專利名稱：偽隨機數產生裝置及利用其實現的測試系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及電子或通信領域的測試技術，具體涉及一種偽隨機數產生裝置及利用其實現的測試系統(tǒng)。
背景技術：
目前，隨著電子及通信技術的發(fā)展，出現了各種各樣的通信設備，為了確保先進復雜的通信網以及網內各種設備的正常運行，需要測試的參數越來越多。在性能測試中，理想的測試環(huán)境應在每個細節(jié)上完全模仿運行環(huán)境，但由于受到容量及規(guī)模的限制，這樣的測試環(huán)境是不實際的。因此，通常采用圖1所示的測試環(huán)境測試終端負責控制測試系統(tǒng)執(zhí)行測試操作；由測試系統(tǒng)產生激勵數據并發(fā)送至被測系統(tǒng)；被測系統(tǒng)接收并將處理結果返回給測試系統(tǒng)；再由測試系統(tǒng)檢查被測對象的輸出是否正確并輸出測試結果。
在測試應用時，經常需要測試系統(tǒng)能夠產生一定范圍內不同隨機長度的數據流來來模擬真實應用環(huán)境中的復雜情況，測量被測系統(tǒng)的處理能力，發(fā)現被測系統(tǒng)內部結構是否能夠處理不同長度的包長。通常采用一種偽隨機序列來盡最大可能模擬實際用戶數據流的情況，以便準確地反映被測系統(tǒng)對不同包長度數據流的處理能力。一般由可編程邏輯器件產生這種偽隨機序列，其實現簡單、快捷，由此產生的偽隨機序列是一個沒有大小范圍限制的整數序列。PRBS(偽隨機比特序列)的計算方法是任意選取一個整數x0作為種子，計算PRBS多項式xi+1＝xi23+xi18+1，得到一個PRBS的偽隨機序列(x1，x2，……，xn)。但在系統(tǒng)性能測試時，經常需要一個指定范圍內的隨機數序列，這時就不能直接利用PRBS序列，需要對PRBS序列做相應的處理后才能使用，通常利用除法運算來完成。具體處理過程如下首先由硬件FPGA(現場可編程邏輯器件)產生PRBS隨機序列數，然后再由硬件FPGA對產生的隨機序列數做除法運算，對指定的隨機范圍取余數，該余數加上指定范圍的最小值即是需要的指定范圍內的隨機數。硬件FPGA中的實現邏輯如下任意選取一個十進制數x0作為種子，計算PRBS多項式xi+1＝xi23+xi18+1得到一個偽隨機數序列(x1，x2，……，xn)。假設需要產生的隨機數是Ri∈[Rmin，Rmax]，則隨機范圍Rint＝Rmax-Rmin。
計算處理流程如圖2所示第(1)步首先由軟件提供隨機數種子x0、最小值Rmin、隨機范圍Rint，這三個參數由軟件計算后存放到邏輯內部寄存器以供邏輯運算使用。
第(2)步由硬件邏輯根據隨機種子計算PRBS序列xi，第(3)步由硬件邏輯除法模塊取xi對Rint取余數得到R，第(4)步最后邏輯輸出R和Rint相加后的和即為產生的第i個偽隨機數Ri。
利用可編程邏輯器件產生指定范圍內隨機序列時對處理時間和邏輯資源消耗會受到一定的限制。如果利用硬件FPGA按照上述方式產生指定范圍內的隨機數序列時，需要利用硬件邏輯實現取余數的除法運算。這不僅會消耗大量的邏輯資源，而且實現邏輯復雜，運算所需時間長；同時由于除數與被除數的不確定，導致具體所需要的時間長短(時鐘周期數)不確定。
由于存在上述問題，使得測試系統(tǒng)產生不同長度數據流的時間無法準確控制，影響了測試質量和效果。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種偽隨機數產生裝置，以解決現有技術中需要由硬件產生指定范圍隨機數時所需時間長、占用大量邏輯資源的問題。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種利用所述偽隨機數產生裝置實現的測試系統(tǒng)，以解決現有技術中存在的測試質量不佳的問題。
