專利名稱：成像裝置、缺陷像素校正裝置、裝置中的處理方法和程序的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種成l象裝置。具體地，本發(fā)明涉及一種4交正包括 在通過使用成像器件拍攝的圖像中的缺陷像素的成像裝置、缺陷像 素才交正裝置、裝置中的處理方法和4吏計算枳4丸行該方法的程序。
背景技術(shù)：
近年來，已廣泛使用諸如數(shù)碼攝相機(jī)和數(shù)字相機(jī)的成像裝置來 拍攝對象的圖像。同樣，成像裝置已被小型化并且成像裝置中的圖 像質(zhì)量已變得更高。同樣，包括白缺陷和黑缺陷的像素缺陷會出現(xiàn) 在安裝在那些成像裝置中的固態(tài)成像器件中。白缺陷是一定量的電 荷根據(jù)入射光的量被疊加在電信號上的像素缺陷，而黑缺陷是信號 電平以某一速率降低的像素缺陷、或不響應(yīng)入射光地輸出低水平信 號的像素缺陷。
缺陷像素作為白或黑點(diǎn)出現(xiàn)在所拍攝的圖像上，并使圖像質(zhì)量 劣化。因此，為了提高成像裝置的性能，使缺陷像素的影響最小化 是很重要的。但是，通常，很難完全消除在固態(tài)成像器件中的缺陷像素。在這些情況下，已提出了多種缺陷像素校正方法，用于通過 使用從固態(tài)成像器件輸出的圖像信號來檢測和校正信號處理器中 的缺陷像素。
例如，已廣泛4吏用了以下缺陷^f象素才交正方法。即，在制造;也的 調(diào)節(jié)期間或通電時檢測缺陷像素，并且將檢測到的缺陷像素的位置 信息保存在諸如寄存器或存儲器的存儲單元中。在成像期間，通過 使用將基于所保存的位置信息校正的像素鄰近的多個像素信號來 計算內(nèi)插值，然后用該內(nèi)插值替換缺陷像素的值。
同樣，還提出了下面的缺陷像素校正方法(例如，參看專利文
獻(xiàn)l:第06-153087號日本未審查專利7>開申請(圖1 ))。即，計算 在與任意顏色空間中的缺陷l象素的位置相對應(yīng)的顏色空間中的傳_ 素和該#>素周邊的各個<象素之間的相關(guān)性。然后，通過^f吏用在與具 有在計算得到的相關(guān)性中的最強(qiáng)相關(guān)性的像素的位置相對應(yīng)的顏 色空間中的像素來校正缺陷像素。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)上述的相關(guān)技術(shù)，能夠通過相對簡單的結(jié)構(gòu)來校正缺陷像素。
另一方面，隨著近來成像裝置的小型化和更高的圖像質(zhì)量，已 開發(fā)了關(guān)于增加像素和小型化成像器件的多項(xiàng)技術(shù)。
例如，已實(shí)現(xiàn)了關(guān)于像素共有結(jié)構(gòu)(其中，構(gòu)成成像器件的像 素的晶體管組的部分被多個鄰近像素共有)的技術(shù)。通過這項(xiàng)技術(shù)， 像素能夠被小型化，同樣成像裝置也能夠被小型化。但是，在具有像素共有結(jié)構(gòu)的成像器件中，如果作為共有結(jié)構(gòu) 的元件的放大器晶體管出現(xiàn)故障，則共有故障晶體管的所有鄰近像 素都會變?yōu)槿毕菹袼?。因此，?dāng)要校正包括在通過使用具有像素共 有結(jié)構(gòu)的成像器件拍攝的圖像中的缺陷像素時，重要的是適當(dāng)校正 由于像素共有結(jié)構(gòu)帶來的鄰近像素缺陷。在除像素共有結(jié)構(gòu)外的結(jié) 構(gòu)中，由于結(jié)構(gòu)問題，缺陷可能會出現(xiàn)在包括在由多個像素構(gòu)成的 像素組中的每個像素中。
因此，本發(fā)明致力于適當(dāng)校正包括在缺陷像素組中的每個缺陷 像素。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種成像裝置，包括缺陷像素 存儲單元，用于存儲包括在成像器件中的多個像素中的缺陷像素的 位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺陷像素組是否包括與位置 信息相關(guān)的缺陷像素的像素缺陷信息，位置信息與像素缺陷信息相 關(guān)聯(lián)；圖像輸入單元，用于輸入通過成像器件拍攝的圖像；缺陷像 素確定單元，用于基于存儲在缺陷像素存儲單元中的位置信息確定 在輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；像素共有缺陷確定單 元，用于基于存儲在缺陷像素存儲單元中的像素缺陷信息確定被確 定為缺陷像素的像素是否包括在缺陷像素組中；像素類型確定單 元，用于確定在輸入圖像中的每個像素的類型；內(nèi)插^象素選擇單元， 用于基于缺陷像素的類型和表示缺陷像素是否包括在缺陷像素組 中的確定結(jié)果，選擇被確定為缺陷像素的像素的周邊像素；內(nèi)插值 計算單元，用于基于所選的周邊像素的值計算被確定為缺陷像素的 像素的內(nèi)插值；以及內(nèi)插內(nèi)插值替換單元，用于用計算得到的內(nèi)插 值替換被確定為缺陷像素的像素的值。同樣，還提供了一種在成像 裝置中的處理方法和使計算機(jī)執(zhí)行該方法的程序。因此，確定在通 過成像器件拍攝的圖像中的每個像素是否為缺陷像素，確定在缺陷 像素組中是否包括被確定為缺陷像素的像素，以及確定在輸入圖像中的每個像素的類型。基于缺陷像素的類型和在缺陷像素組中是否 包括缺陷像素，選擇缺陷像素的周邊像素。然后，基于所選周邊像 素的值計算缺陷像素的內(nèi)插值，并且用計算得到的內(nèi)插值替換缺陷
像素的值。
缺陷〗象素存儲單元可以存儲包括在缺陷 <象素組中的 一個缺陷
像素的位置信息和像素缺陷信息。成像裝置可以進(jìn)一步包括位置 信息計算單元，用于基于存儲在缺陷像素存儲單元中的缺陷像素組 中所包括的一個缺陷像素的位置信息，計算在包括缺陷像素的缺陷 像素組中的其他缺陷<象素的位置信息。缺陷^象素確定單元可以基于 存儲在缺陷像素存儲單元中的位置信息和計算得到的位置信息來 確定在輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素。像素共有缺陷確定 單元可以基于計算得到的位置信息確定在缺陷像素組中是否包括 在缺陷像素組中。因此，基于包括在缺陷像素組中的一個缺陷^象素 的位置信息計算在缺陷像素組中的其他缺陷像素的位置信息，基于 在缺陷像素存儲單元中的位置信息和計算得到的位置信息來確定 在輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素，以及基于計算得到的位 置信息來確定缺陷像素是否包括在缺陷像素組中。
缺陷像素組可以為包括多個鄰近缺陷像素的像素組。因此，校 正了包括在缺陷像素組中的多個鄰近缺陷像素。成像器件可以包括 具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組，以及缺陷像素組可以是其中包括在具 有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組中的多個像素具有缺陷的像素組。因此， 校正了包括在具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組中的缺陷像素。在這種情 況下，具有對角線像素陣列的濾色片被安裝在成像器件的光接收單 元，以及具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組包括在對角線^象素陣列中的4 個鄰近像素。因此，在通過設(shè)置有具有對角線像素陣列的濾色片的 成像器件拍攝的圖像中，校正了包括在包括對角線像素陣列中的4 個鄰近像素的缺陷像素組中的缺陷像素。成像裝置可以進(jìn)一步包括連續(xù)缺陷確定單元，用于基于^皮確 定為缺陷像素的像素的位置信息來確定被確定為缺陷像素的像素 的鄰近像素是否為缺陷像素。內(nèi)插像素選擇單元可以基于缺陷像素 的類型、表示在缺陷像素組中是否包括缺陷像素的確定結(jié)果和表示 被確定為缺陷像素的像素的鄰近像素是否為缺陷像素的確定結(jié)果， 選擇被確定為缺陷像素的像素的周邊像素。因此，基于缺陷像素的 位置信息確定了與缺陷像素鄰近的像素是否為缺陷像素，并且基于 缺陷像素的類型、缺陷像素是否包括在缺陷像素組中、以及與缺陷 像素鄰近的像素是否為缺陷像素來選擇缺陷像素的周邊像素。
根據(jù)本發(fā)明的另 一個實(shí)施例，提供了 一種缺陷像素校正裝置， 包括缺陷像素存儲單元，用于存儲包括在成像器件中的多個像素 中的缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺陷像素組 是否包括與位置信息相關(guān)的缺陷像素的像素缺陷信息，位置信息與 像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)；圖像輸入單元，用于輸入通過成像器件拍攝 的圖像；缺陷像素確定單元，用于基于存儲在缺陷像素存儲單元中 的位置信息來確定在輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；像素 共有缺陷確定單元，用于基于存儲在缺陷像素存儲單元中的像素缺 陷信息來確定^^皮確定為缺陷像素的像素是否包括在缺陷像素組中； 像素類型確定單元，用于確定在輸入圖像中的每個像素的類型；內(nèi) 插像素選擇單元，用于基于缺陷像素的類型和表示缺陷像素是否包 括在缺陷^象素組中的確定結(jié)果來選拷，被確定為缺陷4象素的4象素的 周邊像素；內(nèi)插值計算單元，用于基于所選的周邊像素的值來計算 被確定為缺陷像素的像素的內(nèi)插值；以及內(nèi)插內(nèi)插值替換單元，用 于用計算得到的內(nèi)插值替換被確定為缺陷像素的像素的值。同樣，
