促進(jìn)受測(cè)裝置(dut)發(fā)送的射頻(rf)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(rf)數(shù)據(jù)信號(hào)的比 ...的制作方法
【專利摘要】一種促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較的系統(tǒng)和方法。對(duì)從DUT接收的RF數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行分析以提供指示DUT的操作與一個(gè)或多個(gè)適用的信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)一致的分析數(shù)據(jù)。所述RF數(shù)據(jù)信號(hào)還被轉(zhuǎn)換為可與對(duì)應(yīng)于信號(hào)測(cè)試子系統(tǒng)的狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)一起儲(chǔ)存的相關(guān)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。然后可根據(jù)需要與所述分析數(shù)據(jù)和轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)一起處理所述狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)用于離線任務(wù)，如新測(cè)試程序和規(guī)程的調(diào)試。
【專利說(shuō)明】促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較的系統(tǒng)和方法

【背景技術(shù)】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試無(wú)線射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送器，具體地，涉及促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的RF數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的RF數(shù)據(jù)信號(hào)的比較。
[0002]許多通信設(shè)備采用無(wú)線技術(shù)用于連接和通信目的兩者。由于無(wú)線設(shè)備發(fā)送和接收電磁波，并且由于兩個(gè)或多個(gè)無(wú)線設(shè)備的運(yùn)行因?yàn)槠湫盘?hào)頻率和功率譜密度有可能相互干擾，這些設(shè)備及其無(wú)線技術(shù)遵照各種無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
[0003]在設(shè)計(jì)此類設(shè)備中，工程師們非常小心以確保此類設(shè)備達(dá)到或超過(guò)每一種包括的無(wú)線技術(shù)的規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。此外，一旦這些設(shè)備被大量生產(chǎn)，對(duì)它們進(jìn)行測(cè)試以確保制造缺陷不會(huì)導(dǎo)致不當(dāng)?shù)牟僮?，包括它們遵照包括的無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
[0004]作為生產(chǎn)測(cè)試的一部分，現(xiàn)有的無(wú)線設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)采用用于分析從受測(cè)裝置(DUT)接收的信號(hào)的子系統(tǒng)，如用于分析從受測(cè)裝置(DUT)接收的信號(hào)的矢量信號(hào)分析器(VSA)的子系統(tǒng)和如用于產(chǎn)生由所述受測(cè)裝置接收的信號(hào)的矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG)的子系統(tǒng)。由VSA進(jìn)行的分析和由VSG產(chǎn)生的信號(hào)通?？删幊桃栽试S每一個(gè)能用于測(cè)試具有不同的頻率范圍、帶寬和調(diào)制特性的多種無(wú)線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
[0005]現(xiàn)在的無(wú)線設(shè)備通常包括設(shè)計(jì)為根據(jù)若干種無(wú)線信號(hào)技術(shù)(如WiFi(如802.1lx)、藍(lán)牙、蜂窩無(wú)線電接入技術(shù)(如LTE)等等)操作的電路。此外，隨著越來(lái)越多的無(wú)線信號(hào)加入到此類設(shè)備內(nèi)，為了避免測(cè)試時(shí)間和成本增加，現(xiàn)在的一些無(wú)線信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)被設(shè)計(jì)成捕獲和分析具有由兩種或更多種無(wú)線信號(hào)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的物理特性的更長(zhǎng)的信號(hào)序列。