為此，本發(fā)明提供如下技術方案一種偽隨機數產生裝置，包括用于輸入隨機數取值范圍的輸入端口和輸出端口，以及種子選擇器，用于選擇隨機序列的種子；偽隨機序列生成裝置，與所述種子選擇器相連，用于根據所述選擇的隨機種子生成任意長度的偽隨機序列；定位裝置，與所述輸入端口相連，用于根據所述隨機數取值范圍定位所述任意長度的偽隨機序列的有效位數；范圍調整裝置，用于根據所述隨機數取值范圍調整所述定位裝置輸出的有效位數范圍內的偽隨機序列大小，以獲取所述取值范圍內的偽隨機數，并將所述偽隨機數分別發(fā)送至所述輸出端口及所述種子選擇器。
所述定位裝置包括有效位數獲取裝置，用于根據所述隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值；與邏輯裝置，用于對所述偽隨機序列生成裝置生成的任意長度的偽隨機序列及所述獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數的偽隨機序列。
所述范圍調整裝置包括比較器，對所述定位裝置的輸出結果與所述隨機數取值范圍的大小進行比較；縮小裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值大于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果將所述有效位數的偽隨機序列的數值減去第一預定值；擴大裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值小于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果以及所述縮小裝置的輸出結果，將所述有效位數的偽隨機序列的數值加上第二預定值。
所述縮小裝置具體為減法器，分別連接到所述比較器和所述擴大裝置，用于將所述有效位數的偽隨機序列的數值減去一個所述隨機范圍的數值。
所述縮小裝置還可具體為移位器，分別連接到所述比較器和所述與邏輯裝置，用于對所述有效位數的偽隨機序列的數值進行右移，以縮小所述有效位數的偽隨機序列的數值。
所述隨機范圍有效位數最大值由指數函數Rint max＝2k-1定義，其中，K=[(log2Rint)+0.5],]]>Rint為所述設定的隨機范圍。
一種利用所述偽隨機數產生裝置實現的測試系統(tǒng)，包括被測對象及分別與所述被測對象連接的激勵生成裝置和結果分析裝置，其中，所述激勵生成裝置包括激勵配置模塊，用于配置激勵報文的屬性參數，所述屬性參數包括隨機種子、激勵報文長度范圍；樣本設置模塊，用于提供激勵報文的結構模式；所述的偽隨機數產生裝置，用于產生所述激勵報文長度范圍內的隨機數；測試用例生成模塊，用于根據所述激勵報文的結構模式將所述范圍內的偽隨機數生成測試用例，并將所述測試用例發(fā)送到所述被測對象。
所述的偽隨機數產生裝置具體包括偽隨機序列生成裝置，用于根據所述隨機種子生成任意長度的偽隨機序列；
定位裝置，用于根據所述激勵報文長度范圍定位所述任意長度的偽隨機序列的有效位數；范圍調整裝置，用于根據所述激勵報文長度范圍調整所述定位裝置輸出的有效位數范圍內的偽隨機序列大小，以獲取所述范圍內的偽隨機數。
所述定位裝置包括有效位數獲取裝置，用于根據所述隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值；與邏輯裝置，用于對所述偽隨機序列生成裝置生成的任意長度的偽隨機序列及所述獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數的偽隨機序列。
所述范圍調整裝置包括比較器，用于比較所述定位裝置的輸出結果與所述隨機數取值范圍的大??；縮小裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值大于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果將所述有效位數的偽隨機序列的數值減去第一預定值；擴大裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值小于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果以及所述縮小裝置的輸出結果，將所述有效位數的偽隨機序列的數值加上第二預定值。
