中，如果(F(fd+a)-F(fd-a))的絕對(duì)值小于閾值k，聚焦偏置值fd可以被判斷為與最佳點(diǎn)一致或者在一個(gè)容限范圍內(nèi)足夠地接近最佳點(diǎn)。
如果變化量a和閾值k每個(gè)都被設(shè)置在一個(gè)小的值上，則可以獲得較精細(xì)接近精度或者可以實(shí)現(xiàn)較高的精度。但是，隨著變化量a和閾值k每個(gè)都被設(shè)置在小的值，則需要更多的時(shí)間校正聚焦精度。為了解決這個(gè)問題，在步驟S12，確定變化量a和閾值k。例如，在光盤11被安裝在盤驅(qū)動(dòng)器1以后，如果聚焦精度被正確地校正，則有足夠的時(shí)間用于聚焦精度的校正。在這種情況下，變化量a和閾值k每個(gè)都被設(shè)置在小的值。另一方面，如果記錄或重放操作正在進(jìn)行的同時(shí)校正聚焦精度，則變化量a和閾值k每個(gè)都被設(shè)置在一個(gè)大的值上。這是由于在光盤11被安裝在盤驅(qū)動(dòng)器1上以后聚焦被正確校正到高的精度，并且在記錄和重放期間沒有足夠的時(shí)間校正聚焦精度。
無須多說，變化量a和閾值k的每個(gè)從開始還可以是一個(gè)固定的值，使得可以省略步驟S12的處理。另外，在光盤11被安裝到盤驅(qū)動(dòng)器1以后，如果聚焦精度被正確地校正，則記錄在提供在光盤11上的ROM區(qū)的信息還可以被用于校正。因此，光盤11被正確安裝在盤驅(qū)動(dòng)器1以后，利用記錄在提供在光盤11上的ROM區(qū)的信息或記錄在ROM區(qū)域位置外側(cè)的信息進(jìn)行校正聚焦精度。在ROM區(qū)的外側(cè)記錄的信息是已經(jīng)被記錄在該位置上的數(shù)據(jù)并且可以進(jìn)行重放以產(chǎn)生RF信號(hào)。
回到如圖3所示的流程圖。如果在步驟S15形成的判斷結(jié)果指示(F(fd+a)-F(fd-a))的絕對(duì)值大于閾值k，則操作流程前進(jìn)到步驟S16，形成是否F(fd+a)＞F(fd-a)的判斷。如果判斷的結(jié)果指示(fd+a)＞F(fd-a)，則操作的流程前進(jìn)到步驟S17。另一方面，如果判斷的結(jié)果指示(fd+a)≤F(fd-a)，則操作流程前進(jìn)到步驟S18。
指示F(fd+a)≤F(fd-a)的判斷結(jié)果表示類似于如圖5A所示的狀態(tài)。在這樣的狀態(tài)下，在步驟S11設(shè)置的聚焦偏置值fd大于在最佳點(diǎn)的值。因此，如果在步驟S16形成的判斷結(jié)果指示F(fd+a)≤F(fd-a)，則操作的流程前進(jìn)到步驟S18，在步驟S18，利用(fd-a)更新聚焦偏置值fd。然后，操作流程前進(jìn)回到步驟S11，利用新的聚焦偏置值fd重復(fù)該步驟和后續(xù)各步驟的各個(gè)處理。
另一方面，如果在步驟S16形成的判斷的結(jié)果指示F(fd+a)＞F(fd-a)，操作的流程前進(jìn)到步驟S17，在步驟S17，由于與步驟S18相同的原因，利用(fd+a)更新聚焦偏置值fd。然后，操作的流程返回到步驟S11，以利用新的聚焦偏置值fd重復(fù)該步驟和后續(xù)各步驟的各個(gè)處理。
雖然步驟S11到S18的各個(gè)處理是如上所述被重復(fù)地進(jìn)行，聚焦偏置值fd趨近最佳點(diǎn)的值。然后，按照在步驟S15形成的判斷結(jié)果指示(F(fd+a)-F(fd-a))的絕對(duì)值小于閾值k，或者換言之，按照聚焦偏置值fd被判斷為與最佳點(diǎn)一致或在一個(gè)容限范圍內(nèi)足夠地接近于該最佳點(diǎn)，當(dāng)前聚焦偏置值fd被用作執(zhí)行聚焦控制的聚焦偏置值fd。
