一種用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，包括待測ZigBee DUT、ZigBee測試儀、測試系統(tǒng)平臺，待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀通過射頻線通信連接，ZigBee測試儀與測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線或網線通信連接，測試系統(tǒng)平臺由電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器及機箱結構組件構成，電源給背板供電，存儲單元通過CF插槽插在控制器上，控制器通過PXI接口插在背板上，鍵盤通過USB接口連接在控制器上，顯示器通過VGA接口連接在控制器上，機箱結構組件將整個測試系統(tǒng)平臺固定。本實用新型的有益效果：利用GPIB總線和網絡對ZigBee射頻性能進行自動測試，使用方便，能提高ZigBee設備研發(fā)與生產的進度，系統(tǒng)形成后無需人為參于，節(jié)約人力成本，為ZigBee設備性能指標的驗證提供很好的解決方案。
【專利說明】—種用于測量z i gBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]隨著物聯(lián)網行業(yè)的發(fā)展以及ZigBee技術日益成熟，ZigBee產品生產量將逐漸加大。而由于ZigBee產品生產選擇器件類型、溫度變化、器件組裝等因素的影響，即使是基于同樣的平臺同樣的設計，也可能出現(xiàn)不同性能的產品。為了檢查ZigBee產品的性能指標，必須通過測試儀進行測量。在ZigBee產品產量逐漸增大，通過手動操作儀表來測量其指標，效率低下，測試將會成為生產的瓶頸。
【發(fā)明內容】
[0003]本實用新型要解決的技術問題是，針對現(xiàn)有ZigBee產品測試存在的上述不足，提供一種用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，針對ZigBee射頻的研發(fā)與生產，對其性能指標進行自動測量。
[0004]本實用新型為解決上述技術問題所采用的技術方案是:
[0005]一種用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，包括待測ZigBee DUT,ZigBee測試儀、測試系統(tǒng)平臺，所述待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀通過射頻線通信連接，ZigBee測試儀與測試系統(tǒng)平臺通信連接，所述測試系統(tǒng)平臺由電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器及機箱結構組件構成，電源給背板供電，存儲單元通過CF插槽插在控制器上，控制器通過PXI接口插在背板上，鍵盤通過USB接口連接在控制器上，顯示器通過VGA接口連接在控制器上，測試系統(tǒng)平臺的電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器固定于機箱結構組件上。
[0006]按上述方案，所述測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線與ZigBee測試儀通信連接，或者通過網線與ZigBee測試儀通信連接，或者同時通過GPIB總線、網線與ZigBee測試儀通信連接。
[0007]按上述方案，所述存儲單元為市售的Flash存儲器，所述控制器為市售的PXI控制器。
[0008]本實用新型用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟:
[0009](I)加載存放于測試系統(tǒng)平臺內存儲單元中的項目配置文件，將待測ZigBee DUT的測量項目和測試環(huán)境配置參數(shù)導入測試系統(tǒng)平臺中；
[0010](2)自動控制ZigBee測試儀與待測ZigBee DUT進行通信；
[0011](3)自動控制ZigBee測試儀進行指定測量項目的測量，讀取測量結果，并且實時顯示測試結果；
[0012](4)測量結束后，將測量結果保存。
[0013]所述步驟(I)中測量項目按照IEE802.15.4協(xié)議要求包括:待測ZigBee DUT的發(fā)射狀態(tài)到接收狀態(tài)轉換時間，接收狀態(tài)到發(fā)射狀態(tài)轉換時間，矢量幅度誤差，中心頻率誤差，發(fā)射功率，最大輸入電平，接收靈敏度，鏈路品質信息。
[0014]所述步驟(1)中測量項目根據(jù)不同測量需求在測試程序中選擇修改、配置。
[0015]所述步驟(2)中待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀通過射頻線通信連接。
[0016]多次重復所述步驟(3)測量待測ZigBee DUT的某個測量項目或者全部測量項目，反映待測ZigBee DUT在一段時間內的穩(wěn)定性和一致性。
[0017]所述步驟(3)中ZigBee測試儀的測量結果通過測試系統(tǒng)平臺的顯示器讀取，測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線或網線獲取測量結果。
[0018]本實用新型的有益效果:利用GPIB總線和網絡對ZigBee射頻性能進行自動測試，使用方便，能提高ZigBee設備研發(fā)與生產的進度，系統(tǒng)形成后無需人為參于，可以節(jié)約更多的人力成本，為ZigBee設備性能指標的驗證提供了很好的解決方案。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0019]圖1是本實用新型測試系統(tǒng)的總體結構框圖；
[0020]圖2是本實用新型測試系統(tǒng)平臺與ZigBee測試儀連接的結構示意圖；
[0021]圖3是本實用新型測試系統(tǒng)的工作流程圖。
【具體實施方式】
[0022]下面結合附圖和實施例對本實用新型進行詳細說明。
[0023]參照圖1?圖2，本實用新型所述的用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，包括待測ZigBee DUT (被測設備)、ZigBee測試儀、測試系統(tǒng)平臺，所述待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀通過射頻線通信連接，ZigBee測試儀與測試系統(tǒng)平臺通信連接，所述測試系統(tǒng)平臺由電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器及機箱結構組件構成，電源給背板供電，存儲單元通過CF插槽插在控制器上，控制器通過PXI接口插在背板上，鍵盤通過USB接口連接在控制器上，顯示器通過VGA接口連接在控制器上，測試系統(tǒng)平臺的電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器固定于機箱結構組件上。