由以上本發(fā)明提供的技術方案可以看出，利用本發(fā)明裝置可以簡單、快速地產生指定范圍內的隨機數，避免了現有技術中由于需要進行除法運算使得時間長短不確定，從而使時鐘周期無法嚴格確定的缺點，以及硬件實現時所需時間長、消耗邏輯資源較多的問題。將本發(fā)明裝置應用在測試系統(tǒng)中，能夠快速產生大量測試所需的不同長度的報文，能確切模擬現實數據流情況，更能準確反映被測對象對不同包長度的數據流的處理能力。


圖1是現有技術中測試系統(tǒng)結構示意圖；圖2是現有技術中產生固定范圍內偽隨機數的流程圖；圖3是本發(fā)明偽隨機數產生裝置結構示意圖；圖4是本發(fā)明裝置的第一實施例結構示意圖；圖5是本發(fā)明裝置的第二實施例結構示意圖；圖6是本發(fā)明裝置產生偽隨機數的過程示意圖；圖7是本發(fā)明測試系統(tǒng)的結構示意圖；圖8是本發(fā)明測試系統(tǒng)明中的隨機數生成裝置詳細結構示意圖。
具體實施例方式
為了使本技術領域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結合附圖和實施方式對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
參照圖3，圖3是本發(fā)明偽隨機數產生裝置結構示意圖，該裝置包括輸入隨機數取值范圍的輸入端口300和輸出端口306；用于選擇隨機序列種子的種子選擇器301及與其相連偽隨機序列生成裝置302，該偽隨機序列生成裝置用于根據所述選擇的隨機種子生成任意長度的偽隨機序列；此外，還包括定位裝置304和范圍調整裝置305，分別用于對偽隨機序列生成裝置302生成的任意長度的偽隨機序列進行最大位數定位及大小調整，以輸出符合要求的固定范圍的偽隨機數。其中，定位裝置304與輸入端口300相連，用于根據隨機數取值范圍定位任意長度的偽隨機序列的有效位數；范圍調整裝置305，用于根據隨機數取值范圍調整所述定位裝置輸出的有效位數范圍內的偽隨機序列大小，以獲取取值范圍內的偽隨機數，并將該偽隨機數分別發(fā)送至輸出端口306及種子選擇器301。種子選擇器從該偽機序列中任選出一個作為偽隨機序列的種子。
參照圖4所示的本發(fā)明裝置的第一實施例定位裝置包括有效位數獲取裝置341和與邏輯裝置342。其中，有效位數獲取裝置341用于根據隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值，假設隨機數取值范圍為Ri∈[Rmin，Rmax]，Rmin是設定的隨機數最小值，Rmax是設定的隨機數最大值。該隨機范圍有效位數最大值可以由指數函數Rint max＝2k-1來定義，其中，K=[(log2Rint)+0.5],]]>Rint為設定的隨機范圍。與邏輯裝置342通過對偽隨機序列生成裝置302生成的任意長度的偽隨機序列及有效位數獲取裝置341獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數范圍內的偽隨機序列。
范圍調整裝置包括比較器351、擴大裝置352和減法器41。通過比較器比較定位裝置的輸出結果與隨機數取值范圍Rint的大小，當定位裝置輸出的偽隨機數大于隨機數取值范圍Rint時，首先將該偽隨機數通過減法器減去一定的值(第一預定值)，比如可以減去一個Rint值，然后再將輸出送入擴大裝置，由擴大裝置將該值加上一預定的值(第二預定值)，則該值自然落在設定的隨機數取值范圍Ri∈[Rmin，Rmax]內。
當定位裝置輸出的偽隨機數小于隨機數取值范圍Rint時，將該偽隨機數直接通過擴大裝置加上一定的值(第二預定值)，比如可以加上一個Rmin值，該值自然落在設定的隨機數取值范圍Ri∈[Rmin，Rmax]內。
參照圖5所示的本發(fā)明裝置的第二實施例范圍調整裝置包括比較器351、擴大裝置352和移位器51。通過比較器比較定位裝置的輸出結果與隨機數取值范圍Rint的大小，當定位裝置輸出的偽隨機數大于隨機數取值范圍Rint時，首先將該偽隨機數通過移位器將該值右移一位，然后再將輸出送入與邏輯裝置，與隨機范圍有效位數最大值Rint max進行與邏輯運算；然后，再將結果送入比較器351。
