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      射頻測(cè)試方法與裝置的制作方法

      文檔序號(hào):7897509閱讀:753來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:射頻測(cè)試方法與裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明是有關(guān)于一種射頻(radio frequency,即RF)測(cè)試方法與裝置。
      背景技術(shù)
      某些行業(yè)經(jīng)常需要進(jìn)行射頻測(cè)試,例如產(chǎn)品供貨商或大型量販店等物流業(yè)者會(huì)將無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽(radio frequency identification tag,簡(jiǎn)稱為RFIDtag)貼附在各種不同產(chǎn)品上,而無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽很容易受到各種產(chǎn)品影響而產(chǎn)生性能的變化,需要改變貼附位置并改變標(biāo)簽種類才能應(yīng)付各種產(chǎn)品的應(yīng)用。對(duì)這些業(yè)者而言,無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率測(cè)試極為重要。所謂啟動(dòng)功率是一個(gè)臨界值,當(dāng)無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器向無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽發(fā)射信號(hào),只要無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽接收到的信號(hào)功率達(dá)到其啟動(dòng)功率,就能啟動(dòng)無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽,使無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽發(fā)出響應(yīng)信號(hào)。這種射頻測(cè)試,最理想的環(huán)境是無(wú)響室(anechoic chamber),因?yàn)楸椴荚跓o(wú)響室內(nèi)的吸波體(absorber)可避免射頻信號(hào)在傳遞中產(chǎn)生的反射及散射等干擾所造成的測(cè)量誤差,但是無(wú)響室的建置費(fèi)用昂貴,還需要昂貴的特殊設(shè)備和專業(yè)人員操作。所以即使以租借方式,所需費(fèi)用也很高,而且需要配合租借廠商的地點(diǎn)和時(shí)間。然而,如果不在無(wú)響室內(nèi)測(cè)試,而是在無(wú)響室外的非理想環(huán)境進(jìn)行測(cè)試,一定會(huì)產(chǎn)生相當(dāng)程度的誤差,而且在不同環(huán)境或條件下測(cè)試會(huì)有不同結(jié)果。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的實(shí)施例提供一種射頻測(cè)試方法與裝置,其亦可以解決上述的在無(wú)響室以外測(cè)試的問(wèn)題。本發(fā)明提出一射頻測(cè)試方法實(shí)施例,此方法包括下列步驟??刂埔唤邮掌髋c一發(fā)射器的發(fā)射天線朝一方向移動(dòng),其中發(fā)射器經(jīng)由發(fā)射天線向接收器發(fā)射一無(wú)線信號(hào)。每當(dāng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)的多個(gè)取樣點(diǎn)其中之一時(shí),測(cè)量一特定功率。此特定功率為使接收器接收無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到一臨界值所需的發(fā)射器的最低發(fā)射功率,或發(fā)射器以一固定功率發(fā)射無(wú)線信號(hào)時(shí),接收器接收無(wú)線信號(hào)的接收功率。在上述移動(dòng)與測(cè)量步驟中,接收器和發(fā)射天線的相對(duì)距離與相對(duì)角度固定不變,上述無(wú)線信號(hào)的頻率也固定不變。本發(fā)明還提出一射頻測(cè)試裝置實(shí)施例,此裝置包括一載具、一發(fā)射器的發(fā)射天線、 一驅(qū)動(dòng)模塊、以及一控制單元。有一個(gè)接收器固定于載具上。發(fā)射器經(jīng)由發(fā)射天線向接收器發(fā)射一無(wú)線信號(hào)。驅(qū)動(dòng)模塊根據(jù)控制單元的指令,驅(qū)動(dòng)載具與發(fā)射天線朝一方向移動(dòng)。每當(dāng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)的多個(gè)取樣點(diǎn)其中之一時(shí),控制單元測(cè)量上述的特定功率。在上述的移動(dòng)和測(cè)量過(guò)程中,接收器和發(fā)射天線的相對(duì)距離與相對(duì)角度固定不變,上述無(wú)線信號(hào)的頻率也固定不變。為讓上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉實(shí)施例,并配合所附圖式作詳細(xì)說(shuō)明如下。



      110 120 流程步驟 220 接收器 300 射頻測(cè)試裝置 304 旋臂 308 活動(dòng)臂 312 垂直桿件 316 驅(qū)動(dòng)模塊 320 轉(zhuǎn)輪
      410 430 流程步驟
      210 發(fā)射天線
      240 M3:無(wú)線信號(hào)傳遞方向 302 載具 306 支點(diǎn) 310 發(fā)射天線 314 底座 318 控制單元 322 信號(hào)傳輸線 510 530,630 特定功率曲線
      710 730,810 840 流程步驟
