專利名稱：集成電路設備時序校準的制作方法
技術領域：
本實施例總體上涉及用于在傳送器和接收器之間傳輸數(shù)據(jù)的技術。更具體地，本實施例涉及用于提高集成電路設備數(shù)據(jù)采樣的時序準確度的方法和系統(tǒng)。


圖IA給出了圖示通過接口 101傳送數(shù)據(jù)信號和時鐘信號的系統(tǒng)的框圖。圖IB給出了圖示所接收的數(shù)據(jù)信號和采樣時鐘之間的相位關系的示例性時序圖。圖2圖示了對時序校準信號執(zhí)行的“眼開(eye-opening)”技術和“模糊中值(fuzz-median) ” 技術。 圖3圖示了當前被應用于校準信號時導致雙峰分布誤差的模糊中值技術。圖4A圖示了用于對校準信號執(zhí)行模糊中值時序校準的技術。圖4B圖示了對圖4A所描述的技術進行改進的修改技術。圖5圖示了用于對具有單種數(shù)據(jù)模式的校準信號執(zhí)行模糊中值時序校準的技術。圖6圖示了基于具有不同基準電壓的兩個數(shù)據(jù)采樣器所計算的模糊中值來確定最差情況的時序中心的技術。圖7給出了圖示包括至少一個存儲器控制器以及至少一個存儲器設備的存儲器系統(tǒng)的實施例的框圖。
具體實施例方式給出以下描述以使得本領域技術人員能夠制造和使用本發(fā)明，并且在特定示例應用及其要求的背景下提供。對所公開實施例所進行的各種修改對于本領域技術人員將是輕易地顯而易見的，并且這里所定義的一般原則可以被應用于其它實施例和應用而并不背離本發(fā)明的精神和范圍。因此，本發(fā)明并不局限于所示出的實施例，而是取決于與權利要求相一致的最寬泛范圍。以下描述給出了用于集成電路設備中的時序校準的各種示例方法和裝置。在特定實施例中，執(zhí)行兩個單獨的時序校準運行(run)。在第一校準運行期間，基于上升沿轉變(或下降沿轉變)在時序基準中確定第一時序位置。在第二校準運行期間，基于下降沿轉變(或上升沿轉變)在時序基準中確定第二時序位置。第一時序位置和第二時序位置隨后被用來得出時序偏移，該時序偏移隨后被用于在集成電路設備處對數(shù)據(jù)進行采樣。在數(shù)字系統(tǒng)中的高速數(shù)據(jù)信令期間，數(shù)據(jù)信號通過高速通道從傳送集成電路(IC)設備傳送至接收IC設備。更具體地，圖IA給出了圖示通過接口 101傳送數(shù)據(jù)信號和時鐘信號的系統(tǒng)100(例如，用于芯片對芯片通信)的框圖。系統(tǒng)100包括通過接口 101相耦合的第一 IC設備102和第二 IC設備104，該接口 101進一步包括數(shù)據(jù)通道106和時鐘通道107。IC設備102可以進一步包括數(shù)據(jù)傳送器108和時鐘傳送器109，而IC設備104可以進一步包括數(shù)據(jù)接收器110和時鐘接收器111。在芯片對芯片通信的期間，IC設備102生成數(shù)據(jù)信號112，其隨后由數(shù)據(jù)傳送器108通過數(shù)據(jù)通道106進行傳送。IC設備102還可以生成時鐘信號113，其隨后由時鐘傳送器109通過時鐘通道107進行傳送。數(shù)據(jù)信號112被IC設備104上的數(shù)據(jù)接收器110接收作為所接收的數(shù)據(jù)信號112’，而時鐘信號113則被IC設備104上的時鐘接收器111所接收。即使原始數(shù)據(jù)信號112在傳送器108處是“干凈(clean)”的，所接 收的數(shù)據(jù)信號112’也會由于符號間干擾(ISI)、抖動或接口 101中諸如有損數(shù)據(jù)通道106之類的其它噪聲源而變?yōu)椤皫г肼暤?noisy) ”。為了解析在IC設備104上的原始數(shù)據(jù)信號112，帶噪聲數(shù)據(jù)信號112’被采樣電路進行采樣，該采樣電路在圖IA的情況下為采樣電路114。注意，在基于雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)的系統(tǒng)中，采樣電路114可以包括兩個數(shù)據(jù)采樣器以在采樣時鐘交替的上升沿和下降沿對所接收的信號112’進行采樣，其中一個數(shù)據(jù)采樣器被用于上升沿而另一個數(shù)據(jù)采樣器則被用于下降沿。將這兩個數(shù)據(jù)采樣器分別稱作“偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器”和“奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器”。因此，當偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器被用于上升沿時，奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器就被用于下降沿?？商鎿Q地，當偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器被用于下降沿時，奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器就被用于上升沿。對于配備有兩個數(shù)據(jù)采樣器的基于SDR的系統(tǒng)而言，當兩個數(shù)據(jù)采樣器被單獨用于諸如時鐘信號或探測(strobe)的時序基準的交變周期上時，“偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器”和“奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器”可以被用來指代這兩個數(shù)據(jù)采樣器。采樣電路114接收數(shù)據(jù)信號112’和采樣時鐘116，其中采樣時鐘116中的時鐘邊沿確定進行采樣時的時序位置。注意，在一些實施例中，采樣時鐘116可以被探測信號所替代，并且能夠直接來自于IC設備104之外的源，諸如來自IC設備102或另一個外部時鐘源的時鐘信號113，或者可以來自于IC設備104上諸如PLL或DLL之類的時鐘生成電路。還注意到，鏈路106可以包括單向和雙向鏈路。