[0006]在測(cè)試多技術(shù)特性的更長(zhǎng)序列中，控制測(cè)試系統(tǒng)(如通過(guò)控制VSA、VSG和其它子系統(tǒng))的測(cè)試程序變得更長(zhǎng)更復(fù)雜，測(cè)試程序調(diào)試過(guò)程也是如此。通常，程序調(diào)試需要連接外部?jī)x器(如多通道示波器)至測(cè)試系統(tǒng)以及相關(guān)的其它測(cè)試儀器以檢查各種控制信號(hào)和時(shí)間與功率關(guān)系(power-versus-time)顯示以理解和解決與新程序調(diào)試過(guò)程有關(guān)的問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明，提供了一種用于促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較的系統(tǒng)和方法。對(duì)從DUT接收的RF數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行分析以提供指示DUT的操作與一個(gè)或多個(gè)適用的信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)一致的分析數(shù)據(jù)。所述RF數(shù)據(jù)信號(hào)還被轉(zhuǎn)換為可與對(duì)應(yīng)于信號(hào)測(cè)試子系統(tǒng)的狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)一起儲(chǔ)存的相關(guān)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。然后可根據(jù)需要與所述分析數(shù)據(jù)和轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)一起處理所述狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)用于離線任務(wù)，如新測(cè)試程序和規(guī)程的調(diào)試。
[0008]根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，用于促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較的測(cè)試系統(tǒng)包括:
[0009]信號(hào)路由電路，所述信號(hào)路由電路用于將至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)路由至DUT和將至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)從DUT路由；
[0010]數(shù)據(jù)信號(hào)源電路，所述數(shù)據(jù)信號(hào)源電路耦合至所述信號(hào)路由電路，且通過(guò)提供所述至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)和多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的一部分響應(yīng)于多個(gè)控制信號(hào)和多個(gè)發(fā)送數(shù)據(jù)的一部分；
[0011]數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路，所述數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路耦合至所述信號(hào)路由電路，并通過(guò)處理所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)和提供多個(gè)信號(hào)分析數(shù)據(jù)以及所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的另一部分響應(yīng)于所述多個(gè)控制信號(hào)的另一部分；
[0012]信號(hào)轉(zhuǎn)換電路，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路耦合至所述信號(hào)路由電路，且通過(guò)提供相關(guān)的多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)；以及
[0013]狀態(tài)機(jī)，所述狀態(tài)機(jī)耦合至所述數(shù)據(jù)信號(hào)源電路和所述數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路，且通過(guò)提供多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)。
[0014]根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例，一種促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較的方法包括:
[0015]將至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)路由至DUT和將至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)從DUT路由；
[0016]接收多個(gè)控制信號(hào)和多個(gè)發(fā)送數(shù)據(jù)的一部分，且作為對(duì)此的響應(yīng)，提供所述至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)和多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的一部分；
[0017]接收所述多個(gè)控制信號(hào)的另一部分，且作為對(duì)此的響應(yīng)，處理所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)并提供多個(gè)信號(hào)分析數(shù)據(jù)和所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的另一部分；
[0018]將所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換以提供相關(guān)的多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)；以及