還提供了一種在缺陷像素校正裝置中的處理方法和使計算機(jī)執(zhí)行 該方法的程序。因此，確定在通過成像器件拍攝的圖4象中的每個像 素是否為缺陷像素，確定被確定為缺陷像素的像素是否包括在缺陷 像素組中，以及確定在輸入圖像中的每個^f象素的類型?；谌毕?象素的類型和缺陷像素是否包括在缺陷像素組中，選擇缺陷像素的周 邊像素。然后，基于所選周邊像素的值來計算缺陷像素的內(nèi)插值， 并且用計算得到的內(nèi)插值來替換缺陷像素的值。
才艮據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，能夠適當(dāng)校正包括在缺陷<象素組中的每 個缺陷像素。


圖1是示出了成像裝置的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖2是示出了相機(jī)信號處理器的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖3示出了在使用具有所謂對角線像素陣列的濾色片的情況下 的l象素陣列的實(shí)例；
圖4A ~圖4C示出了在具有對角線像素陣列的濾色片中的成像 器件的像素共有結(jié)構(gòu)的實(shí)例；
圖5是示出了缺陷像素校正器的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖6示意性示出了存儲在缺陷像素地址存儲單元中的缺陷像素 地址信息；
圖7是示出了缺陷像素確定單元的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖8是示出了候選內(nèi)插像素選擇器的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖9示意性示出了在缺陷像素不存在于缺陷R像素的鄰近像素 中的情況下的4象素陣列的實(shí)例；圖10示意性示出了在包4舌缺陷R^f象素的l象素組具有像素共有 缺陷的情況下的 <象素陣列的實(shí)例；
圖11示意性示出了在缺陷像素存在于缺陷G1像素在垂直方向 的鄰近像素中的情況下的像素陣列的實(shí)例；
圖12示意性示出了在包括Gl像素的像素組具有^f象素共有缺陷 的情況下的 <象素陣列的實(shí)例；
圖13示意性示出了在包括G1像素的像素組具有像素共有缺陷 并且缺陷^像素存在于Gl ^象素在水平方向的鄰近像素中的情況下的 4象素陣列的實(shí)例；
圖14示意性示出了在與圖13相同情況下的^f象素陣列的實(shí)例；
圖15示意性示出了在與圖13相同情況下的^f象素陣列的實(shí)例；
圖16示意性示出了在缺陷像素存在于缺陷GH象素在對角線方 向的鄰近^f象素中的'清況下的^象素陣列的實(shí)例；
圖17示意性示出了在包括Gr像素的^象素組具有^f象素共有缺陷 的情況下的 <象素陣列的實(shí)例；
圖18示意性示出了在與圖17相同情況下的像素陣列的實(shí)例；
圖19示意性示出了在與圖17相同情況下的^f象素陣列的實(shí)例；
圖20是示出圖了通過成像裝置執(zhí)行的校正缺陷4象素的處理程 序的流禾呈圖；以及
圖21是示出了通過成像裝置執(zhí)行的校正缺陷像素的處理程序 的流程圖。
具體實(shí)施例方式
下文中，參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的成像裝置100的功能結(jié)構(gòu)的 實(shí)例的框圖。成像裝置100包括透鏡110、發(fā)動機(jī)120、發(fā)動4幾驅(qū) 動電路130、光圏140、驅(qū)動電3各150、成像器件160、驅(qū)動電3各170、 前端(F/E)處理器180、信號處理器l卯和系統(tǒng)控制器195。
透鏡110聚集來自光源的入射光和來自對象的反射光。發(fā)動機(jī) 120 4艮據(jù)乂人發(fā)動才幾驅(qū)動電路130輸出的驅(qū)動信號而S走壽爭，A人而移動 透鏡110并調(diào)節(jié)對象的焦距和焦點(diǎn)位置。發(fā)動機(jī)驅(qū)動電路130生成 驅(qū)動信號以使發(fā)動4幾120基于系統(tǒng)控制器195的控制而旋轉(zhuǎn)，并將 驅(qū)動信號輸出至發(fā)動機(jī)120。發(fā)動機(jī)驅(qū)動電路130根據(jù)用戶的定標(biāo) 操作來確定焦距(即，縮放位置)。
基于從驅(qū)動電路150輸出的驅(qū)動信號，光圏140才艮據(jù)對象的亮 度來調(diào)節(jié)光圏，并確定通過透4竟110的光量(即，曝光)。驅(qū)動電 路150生成驅(qū)動信號以基于系統(tǒng)控制器195的控制來調(diào)節(jié)光圏140, 并將驅(qū)動信號輸出至光圏140。
成像器件160基于從驅(qū)動電路170輸出的驅(qū)動信號對通過光圏 140的光學(xué)信號執(zhí)行光電轉(zhuǎn)換，并將通過光電轉(zhuǎn)換生成的電荷信號 輸出至前端處理器180。成像器件160包括諸如CCD (電荷耦合器 件)或CMOS (互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)的器件。在本發(fā)明的實(shí)施 例中， 一個成像器件被用作成像器件160，并且具有所謂對角線像 素陣列的濾色片被用作安裝在成像器件的光接收單元上的濾色片。 成像器件160具有像素共有結(jié)構(gòu)，其中，構(gòu)成像素的晶體管組的部 分被4個鄰近像素所共有。下面，參照圖3和圖4A~圖4C詳細(xì)描 述具有對角線像素陣列和像素共有結(jié)構(gòu)的濾色片。基于系統(tǒng)控制器195的控制，驅(qū)動電路170生成成像器件160 用于執(zhí)行光電轉(zhuǎn)換的驅(qū)動信號，并將驅(qū)動信號輸出至成像器件160。
前端處理器180對從成像器件160輸出的模擬電荷信號執(zhí)行包 括降噪和放大的處理，并將電荷信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。前端處理器 180包4舌CDS (相關(guān)雙采沖羊)單元181、 AGC (自動增益控制)單 元182和A/D轉(zhuǎn)換器183。 CDS單元181對輸入信號4丸行采樣，然 后使采樣后的信號保持在一定值。AGC單元182對輸入信號進(jìn)4亍》丈 大。A/D轉(zhuǎn)換器183將輸入的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。在本發(fā)明 的實(shí)施例中，前端處理器180和成像器件160彼此分離?？蛇x地， 前端處理器180和成4象器4牛160可以祐j文置在同一基4反上。例》口， 可以4吏用所謂的列A/D成4象傳感器等。
信號處理器190基于來自系統(tǒng)控制器195的控制信號對通過前 端處理器180轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的對象的成像信號執(zhí)行諸如AWB(自 動白平衡)、AE (自動曝光)和AF (自動聚焦)的相機(jī)控制處理， 并生成對象的視頻信號(亮度信號和色差信號)。信號處理器190 包括同步信號生成器191、相機(jī)信號處理器200、控制運(yùn)算處理器 192和清晰度轉(zhuǎn)換器193。例如，通過集成電路(硬件)實(shí)現(xiàn)信號 處理器190?？蛇x地，能夠通過使用計算機(jī)等以軟件方式實(shí)現(xiàn)信號 處理器190的完整或部分結(jié)構(gòu)。
同步信號生成器191生成在水平和垂直方向上的同步信號和各 種定時信號，并將所生成的同步信號輸出至相機(jī)信號處理器200。
相機(jī)信號處理器200基于來自系統(tǒng)控制器195的控制信號來執(zhí) 4亍控制處理，并生成對象的—見頻信號。下面，參照圖2詳細(xì)描述相 才幾信號處理器200?？刂七\(yùn)算處理器192基于來自系統(tǒng)控制器195的控制信號執(zhí)行 各種運(yùn)算以控制對象的視頻信號。
清晰度轉(zhuǎn)換器193對從相機(jī)信號處理器200輸出的對象的一見頻 信號執(zhí)行清晰度轉(zhuǎn)換和失真校正。
系統(tǒng)控制器195控制成像裝置100的每個單元。例如，通過 CPU (中央處理單元)來實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)控制器195。
圖2是示出了相機(jī)信號處理器200的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖。 相機(jī)信號處理器200包括相機(jī)信號預(yù)處理器210和相4幾信號后處理 器220。