當鏈路106是雙向鏈路時，數(shù)據(jù)信號還可以從IC設備104傳送至IC設備102，并且在這種情況下，IC設備102和IC設備104中的每一個都可以是傳送設備和接收設備。圖IB給出了圖示所接收的數(shù)據(jù)信號112’和采樣時鐘之間的相位關系的示例性時序圖。注意，所接收的數(shù)據(jù)信號112’包括帶噪聲的數(shù)據(jù)轉變分區(qū)(region)，其中每個帶噪聲數(shù)據(jù)轉變分區(qū)可以明顯寬于數(shù)據(jù)信號112中的原始數(shù)據(jù)轉變。將這些帶噪聲的數(shù)據(jù)轉變分區(qū)稱作“模糊帶”，并且圖IB中示出了三個這樣的模糊帶118、120和122。注意，每個模糊帶由并不以給定采樣相位提供正確數(shù)據(jù)的無效數(shù)據(jù)所構成。此外，在一對相鄰的模糊帶之間是數(shù)據(jù)眼(data eye)，其定義了用于數(shù)據(jù)采樣的一致有效的數(shù)據(jù)分區(qū)，例如，模糊帶118和120之間的數(shù)據(jù)眼124，以及模糊帶120和122之間的數(shù)據(jù)眼126。因此，為了讀出有效數(shù)據(jù)，采樣時鐘116中的時鐘邊沿提供在相對應的數(shù)據(jù)眼中。此外，為了使得信號讀出最大化，時鐘信號需要與經(jīng)常被稱作“時序中心”的數(shù)據(jù)眼的中心基本上對準。雖然圖IB圖示了 DDR時鐘方案，但是本技術并不局限于基于DDR的系統(tǒng)。通常，本技術的實施例可以被應用于基于單倍數(shù)據(jù)速率(SDR)的系統(tǒng)、基于DDR的系統(tǒng)、基于四倍數(shù)據(jù)速率(QDR)的系統(tǒng)、基于八倍數(shù)據(jù)速率(ODR)的系統(tǒng)或者基于其它類型的時鐘模式的系統(tǒng)。當系統(tǒng)100最初開機時，時鐘邊沿并不必與數(shù)據(jù)信號的時序中心對準。因此，通常在執(zhí)行正常系統(tǒng)操作之前執(zhí)行初始時序校準來實現(xiàn)數(shù)據(jù)和時鐘之間的這種所期望的對準。此外，在正常系統(tǒng)操作期間，最初校準的時序關系會作為操作條件(例如，溫度變化)的結果而變化。結果，可以定期對時序關系重新校準以恢復時鐘邊沿與時序中心所期望的對準。在系統(tǒng)100中，這些時序校準可以由IC設備102上的控制邏輯或IC設備104上的控制邏輯或者IC設備102和IC設備104 二者上的控制邏輯來執(zhí)行?？傮w而言，在以下討論中將執(zhí)行這些時序校準的控制邏輯稱作“時序校準邏輯”。當IC設備102是存儲器控制器而IC設備104是存儲器設備(例如，DRAM)時，可能希望使得存儲器控制器具有時序校準邏輯并且使得存儲器設備保持簡單。更具體地，在寫操作期間，存儲器控制器能夠通過改變傳送時序而向存儲器設備發(fā)出時序校準模式。存儲器設備接收到該模式并且返回該模式的采樣結果。存儲器控制器隨后能夠基于從存儲器設備所接收的結果確定適當?shù)膫魉蜁r序偏移。在讀操作期間，存儲器控制器使得存儲器設備傳送模式(通常沒有時序變化)，并且存儲器控制器能夠隨后改變其采樣時鐘以為其輸入采樣器確定最優(yōu)采樣點(例如，采樣時序偏移)。在一些其它實施例中，時序校準邏輯可以在存儲器控制器和存儲器設備二者上進行劃分。在這些實施例中，在寫操作期間，存儲器設備可以在從存儲器控制器接收到校準模 式是執(zhí)行二進制相位檢測并且發(fā)回通過/失敗信號?？商鎿Q地，存儲器控制器能夠發(fā)出固定校準模式并且存儲器設備能夠改變其采樣時序(例如，通過進行掃頻)并且能夠在存儲器設備中設置采樣時序偏移而不是改變存儲器控制器中的傳送時序偏移。類似地，在讀操作期間，存儲器設備能夠傳送具有時序變化的模式并且存儲器控制器能夠利用固定時序基準對所接收的模式進行采樣。在這種情況下，在存儲器設備中得出傳送時序偏移。例如，優(yōu)選地可以在存儲器控制器而不是存儲器設備中對時序偏移進行校準，這是因為存儲器控制器使用更快的硅工藝技術進行構造并且在典型的系統(tǒng)實施方式中可以有比存儲器控制器更多的存儲器設備。對于初始時序校準和周期性時序校準而言，兩種技術都可以被用來對時序中心進行校準。這兩種技術分別被稱作“眼開”時序校準技術(或“眼開技術”)和“模糊中值”時序校準技術(或“模糊中值技術”)。本技術的實施例可以被應用于系統(tǒng)100的初始時序校準和周期性時序校準。
圖2圖示了對時序校準信號200執(zhí)行的眼開技術和模糊中值技術。在一個實施例中，校準信號200提供了所接收的數(shù)據(jù)信號112’的一部分的特寫視圖，其包括模糊帶118-122以及數(shù)據(jù)眼124和126。更具體地，校準信號200包括兩個交疊的數(shù)據(jù)模式，它們彼此相位相差180°。校準信號200還包括多個帶噪聲的數(shù)據(jù)轉變，其中每個帶噪聲的數(shù)據(jù)轉變的特征在于數(shù)據(jù)模式中陰影和傾斜區(qū)域所表示的邊沿分布。例如，邊沿分布202對應于上升數(shù)據(jù)轉變，而邊沿分布204則對應于下降數(shù)據(jù)轉變。校準信號200中的“模糊帶”可以被定義為以上升沿分布和下降沿分布的交叉分區(qū)為中心，并且在該交叉分區(qū)的兩側延伸至邊界位置的分區(qū)，其中來自該邊界位置處的采樣的誤碼率(BER)低于預先確定的BER閾值。例如，校準信號200包括三個模糊帶206、208和210 (均定義在一對邊界之間)，其中模糊帶208包括邊沿分布202和204。在下文中將模糊帶的時間軸線(即，水平軸線)中的中心稱作“模糊中值”。注意，模糊中值在本技術中還被定義為模糊帶中該位置處的采樣具有基本上相等的得到早期或晚期決策的概率的位置。一個實施例如下確定給定數(shù)據(jù)轉變處的當前樣本是早期決策還是晚期決策如果當前樣本值適合之前的數(shù)據(jù)眼，則當前樣本是早期決策；如果當前樣本值適合后續(xù)的數(shù)據(jù)眼，則當前樣本值是晚期據(jù)側。數(shù)據(jù)眼被形成為一對相鄰模糊帶之間的開放區(qū)域，并且當使用DDR時鐘時，每個數(shù)據(jù)眼對應于校準信號200中的有效數(shù)據(jù)比特?！