      具體實(shí)施例方式圖1是依照本發(fā)明一實(shí)施例的一種射頻測(cè)試方法的流程圖。此方法可以協(xié)助評(píng)估非無(wú)響室的測(cè)試環(huán)境所產(chǎn)生的誤差范圍,幫助使用者選取或設(shè)計(jì)誤差較少的測(cè)試環(huán)境。依照本發(fā)明的實(shí)施例的射頻測(cè)試方法與裝置讓使用者亦可于不需要無(wú)響室時(shí)進(jìn)行測(cè)試,且經(jīng)由預(yù)估、探測(cè)、修正、及修正后探測(cè),可有彈性地選取和建立無(wú)響室以外的測(cè)試環(huán)境,并且在預(yù)估的容許范圍內(nèi)進(jìn)行射頻測(cè)試。在步驟110,使用基本公式預(yù)估測(cè)試環(huán)境的影響所產(chǎn)生的誤差值,并實(shí)際測(cè)量環(huán)境影響所產(chǎn)生的誤差值(步驟120)。在說(shuō)明上述兩步驟之前,請(qǐng)參照?qǐng)D2。圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試環(huán)境示意圖。圖2的測(cè)試中,有一個(gè)發(fā)射器(未繪示)經(jīng)由其發(fā)射天線210向接收器220發(fā)射測(cè)試用的無(wú)線信號(hào)。舉例而言,如果上述的射頻測(cè)試是測(cè)試無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,則發(fā)射天線210就是無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的發(fā)射天線,接收器220就是待測(cè)的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽或測(cè)試用的其它無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽(例如后述的代表性標(biāo)簽),發(fā)射天線210發(fā)射的無(wú)線信號(hào)就是用來(lái)讀取無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的信號(hào)。由于發(fā)射天線210的輻射特性,以及非理想環(huán)境中有眾多物體會(huì)反射無(wú)線信號(hào), 接收器220接收到的無(wú)線信號(hào)其實(shí)是來(lái)自不同方向的無(wú)線信號(hào)的迭加結(jié)果。這些方向包括從發(fā)射天線210直接到達(dá)接收器220的方向M0、經(jīng)由地板反射而到達(dá)接收器220的方向 Ml、經(jīng)由天花板反射而到達(dá)接收器220的方向M2、以及經(jīng)由墻壁反射而到達(dá)接收器220的方向?qū)?。若是在無(wú)響室測(cè)試時(shí),只會(huì)有來(lái)自方向240的無(wú)線信號(hào),沒(méi)有方向241至M3的反射信號(hào)。但是在圖2的非理想環(huán)境中,來(lái)自方向241至M3的無(wú)線信號(hào)各有不同的振幅與相位差,會(huì)干擾來(lái)自方向240的無(wú)線信號(hào),造成測(cè)試誤差,這就是無(wú)響室以外的非理想環(huán)境的影響。在非理想環(huán)境中,會(huì)反射射頻信號(hào)的常見(jiàn)物體包括附近的墻壁、地板、天花板、汽車、電線桿、路燈桿以及任何金屬物體。在步驟110,由于測(cè)試環(huán)境中各種物體的射頻信號(hào)反射特性、尺寸大小、以及表面結(jié)構(gòu)等因素都會(huì)影響反射信號(hào)強(qiáng)度,這些因素的組合非常復(fù)雜,想做到準(zhǔn)確預(yù)估非常困難。 不過(guò),可使用弗利斯傳導(dǎo)公式(Friis transmissionequation)作為步驟110的基本公式, 以計(jì)算信號(hào)反射所產(chǎn)生的誤差的近似值。只要給定發(fā)射天線各角度增益值、反射系數(shù)、各方向的反射物體距離,就可以利用弗利斯傳導(dǎo)公式計(jì)算測(cè)試環(huán)境中各方向的反射信號(hào)所產(chǎn)生的最大誤差值。弗利斯傳導(dǎo)公式是已經(jīng)存在的傳統(tǒng)技術(shù),在此不予贅述。若依照計(jì)算結(jié)果, 發(fā)現(xiàn)有太強(qiáng)的反射信號(hào),使用者可以在影響較大的方向擺放吸波體以調(diào)整測(cè)試環(huán)境,將吸波體的衰減值并入計(jì)算。如果使用吸波體之后,測(cè)試誤差仍然超出容許范圍,使用者可以擺放更多吸波體,或選取另一個(gè)測(cè)試環(huán)境,并重復(fù)以上計(jì)算,直到環(huán)境所造成的最大誤差值在容許范圍內(nèi)。在圖1的步驟110以基本公式預(yù)估環(huán)境反射所造成的誤差值,可評(píng)估一個(gè)測(cè)試環(huán)境中有哪些物體的反射干擾比較嚴(yán)重,以及反射所造成的誤差是否超出容許范圍。也就是說(shuō),可初步評(píng)估一個(gè)非理想的測(cè)試環(huán)境是否可用。不過(guò)如上所述,步驟110所預(yù)估的誤差只是近似值,所以還必須在步驟120實(shí)際測(cè)量環(huán)境反射所造成的誤差,有實(shí)際數(shù)據(jù)才能真正決定一個(gè)測(cè)試環(huán)境是否可用。圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例的一種射頻測(cè)試裝置300的示意圖。射頻測(cè)試裝置 300可以在無(wú)響室以外的測(cè)試環(huán)境自動(dòng)執(zhí)行步驟120的實(shí)際測(cè)量。射頻測(cè)試裝置300包括載具302、旋臂304、活動(dòng)臂308、發(fā)射器的發(fā)射天線310、垂直桿件312、底座314、多個(gè)轉(zhuǎn)輪 320、驅(qū)動(dòng)模塊316、信號(hào)傳輸線322、以及控制單元318??蓪⒁粋€(gè)接收器固定在載具302之上,由發(fā)射器經(jīng)由發(fā)射天線310向上述接收器發(fā)射無(wú)線信號(hào),以進(jìn)行射頻測(cè)試。上述接收器對(duì)應(yīng)圖2的接收器220,而發(fā)射天線310對(duì)應(yīng)圖2的發(fā)射天線210。上述發(fā)射器受控制單元 318控制。發(fā)射器可以固定在底座314,隨底座314 —起移動(dòng),或如同控制單元318,獨(dú)立于底座314之外,或直接并入控制單元318。載具302和發(fā)射天線310都固定在旋臂304,旋臂304通過(guò)支點(diǎn)306樞設(shè)于活動(dòng)臂308?;顒?dòng)臂308可沿垂直桿件312上下滑動(dòng)。