[0024]所述測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線或網線與ZigBee測試儀之間的通信靈活配置，測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線與ZigBee測試儀通信連接，或者通過網線與ZigBee測試儀通信連接，或者同時通過GPIB總線、網線與ZigBee測試儀通信連接。
[0025]所述存儲單元為市售的Flash存儲器(如標配2GB MLC Nand Flash)，所述控制器為市售的PXI控制器。
[0026]本實用新型用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟:
[0027](1)加載存放于測試系統(tǒng)平臺內存儲單元中的項目配置文件，將待測ZigBee DUT的測量項目和測試環(huán)境配置參數(shù)(待測ZigBee DUT性能指標)導入測試系統(tǒng)平臺中；
[0028](2)自動控制ZigBee測試儀與待測ZigBee DUT進行通信；
[0029](3)自動控制ZigBee測試儀進行指定測量項目的測量，讀取測量結果，并且實時顯示測試結果；
[0030](4)測量結束后，將測量結果保存。
[0031]所述步驟(I)中測量項目按照IEE802.15.4協(xié)議要求包括:待測ZigBee DUT的發(fā)射狀態(tài)到接收狀態(tài)轉換時間，接收狀態(tài)到發(fā)射狀態(tài)轉換時間，矢量幅度誤差，中心頻率誤差，發(fā)射功率，最大輸入電平，接收靈敏度，鏈路品質信息。
[0032]所述步驟(I)中測量項目根據(jù)不同測量需求在測試程序中選擇修改、配置。測量項目可配置具體為:測試系統(tǒng)提供了項目配置文件，在測試系統(tǒng)平臺上可以編輯項目配置文件，其目的是可以根據(jù)使用者的不同需求配置相關的測量項目，同時也可以根據(jù)不同的需求改變某個測量項目的環(huán)境，比如最大輸入電平協(xié)議要求接收功率大于_20dbm測試，可能根據(jù)具體需求更改儀器的發(fā)射功率；測試系統(tǒng)提供頻率、功率、測量次數(shù)等可配置的測量環(huán)境?？梢耘渲脺y量項目的測試條件，如頻率及儀器發(fā)射功率等，其中測量下限值與上限值都按照IEE802.15.4相關標準而定。還可以根據(jù)實際的測試需求進行刪減和添加項目。
[0033]所述步驟(2)中待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀通過射頻線通信連接。
[0034]多次重復所述步驟(3)測量待測ZigBee DUT的某個測量項目或者全部測量項目，反映待測ZigBee DUT在一段時間內的穩(wěn)定性和一致性。
[0035]所述步驟(3)中ZigBee測試儀的測量結果通過測試系統(tǒng)平臺的顯示器讀取，測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線或網線獲取測量結果。
[0036]首先，參照圖1，了解本實用新型的硬件連接方式。將待測ZigBee DUT用射頻線連接到ZigBee測試儀的射頻輸出口，將ZigBee測試儀與測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線或者網線連接；參考圖2，其中測試系統(tǒng)平臺與ZigBee測試儀通過USB-GPIB轉接卡相連時，可以將USB轉換成GPIB總線；ZigBee測試儀包括信號的發(fā)射裝置(發(fā)射模塊WM6020)與接收裝置(接收模塊WM6030)，可以如同PAN —樣和待測ZigBee DUT進行信令交互，讓待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀建立通信。ZigBee測試儀通過分析待測ZigBee DUT發(fā)射的信號分析待測ZigBee DUT的性能指標。測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線或者網線控制ZigBee測試儀工作，自動執(zhí)行測量項目，返回相應的結果到測試系統(tǒng)平臺，圖2中打印機可以打印測試結果。
[0037]測試系統(tǒng)平臺的PXI控制器用于編輯測量項目、設置ZigBee測試儀的基本參數(shù)，并設置測試項目配置文件命令；一旦設置項目配置文件命令產生，將根據(jù)配置的測量項目進行自動測試，并且將結果顯示到顯示器。顯示器用于顯示測量項目的信息，包括:項目名稱，測試頻率，儀器發(fā)射功率，測量值下限，測量結果，測量值上限等。
[0038]參考圖3，了解整個測試系統(tǒng)的工作流程。測試系統(tǒng)通過GPIB總線或者網絡訪問控制ZigBee測試儀，開啟待測ZigBee DUT并控制ZigBee測試儀與待測ZigBee DUT進行通信，測量待測ZigBee DUT性能指標，測量完成后斷開ZigBee測試儀與待測ZigBee DUT的網絡連接。
[0039]以上內容是結合具體的優(yōu)選實施方式對本實用新型所做的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所述【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型宗旨的范圍內，可以做出各種變形，都應當包含在本實用新型的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，其特征在于:包括待測ZigBeeDUT,ZigBee測試儀、測試系統(tǒng)平臺，所述待測ZigBee DUT與ZigBee測試儀通過射頻線通信連接，ZigBee測試儀與測試系統(tǒng)平臺通信連接，所述測試系統(tǒng)平臺由電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器及機箱結構組件構成，電源給背板供電，存儲單元通過CF插槽插在控制器上，控制器通過PXI接口插在背板上，鍵盤通過USB接口連接在控制器上，顯示器通過VGA接口連接在控制器上，測試系統(tǒng)平臺的電源、背板、控制器、存儲單元、鍵盤、顯示器固定于機箱結構組件上。
2.如權利要求1所述的用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述測試系統(tǒng)平臺通過GPIB總線與ZigBee測試儀通信連接，或者通過網線與ZigBee測試儀通信連接，或者同時通過GPIB總線、網線與ZigBee測試儀通信連接。
3.如權利要求1所述的用于測量ZigBee射頻性能的自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述存儲單元為Flash存儲器，所述控制器為PXI控制器。
【文檔編號】H04B17/00GK204046617SQ201420135150
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年3月24日 優(yōu)先權日:2014年3月24日
【發(fā)明者】張家平, 姚僖 申請人:武漢威士訊信息技術有限公司