當定位裝置輸出的偽隨機數小于隨機數取值范圍Rint時，將該偽隨機數通過擴大裝置加上一定的值(第二預定值)，比如可以加上一個Rmin值，該值自然落在設定的隨機數取值范圍Ri∈[Rmin，Rmax]內。
為了使本技術領域人員更好地理解本發(fā)明，下面將結合圖6詳細說明本發(fā)明裝置的工作過程本技術領域人員知道，任何隨機序列都需要先選定一個種子，首先，由種子選擇器選定隨機序列的種子x0，然后按照選定的種子由偽隨機序列生成裝置生成任意長度的偽隨機序列，例如，可以通過硬件邏輯產生多項式xi+1＝xi23+xi18+1定義的偽隨機序列(x1，x2，……，xn)。
同時，由輸入端口輸入隨機數范圍參數。假設需要產生的隨機數Ri∈[Rmin，Rmax]，則隨機范圍Rint＝Rmax-Rmin，其中，Rmin是設定的隨機數最小值，Rmax是設定的隨機數最大值。
由有效位數獲取裝置根據隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值Rint max＝2k-1，其中，K=[(log2Rint)+0.5].]]>例如Rint＝100(二進制為01010100)，有效位數為7(bit0開始到二進制值為1的最高位bit6)，則最大值Rint max＝127(二進制為01111111)。
考慮到利用硬件進行乘、除法運算會占用大量的硬件資源，因此，也可以由軟件來完成隨機范圍有效位數最大值生成裝置的功能，計算出隨機范圍有效位數最大值供與邏輯裝置使用。
然后，由與邏輯裝置對偽隨機序列生成裝置生成的任意長度的偽隨機序列及有效位數獲取裝置獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數的偽隨機序列。
對于上述生成的有效位數的偽隨機序列，經過比較器，依次比較該序列中的偽隨機數與輸入端口輸入的隨機范圍Rint的大小。
當該序列中的偽隨機數大于隨機范圍Rint時，將該偽隨機數及隨機范圍Rint送到縮小裝置，由縮小裝置將該偽隨機數減去一個隨機范圍Rint，然后將該縮小范圍后的偽隨機數送入擴大裝置，由擴大裝置根據輸入端口輸入的隨機范圍最小值Rmin將該偽隨機數加上一個隨機范圍最小值Rmin，于是得到設定范圍內的偽隨機數。
當該序列中的偽隨機數小于隨機范圍Rint時，直接將該偽隨機數送入擴大裝置，由擴大裝置根據輸入端口輸入的隨機范圍最小值Rmin將該偽隨機數加上一個隨機范圍最小值Rmin，于是得到設定范圍內的偽隨機數。
本發(fā)明裝置生成設定范圍內的偽隨機數的過程可用圖6來表示(1)種子選擇器選定隨機序列的種子x0；(2)由偽隨機序列生成裝置生成任意長度的偽隨機序列xi；同時，(3)由輸入端口輸入隨機數范圍參數Rint、Rmin、Rmax；(4)由有效位數獲取裝置根據隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值Rint max；然后，(5)由與邏輯裝置對xi和Rint max進行“與”邏輯運算；(6)由比較器比較“與”邏輯運算結果與Rint的大??；
(7)當“與”邏輯運算結果小于Rint時，由擴大裝置將該偽隨機數加上一個隨機范圍最小值Rmin，得到設定范圍內的偽隨機數；(8)當“與”邏輯運算結果大于Rint時，由縮小裝置將該偽隨機數減去一個隨機范圍Rint，然后進到(7)。
本發(fā)明的隨機數發(fā)生裝置與現有的隨機數發(fā)生裝置相比，當用硬件FPGA實現時，占用邏輯資源少，實現簡單，產生速度快。
在邏輯測試中，通常對被測對象采用邏輯仿真的測試方式，即由激勵生成裝置生成測試所需的激勵，通常為固定范圍的數據流，由連續(xù)的、預定格式且隨機長度的數據報文組成，將所述激勵發(fā)送到被測對象，經過被測對象處理并將處理結構發(fā)送至結果分析裝置進行結果分析。