垂直桿件312固定在底座314。多個(gè)轉(zhuǎn)輪320設(shè)置在底座314的底部??刂茊卧?18經(jīng)由傳輸線322耦接驅(qū)動(dòng)模塊316。驅(qū)動(dòng)模塊316可依據(jù)控制單元318的控制指令,驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)輪320在地面上朝前后左右等方向移動(dòng),也可驅(qū)使活動(dòng)臂308沿垂直桿件312上下移動(dòng),也可驅(qū)使旋臂304和載具302轉(zhuǎn)動(dòng)?;顒?dòng)臂308的上下移動(dòng)以及轉(zhuǎn)輪320的前后左右移動(dòng)可提供三軸的移動(dòng)自由度。 旋臂304可以支點(diǎn)306為軸旋轉(zhuǎn),載具302有兩軸的旋轉(zhuǎn)自由度。如圖3所示,旋臂304的一個(gè)轉(zhuǎn)軸和載具302的兩個(gè)轉(zhuǎn)軸彼此正交,可提供三軸的旋轉(zhuǎn)自由度,這有助于射頻測(cè)試, 例如無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率需要在各種角度測(cè)試??刂茊卧?18控制上述的移動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng),以進(jìn)行步驟120的實(shí)際測(cè)量。本實(shí)施例的控制單元318是筆記本型計(jì)算機(jī)或任何種類的處理器,但不以此為限??刂茊卧?18和驅(qū)動(dòng)模塊316之間也可以去除信號(hào)傳輸線322,采用無(wú)線的連接方式。
      圖3只是射頻測(cè)試裝置300的示意圖,其中并未繪示達(dá)成上述移動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)所需的各種機(jī)構(gòu)細(xì)節(jié),這些機(jī)構(gòu)細(xì)節(jié)可用目前已知的相關(guān)技術(shù)達(dá)成,在此不予贅述。對(duì)于步驟110的預(yù)估之中,反射干擾較嚴(yán)重的每一個(gè)反射物體,都必須執(zhí)行步驟 120的實(shí)際測(cè)量。具體來(lái)說(shuō),對(duì)于每一個(gè)反射物體,可在趨近該物體或遠(yuǎn)離該物體的方向移動(dòng)發(fā)射天線和接收器,依據(jù)此兩者和反射物體的距離預(yù)設(shè)多個(gè)取樣點(diǎn),在每個(gè)取樣點(diǎn)測(cè)量一個(gè)特定功率。此特定功率可以是使接收器接收上述無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到一個(gè)預(yù)設(shè)臨界值所需的發(fā)射器的最低發(fā)射功率。這樣的實(shí)際測(cè)量可以在整個(gè)測(cè)試環(huán)境的眾多反射物體當(dāng)中,隔離并獲取每一個(gè)反射物體所造成的測(cè)試誤差大小,以協(xié)助使用者評(píng)估測(cè)試環(huán)境。除了上述的針對(duì)每一個(gè)反射物體做移動(dòng)測(cè)量,也可以改為對(duì)測(cè)試環(huán)境的三維空間的X、Y、Z坐標(biāo)軸做移動(dòng)測(cè)量。每次只沿著一個(gè)坐標(biāo)軸移動(dòng),其它兩軸不移動(dòng),同樣是在每個(gè)預(yù)設(shè)取樣點(diǎn)測(cè)量一次特定功率。圖4繪示射頻測(cè)試裝置300執(zhí)行步驟120的實(shí)際測(cè)量流程。首先,將接收器固定在載具302之上,然后驅(qū)動(dòng)模塊316根據(jù)控制單元318的指令,驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)輪320以移動(dòng)底座 314,使固定在旋臂304的載具302和發(fā)射天線310—起朝一方向移動(dòng)(步驟410)。如上所述,此方向可以是趨近或遠(yuǎn)離某一個(gè)反射物體的方向,或與X、Y、Z坐標(biāo)軸其中之一平行的方向。控制單元318檢查底座314是否已移動(dòng)到預(yù)設(shè)的多個(gè)取樣點(diǎn)其中之一(步驟420)。 如果尚未移動(dòng)至取樣點(diǎn),則流程回到步驟410,繼續(xù)移動(dòng)。如果已移動(dòng)到取樣點(diǎn),則控制單元 318測(cè)量上述的特定功率(步驟430),然后返回步驟410,朝下一個(gè)取樣點(diǎn)移動(dòng)。在圖4的移動(dòng)與測(cè)量過(guò)程中,接收器和發(fā)射天線310的相對(duì)距離與相對(duì)角度必須固定不變,發(fā)射天線310所發(fā)射的無(wú)線信號(hào)的頻率也必須固定不變,如此特定功率的測(cè)量才有意義。圖4流程必須針對(duì)測(cè)試環(huán)境中反射干擾較明顯的每一個(gè)反射物體各執(zhí)行一次, 或針對(duì)測(cè)試環(huán)境的每一個(gè)三維坐標(biāo)軸各執(zhí)行至少一次。步驟120的實(shí)際測(cè)量,若以上述的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率測(cè)試為例,則接收器可以是待測(cè)的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽(以下簡(jiǎn)稱為待測(cè)標(biāo)簽)或校正用的代表性標(biāo)簽(細(xì)節(jié)后述), 發(fā)射器是無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器,無(wú)線信號(hào)是無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器讀取待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽所需的信號(hào)。若接收器是待測(cè)標(biāo)簽,則特定功率的上述臨界值就是待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率。 若接收器是代表性標(biāo)簽,則特定功率的上述臨界值就是代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率。