皶r序中心”是數(shù)據(jù)眼的中心，在數(shù)據(jù)眼的中心能夠獲得基本上最優(yōu)的信號讀出。用于定位時序中心的眼開技術首先定位數(shù)據(jù)眼的邊界，諸如數(shù)據(jù)眼212的邊界216和216，在上述邊界之外無法可靠采樣數(shù)據(jù)眼212。該技術隨后將時序中心確定為兩個邊界的平均位置，諸如數(shù)據(jù)眼212的時序中心220以及數(shù)據(jù)眼214的時序中心222。雖然眼開技術通常能夠找出數(shù)據(jù)眼的準確時序中心，但是該技術需要傳送許多測試比特以便創(chuàng)建最差情況下的眼開(通過將數(shù)據(jù)眼每一側的模糊帶盡可能加寬，從而數(shù)據(jù)眼的所定位邊界對應于最差情況下的異常值)。然而，使用大量數(shù)據(jù)比特會涉及到相對長的校準過程。模糊中值技術試圖首先定位兩個相鄰數(shù)據(jù)眼之間的模糊帶的模糊中值。在一個實施例中，為了找到模糊中值，時序校準邏輯在模糊帶(諸如模糊帶208)內進行采樣并且例如使用開關式(bang-bang)相位檢測器收集轉變序列上的早期/晚期決策。在執(zhí)行時序校 準的同時，時序校準邏輯對模糊帶內的采樣位置進行持續(xù)調節(jié)直至早期/晚期統(tǒng)計產生了基本上相同數(shù)量的早期和晚期決策。一旦定位了模糊中值(例如，模糊終止224)，就能夠通過對所定位的模糊中值簡單地加上90°相移來獲得時序中心。注意，模數(shù)中值技術經(jīng)常忽略了最差情況下的異常值，并且因此需要較少的測試比特和較短的校準時間，但是與眼開技術相比會較不準確，并且在許多時鐘系統(tǒng)中能夠以良好的準確性生成90°相移。注意，圖2圖示了執(zhí)行模糊中值時序校正的理想情形，其中假設采樣操作使用接收基本上等于零的基準電壓Vref 226的采樣器。這里，還假設用于時序校準的校準信號200(在兩種數(shù)據(jù)模式中)具有50/50的占空比。基于這些假設，模糊帶內的時序校準將定位實際的模糊中值。圖3圖示了在應用于校準信號300時導致雙峰分布誤差的模糊中值技術。與校準信號200類似地構建的校準信號300包括模糊帶302，其進一步包括上升沿分布304和下降沿分布306。在圖3的示例中，用來搜索模糊帶302的模糊中值的采樣器與基準電壓V,ef308相關聯(lián)，其具有距零偏移位置311的非零V,ef偏移310。由于該偏移，V,ef 308在上升沿和下降沿分布304和306相互分離的位置處截斷模糊帶302，從而產生了雙峰分布。結果，當在執(zhí)行模糊中值技術的同時對模糊帶302進行采樣時，該采樣器的時鐘邊沿會鎖定至這兩個分布之間的任意時間。在任意這樣的時間，采樣器將把所有的下降轉變認為是(轉變之后所采樣的)晚期樣本，并且因此兩個分布之間的任意時間都滿足該模糊中值技術。所檢測的模糊中值中的這種不確定性導致了被稱作“雙峰分布誤差”的時序校準誤差。注意，即使在VMf偏移為零時，占空比失真①⑶)也能夠被添加至雙峰分布誤差。這是因為在周期性數(shù)據(jù)模式中存在DCD效應時，數(shù)據(jù)模式的每個周期變?yōu)殚L脈沖加上短脈沖，并且兩個這樣的波形不會在波形(在垂直方向中)的中間相互交叉。典型地，VMf偏移量對雙峰分布誤差的主要部分有所貢獻，而DCD效應則對雙峰分布誤差的較小部分有所貢獻。以下能夠找到關于對作為這兩種問題的結果的雙峰分布誤差進行校正的更多細節(jié)。圖4A圖示了依據(jù)實施例的用于執(zhí)行模糊中值時序校準的技術。與校準信號300類似地構建的校準信號400包括兩個數(shù)據(jù)模式402和404。在圖4A中，使用不同陰影以區(qū)分這兩個數(shù)據(jù)模式。在當前實施例中，數(shù)據(jù)模式404是數(shù)據(jù)模式402的相位反轉版本，并且兩個數(shù)據(jù)模式具有180°的恒定相位差。在一個實施例中，數(shù)據(jù)模式402和404是時鐘信號。雖然圖4A圖示了數(shù)據(jù)模式402和404在時間上相互交疊，但是當前所描述技術的一些實施例在不同時間傳送兩個數(shù)據(jù)模式以使得它們在沒有交疊的不同時間被接收和采樣。在這些實施例中，圖4A中所示的交疊是出于說明兩個數(shù)據(jù)模式之間的相位關系的目的，而并非意在建議兩個數(shù)據(jù)模式被同時傳送。雖然數(shù)據(jù)模式402和404中的每一個都被示為具有50/50的占空比并且在數(shù)據(jù)周期的兩個半部之間近乎完全對稱，但是DCD效應會導致這些數(shù)據(jù)模式中的失真。這些失真會導致兩個相鄰的數(shù)據(jù)眼具有不同寬度并且數(shù)據(jù)脈沖的上升和下降轉變具有不同的斜率。因此，本技術的實施例可以等同地應用于受到D⑶效應影響的校準信號。在一個實施例中，在所提出的時序校準操作期間僅使用一個數(shù)據(jù)采樣器對校準信號400進行采樣。在使用偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器來解析所接收的數(shù)據(jù)信號的、基于DDR的系統(tǒng)中，可以在該實施例中使用偶數(shù)或奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器。在該實施例中所使用 的單個數(shù)據(jù)采樣器在下文中被稱作“偶數(shù)采樣器”。注意，該“偶數(shù)采樣器”可以是偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器或奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器。由于偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器在上文被定義為可互換地使用，所以術語“偶數(shù)采樣器”被用作兩種采樣器之一的標識符。在僅使用單個數(shù)據(jù)采樣器的系統(tǒng)中，術語“偶數(shù)采樣器”被用作該單個數(shù)據(jù)采樣器的標識符。