通過使用來自同步信號生成器191的各種同步信號，相機(jī)信號 預(yù)處理器210對從前端處理器180輸出的對象的成像信號執(zhí)行由透 鏡110、光圈140和成像器件160導(dǎo)致的缺陷像素、陰影和噪聲的 各種校正處理，并且包括缺陷像素校正器300。缺陷^象素校正器300 校正由成像器件160的晶體缺陷等導(dǎo)致的缺陷像素。下面，參照圖 5詳細(xì)描述缺陷像素校正器300。
當(dāng)來自成像器件160的輸入信號是由C (青)、M (紫紅)、Y (黃)和G (綠)構(gòu)成的互補(bǔ)色信號時，相^M言號預(yù)處理器210對 輸入信號執(zhí)行原色分離，從而將輸入信號分成R (紅)、G (綠)和 B (藍(lán))的原色信號。因此，RGB信號被輸入至相機(jī)信號后處理器 220和控制運(yùn)算處理器192。
相才幾信號后處理器220纟艮據(jù)通過相^M言號預(yù)處理器210處理的 對象的成像信號來生成視頻信號(亮度信號和色差信號)。通過相 機(jī)信號后處理器220生成的纟見頻信號被提供給清晰度轉(zhuǎn)換器193。圖3示出了在使用所謂對角線像素陣列的濾色片作為成像器件 160的濾色片的情況下的像素陣列的實(shí)例(參看第2005-107037號 曰本未審查專利公開申請)。在具有對角線像素陣列的濾色片中，G 、 R和B的比為6:1:1 (另一方面，在拜爾陣列中，G、 R和B的比為 2:1:1)，并且像素陣列被旋轉(zhuǎn)45度。在這個像素陣列中，G像素包 括6種類型的相同顏色的像素Gl G4和Gr及Gb。 Gr像素為存在 于包括R像素的行中的G像素，以及Gb像素為存在于包括B〗象素 的行中的G像素。Gl G4像素為存在于包括R像素的行與包括B 像素的行之間的行中的G像素，并且每個號碼為識別號碼。圖3和 圖4A 4C及圖9~19示出了濾色片的對角線<象素陣列的部分。需 要注意，在這些圖的每一個中，通過箭頭501表示的方向(參看圖 3)(即，垂直軸順時針;旋轉(zhuǎn)45。:M皮稱作"上4亍方向"，以及通過箭 頭502表示的方向(即，垂直軸逆時針旋轉(zhuǎn)45°)被稱作"下行方 向"。
如圖3所示，R像素在水平和垂直方向上并不4皮此鄰近，而是 每隔一個像素地排列。B像素也同樣。在G像素中，具有相同顏色 的Gl G4在水平和垂直方向上連續(xù)排列。關(guān)于G1和G4像素，在 上行方向上的鄰近像素為相同顏色的像素，而在下行方向上的鄰近 像素為不同顏色的像素。即，相同顏色的像素被每隔一個像素地排 列。關(guān)于Gr和Gb像素，在水平和垂直方向上的鄰近像素為不同顏 色的像素，而在上行和下行方向上的鄰近像素為相同顏色的像素。 同樣，相同顏色的像素在水平和垂直方向上以及上行和下行方向上 被每隔一個像素地排列。
如上所述，每個像素具有相同顏色的周邊像素。因此，如果缺 陷像素存在于具有對角線像素陣列的濾色片中，則在本發(fā)明的實(shí)施 例中，通過使用缺陷像素附近的相同顏色的像素來校正缺陷像素。 下面，參照圖9~圖19詳細(xì)描述用于校正缺陷像素的周邊像素。圖4A~圖4C示出了成^象器件的^^素共有結(jié)構(gòu)的實(shí)例，其中， 在具有對角線像素陣列的濾色片中，構(gòu)成成像器件的^f象素的晶體管 組的部分被4個鄰近像素共有。圖4A和圖4B分別示意性示出了具 有4像素共有結(jié)構(gòu)的像素組503和504。圖4C示意性示出了在佳_ 用具有4像素共有結(jié)構(gòu)的成像器件的情況下的像素陣列的部分。
在圖4A所示的1象素組503中，Z字形圖樣的4個像素(開頭 的R像素、Gl^象素、Gb^f象素和G3像素)共有用作共有元件的晶 體管組的部分。在圖4B所示的Y象素組504中，Z字形圖樣的4個 像素(開頭的B像素、G4像素、Gr像素和G2像素)共有用作共 有元件的晶體管組部分。圖4C示出了包括像素組503和504的像 素陣列的部分，其中，通過4且體線限定每個《象素組。在圖4C所示 的Y象素陣列中，部分省略了^f象素組503的下部和《象素組504的下部。
通過在成像器件中采用像素共有結(jié)構(gòu)，成像器件的像素能夠被 小型化。近年來，為了成像裝置的小型化，像素共有結(jié)構(gòu)的使用已 成為必備的技術(shù)。
但是，在具有像素共有結(jié)構(gòu)的成像器件中，如果作為共有元件 使用的放大晶體管發(fā)生故障，則共有故障晶體管的所有鄰近像素都 會變?yōu)槿毕菹袼?。在本發(fā)明的實(shí)施例中，由像素共有結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的鄰 近像素的缺陷被稱為"像素共有缺陷"。另一方面，在水平方向上 的兩個鄰近〗象素之一具有缺陷的情況下的像素缺陷被^爾為"連續(xù)鄰 近4象素缺陷，，，并且在鄰近像素中不存在缺陷的情況下的像素缺陷 被成為"單個^象素缺陷"。
圖5是示出了缺陷像素校正器300的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框圖。 缺陷像素校正器300包括行緩沖器307、周邊像素參考單元308、 計數(shù)器生成器310、缺陷像素地址存儲單元320、缺陷像素確定單元330、候選內(nèi)插4象素選4奪器340、內(nèi)插值計算器350和內(nèi)插^直替 換單元360。
行緩沖器307是用于多行的行緩沖器，并且以行為單位來保持 作為輸入信號302輸入的多行像素。
周邊像素參考單元308從保存在行緩沖器307中的各行像素中 依次讀取待校正的對象像素和對象像素的周邊像素。然后，周邊像 素參考單元308將所讀取的對象像素作為輸入信號305輸出至候選 內(nèi)插像素選擇器340和內(nèi)插值替換單元360,并且還將周邊像素作 為輸入信號304輸出至候選內(nèi)插像素選擇器340。
計數(shù)器生成器310基于從同步信號生成器191輸入的同步信號 (水平和垂直同步信號)301生成水平和垂直方向的計凄史器值。每 個所生成的計數(shù)器值表示拍攝圖像平面上的坐標(biāo)(地址)，其中， 左上方的點(diǎn)為原點(diǎn)，以及右下方為正方向。計數(shù)器值由水平計數(shù)器 值和垂直計數(shù)器值構(gòu)成。計數(shù)器值作為輸入信號371輸入至缺陷像 素確定單元330而作為輸入信號311輸入至周邊像素參考單元308。 因此，祐^lr入至缺陷^象素確定單元330的輸入信號371與凈皮輸入至 候選內(nèi)插像素選擇器340的輸入信號304和被輸入至內(nèi)插值替換單 元360的輸入信號305同步。
缺陷像素地址存儲單元320存4諸在成^f象器件160的制造處理期 間或在成像裝置IOO通電時所執(zhí)行的成像器件160的缺陷像素檢測 處理中檢測到的缺陷像素在拍攝圖像的平面上的水平和垂直位置 信息(缺陷像素地址信息)。缺陷像素地址存儲單元320由諸如寄 存器或存儲器的存儲器件構(gòu)成。基于系統(tǒng)控制器195的控制，在缺 陷像素地址存儲單元320中預(yù)先存儲缺陷像素地址信息。缺陷像素 地址信息被作為輸入信號372輸入至缺陷像素確定單元330。下面， 參照圖6詳細(xì)描述缺陷像素地址信息。缺陷像素確定單元330將從計數(shù)器生成器310輸入的計數(shù)器值 與從缺陷像素地址存儲器320輸入的缺陷像素地址信息進(jìn)行比較。 即，如果計數(shù)器值與缺陷〗象素地址信息匹配，則缺陷^象素確定單元 330確定與該計數(shù)器值對應(yīng)的像素為缺陷像素，并將關(guān)于這個^象素 的缺陷標(biāo)記的內(nèi)容輸出至信號線375。如果計數(shù)器值與缺陷像素地 址信息匹配并且如果包4舌在缺陷〗象素地址信息中的4交正距離切換: 標(biāo)記存儲"1"，則缺陷像素確定單元330將表示被確定為缺陷像素 的像素具有像素共有缺陷的像素共有缺陷標(biāo)記的內(nèi)容輸出至信號 線373。此外，缺陷〗象素確定單元330將關(guān)于在包4舌具有^f象素共有 缺陷的缺陷像素的像素組中的其他缺陷像素的像素共有缺陷標(biāo)記 的內(nèi)容輸出至信號線373。如果計數(shù)器值和缺陷像素地址信息之間 的比較結(jié)果表示連續(xù)缺陷像素，則缺陷像素確定單元330將連續(xù)缺 陷標(biāo)記的內(nèi)容輸出至信號線374。下面，參照圖7詳細(xì)描述缺陷像 素確定單元330。
候選內(nèi)插像素選擇器340從包括從周邊像素參考單元308輸入 的對象像素的周邊像素中選擇待內(nèi)插的候選像素，并且將待內(nèi)插的 所選像素作為輸入信號376輸入至內(nèi)插值計算器350。下面，參照 圖8詳細(xì)描述候選內(nèi)插4象素選擇器340。
內(nèi)插值計算器350通過使用從候選內(nèi)插像素選擇器340輸入的 待內(nèi)插的像素來計算內(nèi)插值，并將計算得到的內(nèi)插值作為輸入信號 378輸出至內(nèi)插值替換單元360。需要注意，乂人候選內(nèi)插^象素選擇 器340輸入的待內(nèi)插的像素數(shù)為2。通過計算2個像素的平均值來 獲取內(nèi)插值。