所以,特定功率就是使待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽接收無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到其啟動(dòng)功率所需的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的最低發(fā)射功率。舉例而言,如果在一個(gè)空曠的測(cè)試環(huán)境中,例如停車場(chǎng)中,測(cè)量無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,則主要的反射信號(hào)來(lái)自地面。此時(shí)可以在離地面的幾個(gè)不同高度預(yù)設(shè)取樣點(diǎn),控制射頻測(cè)試裝置300的活動(dòng)臂308上下移動(dòng),在每個(gè)取樣點(diǎn)測(cè)量特定功率,測(cè)量所得的數(shù)據(jù)例如圖5所示。其中圖5的縱軸是特定功率,單位是dBm ;橫軸是發(fā)射天線和待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽距離地面的高度,單位是公分。曲線510和520是在步驟110用基本公式計(jì)算所得的特定功率上限和下限,曲線510和520之間的差距代表理論計(jì)算所得的特定功率誤差范圍。曲線530是步驟120的實(shí)際測(cè)量所得的特定功率曲線,曲線530的上下擺動(dòng)幅度代表實(shí)際測(cè)量所得的特定功率誤差范圍。曲線530會(huì)上下擺動(dòng)是因?yàn)楹头瓷湮矬w(地面)之間的距離變化,會(huì)使無(wú)線信號(hào)與其反射信號(hào)的相位差隨之變化,兩信號(hào)的波形會(huì)隨上述距離迭加或抵消。迭加時(shí)僅需要較低的特定功率就能啟動(dòng)待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽,互相抵消時(shí)則需要較高的特定功率才能啟動(dòng)待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽。如圖5所示,隨著和反射物體之間的距離增加,反射所造成的誤差會(huì)逐漸收斂。也就是說(shuō),特定功率的變動(dòng)范圍會(huì)隨著上述距離的增加而縮小,使測(cè)量所得的數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。若使用者覺(jué)得收斂后的誤差范圍仍然太大,無(wú)法接受,可以嘗試移動(dòng)反射物體,或在發(fā)射天線和反射物體之間的關(guān)鍵位置放置吸波體。吸波體的位置必須能消除反射物體所反射的無(wú)線信號(hào),例如可將吸波體放在發(fā)射天線和待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽下方的地面上, 使反射信號(hào)衰減。圖6是在圖5的測(cè)試中放置吸波體的測(cè)量結(jié)果,圖6的縱軸同樣是特定功率,橫軸同樣是發(fā)射天線和待測(cè)標(biāo)簽或代表性標(biāo)簽距離地面的高度。曲線630是放置吸波體之后,在步驟120的實(shí)際測(cè)量所得的特定功率曲線。由圖6可以看出,放置吸波體可以縮小特定功率的誤差變動(dòng)范圍,使測(cè)試環(huán)境更加理想。上述的放置吸波體之后再實(shí)際測(cè)量的步驟,可以用來(lái)評(píng)估目前使用的吸波體是否足以改善測(cè)試環(huán)境。如果反射物體可以移動(dòng),則除了移動(dòng)射頻測(cè)試裝置300以外,也可以讓射頻測(cè)試裝置300保持靜止而移動(dòng)反射物體,如此測(cè)量特定功率同樣可得到如圖5和圖6所示的結(jié)果。如圖5和圖6所示的實(shí)際測(cè)量,可以從眾多反射源當(dāng)中萃取其中任一反射源的信號(hào)反射特性以及對(duì)待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率測(cè)試的誤差的貢獻(xiàn)。在選擇測(cè)試位置或安裝吸波體時(shí), 只要觀察到實(shí)際測(cè)量所得的特定功率誤差范圍縮小到可接受的程度即可。為了使上述的實(shí)際測(cè)量取得準(zhǔn)確而且有意義的結(jié)果,在測(cè)試環(huán)境的眾多反射波之中,必須確保只有單一反射波隨著射頻測(cè)試裝置300或反射物體的移動(dòng)而改變其相位差, 而且在眾多的反射波當(dāng)中,欲萃取的反射波必須小于其它反射波和發(fā)射天線的主發(fā)射波的總禾口。如上所述,經(jīng)過(guò)步驟110的公式計(jì)算和步驟120的實(shí)際測(cè)量,可讓使用者評(píng)估一個(gè)無(wú)響室之外的測(cè)試環(huán)境是否堪用。使用者可用圖1的射頻測(cè)試方法,獨(dú)立分析各方向的環(huán)境反射影響,統(tǒng)計(jì)測(cè)試環(huán)境所產(chǎn)生的最大誤差值,可以更精確地確認(rèn)測(cè)試環(huán)境是否符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。圖1的射頻測(cè)試方法也能幫助使用者決定測(cè)試地點(diǎn)和每一個(gè)反射物體之間的較佳距離,或測(cè)試地點(diǎn)在整個(gè)測(cè)試環(huán)境之內(nèi)的較佳位置,以控制測(cè)量誤差在可容許范圍內(nèi)。如果測(cè)量誤差無(wú)法收斂在容許范圍之內(nèi),可以嘗試移動(dòng)反射物體的位置,或在關(guān)鍵位置放置吸波體,以改善測(cè)試環(huán)境,然后再進(jìn)行一次步驟120的實(shí)際測(cè)量,如此循環(huán),或直接選取另一個(gè)測(cè)試環(huán)境。當(dāng)實(shí)際測(cè)量所得的最大誤差可以收斂在容許范圍之內(nèi),就是一個(gè)可用的測(cè)試環(huán)境。雖然這種測(cè)試的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度不如在無(wú)響室內(nèi)進(jìn)行的測(cè)試,但是測(cè)量誤差可以控制在可容許且確定的范圍,而且測(cè)試成本遠(yuǎn)低于無(wú)響室的測(cè)試成本,也更加便捷。圖7是依照本發(fā)明另一實(shí)施例的一種射頻測(cè)試方法的流程圖,其中步驟710和720 分別與圖1的步驟110和120相同。