[0019]用狀態(tài)機(jī)處理所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)以提供多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1為用于測(cè)試無(wú)線信號(hào)受測(cè)裝置(DUT)的常規(guī)測(cè)試環(huán)境的框圖。
[0021]圖2示出了圖1測(cè)試環(huán)境的來(lái)自DUT的預(yù)期和實(shí)際發(fā)送信號(hào)。
[0022]圖3為添加了直接從DUT捕獲信號(hào)的外部商用測(cè)試設(shè)備用于測(cè)試無(wú)線信號(hào)DUT的常規(guī)測(cè)試環(huán)境的功能框圖。
[0023]圖4示出了圖3測(cè)試環(huán)境的測(cè)試器內(nèi)與對(duì)應(yīng)的捕獲控制信號(hào)一起的來(lái)自DUT的預(yù)期和實(shí)際發(fā)送信號(hào)。
[0024]圖5為采用測(cè)試系統(tǒng)并支持根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的示例性實(shí)施例的一種或多種測(cè)試方法的無(wú)線信號(hào)測(cè)試環(huán)境的功能框圖。
[0025]圖6為圖5測(cè)試環(huán)境的功能框圖，帶有支持根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的其它示例性實(shí)施例的一種或多種測(cè)試方法的測(cè)試系統(tǒng)。
[0026]圖7為采用測(cè)試系統(tǒng)并支持根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的另外的示例性實(shí)施例的一種或多種測(cè)試方法的測(cè)試環(huán)境的功能框圖。

【具體實(shí)施方式】
[0027]以下【具體實(shí)施方式】是結(jié)合附圖的受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的示例性實(shí)施例。相對(duì)于本發(fā)明的范圍，此類描述旨在進(jìn)行示例而非加以限制。對(duì)此類實(shí)施例加以詳盡的描述，使得本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以實(shí)施該主題發(fā)明，并且應(yīng)當(dāng)理解，在不脫離本主題發(fā)明的精神或范圍的前提下，可以實(shí)施具有一些變化的其他實(shí)施例。
[0028]在本發(fā)明全文中，在沒有明確指示與上下文相反的情況下，應(yīng)當(dāng)理解，所述單獨(dú)的電路元件可以是單數(shù)或復(fù)數(shù)。例如，術(shù)語(yǔ)“電路”可以包括單個(gè)部件或多個(gè)部件，所述部件為有源和/或無(wú)源，并且連接或換句話講耦合到一起(如成為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片)，以提供所述功能。另外，術(shù)語(yǔ)“信號(hào)”可指一個(gè)或多個(gè)電流、一個(gè)或多個(gè)電壓、或數(shù)據(jù)信號(hào)。在圖中，相似或相關(guān)的元件將具有相似或相關(guān)的字母、數(shù)字或數(shù)字字母混合的指示。此外，雖然在具體實(shí)施的上下文中已討論了本發(fā)明使用分立的電子電路(優(yōu)選地為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片形式)，但作為另一種選擇，根據(jù)待處理的信號(hào)頻率或數(shù)據(jù)速率，此類電路的任何部分的功能可使用一個(gè)或多個(gè)適當(dāng)編程的處理器進(jìn)行具體實(shí)施。此外，就示出各種實(shí)施例的功能區(qū)塊的示意圖的圖示來(lái)說(shuō)，所述功能區(qū)塊未必表示硬件電路之間的分區(qū)。因此，例如功能區(qū)塊(如，處理器、存儲(chǔ)器等)中的一個(gè)或多個(gè)可實(shí)施在單個(gè)硬件(如，通用的信號(hào)處理器、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器、硬盤驅(qū)動(dòng)器等)中。相似地，所述的任何程序可為獨(dú)立程序、可整合為操作系統(tǒng)中的子程序、可為安裝的軟件包內(nèi)的函數(shù)，等等。
[0029]如下面更詳細(xì)討論，引入了一種用于添加和使用在測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)的另外的子系統(tǒng)的系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)和方法將支持事實(shí)上任何和所有測(cè)試程序的程序調(diào)試，尤其是那些涉及多技術(shù)長(zhǎng)信號(hào)序列的測(cè)試程序。因此，通過(guò)消除對(duì)昂貴外部測(cè)試附助設(shè)備(adjunct)的需要以及通過(guò)提供采用外部測(cè)試附助設(shè)備不可能獲得的洞察力從而可能縮短程序調(diào)試時(shí)間，總成本得以減少。此外，這允許我們想象在DUT和測(cè)試系統(tǒng)之間實(shí)際正在發(fā)生的情況，即DUT和測(cè)試系統(tǒng)被獨(dú)立地控制，從而，雖然序列表現(xiàn)出高度協(xié)同(coordinated)，但卻是更松散耦合的。知道在DUT和測(cè)試器中發(fā)生的情況提供了更完整的調(diào)試畫面(picture)。而且，這可在不增加測(cè)試時(shí)間的情況下實(shí)現(xiàn)。在正常操作中，僅是與測(cè)試程序持續(xù)執(zhí)行的同時(shí)保持記錄的問(wèn)題。在發(fā)生錯(cuò)誤的情況下，信號(hào)和控制捕獲信號(hào)數(shù)據(jù)隨后可用于診斷所發(fā)生的情況。