內(nèi)插值替換單元360基于從缺陷像素確定單元330輸出的像素 共有缺陷標(biāo)記或缺陷標(biāo)記的內(nèi)容和從內(nèi)插值計算器350輸出的缺陷 像素的內(nèi)插值對缺陷像素執(zhí)行內(nèi)插值的替換。即，如果輸入像素為 缺陷像素，則內(nèi)插值替換單元360用內(nèi)插值來替換缺陷像素的值，并輸出所得像素作為輸出信號306。如果輸入像素不是缺陷像素， 則內(nèi)插值替換單元360將作為輸入信號305輸入的輸入像素作為輸 出信號306輸出。因此，通過替換校正缺陷像素的值，能夠抑制拍 攝圖像的質(zhì)量的劣化。
圖6示意性示出了存儲在缺陷像素地址存儲單元320中的缺陷 像素地址信息400。缺陷像素地址信息400包括校正距離切換標(biāo)記 410、缺陷像素地址(垂直方向)420和缺陷^象素地址(水平方向) 430。
校正距離切換標(biāo)記410表示與缺陷像素地址信息400對應(yīng)的像 素是否具有像素共有缺陷并且在最高有效位(MSB)處是否由1個 比特構(gòu)成。通過4吏用才交正距離切換標(biāo)記410，當(dāng)輸7vf象素具有4象素 共有缺陷時，能夠適當(dāng)選擇候選內(nèi)插像素。例如，當(dāng)輸入像素具有 ^像素共有缺陷時，"1";故存儲在4交正距離切換標(biāo)記410中。另一方 面，當(dāng)輸7vf象素不具有^f象素共有缺陷時，"0"凈皮存4諸在4交正3巨離切 換標(biāo)記410中。在本發(fā)明的實(shí)施例中，如果在缺陷像素的4企測期間 檢測到像素共有缺陷，則僅將具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組的開頭像 素的缺陷像素地址信息存儲在缺陷像素地址存儲單元320中。具有 像素共有結(jié)構(gòu)的像素組的開頭像素為如圖4A所示包括R像素的像 素組中的RJ象素，或者如圖4B所示包括B^象素的^象素組中的B傳-素。同樣，可以計算包括在具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組中的其他缺 陷^象素的地址。例如，在圖4A所示的開頭^象素為RJ象素的^象素組 中，當(dāng)R像素的位置信息(地址)為R(X，Y)時，包括在這個像素 組中的Gl像素、Gb像素和G3像素的位置信息(地址)能夠-故分 別計算為G1(X,Y+1)、 Gb(X,Y+2)和G3(X，Y+3)。同樣，能夠以同 樣方式計算包括作為開頭像素的B像素的像素組的位置信息。
如上所述，〗又將在具有1象素共有結(jié)構(gòu)的<象素組中的開頭l象素的 缺陷像素地址信息存儲在缺陷^象素地址存儲單元320中，并且4艮據(jù)開頭像素的缺陷像素地址信息來計算其他缺陷像素的地址。因此， 不但在像素組的開頭像素中，還在該像素組的其他像素中校正了像
素共有缺陷，而無需在缺陷^象素地址存儲單元320中存儲該l象素組 的其他像素的地址信息。此外，通過使用這種方法，用作缺陷像素 地址存儲單元320的寄存器或存儲器的資源能夠減少，使得成像裝 置的尺寸、重量和成本都能夠降低。
缺陷像素地址420是表示在坐標(biāo)系中缺陷像素的垂直方向(Y 坐標(biāo))上的位置信息的值，其中，在拍攝圖像的平面上，左上方的 點(diǎn)為原點(diǎn)，并且右下方為正方向。例如，通過n個比特來限定在夾陷 l象素i也址420。
缺陷像素地址430是表示在坐標(biāo)系中缺陷像素的水平方向(X 坐標(biāo))上的位置信息的值，其中，在拍攝圖像的平面上，左上方的 點(diǎn)為原點(diǎn)，并且右下向?yàn)檎较?。例如，通過m個比特來限定缺陷 1象素地址430。
圖7是示出了缺陷像素確定單元330的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框 圖。缺陷^象素確定單元330包括缺陷確定單元331、鄰近^象素地址 計算器332、像素共有缺陷確定單元333、 OR電路334和連續(xù)缺陷 確定單元335。
缺陷確定單元331基于從計數(shù)器生成器310輸出的計數(shù)器值和 A人缺陷^象素地址存書者單元320輸入的缺陷j象素地址信息來確定l餘入 像素是否為缺陷像素。更具體地，如果來自計數(shù)器生成器310的計 ^t器值與包括在缺陷^象素地址信息400中的缺陷像素地址420和 430相匹配，則缺陷確定單元331確定與計數(shù)器值對應(yīng)的像素為缺 陷像素，將表示缺陷像素的缺陷標(biāo)記的內(nèi)容輸出至信號線375,并 且還將缺陷像素地址輸出至連續(xù)缺陷確定單元335。如果來自計數(shù) 器生成器310的計數(shù)器值與缺陷像素地址420和430相匹配，并且如果包括在缺陷像素地址信息400中的校正距離切換標(biāo)記410存儲 "1",則缺陷確定單元331將表示上述情況的^象素共有缺陷標(biāo)記輸 出至OR電路334，并且還將包括在缺陷像素地址信息400中的缺 陷l象素地址420和430 llr出至鄰近^f象素地址計算器332。
基于從缺陷確定單元331輸出的缺陷像素地址420和430，鄰 近像素地址計算器332計算除如圖4A和圖4B所示的包括在具有^象 素共有結(jié)構(gòu)的像素組中的開頭像素之外的缺陷像素的地址，并且保 存計算得到的地址。然后，鄰近像素地址計算器332將其中所保持 的地址豐#出至4象素共有擊夾陷確定單元333。
基于除包括在具有鄰近像素地址計算器332中所保存的像素共 有結(jié)構(gòu)的像素組中的開頭像素之外的缺陷像素的地址和從計數(shù)器 生成器310輸出的計凄t器值，〗象素共有缺陷確定單元333確定輸入 像素是否具有像素共有缺陷。更具體地，如果在鄰近像素地址計算 器332中所保持的缺陷像素地址與從計數(shù)器生成器310輸入的計數(shù) 器^f直相匹配，則^f象素共有缺陷確定單元333確定與計lt器4直對應(yīng)的 像素具有像素共有缺陷，生成像素共有缺陷標(biāo)記，并且將像素共有
缺陷標(biāo)記輸出至OR電路334。例如，像素共有缺陷確定單元333 輸出"1"作為像素共有缺陷標(biāo)記。
如果OR電路334從像素共有缺陷確定單元333和缺陷確定單 元331中的至少一個中4妄收"1"作為4象素共有缺陷標(biāo)記，則OR 電路334將像素共有缺陷標(biāo)記"1"輸出至信號線373。
連續(xù)缺陷確定單元335保持從缺陷確定單元331輸出的缺陷標(biāo) 記，并4艮據(jù)缺陷標(biāo)記是否^皮連續(xù)輸入來確定連續(xù)缺陷像素是否存 在。如果確定連續(xù)缺陷像素存在，則連續(xù)缺陷確定單元335生成連 續(xù)缺陷標(biāo)記，并將標(biāo)記輸出至信號線374。圖8是示出了候選內(nèi)插像素選擇器340的功能結(jié)構(gòu)的實(shí)例的框 圖。候選內(nèi)插像素選擇器340包括像素類型確定單元341、周邊像 素提取器342和內(nèi)插像素選擇器343。
像素類型確定單元341確定作為輸入信號305輸入的對象像素 的類型，并將所確定的像素類型輸出至周邊像素提取器342和內(nèi)插 像素選擇器343。此處，待確定的像素類型包括R像素、B像素、 G卜G4像素、Gb像素和Gr像素。
周邊像素提取器342基于從像素類型確定單元341輸入的像素 類型從作為輸入信號304輸入的周邊像素中提取多個像素，并將每 個所提取的像素輸出至內(nèi)插像素選擇器343。例如，如果對象像素 的類型為Gl G4像素中的任一個，則提取在水平和垂直方向上與
對象像素物理上鄰近的各個^f象素和在水平和垂直方向上與鄰近像 素物理上最接近的各個像素。另一方面，如果對象像素的類型為 Gr像素或Gb像素，則提取在對角線方向上與對象像素物理上鄰近 的各個像素和在水平和垂直方向上與目標(biāo)像素鄰近的像素物理上 最接近的各個像素。此外，如果對象像素的類型為R像素或B像素， 則提取在水平方向上與對象像素鄰近的像素物理上最接近的各個 像素。下面，參照圖9~圖19詳細(xì)描述這些提取實(shí)例。
基于從像素類型確定單元341輸出的對象像素的類型和從缺陷 像素確定單元330輸出的像素共有缺陷標(biāo)記和連續(xù)缺陷標(biāo)記的內(nèi) 容，內(nèi)插像素選擇器343從通過周邊像素提取器342提取的多個像 素中選擇用于對象像素的內(nèi)插像素。
例如，如果對象像素的類型為Gl G4像素中的任一個，并且 如果像素共有缺陷標(biāo)記和連續(xù)缺陷標(biāo)記的內(nèi)容都為"1"，則選擇在 水平方向上與對象像素的鄰近像素物理上最接近的2個像素。另一方面，如果像素共有缺陷標(biāo)記和連續(xù)缺陷標(biāo)記的內(nèi)容都不為"1"，
則選擇在水平方向上與對象^象素物理上鄰近的2個像素。
如果對象^f象素的類型為Gr像素或GIW象素，并且如果像素共有 缺陷標(biāo)記的內(nèi)容為"1"，則選擇在水平方向上與對象l象素的鄰近像 素物理上最接近的2個像素。另一方面，如果像素共有缺陷標(biāo)記的 內(nèi)容為"0"，則在選擇兩個對角線方向上與對象像素物理上鄰近的 4個〗象素中在一個對角線方向上的2個j象素。