圖7和圖1的主要區(qū)別是在步驟720確定測(cè)試環(huán)境可堪使用之后,控制單元318會(huì)使用一個(gè)代表性標(biāo)簽(r印resentative tag)執(zhí)行校正程序, 以計(jì)算待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率(步驟730)。上述的代表性標(biāo)簽是另一個(gè)無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽,而且代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率已經(jīng)在無(wú)響室中測(cè)量過(guò),是準(zhǔn)確的已知數(shù)值。利用代表性標(biāo)簽,可以使待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率測(cè)量更準(zhǔn)確。圖8繪示控制單元318執(zhí)行步驟730的流程。首先,將代表性標(biāo)簽固定在載具302 之上??刂茊卧?18測(cè)量使代表性標(biāo)簽接收無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的第一最低發(fā)射功率Pri (步驟810)。然后控制單元318將第一最低發(fā)射功率Pri減去代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率Pttjl以計(jì)算校正值P。al (步驟820)。算出校正值P—之后,進(jìn)行待測(cè)標(biāo)簽的測(cè)試。先將待測(cè)標(biāo)簽固定在載具302(步驟830)??刂茊卧?318測(cè)量使待測(cè)標(biāo)簽接收無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的第二最低發(fā)射功率Prt (步驟830)。然后控制單元318將第二最低發(fā)射功率Prt 減去校正值P。al以計(jì)算待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率Pt。2 (步驟840)。圖8流程可用下列的公式(1)、 (2)表示。Pcal = Prl-Ptoi.......................................(1)Pto2 = Pr2-Pcal.......................................(2)控制單元318可以控制無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器,從最低發(fā)射功率開(kāi)始逐步提高其發(fā)射功率,或使用二分搜尋法(binary search),以測(cè)量最低發(fā)射功率Pri和Prt。依照?qǐng)D8流程計(jì)算出的待測(cè)標(biāo)簽啟動(dòng)功率會(huì)比采用非代表性標(biāo)簽更加準(zhǔn)確。圖8流程必須在固定地點(diǎn)進(jìn)行,期間不可移動(dòng)。此外,待測(cè)標(biāo)簽的天線與代表性標(biāo)簽的天線在每一角度的增益值都必須相似,至少要符合以下條件若無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器在某一個(gè)角度無(wú)法讀取代表性標(biāo)簽與待測(cè)標(biāo)簽其中之一,則上述無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器在該角度也無(wú)法讀取代表性標(biāo)簽與待測(cè)標(biāo)簽其中的另一個(gè)標(biāo)簽。待測(cè)標(biāo)簽可能貼附在某一產(chǎn)品或其它測(cè)試對(duì)象上測(cè)量其啟動(dòng)功率,在貼附的情況下,代表性標(biāo)簽必須和貼附在測(cè)試對(duì)象上的待測(cè)標(biāo)簽符合上述的相似條件。圖8流程是在無(wú)響室以外的非理想測(cè)試環(huán)境進(jìn)行,因?yàn)橛蟹瓷洳ǜ蓴_,在圖8流程測(cè)得的最低發(fā)射功率Pri和Pm其數(shù)值和無(wú)響室中測(cè)得的并不相同。不過(guò),Pri和Prt是在同一個(gè)測(cè)試環(huán)境的同一地點(diǎn)測(cè)得,而且代表性標(biāo)簽和待測(cè)標(biāo)簽的天線增益值符合上述的相似條件,所以代表性標(biāo)簽和待測(cè)標(biāo)簽適用同一個(gè)校正值p。al,可利用以上的公式(1)、(2)取得準(zhǔn)確的待測(cè)標(biāo)簽啟動(dòng)功率Pt。2。利用代表性標(biāo)簽可以在有反射的非理想環(huán)境下大幅提升測(cè)試準(zhǔn)確度。雖然代表性標(biāo)簽需要無(wú)響室以測(cè)量其啟動(dòng)功率,但是只要符合上述相似條件,同一個(gè)代表性標(biāo)簽可用在無(wú)響室外的環(huán)境中測(cè)試多個(gè)待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率。平均下來(lái)依然可降低測(cè)試成本,而且能使待測(cè)標(biāo)簽的測(cè)試非常準(zhǔn)確。對(duì)于產(chǎn)品制造廠商和物流業(yè)者來(lái)說(shuō),無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽通常貼附在各種產(chǎn)品上。因此在圖8的測(cè)量步驟830中,可將待測(cè)標(biāo)簽與其貼附的測(cè)試對(duì)象一同固定在載具302之上作為接收器,此時(shí)待測(cè)標(biāo)簽的位置必須和步驟810的代表性標(biāo)簽完全相同。如此,將待測(cè)標(biāo)簽與其貼附的產(chǎn)品一同測(cè)試,可以使無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的性能測(cè)試更加完整。無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的測(cè)試可能需要在各種不同方位角度,以各種不同頻率的射頻信號(hào)進(jìn)行??刂茊卧?18可依使用者需求,控制旋臂304和載具302進(jìn)行各種角度的旋轉(zhuǎn),也可以控制發(fā)射器發(fā)射各種不同頻率的無(wú)線信號(hào),以進(jìn)行無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽與其貼附產(chǎn)品的全面測(cè)試。