[0030]參照?qǐng)D1，常規(guī)測(cè)試環(huán)境包括用于測(cè)試無(wú)線信號(hào)DUT 10的測(cè)試系統(tǒng)100，或測(cè)試器。除其它子系統(tǒng)外，DUT 10包括射頻(RF)收發(fā)器12和將由一個(gè)或多個(gè)固件程序、軟件命令或硬連線的電路結(jié)構(gòu)(其每一個(gè)的各種形式在本領(lǐng)域內(nèi)是公知的)發(fā)起的一組預(yù)定義的信號(hào)序列。DUT 10通過(guò)信號(hào)通信媒介14(通常為用于測(cè)試目的的硬連線信號(hào)通道，但如果需要，也可為無(wú)線信號(hào)連接)發(fā)送由測(cè)試器100接收的測(cè)試信號(hào)序列13t。
[0031]除其它子系統(tǒng)外，測(cè)試器100包括信號(hào)路由電路112(下面更詳細(xì)討論)、信號(hào)分析電路114 (如VSA)、測(cè)試信號(hào)發(fā)生電路116 (如VSG)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路118 (如測(cè)試器100內(nèi)的本地存儲(chǔ)器電路或通過(guò)網(wǎng)絡(luò)可用的遠(yuǎn)程存儲(chǔ)器電路)和控制電路120(如基于微處理器的或基于微控制器的)。控制電路120與VSA 114和VSG 116以數(shù)據(jù)121a、121g交換控制信號(hào)，且根據(jù)需要為信號(hào)路由電路112提供控制信號(hào)121s?？刂齐娐?20也可與外部電路(如個(gè)人電腦形式的外部控制器(未示出))交換控制信號(hào)和數(shù)據(jù)121c。
[0032]根據(jù)其需要的控制信號(hào)121s，信號(hào)路由電路112執(zhí)行兩項(xiàng)基本的功能:將DUT發(fā)送信號(hào)13t路由為至VSA114的輸入信號(hào)115，以及將至DUT的VSG輸出信號(hào)117路由為DUT接收信號(hào)。路由電路112可以為開關(guān)，如單刀124雙擲開關(guān)126a、126g，其中信號(hào)通道122在測(cè)試器100的接收和發(fā)送模式之間(以及相應(yīng)地，在DUT的發(fā)送和接收模式之間)切換?；蛘?，信號(hào)路由電路112可以其它已知方式實(shí)施(例如，作為雙工器)。
[0033]如圖1所示，根據(jù)預(yù)定義的信號(hào)序列14，DUT收發(fā)器12發(fā)送具有(例如)三個(gè)子序列的信號(hào)13t，三個(gè)序列中的中間序列具有顯著減小的信號(hào)電平或功率。路由為至VSA114的輸入信號(hào)115的信號(hào)13t導(dǎo)致捕獲信號(hào)119aa，而捕獲信號(hào)119aa被VSA 114取樣并提供為用于儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器118中的數(shù)字化信號(hào)數(shù)據(jù)119a。如圖1所示，捕獲信號(hào)119aa缺少具有顯著減小的信號(hào)功率的中間序列。
[0034]參照?qǐng)D2，這種情況可更直觀。如上面的信號(hào)波形圖所示，預(yù)期的DUT發(fā)送信號(hào)13i會(huì)包括具有升高的信號(hào)功率的中間序列。其結(jié)果是，所有的三個(gè)信號(hào)子序列A、B、C會(huì)具有足以超過(guò)VSA 114內(nèi)的觸發(fā)水平的信號(hào)功率，從而確保所有信號(hào)子序列A、B、C都被捕獲。
[0035]然而，如下面的信號(hào)圖所示，實(shí)際的DUT發(fā)送信號(hào)13t不正確地包括了中間序列B，而中間序列B具有不足以超過(guò)觸發(fā)水平的顯著減小的信號(hào)功率，并且因此妨礙了被VSA114捕獲而作為捕獲測(cè)試信號(hào)119aa的一部分。相應(yīng)地，對(duì)捕獲數(shù)據(jù)信號(hào)119aa的隨后分析可能錯(cuò)誤地得出所捕獲的第二子序列對(duì)應(yīng)于預(yù)期的第二子序列，而事實(shí)上，此時(shí)它對(duì)應(yīng)于第三子序列C。因此，測(cè)試程序會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的分析結(jié)果，且沒有任何其它數(shù)據(jù)描述實(shí)際接收到的信號(hào)13t或以其它方式與實(shí)際接收到的信號(hào)13t相關(guān)，而測(cè)試和/或更正該錯(cuò)誤分析結(jié)果將是困難的，且調(diào)試該測(cè)試程序?qū)⑿枰@著更多的時(shí)間。
[0036]參照?qǐng)D3，在試圖捕獲有關(guān)實(shí)際DUT信號(hào)13t信息已采用的方法包括使用外部觸發(fā)器132，如觸發(fā)示波器，其能取樣并儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)于實(shí)際DUT信號(hào)13t的信號(hào)數(shù)據(jù)133。并不需要高分辨率數(shù)據(jù)，較低分辨率的信號(hào)數(shù)據(jù)133將已足夠并可使用更小的存儲(chǔ)器134存儲(chǔ)。這種對(duì)應(yīng)于實(shí)際DUT信號(hào)13t的時(shí)間與功率關(guān)系(PVT)的數(shù)據(jù)包絡(luò)(envelope) 133可被存儲(chǔ)并隨后以(除其它特性外)例如信號(hào)峰和谷的時(shí)刻(timing)進(jìn)行比較，以作為測(cè)試程序故障排除或調(diào)試的一部分。