在圖4A的示例中，被用來對校準信號400進行采樣的偶數(shù)采樣器與基準電壓Vref406相關聯(lián)，基準電壓V,ef 406具有距零偏移位置410的非零V,ef偏移408。此外，由于該偏移，Vref 406在出現(xiàn)雙峰分布分離的位置處截斷校準信號400中的模糊帶(例如，模糊帶412)。結果，基于模糊中值技術在模糊帶412中的采樣將可能導致雙峰分布誤差。在一個實施例中，執(zhí)行兩個單獨的時序校準運行。在第一校準運行期間，首先在接收器處接收數(shù)據(jù)模式402，并且隨后使用采樣器基于上升沿分布或下降沿分布來確定數(shù)據(jù)模式402中的第一時序位置。更具體地，時序校準邏輯使用結合圖2所描述的模糊中值技術來確定第一模糊中值。雖然圖4A圖示了在數(shù)據(jù)模式402的下降沿分布內采樣并確定第一模糊中值的情形，但是其它實施例能夠在數(shù)據(jù)模式402的上升沿分布內尋找第一模糊中值。由于模糊帶412僅包括下降沿分布(在第一校準運行期間并不存在上升沿分布)，所以模糊中值技術將專門地在下降沿分布中確定模糊中值414。注意，模糊中值414并不是模糊帶412的真實模糊中值416。假設位置418是第一校準運行的初始采樣位置。從下降沿分布所獲得的該第一時序位置被稱作Even (fall) Even (fall)通常表示從位置418到模糊中值414的偏移。在第二校準運行(其可以在第一校準運行之前或之后執(zhí)行)期間，在接收器處接收數(shù)據(jù)模式404，并且使用偶數(shù)采樣器以基于上升沿分布或下降沿分布確定數(shù)據(jù)模式404中的第二時序位置。然而要注意的是，如果第一時序校準在下降沿分布上執(zhí)行，則第二時序校準就必須在上升沿分布上執(zhí)行，或者反之亦然。更具體地，時序校準邏輯使用結合圖2所描述的模糊中值技術來確定第一模糊中值。圖4A圖示了在數(shù)據(jù)模式404的上升沿分布內采樣并確定第二模糊中值的情形，這是因為在數(shù)據(jù)模式402的下降沿分布中所確定第一模糊中值。如圖4A所示，由于模糊帶412僅包括上升沿分布(在第二校準運行期間并不存在下降沿分布)，所以模糊中值技術將專門地在上升沿分布中確定模糊中值420。注意，模糊中值420并不是模糊帶412的真實模糊中值416。假設位置418還是第二校準運行的初始采樣位置。從上升沿分布所獲得的該第二時序位置被稱作Even (rise)，Even (rise)通常表示從位置418到模糊中值420的偏移。一旦已經(jīng)在雙峰分布中定位了兩個模糊中值，就能夠因為模糊帶412的對稱性而在模糊中值414和模糊中值420的中間定位模糊帶412的真實模糊中值416。在一個實施例中，通過對模糊中值414和420取平均值而獲得中值416，其可以被表達為Average[Even(fall), Even (rise)]。從硬件角度來看，時序校準的輸出Average [Even (fall), Even (rise)]表示模糊中值416和未校準采樣位置418之間的偏移。結果，通過向所建立的偏移加上90°相移而獲得數(shù)據(jù)眼的時序中心90° +Average [Even (rise)，Even (fall)] 接下來，所獲得的時序中心可以被用來對準用于在接收設備處對數(shù)據(jù)信號進行采樣的時鐘信號。在一些系統(tǒng)中，90°相移可能不會導致理想的采樣位置并且更好的位置將與該位置稍有偏移。所提出的方法以不同于90°的任意相位偏移進行工作。已知的兩個時序位置Even (rise)、Even (fall)還促進為偶數(shù)采樣器確定Vraf偏移408，其是從傳送器側(例如，Vin偏移)和接收器側所組合的偏移。一旦Vief偏移408已知，時序校準邏輯就能夠試圖對Vin偏移進行補償以便減小或消除雙峰分布誤差。該補償調整可以在傳送器側(例如，通過將數(shù)據(jù)模式向上或向下移位)或者接收器側(例如，通過調節(jié)采樣器的基準電壓)來進行。注意，在圖4A中，來自所確定的模糊中值416的90°相移在校準信號400中存在DCD失真時可能并不表示最佳的時序中心。圖4B圖示了對圖4A所描述的技術有所改進的經(jīng)修改的技術。更具體地，在遵循圖4A的技術確定模糊中值416的位置之后，偶數(shù)采樣器的采樣位置可以從模糊中值416向相鄰模糊帶422內的分區(qū)(例如向模糊帶422內的位置424)延遲I個單位間隔(UI)(被示為相移423)或180°。注意，如果校準信號400中并不存在D⑶效應，則位置424基本上為模糊帶422的模糊中值426。然而，由于D⑶效應，位置424不同于模糊中值426。在一些實施例中，mi的延遲可以通過對偶數(shù)采樣器的采樣時鐘進行延遲來實現(xiàn)。例如，當采樣時鐘連同校準信號400 —起從傳送設備傳送至接收設備時，該延遲可以在傳送采樣時鐘之前在傳送設備上進行或者在接收設備接收到采樣時鐘之后在接收設備上進行?？商鎿Q地，該延遲可以通過在傳送校準信號400和采樣時鐘之前在傳送設備處將校準信號400相對于米樣時鐘提前IUI來實現(xiàn)。在該延遲之后，對數(shù)據(jù)模式402和404重復圖4A中所描述的校準處理以分別基于下降沿分布和上升沿分布獲得模糊中值428和430，并且這些結果的平均值提供了模糊帶422的模糊中值426的位置。如以上所提到的那樣，校準的輸出是模糊中值426和位置424之間的偏移。根據(jù)以上約定，模糊中值426可以被表示為Average [Even (rise, 1UI),Even (fall，IUI)]，其中該表達式中的“1UI”表示從模糊中值416的1Π相移。最后，通過取得針對模糊中值416和模糊中值426的所確定偏移量的平均值而獲得模糊帶412和422之間的數(shù)據(jù)眼432的時序中心，并且隨后加上90°相移90。+Average{Average[Even(rise)，Even (fall)]，