因此圖8當(dāng)中,步驟810和820的校正程序以及步驟830和840的標(biāo)簽測(cè)試,都可以在各種不同方位角度,以各種不同頻率的無(wú)線信號(hào)進(jìn)行。以上的射頻測(cè)試方法與射頻測(cè)試裝置實(shí)施例很適合用在停車場(chǎng)之類的空曠環(huán)境測(cè)試無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率。不過(guò)本發(fā)明的射頻測(cè)試方法與裝置實(shí)施例并不限于測(cè)試無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽。只要是使用成對(duì)的發(fā)射器與接收器的射頻測(cè)試,都適用所揭示的射頻測(cè)試方法與射頻測(cè)試裝置實(shí)施例。例如可用一個(gè)測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器取代上述的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取
      9器,并且用一個(gè)功率儀(powermeter)與其接收天線取代上述的無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽。在此情況下,上述接收器就是功率儀的接收天線,發(fā)射器就是測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器。特定功率的定義是當(dāng)測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器以固定功率發(fā)射無(wú)線信號(hào)時(shí),功率儀所測(cè)得的接收天線接收無(wú)線信號(hào)的接收功率。這個(gè)測(cè)試方式一樣可進(jìn)行步驟120與720的實(shí)際測(cè)量。上述實(shí)施例的使用測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器和功率儀的測(cè)試方法也可以用來(lái)評(píng)估如圖3 所示的射頻測(cè)試裝置本身的建造材料是否合適。例如可使用比較便宜的材料,甚至用內(nèi)含鐵釘?shù)哪绢^等材料來(lái)建造射頻測(cè)試裝置,然后用測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器搭配功率儀的測(cè)試方法來(lái)確認(rèn)上述材料是否能將測(cè)試誤差控制在可容許的范圍內(nèi)。上述實(shí)施例的使用測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器和功率儀的測(cè)試方法也可以在包含眾多反射物體的復(fù)雜環(huán)境中測(cè)量單一物體的射頻反射特性。綜上所述,以上實(shí)施例能幫助使用者以低成本方式,有彈性地在無(wú)響室外選取或設(shè)計(jì)一個(gè)可用的測(cè)試環(huán)境,以進(jìn)行各種射頻測(cè)試。通過(guò)上述實(shí)施例的射頻測(cè)試方法與裝置, 使用者可評(píng)估測(cè)試環(huán)境的反射所導(dǎo)致的誤差,也可以評(píng)估對(duì)測(cè)試環(huán)境做各種調(diào)整所造成的影響,進(jìn)而將誤差控制在容許范圍內(nèi)。由于以上實(shí)施例不需要無(wú)響室,因此不需要專業(yè)技術(shù)人員和昂貴設(shè)備,有低成本的優(yōu)點(diǎn)。此外,以上實(shí)施例能利用代表性標(biāo)簽作校正,在有反射的環(huán)境下可大幅提升無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽啟動(dòng)功率的測(cè)量準(zhǔn)確度。雖然已以實(shí)施例揭露如上,然其并非用以限定本發(fā)明,任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾,故本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求范圍所界定者為準(zhǔn)。
      權(quán)利要求
      1.一種射頻測(cè)試方法,包括控制一接收器與一發(fā)射器的一發(fā)射天線朝一方向移動(dòng),其中該發(fā)射器經(jīng)由該發(fā)射天線向該接收器發(fā)射一無(wú)線信號(hào);以及每當(dāng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)的多個(gè)取樣點(diǎn)其中之一時(shí),測(cè)量一特定功率,其中該特定功率為使該接收器接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到一臨界值所需的該發(fā)射器的最低發(fā)射功率,或該發(fā)射器以一固定功率發(fā)射該無(wú)線信號(hào)時(shí)該接收器接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率;在上述移動(dòng)與測(cè)量步驟中,該接收器和該發(fā)射天線的相對(duì)距離與相對(duì)角度固定不變,該無(wú)線信號(hào)的頻率也固定不變。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻測(cè)試方法,其中該接收器包括一無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽,該發(fā)射器為無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器,該無(wú)線信號(hào)為該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器讀取該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽所需的信號(hào),該臨界值為該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,該特定功率為使該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的最低發(fā)射功率。