[0037]參照?qǐng)D4，如前所述，預(yù)期的DUT信號(hào)13i包括子序列，子序列中帶有具有升高的信號(hào)功率的中間子序列。然而，實(shí)際的DUT信號(hào)13t包括子序列，其中中間子序列錯(cuò)誤地具有較低的信號(hào)功率。因此，與預(yù)期的DUT信號(hào)13i相關(guān)的捕獲控制信號(hào)的信號(hào)分布曲線將與VSA114中產(chǎn)生的實(shí)際的DUT信號(hào)13t的捕獲控制信號(hào)分布曲線存在差別。捕獲控制信號(hào)分布曲線的此種差別，如捕獲控制信號(hào)脈沖與時(shí)間關(guān)系的差別提供了對(duì)程序錯(cuò)誤可能原因的深入了解。然而，由VSA 114產(chǎn)生的捕獲控制信號(hào)對(duì)外部?jī)x器132而言是不能訪問(wèn)的。因此，將需要一個(gè)或多個(gè)另外的外部子系統(tǒng)以收集、比較和/或關(guān)聯(lián)由VSA 114和外部?jī)x器132產(chǎn)生的捕獲控制信號(hào)。
[0038]參照?qǐng)D5，根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，測(cè)試器200還包括子系統(tǒng)202，該子系統(tǒng)用于捕獲與實(shí)際DUT信號(hào)13t相關(guān)的信號(hào)數(shù)據(jù)。另外，信號(hào)路由電路112a具有提供對(duì)應(yīng)于實(shí)際DUT信號(hào)13t的信號(hào)203的額外能力。例如，當(dāng)實(shí)施為單刀雙擲開關(guān)時(shí)，極124a可包括功率分配器，從而使VSA輸入信號(hào)115和分流的(diverted)輸入信號(hào)203都對(duì)應(yīng)于實(shí)際DUTis 13t ο
[0039]子系統(tǒng)202包括基本上如圖所示互聯(lián)的功率檢測(cè)器204、模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)電路206、數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)電路208 (如存儲(chǔ)器電路)和狀態(tài)機(jī)220。功率檢測(cè)器204測(cè)試傳入信號(hào)203的信號(hào)功率包絡(luò)。測(cè)試到的功率包絡(luò)信號(hào)205由ADC電路206轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)207。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)207根據(jù)來(lái)自狀態(tài)機(jī)220的一個(gè)或多個(gè)控制信號(hào)221s存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器208中。狀態(tài)機(jī)220還接收VSA 121a和VSG 121g控制信號(hào)和數(shù)據(jù)，以及提供關(guān)于VSA 114和VSG 116子系統(tǒng)狀態(tài)信息的控制和/或數(shù)據(jù)信號(hào)221a、221g。此類子系統(tǒng)控制信息和數(shù)據(jù)也可根據(jù)狀態(tài)機(jī)控制信號(hào)221s存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器208中。因此，可提供(例如)描述傳入的DUT信號(hào)203的信號(hào)功率包絡(luò)209a和捕獲的控制信號(hào)20%的一個(gè)或多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)信號(hào)209。
[0040]這有利地提供了捕獲和隨后訪問(wèn)信號(hào)子序列A、B、C的PVT記錄(圖2和4)以及與傳入的DUT信號(hào)203有關(guān)的狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)(如捕獲控制信號(hào)數(shù)據(jù))。由于功率檢測(cè)器204測(cè)量信號(hào)的功率包絡(luò)，因此需要較少的數(shù)據(jù)位并可采用較低的采樣率，從而最小化需要的捕獲存儲(chǔ)器的量。系統(tǒng)狀態(tài)機(jī)220將反映控制捕獲和在存儲(chǔ)器208中存儲(chǔ)的內(nèi)部時(shí)鐘。因此，不會(huì)被外部?jī)x器(圖3)訪問(wèn)的內(nèi)部時(shí)鐘可用于針對(duì)內(nèi)部時(shí)鐘標(biāo)記相互參照、比較和/或關(guān)聯(lián)捕獲的PVT數(shù)據(jù)。例如，在將數(shù)據(jù)207寫入存儲(chǔ)器208的過(guò)程中，狀態(tài)機(jī)狀態(tài)209b可與PVT包絡(luò)數(shù)據(jù)209a —起被存入存儲(chǔ)器208。這提供了可用于調(diào)試新測(cè)試程序或修改的測(cè)試程序的一組內(nèi)容更豐富的故障排除信息。