Average[Even(rise, 1UI), Even (fall,1UI)]}.接下來，所獲得的時序中心可以被用來對準用于在接收設備處對數(shù)據(jù)信號進行采樣的時鐘信號。當校準信號400由于DCD效應而失真時，每個信號周期變?yōu)殚L脈沖和短脈沖。結果，相鄰數(shù)據(jù)眼432和434可以具有由D⑶效應所導致的不同眼開寬度。在一些實施例中，對兩個相鄰數(shù)據(jù)眼的較小眼開執(zhí)行圖4B中所描述的時序校準。這些實施例是基于較小眼開比較大眼開更可能導致采樣誤差的假設。圖4B的示例性操作可以基于數(shù)據(jù)眼432小于數(shù)據(jù)眼434的假設。注意，在基于DDR的系統(tǒng)中，偶數(shù)和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器具有固定的mi相位差。因此，當兩個數(shù)據(jù)采樣器(偶數(shù)和奇數(shù))具有基本上相同的偏移時，時序校準邏輯能夠通 過使用偶數(shù)和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器執(zhí)行圖4B中的相同操作。例如，偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器被用來定位模糊中值416，而奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器則被用來定位模糊中值426。然而，由于偶數(shù)和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器通常共享共用時鐘，所以用于找出兩個模糊中值的校準需要單獨執(zhí)行。在一種情況下，進行四個校準運行運行#1涉及使用數(shù)據(jù)模式402和偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器以找出模糊中值414 ;運行#2涉及使用數(shù)據(jù)模式404和偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器以找出模糊中值420 ;運行#3涉及使用數(shù)據(jù)模式402和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器以找出模糊中值430 ;并且運行#4涉及使用數(shù)據(jù)模式404和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器以找出模糊中值428。注意，在該兩采樣器的實施例中，避免了圖4B中的IUI相移。總而言之，結合圖4B所描述的技術比結合圖4A所描述的技術需要更多校準時間。然而，通過考慮到DCD效應，結合圖4B所描述的技術也生成了比圖4A中的技術更為準確的時序中心。圖5圖示了用于對具有單種數(shù)據(jù)模式的校準信號500執(zhí)行模糊中值時序校準的技術。不同于校準信號400，校準信號500包括單個數(shù)據(jù)模式502。在一個實施例中，數(shù)據(jù)模式502是時鐘信號。注意，雖然數(shù)據(jù)模式502被示為具有50/50的占空比并且在數(shù)據(jù)周期的兩個半部之間近乎完全對稱，但是以與圖4A和圖4B中數(shù)據(jù)模式402類似的方式，DCD效應會導致數(shù)據(jù)模式502中的失真。因此，本技術的實施例可以等同地應用于受到DCD效應影響的校準信號。在一個實施例中，在所提出的時序校準操作期間，僅一個數(shù)據(jù)采樣器被用來對校準信號500進行采樣。在基于DDR的系統(tǒng)中，該數(shù)據(jù)采樣器可以是偶數(shù)采樣器或奇數(shù)采樣器。在實施例中，假設在圖5的示例中使用偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器，雖然當前描述在另外使用奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器的情況下是可等同應用的。在圖5的示例中，被用來對校準信號500進行采樣的偶數(shù)采樣器與基準電壓Vref504相關聯(lián)，基準電壓V,ef 504具有距零偏移位置508的非零V,ef偏移506。雖然沒有明確示出V,ef 506。作為偏移V,ef506的結果，基于模糊中值技術在模糊帶4510中的采樣將不會收斂到模糊帶510中心的理想模糊中值。在一個實施例中，時序校準邏輯執(zhí)行兩個校準運行，一個用于下降沿分布以找出數(shù)據(jù)模式502中的第一中值，而另一個則用于上升沿分布以找出第二中值。更具體地，在第一時序校準運行期間，使用偶數(shù)采樣器基于上升沿分布或下降沿分布確定數(shù)據(jù)模式502中的第一時序位置。更具體地，時序校準邏輯使用結合圖2所描述的模糊中值技術來確定第一模糊中值。假設模糊帶510內的位置514為偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器的初始采樣位置。如圖5所示，模糊中值技術基于上升沿分布確定模糊帶510內的模糊中值516。由于偏移506,模糊中值516不同于模糊帶510的理想模糊中值。該第一時序位置被稱作Even (rise)，其通常表示從位置514到模糊中值516的偏移。在確定了第一時序位置之后，偶數(shù)采樣器的采樣位置被從模糊中值516向相鄰模糊帶518內的位置(例如向位置520)延遲IUI或180°。IUI的延遲可以通過如以上所描述的延遲采樣時鐘或提前校準信號500來實現(xiàn)。在延遲之后，使用偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器執(zhí)行第二時序校準運行以確定數(shù)據(jù)模式502中的第二時序位置。更具體地，系統(tǒng)使用結合圖2所描述的模糊中值技術基于下降沿分布來確定模糊帶518內的第二模糊中值522。由于 偏移506，因此模糊中值522不同于模糊帶518的理想模數(shù)中值。該第一時序位置被稱作Even (falI)，其通常表示從位置520到模糊中值522的偏移。一旦已經(jīng)在數(shù)據(jù)模式502中定位了模糊中值516和模糊中值522，就能夠在兩個模糊中值的中間定位模糊帶510和模糊帶518之間的數(shù)據(jù)眼524的時序中心。