為此，本發(fā)明測試系統(tǒng)的結構如圖7所示該系統(tǒng)包括激勵生成裝置71、被測對象72和結果分析裝置73。其中，激勵生成裝置71包括激勵配置模塊711，用于配置激勵報文的屬性參數，所述屬性參數包括隨機種子、激勵報文長度范圍；樣本設置模塊712，用于提供激勵報文的結構模式；隨機數生成裝置713，用于產生激勵報文長度范圍內的隨機數；測試用例生成模塊714，用于根據激勵報文的結構模式將所述范圍內的偽隨機數生成測試用例，并將該測試用例發(fā)送到被測對象，以獲得測試結果。
隨機數生成裝置713是前面所述的本發(fā)明中產生固定范圍內偽隨機數的裝置在本發(fā)明測試系統(tǒng)中的實際應用。其結構可參照圖8具體包括偽隨機序列生成裝置801，用于根據激勵配置模塊配置的隨機種子生成任意長度的偽隨機序列；
定位裝置802，用于根據激勵配置模塊配置的激勵報文長度范圍定位所述任意長度的偽隨機序列的有效位數；范圍調整裝置803，用于根據激勵報文長度范圍調整定位裝置輸出的有效位數范圍內的偽隨機序列大小，以獲取設定范圍內的偽隨機數。
其中，定位裝置可通過如下結構來實現有效位數獲取裝置，用于根據隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值；與邏輯裝置，用于對偽隨機序列生成裝置生成的任意長度的偽隨機序列及獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數的偽隨機序列。
當然，該定位裝置現有技術中還有其他多種實現方式，這里不再贅述。
范圍調整裝置可通過比較器、縮小裝置和擴大裝置來實現通過比較器比較定位裝置的輸出結果與隨機數取值范圍的大?。煌ㄟ^縮小裝置縮小大于隨機數取值范圍的隨機數，使之滿足范圍要求；同樣，通過擴大裝置擴大小于隨機數取值范圍的隨機數，使之滿足范圍要求。
對于縮小和擴大一個隨機數的實現，在現有技術中有各種各樣的實現方法，可以根據實際需要進行選擇。
利用本發(fā)明系統(tǒng)，可以產生任意模式的激勵，將所述激勵發(fā)送到被測對象，經過被測對象處理并將處理結構發(fā)送至結果分析裝置進行結果分析。
例如通過激勵生成裝置產生如下表1所示的以太網數據報文表1

由激勵配置模塊配置激勵報文的長度范圍；樣本設置模塊設定表1所示的激勵報文的結構模式；然后，由隨機數生成裝置產生激勵報文長度范圍內的隨機數；測試用例生成模塊根據設定的激勵報文的結構模式將范圍內的偽隨機數生成測試用例添加報頭，根據隨機數的大小填充數據凈荷的數量等。
雖然通過實施例描繪了本發(fā)明，本領域普通技術人員知道，本發(fā)明有許多變形和變化而不脫離本發(fā)明的精神，希望所附的權利要求包括這些變形和變化而不脫離本發(fā)明的精神。
權利要求
1.一種偽隨機數產生裝置，包括用于輸入隨機數取值范圍的輸入端口和輸出端口，其特征在于，還包括種子選擇器，用于選擇隨機序列的種子；偽隨機序列生成裝置，與所述種子選擇器相連，用于根據所述選擇的隨機種子生成任意長度的偽隨機序列；定位裝置，與所述輸入端口相連，用于根據所述隨機數取值范圍定位所述任意長度的偽隨機序列的有效位數；范圍調整裝置，用于根據所述隨機數取值范圍調整所述定位裝置輸出的有效位數范圍內的偽隨機序列大小，以獲取所述取值范圍內的偽隨機數，并將所述偽隨機數分別發(fā)送至所述輸出端口及所述種子選擇器。
2.根據權利要求1所述的偽隨機數產生裝置，其特征在于，所述定位裝置包括有效位數獲取裝置，用于根據所述隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值；與邏輯裝置，用于對所述偽隨機序列生成裝置生成的任意長度的偽隨機序列及所述獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數的偽隨機序列。
3.根據權利要求2所述的偽隨機數產生裝置，其特征在于，所述范圍調整裝置包括比較器，對所述定位裝置的輸出結果與所述隨機數取值范圍的大小進行比較；縮小裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值大于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果將所述有效位數的偽隨機序列的數值減去第一預定值；擴大裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值小于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果以及所述縮小裝置的輸出結果，將所述有效位數的偽隨機序列的數值加上第二預定值。