[0041]參照?qǐng)D6，根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的其它的示例性實(shí)施例，該測(cè)試器200在執(zhí)行DUT 10的接收信號(hào)測(cè)試期間還可用于對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行故障排除和調(diào)試，即在執(zhí)行DUT 10的接收信號(hào)測(cè)試期間，VSG 116提供路由向外至DUT 10經(jīng)由測(cè)試信號(hào)通道14的測(cè)試信號(hào)117，作為DUTlO的接收信號(hào)13r。在該測(cè)試方案中，可能需要，也可能不需要功率檢測(cè)器204和ADC電路206。然而，狀態(tài)機(jī)220可繼續(xù)提供狀態(tài)數(shù)據(jù)209a、209b，以存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器208中。當(dāng)需要用于對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行故障排除或調(diào)試時(shí)，可隨后訪問(wèn)該數(shù)據(jù)209。
[0042]另外，在采用頻分雙工(frequency divis1n duplex) (FDD)信號(hào)的DUT測(cè)試方案中，VSA 114和VSG 116可都為工作狀態(tài)，其中VSA114接收和處理VSA輸入信號(hào)115，同時(shí)VSG 116提供其輸出信號(hào)117。根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的示例性實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)和方法允許檢測(cè)VSA 114接收的數(shù)據(jù)包(例如)來(lái)識(shí)別錯(cuò)誤的同步事件。
[0043]參照?qǐng)D7，根據(jù)本要求保護(hù)的發(fā)明的另外的示例性實(shí)施例，測(cè)試系統(tǒng)300可實(shí)施為支持對(duì)多個(gè)DUT，10a、10b、10c、1d的測(cè)試。(該示例涉及用于四個(gè)DUT的測(cè)試環(huán)境，但正如本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將會(huì)容易理解的，該實(shí)施方案可被按比例縮減或擴(kuò)增以支持更少或更多數(shù)量DUT的測(cè)試)。在該示例性實(shí)施例中，測(cè)試器300包括對(duì)應(yīng)數(shù)量的路由電路12aa、12ab、12ac、12ad ;功率檢測(cè)器 204a、204b、204c、204d ；ADC 電路 206a、206b、206c、206d 和存儲(chǔ)器元件208a、208b、208c、208d(然而，如會(huì)被容易理解的，也可采用單一存儲(chǔ)器元件來(lái)提供用于存儲(chǔ)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)207a、297b、207c、207d的足夠存儲(chǔ)空間)。測(cè)試器300還包括多路器302和信號(hào)拆分器(splitter) 304。
[0044]來(lái)自DUT 收發(fā)器 12a、12b、12c、12d 的 DUT 信號(hào) 13ta、13tb、13tc、13td 由信號(hào)路由電路112&&、112&13、112&(3、112&(1路由至多路器302，根據(jù)來(lái)自控制器120的一個(gè)或多個(gè)控制信號(hào)121m，多路器302，例如在連續(xù)的時(shí)間區(qū)間tl、t2、t3、t4內(nèi)，從其輸入信號(hào)115a、115b、115c、115d中選擇一個(gè)提供給VSA 114的信號(hào)115。如圖中可見，狀態(tài)機(jī)子系統(tǒng)202 (圖5)根據(jù)要測(cè)試的DUT 10的數(shù)量被復(fù)制。這使得每一個(gè)分流的DUT信號(hào)203a、203b、203c、203d的PVT包絡(luò)數(shù)據(jù)如上面所述被取樣和儲(chǔ)存。
[0045]在該例子中，第三DUT 1c提供錯(cuò)誤信號(hào)13tc，不同于其余的DUT信號(hào)13ta、13tb、13td，其包括具有顯著減小的信號(hào)幅度的信號(hào)子序列，預(yù)期與顯著升高的信號(hào)幅度相反(如對(duì)應(yīng)于圖2和圖4中示出的子序列B)。該信號(hào)13tc由多路器302，例如在時(shí)間區(qū)間t3期間路由至VSA114。類似于上面所描述的那些，這導(dǎo)致不完全信號(hào)序列119aa3的捕獲和儲(chǔ)存。同時(shí)，與第三DUT 1c相關(guān)聯(lián)的狀態(tài)機(jī)子系統(tǒng)產(chǎn)生PVT數(shù)據(jù)209ca和控制信號(hào)209cb，這些數(shù)據(jù)可作為數(shù)據(jù)209c從存儲(chǔ)器208c中獲取用于分析確定測(cè)試程序的問(wèn)題。
[0046]或者，對(duì)于DUT接收系統(tǒng)測(cè)試，VSG輸出信號(hào)117由拆分器304和路由電路112aa、112ab、112ac、112ad 分配至 DUT 10a、10b、10c、10d。如上面所討論，VSA 121a 和 VSG 121g控制信號(hào)以及其它VSA和VSG狀態(tài)數(shù)據(jù)221a、221g被狀態(tài)機(jī)220捕獲并被儲(chǔ)存221s于存儲(chǔ)器208a、208b、208c、208d中，隨后用于將來(lái)自VSG 116的信號(hào)發(fā)射與內(nèi)部系統(tǒng)控制狀態(tài)相關(guān)聯(lián)。
[0047]如還可以理解的，根據(jù)該實(shí)施方案300，一個(gè)DUT信號(hào)由在任何給定時(shí)間區(qū)間內(nèi)由VSA 114監(jiān)控。然而，盡管如此，所有的DUT信號(hào)可通過(guò)將其相應(yīng)的PVT包絡(luò)與狀態(tài)機(jī)信息一起取樣和存儲(chǔ)進(jìn)行監(jiān)控，以在隨后程序調(diào)試中進(jìn)行分析和使用。