在一個實施例中，能夠通過對兩個模糊中值的平均值加上90°相移而獲得數(shù)據(jù)眼524的時序中心90° +Average [Even (rise)，Even (fall)]接下來，所獲得的時序中心可以被用來對準用于在接收設備處對數(shù)據(jù)信號進行采樣的時鐘信號。注意，在基于DDR的系統(tǒng)中，偶數(shù)和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器具有固定的mi相位差。因此，當兩個數(shù)據(jù)采樣器(偶數(shù)和奇數(shù))具有基本上相同的偏移506時，時序校準邏輯能夠通過使用偶數(shù)和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器執(zhí)行圖5中的相同操作。例如，偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器被用來定位模糊中值516，而奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器則被用來定位模糊中值522。然而，由于偶數(shù)和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器通常共享共用時鐘，所以用于找出兩個模糊中值的校準需要在兩個過程中單獨執(zhí)行。該兩采樣器的變化形式將獲得與單采樣器方法相同的時序中心但是在圖5中避免了IUI的相移。注意，對于結合圖4A、圖4B和圖5所描述的所有技術而言，當偶數(shù)數(shù)據(jù)采樣器和奇數(shù)數(shù)據(jù)采樣器具有不同基準電壓時，參考僅使用兩個數(shù)據(jù)采樣器之一來確定時序中心。所選擇的數(shù)據(jù)采樣器產生隨后將被偶數(shù)和奇數(shù)采樣器二者所使用的時序中心。然而，針對所選擇數(shù)據(jù)采樣器的基準電壓進行了優(yōu)化的時序中心可能不會利用未選擇數(shù)據(jù)采樣器的基準電壓最優(yōu)地進行工作。為了緩解該問題，可以單獨使用每個數(shù)據(jù)采樣器基于圖4A、圖4B或圖5中所描述的方法來確定數(shù)據(jù)眼的相應時序中心(被稱作tc (偶數(shù))和tc (奇數(shù)))。由于不同的基準電壓，tc (偶數(shù))和tc (奇數(shù))通常最終是彼此不同的。注意，這樣的校準與其單采樣器副本相比需要兩倍的校準時間。就這一點而言，可以選取多種選項。在一個實施例中，校準邏輯簡單利用兩個時序中心AverageUc (偶數(shù))，tc (奇數(shù)))作為兩個采樣器最終校準的時間中心。在另一個實施例中，時序校準邏輯取得tc (偶數(shù))和tc (奇數(shù))之間的最差情況下的時序中心作為兩個采樣器最終校準的時間中心。例如，該最差情況下的時序中心可以與比其它數(shù)據(jù)采樣器確定了更小的數(shù)據(jù)眼開口的數(shù)據(jù)采樣器相關聯(lián)。在又另一個實施例中，數(shù)據(jù)校準邏輯將兩個采樣器所計算的模糊中值進行合并，并且隨后基于所合并的信息確定新的時序中心。圖6圖示了用于基于由具有不同基準電壓的兩個數(shù)據(jù)采樣器所計算的模糊中值來確定最差情況下的時序中心的技術。如圖6所示，數(shù)據(jù)眼600與由兩個采樣器所計算的四個模糊中值相關聯(lián)，其中每個數(shù)據(jù)采樣器在數(shù)據(jù)眼600的每一側上確定一個模糊中值。更具體地，模糊中值Xl和X2位于數(shù)據(jù)眼600的左側，而模糊中值X3和X4則位于數(shù)據(jù)眼600的右側。在沒有指定使用哪個數(shù)據(jù)采樣器來確定四個中值中的哪一個的情況下，一種技術簡單地去最內側的兩個模糊中值X2和X3，并且計算兩個數(shù)據(jù)采樣器的時序中心602。注意，X2和X3可能由多于一個的數(shù)據(jù)采樣器所獲得。結果，該技術試圖為兩個采樣器選擇最佳的時序中心。本公開的實施例提供了多種有所改進的模糊中值技術。該技術相比常規(guī)的模糊中值技術明顯提高了時序中心校準的準確度。這些改進來自于緩解了雙峰分布誤差和D⑶所引入的誤差而無需單獨修復兩種類型的誤差。此外，在緩解雙峰分布誤差時，本技術同時修復了來自傳送器側和接收器側的基準電壓偏移所導致的雙峰分布誤差。這些技術還確定了傳送器和接收器二者的合并(即，系統(tǒng)層面)基準電壓偏移，這促進了同故宮對來自通信通道任一側的偏移進行補償而消除該偏移。此外，這些技術可以被應用于使用子速率所生成 的數(shù)據(jù)模式。例如，當數(shù)據(jù)通道并不非常穩(wěn)定時，可能希望在使用相同時鐘信號的同時使用較低的數(shù)據(jù)速率。雖然之前所描述的技術的一些實施例涉及執(zhí)行相位平均操作，但是這些操作僅應用于具有非常小的相位差異的位置并且因此并沒有引入任何明顯的INL誤差。經(jīng)改進的模糊中值技術仍然比常規(guī)的眼開技術更快但是能夠實現(xiàn)甚至比常規(guī)眼開技術更好的BER。以上所描述的技術和裝置可以在采用不同類型的存儲器設備以及對這些存儲器設備的操作進行控制的存儲器控制器的不同系統(tǒng)中使用。這些系統(tǒng)的示例包括移動系統(tǒng)、桌面系統(tǒng)、服務器和/或圖形應用，但是并不局限于此。存儲器設備可以包括動態(tài)隨機訪問存儲器(DRAM)。此外，DRAM可以是例如圖形雙倍數(shù)據(jù)速率(⑶DR、⑶DR2、⑶DR3、⑶DR4、GDDR5和未來數(shù)代)和雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR2、DDR3和未來的存儲器類型)。所描述的技術核裝置可應用于其它類型的存儲器或集成電路設備，例如片上系統(tǒng)(SoC)實施方式、閃存和其它類型的非易失性存儲器和靜態(tài)隨機訪問存儲器(SRAM)。以下參考圖7對可以使用以上所描述的裝置和技術的存儲器系統(tǒng)的其它實施例進行描述。