4.根據權利要求3所述的偽隨機數產生裝置，其特征在于，所述縮小裝置具體為減法器，分別連接到所述比較器和所述擴大裝置，用于將所述有效位數的偽隨機序列的數值減去一個所述隨機范圍的數值。
5.根據權利要求3所述的偽隨機數產生裝置，其特征在于，所述縮小裝置還可具體為移位器，分別連接到所述比較器和所述與邏輯裝置，用于對所述有效位數的偽隨機序列的數值進行右移，以縮小所述有效位數的偽隨機序列的數值。
6.如權利要求3所述的偽隨機數產生裝置，其特征在于，所述隨機范圍有效位數最大值由指數函數Rint max＝2k-1定義，其中，K=[(log2Rint)+0.5],]]>Rint為所述設定的隨機范圍。
7.一種利用權利要求1所述偽隨機數產生裝置實現的測試系統(tǒng)，包括被測對象及分別與所述被測對象連接的激勵生成裝置和結果分析裝置，其特征在于，所述激勵生成裝置包括激勵配置模塊，用于配置激勵報文的屬性參數，所述屬性參數包括隨機種子、激勵報文長度范圍；樣本設置模塊，用于提供激勵報文的結構模式；所述的偽隨機數產生裝置，用于產生所述激勵報文長度范圍內的隨機數；測試用例生成模塊，用于根據所述激勵報文的結構模式將所述范圍內的偽隨機數生成測試用例，并將所述測試用例發(fā)送到所述被測對象。
8.根據權利要求7所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的偽隨機數產生裝置具體包括偽隨機序列生成裝置，用于根據所述隨機種子生成任意長度的偽隨機序列；定位裝置，用于根據所述激勵報文長度范圍定位所述任意長度的偽隨機序列的有效位數；范圍調整裝置，用于根據所述激勵報文長度范圍調整所述定位裝置輸出的有效位數范圍內的偽隨機序列大小，以獲取所述范圍內的偽隨機數。
9.根據權利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述定位裝置包括有效位數獲取裝置，用于根據所述隨機數取值范圍獲取隨機范圍有效位數最大值；與邏輯裝置，用于對所述偽隨機序列生成裝置生成的任意長度的偽隨機序列及所述獲取的隨機范圍有效位數最大值進行“與”邏輯運算，生成有效位數的偽隨機序列。
10.根據權利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述范圍調整裝置包括比較器，用于比較所述定位裝置的輸出結果與所述隨機數取值范圍的大?。豢s小裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值大于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果將所述有效位數的偽隨機序列的數值減去第一預定值；擴大裝置，用于根據所述有效位數的偽隨機序列的數值小于所述設定的隨機范圍的數值的比較結果以及所述縮小裝置的輸出結果，將所述有效位數的偽隨機序列的數值加上第二預定值。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種偽隨機數產生裝置及利用其實現的測試系統(tǒng)，該裝置包括用于輸入隨機數取值范圍的輸入端口和輸出端口，種子選擇器，用于產生任意長度的偽隨機序列的偽隨機序列生成裝置，用于確定隨機序列有效位的定位裝置，用于調整隨機序列數值大小的范圍調整裝置。利用本發(fā)明裝置實現的測試系統(tǒng)，可以簡單、快速地產生大量測試所需的不同長度的報文，使系統(tǒng)能準確模擬現實數據流情況，提高測試效果。
文檔編號H04L12/26GK1725714SQ20041007082
公開日2006年1月25日 申請日期2004年7月20日 優(yōu)先權日2004年7月20日
發(fā)明者黃春明, 王洪英, 周志兵, 楊樣 申請人:華為技術有限公司