此外，如果對象像素的類型為R像素或B像素，則選擇在水平 方向上與對象像素的鄰近像素物理上最接近的2個像素。以此方式， 如果對象像素為R像素或B像素，則不需要考慮像素共有缺陷的影 響。因此，不管像素共有缺陷標(biāo)記和連續(xù)缺陷標(biāo)記的內(nèi)容來選擇內(nèi) 插像素。
現(xiàn)在，參照附圖詳細(xì)描述通過候選內(nèi)插像素選擇器340提取和 選擇的周邊像素。在圖9-圖19所示的像素陣列中，用虛線示出了 缺陷像素，用粗體線示出了用于缺陷像素的作為內(nèi)插像素提取的像 素。用虛線限定具有像素共有缺陷的像素組。
圖9示意性示出了在R像素為缺陷像素并且與R像素鄰近的像 素沒有缺陷的情況下的像素陣列的實(shí)例。
在圖9所示的〗象素陣列中，RJ象素510為單個缺陷〗象素，而作 為在水平和垂直方向上與IU象素510的鄰近^象素物理上最4妄近的相 同顏色的像素的R像素511-514不是缺陷像素。就這種情況而言， 當(dāng)R像素510為單個缺陷像素時，提取作為周邊相同顏色的像素的 R像素511-514作為候選內(nèi)插像素。在這種情況下，例如，從所提 取的4個像素中選擇水平方向上的R像素512和514作為內(nèi)插像素。 然后，計算所選的R像素512和514的平均值。然后，用計算得到的R4象素512和514的平均值來替換缺陷l象素510的值?？蛇x地， 可以從所^是取的4個^f象素中選4奪垂直方向上的IU象素511和513作 為內(nèi)插像素，并且可以用計算得到的R像素511和513的平均值來 替換缺陷像素510的值。
圖10示意性示出了在R像素為缺陷像素并且包括R像素的像 素組具有像素共有缺陷的情況下的<象素陣列的實(shí)例。
在圖IO所示的像素陣列中，包括R像素的像素組520具有像 素共有缺陷，但是作為在水平和垂直方向上與在像素組520中所包 括的R像素的鄰近像素物理上最接近的相同顏色的像素的R像素 521-524不是缺陷像素。在這種情況下，即使包括R像素的像素 組520具有像素共有缺陷，作為周邊相同顏色的像素的R像素521 ~ 524也不會受到影響，因此，與單個缺陷像素的情況相同，提取R 像素521 -524作為候選內(nèi)插像素。內(nèi)插像素的選擇、平均值的計 算和替換處理與單個缺陷〗象素的情況相同，因此，省略對應(yīng)的描述。 R像素被用作圖9和圖IO的實(shí)例，但是，也可以將上面的描述應(yīng) 用于B〗象素，因此，省略對應(yīng)的描述。
圖11示意性示出了在G1像素為缺陷像素并且缺陷像素存在于 Gl像素在垂直方向上的鄰近像素中的情況下的像素陣列的實(shí)例。
在圖11所示的〗象素陣列中，Gl -像素530是缺陷l象素，并且在 垂直方向上與Gl像素530鄰近的G3像素531也是缺陷像素。就 這種情況而言，當(dāng)Gl像素530為缺陷像素時，4是取作為在水平和 垂直方向上與Gl像素530鄰近的相同顏色的像素的G3像素531、 G2像素532、 G3像素533和G2像素534作為待內(nèi)插的候選周邊 像素。在所4是取的4個<象素中，G3 <象素531為缺陷^象素，而在水平 方向上的G2像素532和G2像素534不是缺陷像素。在這種情況 下，從所提取的4個像素中選擇水平方向上的G2像素532和G2 像素534作為內(nèi)插像素。然后，計算所選的G2像素532和G2像 素534的平均值。然后，用計算得到的G2像素532和G2像素534 的平均值來替換缺陷像素530的值。通過這種方式，即使Gl像素 為缺陷像素并且在水平和垂直方向上與Gl像素鄰近的任一個相同 顏色的像素為缺陷像素，仍能夠通過使用在水平和垂直方向中的任 一個方向上的2個像素來計算平均值。
圖12示意性示出了在包括GH象素的像素組540具有像素共有 缺陷的情況下的 <象素陣列的實(shí)例。
在圖12所示的像素陣列中，包括Gl像素的像素組540具有像 素共有缺陷。同樣，在水平和垂直方向上與包括在4象素組540中的 Gl像素物理上鄰近的相同顏色的像素中，G3像素541、 G2像素 542和G2像素544不是缺陷像素，而包括在像素組540中的G3像 素543為缺陷像素。就這種情況而言，當(dāng)包括G1像素的像素組540 具有像素共有缺陷時，作為鄰近的相同顏色的像素的G3像素543 為缺陷像素。因此，與單個缺陷像素的情況相同，提取G3像素541、 G2像素542、 G3像素543和G2像素544作為候選內(nèi)插像素，但 是，因?yàn)镚3像素543為缺陷像素，所以從所提取的4個像素中選 擇水平方向上的G2像素542和G2像素544作為內(nèi)插像素。平均 值的計算和替換處理與上述單個缺陷^象素的情況相同。因此，省略 了對應(yīng)的描述。通過這種方式，當(dāng)包括Gl像素的像素組具有像素 共有缺陷時并且當(dāng)除G3像素之外與Gl <象素鄰近的相同顏色的傳_ 素不是缺陷像素時，能夠選擇內(nèi)插像素而不會被像素共有缺陷直接 影響。圖13示意性示出了在包括G1像素的像素組具有像素共有缺陷 并且缺陷像素存在于在水平方向上與Gl像素鄰近的像素中的情況 下的像素陣列的實(shí)例。
在圖13所示的像素陣列中，包括Gl像素的像素組550具有像 素共有缺陷。而且，在水平和垂直方向上與包4舌在像素組550中的 Gl像素物理上鄰近的相同顏色的像素中，G3像素551和G2像素 552不是缺陷像素，而G2像素554和G3像素553 (包括在像素組 550中)為缺陷像素。就這種情況而言，當(dāng)包括Gl l象素的像素組 550具有^象素共有擊夾陷時并且當(dāng)與Gl〗象素鄰近的G2 <象素554為缺: 陷^像素時，如果通過4吏用作為在垂直或水平方向上與Gl <象素鄰近 的相同顏色的像素的G3像素551和G3像素553或G2像素552和 G2像素554計算平均值，則在計算中使用缺陷像素。在這種情況 下，如圖14或圖15所示，能夠通過^f吏用在水平和垂直方向或?qū)?線方向上與包括在4象素組550中的Gl 4象素的鄰近像素物理上最4妄 近的相同顏色的像素來計算平均值。
圖14示意性示出了在與圖13所示相同的情況下的像素陣列的 實(shí)例。
如參照圖13的以上描述，如果通過^f吏用在 K平和垂直方向上 與包括在像素組550中的Gl像素鄰近的相同顏色的像素來計算平 均值，則意味著使用缺陷像素進(jìn)行計算。在這種情況下，如圖14 所示，通過使用作為在水平和垂直方向上與包括在像素組550中的 Gl像素的鄰近像素物理上最接近的相同顏色的像素的Gl像素 555-558來計算平均值。即，提取作為周邊相同顏色的像素的Gl 像素555-558作為候選內(nèi)插像素。在這種情況下，從所提取的4 個像素中選擇在水平方向上的Gl <象素556和558作為內(nèi)插^f象素， 并且計算所選的G像素556和558的平均值。平均值的計算和替換 處理與單個缺陷〗象素的情況相同，因》匕，省略乂寸應(yīng)的描述。可選;也，可以從所提取的4個<象素中選擇在垂直方向上的Gl像素555和557 作為內(nèi)插像素，并且可以用Gl像素555和557的平均值替換缺陷 像素的值。
圖15示意性示出了在與圖13所示相同的情況下的像素陣列的 實(shí)例。
在這種情況下，如圖15所示，通過使用作為在對角線方向上 與包括在〗象素組550中的Gl ^象素的鄰近^象素物理上最4妄近的相同 顏色的像素的G4像素561 564來計算平均值。即，提取作為周邊 相同顏色的像素的G4像素561 - 564作為候選內(nèi)插像素。在這種情 況下，/人所揭_耳又的4個<象素中選擇在下4亍方向上的G4像素561和 563作為內(nèi)插〗象素，并且計算所選的G4 4象素561和563的平均值。 平均值的計算和替換處理與單獨(dú)缺陷^象素的情況相同，因此，省略 了對應(yīng)的描述?？蛇x地，可以從所掮:取的4個像素中選擇在上行方 向上的G4像素562和564作為內(nèi)插像素，并且可以用G4像素562 和564的平均值來替換缺陷像素的值。在圖11 ~圖15中，Gl像素 用作實(shí)例，但是，上面的描述也可以被應(yīng)用于G2 G4像素。省略 了對應(yīng)的描述。
圖16示意性示出了在Gr像素為缺陷像素并且缺陷像素存在于 在對角線方向上與Gr像素鄰近的像素中的情況下的像素陣列的實(shí)例。
在圖16所示的l象素陣列中，GH象素570為缺陷〗象素，并且在 上行方向上與Gr像素570鄰近的G4像素574也為缺陷像素。就這 種情況而言，當(dāng)Gr <象素570為缺陷4象素時，提取作為在對角線方 向上鄰近的相同顏色的像素的G3像素571、 Gl像素572、 G2像素 573和G4像素574 ，作為待內(nèi)插的周邊候選像素。但是，在所提取的4個像素中的G4像素574為缺陷^象素。在 這種情況下，從所提取的4個像素中選擇作為在下行方向上的相同 顏色的像素的G3像素571和G2像素573作為候選內(nèi)插l象素。然 后，計算所選的G3 -像素571和G2 <象素573的平均值。然后，用 計算得到的G3像素571和G2像素573的平均值替換缺陷像素570 的值。
圖17示意性示出了在包括Cr像素的像素組具有像素共有缺陷 的情況下的^f象素陣列的實(shí)例。