[0048]在不脫離本發(fā)明的范圍和精神的前提下，本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和操作方法的各種其他修改形式和替代形式對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員將是顯而易見的。雖然本發(fā)明結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施例加以描述，但應(yīng)當(dāng)理解，受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明不應(yīng)不當(dāng)?shù)叵抻诖祟惥唧w實(shí)施例。其意圖是，以下權(quán)利要求限定本發(fā)明的范圍，并且由此應(yīng)當(dāng)涵蓋這些權(quán)利要求范圍內(nèi)的結(jié)構(gòu)和方法及其等同物。
【權(quán)利要求】
1.一種包括測(cè)試系統(tǒng)的裝置，所述測(cè)試系統(tǒng)用于促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與所述測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較，包括: 信號(hào)路由電路，所述信號(hào)路由電路用于將至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)路由至DUT和將至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)從DUT路由； 數(shù)據(jù)信號(hào)源電路，所述數(shù)據(jù)信號(hào)源電路耦合至所述信號(hào)路由電路，且通過(guò)提供所述至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)和多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的一部分響應(yīng)于多個(gè)控制信號(hào)和多個(gè)發(fā)送數(shù)據(jù)的一部分; 數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路，所述數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路耦合至所述信號(hào)路由電路，并通過(guò)處理所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)和提供多個(gè)信號(hào)分析數(shù)據(jù)以及所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的另一部分響應(yīng)于所述多個(gè)控制信號(hào)的另一部分； 信號(hào)轉(zhuǎn)換電路，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路耦合至所述信號(hào)路由電路，且通過(guò)提供相關(guān)多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)；以及 狀態(tài)機(jī)，所述狀態(tài)機(jī)耦合至所述數(shù)據(jù)信號(hào)源電路和所述數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路，且通過(guò)提供多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述信號(hào)路由電路包括信號(hào)多路器電路、信號(hào)拆分器電路、切換電路和功率分配器電路中的至少一者。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)源電路包括矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路包括矢量信號(hào)分析器(VSA)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路包括: 功率檢測(cè)電路，所述功率檢測(cè)電路通過(guò)提供檢測(cè)到的功率信號(hào)響應(yīng)于所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)；和 模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)電路，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路耦合至所述功率檢測(cè)電路，并通過(guò)提供所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述檢測(cè)到的功率信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述狀態(tài)機(jī)包括邏輯電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路耦合至所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路和所述狀態(tài)機(jī)以存儲(chǔ)所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)和所述多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路包括本地存儲(chǔ)器電路。