當(dāng)由如圖3所示的流程的處理結(jié)束時(shí)，操作的流程接著如圖2所示流程圖的步驟S7返回到步驟S1，重復(fù)S1和各后續(xù)步驟的各個(gè)處理。由如圖2所示的流程圖表示的處理作為在諸如記錄和重放設(shè)備的關(guān)斷電源操作的事件中的中斷處理程序被結(jié)束。
如上所述，當(dāng)記錄或重放操作正在進(jìn)行時(shí)，通過利用重放表示已經(jīng)記錄在最接近光拾取頭17的當(dāng)前位置的數(shù)據(jù)的RF信號(hào)進(jìn)行聚焦精度校正。因此，聚焦精度可以在短時(shí)間周期和以較高的精度被校正。結(jié)果，可以防止以時(shí)實(shí)方式處理的記錄或重放由于聚焦精度的校正而被干擾。
如上所述的各處理序列可以利用硬件或通過軟件的執(zhí)行進(jìn)行。如果如上所述的處理序列是通過軟件的執(zhí)行進(jìn)行的，則通過包括在專用硬件中的處理器或通過一般的能夠執(zhí)行各種功能的通用計(jì)算機(jī)執(zhí)行包含軟件的程序。這樣的個(gè)人計(jì)算機(jī)具有安裝在用于將執(zhí)行各種功能的個(gè)人計(jì)算機(jī)的記錄介質(zhì)中的各種程序。
如圖6所示，該記錄介質(zhì)與計(jì)算機(jī)是單獨(dú)分開的，以提供程序給用戶。然而，為了提供程序給用戶，封裝介質(zhì)的使用是不受限制的。封裝介質(zhì)的例子是包括軟盤的磁盤71、包括CD-ROM(光盤只讀存儲(chǔ)器)和DVD(數(shù)字通用光盤)的光盤72、包括MD(微型光盤)的磁光盤73、和半導(dǎo)體存儲(chǔ)器74。作為一種可替代的方案，通過事先將程序安裝到計(jì)算機(jī)中，也可以將程序提供給用戶。也就是說，程序被存儲(chǔ)在包含在存儲(chǔ)單元58中的ROM 52或硬盤中。
應(yīng)當(dāng)注意到，在本說明書中，雖然在程序中描述的各個(gè)步驟當(dāng)然是可以按時(shí)間軸順序地執(zhí)行，在程序中按一種次序執(zhí)行各個(gè)步驟，但是各個(gè)步驟并不總是按時(shí)間軸順序執(zhí)行的。即，一個(gè)程序可以包括同時(shí)地或獨(dú)立地執(zhí)行的各個(gè)步驟。
另外，使用在本說明書中的技術(shù)術(shù)語“系統(tǒng)”意味著包括多個(gè)裝置的整個(gè)設(shè)備。
雖然利用具體的術(shù)語已經(jīng)對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行了描述，但是這些描述僅僅是為了說明的目的，并且應(yīng)當(dāng)理解為在不脫離由下附的權(quán)利要求書的情況下，可以作出各種改變和變化。
權(quán)利要求
1.一種用于將數(shù)據(jù)記錄到預(yù)定的記錄介質(zhì)并重放來自所述記錄介質(zhì)的所述數(shù)據(jù)的記錄和重放設(shè)備，所述記錄和重放設(shè)備包括判斷裝置，用于形成有關(guān)在將數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的第N軌跡上或重放來自所述第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中是否校正聚焦精度的判斷；和校正裝置，如果所述判斷裝置形成在將數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的所述第N軌跡或重放來自所述第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中校正所述聚焦精度的判斷，則該裝置利用現(xiàn)存于業(yè)已記錄在最接近所述第N軌跡上的表示數(shù)據(jù)的信號(hào)校正所述聚焦精度。
2.按照權(quán)利要求1的記錄和重放設(shè)備，其中如果已確定已經(jīng)過一個(gè)預(yù)定時(shí)間周期，則所述判斷裝置能夠形成校正所述聚焦精度的判斷。