在圖17所示的像素陣列中，包括Gr像素的像素組580具有像 素共有缺陷，并且作為在對角線方向上與包括在像素組580中的 Gr像素物理上鄰近的相同顏色的像素的G3像素581和Gl像素582 不是缺陷像素。就這種情況而言，當(dāng)包括Gr像素的像素組580具 有像素共有缺陷時，如果通過使用作為在對角線方向上與Gr像素 鄰近的相同顏色的像素的G3像素581和G2像素583或Gl像素 582和G4像素584來計算平均值，則缺陷像素用于計算。在這種 情況下，如圖18或19所示，能夠通過4吏用在水平和垂直方向或?qū)?角線方向上與包括在像素組580中的Gr像素的鄰近像素物理上最 接近的相同顏色的像素來計算平均值。
圖18示意性示出了與圖17所示相同的情況下的像素陣列的實(shí)例。
如參照圖17的以上描述，如果通過4吏用在對角線方向上與包 括在像素組580中的Gr像素鄰近的相同顏色的像素來計算平均值， 則意味著使用缺陷像素進(jìn)行計算。在這種情況下，如圖18所示， 通過〗吏用作為在水平和垂直方向上與包4舌在^f象素組580中的Gr l象 素的鄰近像素物理上最接近的相同顏色的像素的Gr像素591 -594 來計算平均值。即，提取作為周邊相同顏色的像素的Gr像素591 594作為候選內(nèi)插像素。在這種情況下，從所提取的4個像素中選 擇在水平方向上的Gr像素592和594作為內(nèi)插像素，并且計算所 選的Gr -像素592和594的平均值。平均值的計算和替4灸處理與單 個缺陷像素的情況相同，因此，省略了對應(yīng)的描述?？蛇x地，可以 從所提取的4個像素中選擇在垂直方向上的Gr像素591和593來 作為內(nèi)插像素，并且可以用Gr像素591和593的平均值替換缺陷 <象素的值。
圖19示意性示出了與圖17所示相同情況下的像素陣列的實(shí)例。
在這種情況下，如圖19所示，通過^f吏用作為在對角線方向上 與包括在l象素組580中的Gr ^象素的鄰近1象素物理上最4妄近的相同 顏色的像素的Gb像素595~598來計算平均值。即，提取作為周邊 相同顏色的像素的Gb像素595 598作為候選內(nèi)插像素。在這種情 況下，從所提取的4個像素中選擇在下行方向上的Gb像素595和 597作為內(nèi)插像素，并且計算所選的Gb像素595和597的平均值。 平均值的計算和替換處理與單單個陷像素的情況相同，因此，省略 了對應(yīng)的描述?？蛇x地，可以從所提取的4個像素中選擇在上行方 向上的Gb像素596和598作為內(nèi)插像素，并且可以用Gb像素596 和598的平均值替換缺陷像素的值。在圖16 ~圖19中，Gb像素用 作了實(shí)例，但是，上面的描述也可以被應(yīng)用于Gr像素。省略了對 應(yīng)的描述。
如參照圖9 ~圖19的以上描述，通過選沖奪在對角線^像素陣列中 的周邊像素校正缺陷像素，能夠抑制由于校正帶來的拍攝圖像的質(zhì) 量劣化。
下文中，參照附圖描述4艮據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的成^f象裝置100的 操作。圖20和圖21是示出了通過成像裝置IOO執(zhí)行的校正缺陷像素
的處理程序的流程圖。在下面所述的實(shí)例中，確定在待校正的缺陷
像素的水平方向上的一個鄰近像素是否為缺陷像素(連續(xù)鄰近像
素)，并基于確定結(jié)果選擇內(nèi)插像素。如果在待校正的缺陷像素的 水平和垂直方向上的任一個周邊相同顏色的像素都不是缺陷像素，
則選擇在水平方向上的相同顏色的像素。此外，如果在待校正的缺 陷像素的對角線方向上的任一個周邊相同顏色的Y象素都不是缺陷 像素，則選擇在下行方向上的相同顏色的像素。可以通過用戶的操 作來改變選擇條件。
首先，輸入像素(步驟S901)。然后，從缺陷像素地址存儲單 元320中讀取缺陷像素地址信息(步驟S902)。然后，缺陷像素確 定單元330將從計數(shù)器生成器310輸出的計數(shù)器值與從缺陷像素地 址存儲單元320讀取的缺陷像素地址信息進(jìn)行比較，并確定對象像 素是否為缺陷像素(步驟S卯3 )。比較處理是通過缺陷確定單元331 和4象素共有缺陷確定單元333執(zhí)^f于的。如果作為比4交處理的結(jié)果， 確定對象像素不是缺陷^象素(步驟S903),則不進(jìn)行4史正地輸出對 象像素(步驟S913),并且缺陷像素校正處理結(jié)束。
另一方面，如果作為比較處理的結(jié)果，確定對象像素為缺陷像 素(步驟S903)，則確定對象4象素的類型(步驟S904)。如果對象 像素的類型為Gl ~ G4像素中的任一種(步驟S904 )，則提取在水 平和垂直方向上與缺陷Y象素物理上鄰近的4個相同顏色的^象素和與 缺陷像素的鄰近像素物理上最4妄近的4個相同顏色的l象素(步驟 S905)。然后，確定4敘入的缺陷<象素是否具有<象素共有擊矢陷，并且 確定與輸入的缺陷像素鄰近的任一個像素是否為缺陷像素(步驟 S906 )。如果輸入的缺陷1象素具有缺陷4象素共有缺陷并且如果與輸 入的缺陷像素鄰近的任一個像素為缺陷像素(步驟S906)，則處理 進(jìn)4亍到步驟S911。另 一方面，如果輸入的缺陷像素不具有像素共有缺陷或者如果
與輸入的缺陷像素鄰近的任一個像素不為缺陷像素(步驟S卯6)， 則從所提取的周邊像素中選擇在水平方向上與輸入缺陷像素鄰近 的2個像素來作為內(nèi)插像素(步驟S907 )。
如果確定對象像素的類型為Gr像素或Gb像素(步驟S904), 則提取在對角線方向上與缺陷像素物理上鄰近的4個相同顏色的像 素和在水平和垂直方向上與缺陷^象素的鄰近像素物理上最4妄近的4 個相同顏色的像素(步驟S卯8)。然后，確定輸入的缺陷像素是否 具有像素共有缺陷(步驟S909)。如果輸入的缺陷像素具有像素共 有缺陷(步驟S909 )，則處理進(jìn)行到步驟S911。
另一方面，如果輸入的缺陷像素不具有l(wèi)象素共有缺陷(步驟 S909 )，則從所提耳又的周邊像素中在對角線方向上與輸入的缺陷傳_ 素鄰近的4個4象素中選擇在下行方向上的兩個<象素作為內(nèi)插<象素 (步驟S910 )。
如果確定對象像素的類型為R像素或B像素(步驟S904)，則 選擇在水平方向上與輸入的缺陷像素的鄰近像素物理上最接近的2
個相同顏色的像素作為內(nèi)插像素(步驟S911)。
然后，計算所選的2個像素的平均值(步驟S912)。然后，用
計算得到的平均值替換輸入的缺陷像素的值，并輸出已進(jìn)行了替換 處理的^象素(步艱《S915)。
可選地，如果輸入的缺陷像素不具有像素共有缺陷或者如果與 輸入的缺陷像素鄰近的任一個像素不是缺陷像素(步驟S906)，則 可以對與在步驟S905中提取的周邊像素中的缺陷像素物理上鄰近 的4個相同顏色的像素執(zhí)行相關(guān)值確定處理，并且可以選擇被確定 為具有強(qiáng)相關(guān)性的平均值作為缺陷像素的內(nèi)插值。更具體地，在與在步驟S905中提取的缺陷像素物理上鄰近的4個相同顏色的像素 中，計算在水平方向上的2個像素的平均值和微分絕對值(相關(guān)值) 和在垂直方向上的2個像素的平均值和樣吏分絕對值(相關(guān)值)，并 且確定2個計算得到的微分絕對值中的較小值具有更強(qiáng)的相關(guān)性。 然后，選擇在與更強(qiáng)相關(guān)值對應(yīng)的方向上的2個像素的平均值作為 缺陷像素的內(nèi)插值。同樣，在步驟S904中確定輸入的^象素的類型 為GH象素、Gbl象素、R^象素或B〗象素的情況下，可以扭一f亍相關(guān)l直 確定處理，并且可以選4奪具有4交強(qiáng)相關(guān)性的平均值作為缺陷像素的 內(nèi)插值。
在對象像素的類型為Gl G4像素中的任一種，對象^f象素具有 像素共有缺陷，并且與對象<象素鄰近的任一個像素為缺陷<象素的情 況下(步驟S卯6)，可以在步驟S911中從與對象像素的鄰近像素物 理上最接近的相同顏色的像素中選擇在任一對角線方向上的2個像 素作為內(nèi)插像素。
此外，在對象l象素的類型為Gr像素或者Gb〗象素并且對象l象素 具有〗象素共有缺陷的情況下(步驟S906)，可以,人與對象4象素的鄰 近<象素物理上最4妄近的相同顏色的 <象素中選4奪在4壬一對角線方向 上的2個像素作為內(nèi)插像素。可以預(yù)先設(shè)置這種選擇。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，通過連續(xù)缺陷確定單元335生成關(guān) 于在水平方向上的鄰近4象素的連續(xù)缺陷標(biāo)記?？蛇x地，通過使用諸 如D - FF的延遲元件，可以生成關(guān)于在7jC平方向上的連續(xù)鄰近^f象素