圖7給出了圖示存儲器系統(tǒng)700的實施例的框圖，其包括至少一個存儲器控制器710以及至少一個存儲器設備712。雖然圖7圖示了具有一個存儲器控制器710和三個存儲器設備712的存儲器系統(tǒng)700，但是其它實施例可以具有附加的存儲器控制器以及更少或更多的存儲器設備712。注意，例如在堆棧配置中，單個芯片封裝中可以包括一個或多個集成電路。在一些實施方式中，存儲器控制器710是本地存儲器控制器(諸如DRAM存儲器控制器)和/或系統(tǒng)存儲器控制器(其可以以微處理器、專用集成電路(ASIC)、片上系統(tǒng)(SoC)或現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)來實現(xiàn))。存儲器控制器710可以包括I/O接口 718-1和控制邏輯720-1。在一些實施例中，一個或多個存儲器設備712包括控制邏輯720以及至少一個接口 718。然而，在一些實施例中，一些存儲區(qū)設備712并不具有控制邏輯720。此外，存儲器控制器710和/或一個或多個存儲器設備712可以包括多于一個的接口 718，并且這些接口可以共享一個或多個控制邏輯720的電路。在一些實施例中，諸如存儲器設備712-1和712-2的兩個或更多存儲器設備712可以被配置為存儲器層級716。如結合圖4A、圖4B、圖5和圖6所討論的那樣，控制邏輯720_1、控制邏輯720_2、控制邏輯720-3和控制邏輯720-4中的一個或多個可以被用來控制本技術的各種時序校準以定位準確的時序中心。存儲器控制器710還可以生成要傳送至一個或多個存儲器設備712的各種時序校準信號。存儲器控制器710和存儲器設備712在通道722中通過諸如多線路的一個或多個鏈路714相耦合。雖然存儲器系統(tǒng)700被圖示為具有三個鏈路714，但是其它實施例可以具有更少或更多的鏈路714。此外，這些鏈路可以提供有線、無線和/或光通信。此外，鏈路714可以被用于存儲器控制器710以及一個或多個存儲器設備712之間的雙向和/或單向通信。例如，存儲器控制器710和給定存儲器設備之間的雙向通信可以是同步的(全雙工 通信)。可替換地，存儲器控制器710可以向給定存儲器設備傳送命令，并且該給定存儲器設備隨后可以向存儲器控制器710提供所請求的數(shù)據(jù)，例如一個或多個鏈路714上的通信方向是可以交替的(半雙工通信)。而且，一個或多個鏈路714以及相對應的傳送電路和/或接收電路例如可以由控制邏輯720電路之一動態(tài)配置為用于雙向和/或單向通信。對應于數(shù)據(jù)和/或命令的信號(例如，針對數(shù)據(jù)命令的請求)可以使用一個或多個時序信號中的任一邊沿或兩個邊沿在一個或多個鏈路714上進行傳輸。這些時序信號可以基于一個或多個時鐘信號所生成，其可以片上生成(例如，使用鎖相環(huán)以及頻率基準所提供的一個或多個基準信號)和/或片下生成。在一些實施例中，使用單獨的命令鏈路，即使用傳輸命令的鏈路714的子集，將命令從存儲器控制器710傳輸至一個或多個存儲器設備712。然而，在一些實施例中，使用通道722的相同部分(例如，相同鏈路714)將命令作為數(shù)據(jù)進行傳輸。這里所描述的設備和電路可以使用本領域可用的計算機輔助設計工具來實施，并且由包含這樣的電路的軟件描述的計算機可讀文件來體現(xiàn)。這些軟件描述可以是行為的、寄存器轉送、邏輯組件、晶體管和布局的幾何層面描述。此外，軟件描述可以存儲在存儲介質上或者通過載波進行傳輸?？梢詫崿F(xiàn)這樣的描述的數(shù)據(jù)格式可以包括支持如C的行為語言的格式，支持如Verilog和VHDL的寄存器轉送級(RTL)語言的格式，支持幾何描述語言(諸如，⑶SII、⑶SIII、⑶SIV、CIF和MEBES)的格式，以及其它適當格式和語言，但是并不局限于此。此外，這樣的文件機器可讀媒體上的數(shù)據(jù)傳輸可以通過互聯(lián)網(wǎng)上的各種媒體電子地進行，諸如經(jīng)由電子郵件。注意，物理文件可以實現(xiàn)在機器可讀媒體上，諸如4mm磁帶、8mm磁帶、3-1/2英寸軟盤媒體、⑶、DVD等。已經(jīng)僅出于說明和描述的目的給出了本發(fā)明實施例的以上描述。它們并非意在是窮舉的或者將本發(fā)明限制為所公開的形式。因此，許多修改和變化對于本領域技術人員將是顯而易見的。此外，以上公開并非意在對本發(fā)明進行限制。本發(fā)明的范圍由所附權利要求所限定。
權利要求
1.一種集成電路設備的操作方法，所述方法包括 從第一集成電路設備傳送關于時序基準具有不同延遲的上升沿轉變的第一校準模式； 從所述第一集成電路設備傳送關于所述時序基準具有不同延遲的下降沿轉變的第二校準模式；并且 生成用于從所述第一集成電路設備傳送數(shù)據(jù)的時序偏移，其中所述時序偏移從接收于對所述第一校準模式和所述第二校準模式進行采樣的第二集成電路設備的信息所得出。
2.根據(jù)權利要求I的方法,其中生成所述時序偏移包括 至少基于所采樣的不同延遲的上升沿轉變確定關于所述時序基準的第一時序位置； 至少基于所采樣的不同延遲的下降沿轉變確定關于所述時序基準的第二時序位置； 通過對所述第一時序位置和所述第二時序位置取平均值來計算第三時序位置；并且 通過向所述第三時序位置增加預先確定的相移來生成所述時序偏移。
3.根據(jù)權利要求2的方法， 其中確定所述第一時序位置包括在不同延遲的上升沿轉變內定位第一中值位置；并且 其中確定所述第二時序位置包括在不同延遲的下降沿轉變內定位第二中值位置。
4.根據(jù)權利要求2的方法，其中所述預先確定的相移基本上為90°相移。
5.根據(jù)權利要求I的方法，其中所述方法進一步包括 將通過所述時序偏移所延遲的數(shù)據(jù)從所述第一集成電路設備傳送至所述第二集成電路設備；并且 利用時鐘信號對在所述第二集成電路設備所接收的數(shù)據(jù)進行采樣，其中所述時鐘信號中的時鐘轉變與所述數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)比特的中心基本上對準。
6.根據(jù)權利要求I的方法，其中所述第二校準模式是所述第一校準模式的相位反轉版本。