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括控制電路，所述控制電路耦合至所述數(shù)據(jù)信號(hào)源電路和所述數(shù)據(jù)信號(hào)分析電路以提供所述多個(gè)控制信號(hào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路通過(guò)提供相關(guān)的多個(gè)發(fā)送轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)還響應(yīng)于所述至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，還包括數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)電路耦合至所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路和所述狀態(tài)機(jī)以存儲(chǔ)所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)、所述多個(gè)發(fā)送轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)和所述多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。
12.—種促進(jìn)受測(cè)裝置(DUT)發(fā)送的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)與測(cè)試系統(tǒng)接收的射頻(RF)數(shù)據(jù)信號(hào)的比較的方法，所述方法包括: 將至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)路由至DUT和將至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)從DUT路由； 接收多個(gè)控制信號(hào)和多個(gè)發(fā)送數(shù)據(jù)的一部分，且作為對(duì)此的響應(yīng)，提供所述至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)和多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的一部分； 接收所述多個(gè)控制信號(hào)的另一部分，且作為對(duì)此的響應(yīng)，處理所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)并提供多個(gè)信號(hào)分析數(shù)據(jù)和所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)的另一部分； 將所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換以提供相關(guān)的多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)；以及 用狀態(tài)機(jī)處理所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)以提供多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述路由包括信號(hào)多路、信號(hào)拆分、信號(hào)切換和功率分配中的至少一者。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述轉(zhuǎn)換包括: 檢測(cè)所述至少一個(gè)RF接收數(shù)據(jù)信號(hào)的功率分布以提供檢測(cè)的功率信號(hào)；以及 執(zhí)行所述檢測(cè)的功率信號(hào)的數(shù)模轉(zhuǎn)換以提供所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中所述用狀態(tài)機(jī)處理所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)包括用邏輯電路處理所述多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，進(jìn)一步包括儲(chǔ)存所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)和所述多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述儲(chǔ)存包括本地儲(chǔ)存所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)和所述多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，進(jìn)一步包括提供所述多個(gè)控制信號(hào)。
19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，進(jìn)一步包括轉(zhuǎn)換所述至少一個(gè)RF發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)以提供相關(guān)的多個(gè)發(fā)送轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，進(jìn)一步包括儲(chǔ)存所述多個(gè)接收轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)、所述多個(gè)發(fā)送轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)和所述多個(gè)狀態(tài)機(jī)數(shù)據(jù)。
【文檔編號(hào)】H04B17/309GK104471882SQ201380038622
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2013年3月22日 優(yōu)先權(quán)日:2012年7月20日
【發(fā)明者】克里斯蒂安·沃爾夫·厄爾高, 喬納森·巴里·赫斯特, 李永航 申請(qǐng)人:萊特普茵特公司