專(zhuān)利名稱(chēng)：測(cè)試低速容錯(cuò)can網(wǎng)絡(luò)中nerr位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置。
技術(shù)背景目前低速容錯(cuò)CAN (Controller Area Network控制器局域網(wǎng))網(wǎng)絡(luò)管理協(xié)議的要求低 速容錯(cuò)CAN物理層芯片的NERR位的讀取必須與網(wǎng)關(guān)控制信息幀的發(fā)送或接收是完全同步 的，讀取必須恰好在88ps內(nèi)完成。但現(xiàn)有的檢測(cè)手段不能對(duì)其工作進(jìn)行檢測(cè)，無(wú)法確定其是 否在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成了數(shù)據(jù)讀取，從而保證工作的正常進(jìn)行。如果采用人工的方式將CAN 總線的CANH和CANL短路來(lái)制造CAN總線物理層錯(cuò)誤，由于要求在88ps內(nèi)完成，所以人 是無(wú)法在這么短的時(shí)間內(nèi)完成的。另外，可以采用德國(guó)Vector公司的CANStress來(lái)完成，但 是使用復(fù)雜并且價(jià)格昂貴，所以不是經(jīng)濟(jì)實(shí)用的方法。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的就是為了解決目前無(wú)法對(duì)低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù) 幀同步進(jìn)行檢測(cè)的問(wèn)題，提供一種具有方法簡(jiǎn)便易行，檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)的測(cè)試低速容錯(cuò) CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置及方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置，它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn) 和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn)，所述測(cè)試裝置包括帶CAN控制器的微控制器和低速容 錯(cuò)CAN的物理層芯片，兩個(gè)節(jié)點(diǎn)通過(guò)CANH、 CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊，測(cè) 試裝置的控制器的一個(gè)I/O 口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR 位的控制。它的步驟為，1) 測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)進(jìn)行初始化；2) 按照設(shè)定周期發(fā)送控制信息幀；3) 測(cè)試裝置判斷控制信息幀是否發(fā)送成功，不成功則等待重發(fā)；成功后將I/0口置為低 電平；4) 被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平，人為模擬出一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障； 測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的1/0 口低電平保持小于88ps之后被置為高電平；5) 測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息幀的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程，如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)在這個(gè)過(guò)程中 正確檢測(cè)NERR位的電平，那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿(mǎn)足了協(xié)議的規(guī)定。本實(shí)用新型的測(cè)試裝置和被測(cè)節(jié)點(diǎn)的基本配置為帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò) CAN的物理層芯片。兩個(gè)節(jié)點(diǎn)通過(guò)CANH、 CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊，測(cè)試 裝置節(jié)點(diǎn)的控制器的一個(gè)I/O 口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì) NERR位的控制。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的工作流程為測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在初始化完基本配置之后，并確認(rèn)幀發(fā)送成 功后，將I/0口置為低電平，這時(shí)被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平，因此人為的模擬出 一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的I/O 口低電平保持小于88ns之后被置為 高電平。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程，如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)能在這個(gè)過(guò)程 中正確檢測(cè)NERR位的電平，那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿(mǎn)足了協(xié)議的規(guī)定。本實(shí)用新型的有益效果是普通的方法是通過(guò)CANH與CANL短路等故障制造實(shí)際的低 速容錯(cuò)CAN物理層的錯(cuò)誤使NERR位為低電平，但是這種方法很難滿(mǎn)足時(shí)間同步的要求。 通過(guò)此方法可以非常方便的控制NERR位的電平高低和時(shí)間，以此來(lái)測(cè)試被測(cè)節(jié)點(diǎn)對(duì)物理層 NERR位的讀取是否與網(wǎng)關(guān)控制信息幀的發(fā)送或接收是完全同步。


圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖-, 圖2為本實(shí)用新型的工作流程圖。其中，l.測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)，2.被測(cè)節(jié)點(diǎn)，3.控制器，4.CAN物理層芯片。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖與實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。圖1中，它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)1和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn)2，各節(jié)點(diǎn)均包括帶 CAN控制器的微控制器3和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片4。測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)1和被測(cè)節(jié)點(diǎn)2 間通過(guò)CANH、 CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊，測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)1的控制器3的一 個(gè)I/O 口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)2的CAN物理層芯片4的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。圖2中，本實(shí)用新型的檢測(cè)方法為它的步驟為，1) 測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)進(jìn)行初始化；2) 按照設(shè)定周期發(fā)送控制信息幀；3) 測(cè)試裝置判斷控制信息幀是否發(fā)送成功，不成功則等待重發(fā)；成功后將I/0口置為低4) 被測(cè)節(jié)點(diǎn)的NEER位也被置為低電平，人為模擬出一個(gè)低速容錯(cuò)CAN的物理層故障； 測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)的I/O 口低電平保持小于88]LIS之后被置為高電平；5) 測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)在控制信息幀的發(fā)送周期內(nèi)重復(fù)上述過(guò)程，如果被測(cè)節(jié)點(diǎn)在這個(gè)過(guò)程中 正確檢測(cè)NERR位的電平，那么被測(cè)節(jié)點(diǎn)滿(mǎn)足了協(xié)議的規(guī)定。
權(quán)利要求1. 一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置，它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn)，各節(jié)點(diǎn)均包括帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片，其特征是所述測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和被測(cè)節(jié)點(diǎn)間通過(guò)CANH、CANL和地連接進(jìn)行CAN數(shù)據(jù)幀通訊，測(cè)試裝置控制器的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位進(jìn)行控制。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)試低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步裝置。它解決了目前無(wú)法對(duì)低速容錯(cuò)CAN網(wǎng)絡(luò)中NERR位讀取與數(shù)據(jù)幀同步進(jìn)行檢測(cè)的問(wèn)題，具有方法簡(jiǎn)便易行，檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。其結(jié)構(gòu)為它包括測(cè)試裝置節(jié)點(diǎn)和CAN網(wǎng)絡(luò)中的任意一個(gè)被測(cè)節(jié)點(diǎn)，所述測(cè)試裝置包括帶CAN控制器的微控制器和低速容錯(cuò)CAN的物理層芯片，兩個(gè)節(jié)點(diǎn)通過(guò)CANH、CANL和地連接實(shí)現(xiàn)CAN數(shù)據(jù)幀的通訊，測(cè)試裝置的控制器的一個(gè)I/O口連接到被測(cè)節(jié)點(diǎn)的CAN物理層芯片的NERR位來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)NERR位的控制。
文檔編號(hào)H04L12/26GK201114124SQ20072002531
公開(kāi)日2008年9月10日 申請(qǐng)日期2007年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月20日
發(fā)明者于良杰, 劉學(xué)軍, 楊 李, 李研強(qiáng) 申請(qǐng)人:山東省科學(xué)院自動(dòng)化研究所