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻測(cè)試方法,其中該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽為一代表性標(biāo)簽,而且該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率已在無(wú)響室中測(cè)量。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻測(cè)試方法,還包括使用一代表性標(biāo)簽計(jì)算一待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,其中該代表性標(biāo)簽與該待測(cè)標(biāo)簽皆為無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽,而且該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率已在無(wú)響室中測(cè)量。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的射頻測(cè)試方法,其中計(jì)算該待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率的步驟包括測(cè)量使該代表性標(biāo)簽接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的一第一最低發(fā)射功率;將該第一最低發(fā)射功率減去該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,以計(jì)算一校正值;測(cè)量使該待測(cè)標(biāo)簽接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到該待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的一第二最低發(fā)射功率;將該第二最低發(fā)射功率減去該校正值,以計(jì)算該待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率。
      6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的射頻測(cè)試方法,其中若該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器在某一角度無(wú)法讀取該代表性標(biāo)簽與該待測(cè)標(biāo)簽其中之一,則該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器在該角度也無(wú)法讀取該代表性標(biāo)簽與該待測(cè)標(biāo)簽其中的另一。
      7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的射頻測(cè)試方法,其中該待測(cè)標(biāo)簽貼附于一測(cè)試對(duì)象上。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻測(cè)試方法,其中該接收器包括一功率儀的一接收天線, 該發(fā)射器為一測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器,該特定功率為該測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器以該固定功率發(fā)射該無(wú)線信號(hào)時(shí),該接收天線接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率,該功率儀測(cè)量該接收功率。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻測(cè)試方法,其中該方向存在一物體,該物體反射該無(wú)線信號(hào)至該接收器。
      10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻測(cè)試方法,其中該方向存在一物體與一吸波體,該吸波體的位置使該吸波體能消除該物體所反射的該無(wú)線信號(hào)。
      11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的射頻測(cè)試方法,其中該方向包括趨近或遠(yuǎn)離該物體的方向, 或與χ、γ、ζ坐標(biāo)軸其中之一平行的方向。
      12.—種射頻測(cè)試裝置,包括一載具,其中一接收器固定于該載具上;一發(fā)射器的一發(fā)射天線,其中該發(fā)射器經(jīng)由該發(fā)射天線向該接收器發(fā)射一無(wú)線信號(hào);一驅(qū)動(dòng)模塊;以及一控制單元,其中該驅(qū)動(dòng)模塊根據(jù)該控制單元的指令驅(qū)動(dòng)該載具與該發(fā)射天線朝一方向移動(dòng);每當(dāng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)的多個(gè)取樣點(diǎn)其中之一時(shí),該控制單元測(cè)量一特定功率;該特定功率為使該接收器接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到一臨界值所需的該發(fā)射器的最低發(fā)射功率,或該發(fā)射器以一固定功率發(fā)射該無(wú)線信號(hào)時(shí)該接收器接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率; 在上述移動(dòng)和測(cè)量過(guò)程中,該接收器和該發(fā)射天線的相對(duì)距離與相對(duì)角度固定不變,該無(wú)線信號(hào)的頻率也固定不變。
      13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的射頻測(cè)試裝置,其中該接收器包括一無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽,該發(fā)射器為無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器,該無(wú)線信號(hào)為該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器讀取該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽所需的信號(hào),該臨界值為該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,該特定功率為使該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的最低發(fā)射功率。