缺陷的連續(xù)缺陷標(biāo)記。同樣，通過執(zhí)行計算在垂直方向上的鄰近像 素的地址的處理、掃描并讀耳又來自在夾陷《象素i也址存^f諸單元320的在 垂直方向上的鄰近像素的缺陷像素地址信息的處理、以及將計算得 到在垂直方向上的鄰近像素的地址與所讀取的在垂直方向上的鄰 近像素的缺陷像素地址信息進(jìn)行比較的處理，能夠生成關(guān)于在垂直 方向上的連續(xù)鄰近像素缺陷的連續(xù)缺陷標(biāo)記。在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，單個成像器件用作了成像器件160。 可選地，本發(fā)明的實(shí)施例可以被應(yīng)用于包括3個成像器件的成像裝 置。當(dāng)在這個成像裝置中選擇內(nèi)插像素時，選擇了空間相位接近的 像素。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，僅將在具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組 中的開頭像素的缺陷像素地址信息存儲在缺陷像素地址存儲單元 320中?？蛇xi也，可以將在具有〗象素共有結(jié)構(gòu)的^f象素組中的每個象 素的缺陷像素地址信息都存儲在缺陷像素地址存儲單元320中。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，由像素共有結(jié)構(gòu)帶來的像素共有缺 陷的實(shí)例被描述作為多個像素的鄰近像素缺陷。可選地，本發(fā)明的 實(shí)施例可以;故應(yīng)用于由另一個因素帶來的鄰近l象素缺陷。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，校正距離切換標(biāo)記410表示缺陷像 素是否具有像素共有缺陷。但是，校正距離切換標(biāo)記410在被存儲 到缺陷像素地址存儲單元320中時可以被任意設(shè)置，因此，能夠被 用作用于選擇除像素共有缺陷之外的關(guān)于任意缺陷像素的內(nèi)插像 素的指示器。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，已描述了像素共有結(jié)構(gòu)的實(shí)例，像 素共有結(jié)構(gòu)共有了在具有對角線像素陣列的濾色片中構(gòu)成了以4個 像素為單位的成像器件的像素的晶體管組的部分。可選地，本發(fā)明
的實(shí)施例能夠被應(yīng)用于另外數(shù)量的共有像素和另 一種共有圖樣。
在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，已描述了使用具有對角線像素陣列 的濾色片的單個成像器件?？蛇x地，本發(fā)明的實(shí)施例可以被應(yīng)用于 使用具有另 一類型的像素陣列的濾色片的成像器件。如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，通過使用包括校正距離切換
標(biāo)記410的缺陷像素地址信息400，候選內(nèi)插像素選擇器340選擇 用于缺陷像素的內(nèi)插像素，以便能夠適當(dāng)校正由像素共有結(jié)構(gòu)帶來 的鄰近4象素缺陷。即，對于多個鄰近像素具有缺陷的鄰近^f象素缺陷， 并不通過使用與對象缺陷像素鄰近的缺陷像素來計算內(nèi)插值。因 此，可以通過使用適當(dāng)?shù)膬?nèi)插值來進(jìn)行校正，并且能夠抑制校正圖 像的質(zhì)量劣化。同樣，能夠適當(dāng)校正連續(xù)鄰近缺陷像素，并且能夠 適當(dāng)校正包括在由多個缺陷像素構(gòu)成的缺陷像素組中的每個缺陷 像素。
內(nèi)插值計算器350可以用于諸如單個像素缺陷、連續(xù)鄰近^f象素 缺陷和像素共有缺陷的所有類型的像素缺陷。因此，可以減小成像
裝置的尺寸、重量和成本。
此外，通過在缺陷#>素確定單元330中i殳置鄰近^象素;l也址計算 器332并且通過僅將具有像素共有結(jié)構(gòu)的開頭缺陷像素的缺陷像素 地址信息存4諸在缺陷4象素地址存4諸單元320中，可以減少用作缺陷 ^泉素地址存儲單元320的寄存器或存儲器的資源。此外，可以減小 成4象裝置的尺寸、重量和成本。
作為用于計算內(nèi)插值的內(nèi)插像素，根據(jù)像素的類型來從多個候 選內(nèi)插像素中選擇內(nèi)插像素。因此，本發(fā)明的實(shí)施例還可以應(yīng)用于 使用了具有除對角線像素陣列之外的像素陣列的濾色片的成像器 件，并且可以獨(dú)立于濾色片的^象素陣列的類型地靈活才丸4f才交正缺陷 4象素的處理。
此外，通過簡單結(jié)構(gòu)的石更件就能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的實(shí)施例。因此， 盡管在近來大量像素的趨勢下，仍能執(zhí)行實(shí)時的處理。同樣，即使 在以比通常成像速率更高的速率執(zhí)行成像的高速率成像功能下，仍 能夠執(zhí)行適當(dāng)?shù)娜毕菪Ｕ幚?。如下所述，本發(fā)明的上述實(shí)施例僅是體現(xiàn)本發(fā)明的實(shí)例，并且 在實(shí)施例中所述的元件與權(quán)利要求的指定特性具有對應(yīng)性。然而， 本發(fā)明并不限制于實(shí)施例，在不違背本發(fā)明的范圍的情況下，可以 進(jìn)4亍各種》務(wù)改。
例如，在4又利要求中的成1象裝置對應(yīng)于成^象裝置100。例如， 在權(quán)利要求中的缺陷像素校正裝置對應(yīng)于缺陷像素校正器300。
例如，在權(quán)利要求中的缺陷像素存儲裝置對應(yīng)于缺陷像素地址 存儲單元320。例如，缺陷像素確定裝置對應(yīng)于缺陷確定單元331。 例如， <象素共有缺陷確定裝置對應(yīng)于<象素共有缺陷確定單元333。
例如，在權(quán)利要求中的圖像輸入裝置對應(yīng)于行緩沖器307。例 如，4象素類型確定裝置乂于應(yīng)于1象素類型確定單元341。例如，內(nèi)4翁 值計算裝置對應(yīng)于內(nèi)插值計算器350。例如，內(nèi)插值替換裝置對應(yīng) 于內(nèi)"1翁<直^^4奐單元360。
例如，在權(quán)利要求中的內(nèi)插像素選擇裝置對應(yīng)于內(nèi)插像素選擇 器343。
例如，在權(quán)利要求中的位置信息計算裝置對應(yīng)于鄰近像素地址 計算器332。
例如，在權(quán)利要求中的連續(xù)缺陷確定裝置對應(yīng)于像素共有缺陷 確定單元333。
例如，在權(quán)利要求中的輸入圖像對應(yīng)于步驟S901。例如，確定 每個像素是否為缺陷像素對應(yīng)于步驟S903。例如，確定被確定為缺 陷像素的像素是否包括在缺陷像素組中對應(yīng)于步驟S906或S909。 例如，確定每個^f象素的類型對應(yīng)于步驟S904。例如，選擇周邊^(qū)象素對應(yīng)于步驟S907、 S910或S911 。例如，計算內(nèi)插值對應(yīng)于步驟S912。 例如，替換值對應(yīng)于步驟S914。
在本發(fā)明的實(shí)施例中所述的處理程序可以被視為包括一系列 步驟的方法、或使計算機(jī)執(zhí)行這一系列步驟的程序、或存儲程序的
T己錄^h質(zhì)。
權(quán)利要求
1. 一種成像裝置，包括缺陷像素存儲裝置，用于存儲包括在成像器件中的多個像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺陷像素組是否包括與所述位置信息相關(guān)的所述缺陷像素的像素缺陷信息，所述位置信息與所述像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)；圖像輸入裝置，用于輸入通過所述成像器件拍攝的圖像；缺陷像素確定裝置，用于基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述位置信息確定所述輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；像素共有缺陷確定裝置，用于基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述像素缺陷信息確定被確定為缺陷像素的所述像素是否包括在所述缺陷像素組中；像素類型確定裝置，用于確定所述輸入圖像中的所述每個像素的類型；內(nèi)插像素選擇裝置，用于基于所述缺陷像素的所述類型和表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素組中的確定結(jié)果，選擇被確定為所述缺陷像素的所述像素的周邊像素；內(nèi)插值計算裝置，用于基于所選擇的周邊像素的值計算被確定為缺陷像素的所述像素的內(nèi)插值；以及內(nèi)插值替換裝置，用于用計算得到的內(nèi)插值替換被確定為缺陷像素的所述像素的值。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像裝置，其中，所述缺陷像素存儲裝置存儲包括在所述缺陷像素組中的所述缺陷像素之一 的所述位置信息和所述像素缺陷信 自所述成像裝置進(jìn)一步包括位置信息計算裝置，用于基 于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述缺陷像素組中所包 括的所述缺陷像素之一 的所述位置信息，計算在包括所述缺陷 像素的所述缺陷像素組中的其他缺陷像素的位置信息，其中，所述缺陷像素確定裝置基于存儲在所述缺陷像素 存儲裝置中的所述位置信息和所述計算得到的位置信息確定 所述輸入圖l象中的每個像素是否為缺陷像素，以及其中，所述像素共有缺陷確定裝置基于所述計算得到的 位置信息來確定被確定為缺陷像素的所述像素是否包括在所 述缺陷^象素組中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像裝置，其中，所述缺陷像素組為包括多個鄰近缺陷像素的像素組。