3.按照權(quán)利要求1的記錄和重放設(shè)備，其中如果所述安裝記錄介質(zhì)的盤驅(qū)動(dòng)器的內(nèi)部溫度被確定為已經(jīng)增加到預(yù)定的溫度，則所述判斷裝置能夠形成校正所述聚焦精度的判斷。
4.按照權(quán)利要求1的記錄和重放設(shè)備，其中所述校正裝置能夠利用從在所述第N軌跡前面的第(N-1)軌跡重放的信號(hào)校正所述聚焦精度。
5.按照權(quán)利要求1的記錄和重放設(shè)備，其中所述校正裝置通過確定提供在閾值k的范圍內(nèi)的一個(gè)差的絕對(duì)值的聚焦偏置值fd能夠校正所述聚焦精度，其中所述差是在(fd+a)的聚焦偏置獲得的信號(hào)和在(fd-a)的聚焦偏置獲得的信號(hào)之間的幅度或抖動(dòng)值的差，并且標(biāo)號(hào)a表示變化量。
6.一種用于將數(shù)據(jù)記錄到預(yù)定的記錄介質(zhì)和重放來自所述記錄介質(zhì)的所述數(shù)據(jù)的記錄和重放方法，所述記錄和重放方法包括一個(gè)判斷步驟，用于形成有關(guān)在將數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的第N軌跡上或重放來自所述第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中是否校正聚焦精度的判斷；和一個(gè)校正步驟，如果所述判斷步驟形成在將數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的所述第N軌跡或重放來自所述第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中校正所述聚焦精度的判斷，則該步驟利用現(xiàn)存于業(yè)已記錄在最接近所述第N軌跡上的表示數(shù)據(jù)的信號(hào)校正所述聚焦精度。
7.一種用于記錄將由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的將數(shù)據(jù)記錄到預(yù)定記錄介質(zhì)或重放來自所述記錄介質(zhì)的所述數(shù)據(jù)的程序的記錄介質(zhì)，所述程序包括一個(gè)判斷步驟，用于形成有關(guān)在將數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的第N軌跡上或重放來自所述第N軌跡數(shù)據(jù)的操作中是否校正聚焦精度的判斷；和一個(gè)校正步驟，如果所述判斷步驟形成在將數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的所述第N軌跡或重放來自所述第N軌跡的數(shù)據(jù)的操作中校正所述聚焦精度的判斷，則該步驟利用現(xiàn)存于業(yè)已記錄在最接近所述第N軌跡上的表示數(shù)據(jù)的信號(hào)校正所述聚焦精度。
全文摘要
在表示盤驅(qū)動(dòng)器操作的流程的步驟S4,進(jìn)行由用戶要求的記錄或重放操作。然后,該操作流程前進(jìn)到步驟S5,形成是否校正聚焦精度的判斷。如果聚焦精度將被校正,則操作流程前進(jìn)到步驟S6,在該步驟發(fā)出一個(gè)命令,從當(dāng)前位置移動(dòng)光拾取頭到該當(dāng)前位置的前一個(gè)軌跡的位置。在下一個(gè)步驟S7,通過重放業(yè)已記錄在當(dāng)前位置的前一個(gè)軌跡的位置上的數(shù)據(jù)校正聚焦精度。
文檔編號(hào)H04N5/84GK1348175SQ01140690
公開日2002年5月8日 申請(qǐng)日期2001年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2000年9月22日
發(fā)明者松本義典 申請(qǐng)人:索尼公司