      14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的射頻測(cè)試裝置,其中該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽為一代表性標(biāo)簽,而且該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率已在無(wú)響室中測(cè)量。
      15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的射頻測(cè)試裝置,其中該控制單元使用一代表性標(biāo)簽計(jì)算一待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率,該代表性標(biāo)簽與該待測(cè)標(biāo)簽皆為無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽,而且該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率已在無(wú)響室中測(cè)量。
      16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的射頻測(cè)試裝置,其中該控制單元測(cè)量該代表性標(biāo)簽固定于該載具時(shí),使該代表性標(biāo)簽接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的一第一最低發(fā)射功率,將該第一最低發(fā)射功率減去該代表性標(biāo)簽的啟動(dòng)功率以計(jì)算一校正值,測(cè)量該待測(cè)標(biāo)簽固定于該載具時(shí),使該待測(cè)標(biāo)簽接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到該待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率所需的該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器的一第二最低發(fā)射功率,并且將該第二最低發(fā)射功率減去該校正值以計(jì)算該待測(cè)標(biāo)簽的啟動(dòng)功率。
      17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的射頻測(cè)試裝置,其中若該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器在某一角度無(wú)法讀取該代表性標(biāo)簽與該待測(cè)標(biāo)簽其中之一,則該無(wú)線識(shí)別標(biāo)簽讀取器在該角度也無(wú)法讀取該代表性標(biāo)簽與該待測(cè)標(biāo)簽其中的另一。
      18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的射頻測(cè)試裝置,其中該待測(cè)標(biāo)簽貼附于一測(cè)試對(duì)象上。
      19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的射頻測(cè)試裝置,其中該接收器包括一功率儀的一接收天線,該發(fā)射器為一測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器,該特定功率為該測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生器以該固定功率發(fā)射該無(wú)線信號(hào)時(shí),該接收天線接收該無(wú)線信號(hào)的接收功率,該功率儀測(cè)量該接收功率。
      20.根據(jù)權(quán)利要求12所述的射頻測(cè)試裝置,其中該方向存在一物體,該物體反射該無(wú)線信號(hào)至該接收器。
      21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的射頻測(cè)試裝置,其中該方向存在一物體與一吸波體,該吸波體的位置使該吸波體能消除該物體所反射的該無(wú)線信號(hào)。
      22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的射頻測(cè)試裝置,其中該方向包括趨近或遠(yuǎn)離該物體的方向,或與X、Y、Z坐標(biāo)軸其中之一平行的方向。
      全文摘要
      一種射頻測(cè)試方法,此方法包括下列步驟。控制一接收器與一發(fā)射器的發(fā)射天線朝一方向移動(dòng),其中發(fā)射器經(jīng)由發(fā)射天線向接收器發(fā)射一無(wú)線信號(hào)。每當(dāng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)的多個(gè)取樣點(diǎn)其中之一時(shí),測(cè)量一特定功率。此特定功率為使接收器接收無(wú)線信號(hào)的接收功率達(dá)到一臨界值所需的發(fā)射器的最低發(fā)射功率,或發(fā)射器以一固定功率發(fā)射無(wú)線信號(hào)時(shí),接收器接收無(wú)線信號(hào)的接收功率。在上述移動(dòng)與測(cè)量步驟中,接收器和發(fā)射天線的相對(duì)距離與相對(duì)角度固定不變,上述無(wú)線信號(hào)的頻率也固定不變。
      文檔編號(hào)H04B17/00GK102571224SQ20101061010
      公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2010年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月16日
      發(fā)明者張博光, 徐國(guó)昌, 洪明國(guó), 游上賢 申請(qǐng)人:財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院
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