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像裝置，其中，所述成像器件包括具有像素共有結(jié)構(gòu)的像素組，以及其中，所述缺陷像素組是其中包括在具有所述像素共有 結(jié)構(gòu)的所述4象素組中的多個l象素具有缺陷的<象素組。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的成像裝置，其中，具有對角線像素陣列的濾色片被安裝在所述成像 器件的光4矣收單元上，以及其中，具有所述像素共有結(jié)構(gòu)的所述像素組包括所述對角線像素陣列中的4個鄰近像素。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像裝置，進(jìn)一步包括連續(xù)缺陷確定裝置，用于基于被確定為缺陷像素的所述 4象素的所述位置信息來確定被確定為缺陷像素的所述<象素的 鄰近像素是否為缺陷像素，其中，所述內(nèi)插像素選擇裝置基于所述缺陷像素的類型、 表示在所述缺陷像素組中是否包括所述缺陷<象素的確定結(jié)果 和表示被確定為缺陷像素的所述像素的所述鄰近像素是否為 缺陷像素的確定結(jié)果，選擇被確定為缺陷像素的所述像素的周 邊像素。
7. —種缺陷像素校正裝置，包括缺陷像素存儲裝置，用于存儲包括在成像器件中的多個 像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺 陷像素組是否包括與所述位置信息相關(guān)的所述缺陷像素的像 素缺陷信息，所述位置信息與所述像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)；圖像輸入裝置，用于輸入通過所述成像器件拍攝的圖像； 缺陷像素確定裝置，用于基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述位置信息確定所述輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；像素共有缺陷確定裝置，用于基于存儲在所述缺陷像素 存儲裝置中的所述像素缺陷信息確定被確定為缺陷像素的所 述像素是否包括在所述缺陷像素組中；像素類型確定裝置，用于確定所述輸入圖像中的所述每 個4象素的類型；內(nèi)插像素選擇裝置，用于基于所述缺陷像素的所述類型 和表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素組中的確定結(jié)果，選擇被確定為所述缺陷像素的所述像素的周邊像素；內(nèi)插值計算裝置，用于基于所選的周邊像素的值計算被 確定為缺陷像素的所述像素的內(nèi)插值；以及內(nèi)插值替換裝置，用于用計算得到的內(nèi)插值替換被確定 為缺陷像素的所述像素的值。
8. —種成像裝置中的缺陷像素校正方法，所述成像裝置包括缺 陷像素存儲裝置，用于存儲包括在成像器件中的多個像素中的 缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺陷像素組 是否包括與所述位置信息相關(guān)的所述缺陷像素的像素缺陷信 息，所述位置信息與所述像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)，所述缺陷像素 才交正方法包括步驟輸入通過所述成像器件拍攝的圖像；基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述位置信息確 定所述輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述像素缺陷信 息確定被確定為缺陷像素的所述像素是否包括在所述缺陷像 素組中；確定所述輸入圖像中的所述每個像素的類型；基于所述缺陷像素的所述類型和表示所述缺陷像素是否 包括在所述缺陷像素組中的確定結(jié)果，選擇^^皮確定為所述缺陷 像素的所述像素的周邊像素；基于所選的周邊像素的值計算被確定為缺陷像素的所述 像素的內(nèi)插值；以及用所述計算得到的內(nèi)插值替換被確定為缺陷像素的所述 像素的值。
9. 一種使計算機(jī)在成像裝置中執(zhí)行以下步驟的程序，在成像裝置 中包括缺陷像素存儲裝置，用于存儲包括在成像器件中的多 個像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的 缺陷像素組是否包括與所述位置信息相關(guān)的所述缺陷像素的 像素缺陷信息，所述位置信息與所述像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)輸入通過所述成像器件拍攝的圖像；基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述位置信息確 定在所述輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；基于存儲在所述缺陷像素存儲裝置中的所述像素缺陷信 息確定#1確定為缺陷〗象素的所述像素是否包括在所述缺陷像 素組中；確定在所述輸入圖像中的所述每個像素的類型；基于所述缺陷像素的所述類型和表示所述缺陷像素是否 包括在所述缺陷 <象素組中的確定結(jié)果，選擇^皮確定為所述擊夾陷 像素的所述像素的周邊像素；基于所選的周邊像素的值計算被確定為缺陷像素的所述 1象素的內(nèi)插值；以及用計算得到的內(nèi)插值替換被確定為缺陷像素的所述像素 的值。
10. —種成像裝置，包括缺陷像素存儲單元，用于存儲包括在成像器件中的多個 像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺陷像素組是否包括與所述位置信息相關(guān)的所述缺陷像素的像素缺陷信息，所述位置信息與所述像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)；圖像輸入單元，用于輸入通過所述成像器件拍攝的圖像；缺陷像素確定單元，用于基于存儲在所述缺陷像素存儲 單元中的所述位置信息確定在所述輸入圖像中的每個像素是 否為缺陷像素；像素共有缺陷確定單元，用于基于存儲在所述缺陷像素 存儲單元中的所述像素缺陷信息確定^皮確定為缺陷像素的所 述像素是否包括在所述缺陷像素組中；像素類型確定單元，用于確定在所述輸入圖像中的所述 每個像素的類型；內(nèi)插像素選擇單元，用于基于所述缺陷像素的所述類型 和表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素組中的確定結(jié) 果，選擇被確定為所述缺陷像素的所述像素的周邊像素；內(nèi)插值計算單元，用于基于所選的周邊像素的值計算被 確定為缺陷像素的所述像素的內(nèi)插值；以及內(nèi)插值替換單元，用于用計算得到的內(nèi)插值替換被確定 為缺陷像素的所述像素的值。
11. 一種缺陷像素校正裝置，包括缺陷像素存儲單元，用于存儲包括在成像器件中的多個 像素中的缺陷像素的位置信息和表示包括多個缺陷像素的缺 陷像素組是否包括與所述位置信息相關(guān)的所述缺陷像素的像 素缺陷信息，所述位置信息與所述像素缺陷信息相關(guān)聯(lián)；圖像輸入單元，用于輸入通過所述成像器件拍攝的圖像；缺陷像素確定單元，用于基于存儲在所述缺陷像素存儲 單元中的所述位置信息確定在所述輸入圖像中的每個像素是否為缺陷像素；像素共有缺陷確定單元，用于基于存儲在所述缺陷像素 存儲單元中的所述像素缺陷信息確定被確定為缺陷像素的所 述像素是否包括在所述缺陷像素組中；像素類型確定單元，用于確定在所述輸入圖像中的所述 每個像素的類型；內(nèi)插像素選擇單元，用于基于所述缺陷像素的所述類型 和表示所述缺陷像素是否包括在所述缺陷像素組中的確定結(jié) 果，選擇被確定為所述缺陷像素的所述像素的周邊像素；內(nèi)插值計算單元，用于基于所選的周邊像素的值計算被 確定為缺陷像素的所述像素的內(nèi)插值；以及內(nèi)插值替換單元，用于通過計算得到的內(nèi)插值替換被確 定為缺陷像素的所述像素的值。
全文摘要
本發(fā)明提供了成像裝置、缺陷像素校正裝置、裝置中的處理方法和程序，成像裝置包括缺陷像素存儲單元，存儲缺陷像素的位置信息和像素缺陷信息；圖像輸入單元，輸入圖像；缺陷像素確定單元，基于位置信息確定每個像素是否為缺陷像素；像素共有缺陷確定單元，基于像素缺陷信息確定缺陷像素是否包括在缺陷像素組中；像素類型確定單元，確定每個像素的類型；內(nèi)插像素選擇單元，基于缺陷像素的類型和表示缺陷像素是否包括在缺陷像素組中的確定結(jié)果選擇被確定為缺陷像素的像素的周邊像素；內(nèi)插值計算單元，基于所選的周邊像素的值計算被確定為缺陷像素的像素的內(nèi)插值；內(nèi)插內(nèi)插值替換單元，用計算得到的內(nèi)插值替換被確定為缺陷像素的像素的值。
文檔編號H04N5/378GK101304484SQ20081009691
公開日2008年11月12日 申請日期2008年5月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月7日
發(fā)明者大槻博樹 申請人:索尼株式會社