7.根據(jù)權利要求I的方法，其中所述第一校準模式和所述第二校準模式是相同的校準模式。
8.根據(jù)權利要求I的方法，其中所述第一集成電路設備是存儲器控制器設備而所述第二集成電路設備是存儲器設備。
9.一種集成電路設備，包括 接口，其用來傳送第一校準模式和第二校準模式，所述第一校準模式關于時序基準具有不同延遲的上升沿轉變并且所述第二校準模式關于所述時序基準具有不同延遲的下降沿轉變；以及 電路，其用來生成用于向第二集成電路設備傳送數(shù)據(jù)的時序偏移，其中所述時序偏移從接收于對所述第一校準模式和所述第二校準模式進行采樣的第二集成電路設備的信息所得出。
10.根據(jù)權利要求9的集成電路設備，其中所述信息包括不同延遲的上升沿轉變的上升沿樣本以及不同延遲的下降沿轉變的下降沿樣本，所述集成電路設備進一步包括 第一電路，其用來至少基于所述上升沿樣本確定關于所述時序基準的第一時序位置，并且至少基于所述下降沿樣本確定關于所述時序基準的第二時序位置； 所述第一電路通過對所述第一時序位置和所述第二時序位置取平均值來計算第三時序位置；并且 所述第一電路通過向所述第三時序位置增加預先確定的相移來生成所述時序偏移。
11.根據(jù)權利要求10的集成電路設備，其中所述第一電路進一步通過在不同延遲的上升沿轉變內定位第一中值位置來確定所述第一時序位置；并且通過在不同延遲的下降沿轉變內定位第二中值位置來確定所述第二時序位置。
12.根據(jù)權利要求10的集成電路設備，其中所述預先確定的相移基本上為90°相移。
13.根據(jù)權利要求9的集成電路設備， 其中所述接口向所述第二集成電路設備傳送通過所述時序偏移所延遲的數(shù)據(jù)；并且其中所述第二集成電路設備使用時鐘信號對通過所述時序偏移所延遲的所接收的數(shù)據(jù)進行采樣，從而使得所述數(shù)據(jù)的時序偏移使得所述數(shù)據(jù)延遲為與所述時鐘信號中的邊沿轉變基本上中心對準。
14.根據(jù)權利要求9的集成電路設備，其中所述第二校準模式是所述第一校準模式的相位反轉版本。
15.根據(jù)權利要求9的集成電路設備，其中所述第一校準模式和所述第二校準模式是相同的校準模式。
16.根據(jù)權利要求9的集成電路設備，其中所述集成電路設備是存儲器控制器設備而所述第二集成電路設備是存儲器設備。
17.一種集成電路設備的操作方法，所述方法包括 響應于時序基準不同延遲的版本對具有上升沿轉變的第一校準模式進行采樣； 響應于時序基準不同延遲的版本對具有下降沿轉變的第二校準模式進行采樣；并且生成用于對數(shù)據(jù)進行采樣的時序偏移，其中所述時序偏移至少基于從對所述第一校準模式和所述第二校準模式進行采樣所得出的信息而獲得。
18.根據(jù)權利要求17的方法，其中生成所述時序偏移包括 至少基于所述信息確定所述第一校準模式的上升沿轉變內的第一時序位置； 至少基于所述信息確定所述第二校準模式的下降沿轉變內的第二時序位置； 通過對所述第一時序位置和所述第二時序位置取平均值來計算第三時序位置；并且 通過向所述第三時序位置增加預先確定的相移來生成所述時序偏移。
19.根據(jù)權利要求18的方法， 其中確定所述第一時序位置包括在不同延遲的上升沿轉變內定位第一中值位置；并且 其中確定所述第二時序位置包括在不同延遲的下降沿轉變內定位第二中值位置。
20.根據(jù)權利要求18的方法，其中所述預先確定的相移基本上為90°相移。
21.根據(jù)權利要求17的方法，其中所述方法進一步包括使用從時序基準和所述時序偏移所得出的時鐘信號對所述數(shù)據(jù)進行采樣，從而所述時序偏移將所述時鐘信號中的轉變與所述數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)比特的中心基本上對準。
22.根據(jù)權利要求17的方法，其中所述第二校準模式是所述第一校準模式的相位反轉版本。
23.根據(jù)權利要求17的方法，其中所述第一校準模式和所述第二校準模式是相同的校準模式。
24.根據(jù)權利要求17的方法，其中所述集成電路設備是存儲器控制器設備。
25.—種集成電路設備,包括 接口，其用于 響應于時序基準不同延遲的版本對第一校準模式進行采樣；以及響應于時序基準不同延遲的版本對第二校準模式進行采樣；以及電路，其用于生成用于對數(shù)據(jù)進行采樣的時序偏移，其中所述時序偏移至少基于從對所述第一校準模式和所述第二校準模式進行采樣所得出的信息而獲得。
26.根據(jù)權利要求25的集成電路設備，其中所述電路 至少基于所述信息確定所述第一校準模式的上升沿轉變內的第一時序位置； 至少基于所述信息確定所述第二校準模式的下降沿轉變內的第二時序位置； 通過對所述第一時序位置和所述第二時序位置取平均值來計算第三時序位置；并且 通過向所述第三時序位置增加預先確定的相移來生成所述時序偏移。
27.根據(jù)權利要求26的集成電路設備，其中所述電路通過在上升沿轉變內定位第一中值位置來確定所述第一時序位置，并且通過在下降沿轉變內定位第二中值位置來確定所述第二時序位置。
28.根據(jù)權利要求26的集成電路設備，其中所述預先確定的相移基本上為90°相移。
29.根據(jù)權利要求25的集成電路設備，其中所述第二校準模式是所述第一校準模式的相位反轉版本。
30.根據(jù)權利要求25的集成電路設備，其中所述第一校準模式和所述第二校準模式是相同的校準模式。
31.根據(jù)權利要求25的集成電路設備，其中所述集成電路設備是存儲器控制器設備。
全文摘要
描述了用于為集成電路(IC)執(zhí)行時序校準的技術。在操作期間，第一集成電路設備傳送第一校準模式，其具有關于時序基準不同延遲的上升沿轉變。第一集成電路設備還傳送第二校準模式，其具有關于時序基準不同延遲的下降沿轉變。隨后，第一集成電路生產時序偏移以便從第一集成電路設備傳送數(shù)據(jù)。該時序偏移從接收于對第一校準模式和第二校準模式進行采樣的第二集成電路設備的信息所得出。
文檔編號H04L7/00GK102834867SQ201180017206
公開日2012年12月19日 申請日期2011年3月21日 優(yōu)先權日2010年6月8日
發(fā)明者K·S·吳, Y·U·弗朗斯, A·班索, B·S·萊伯維茨 申請人:拉姆伯斯公司