一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型提供了一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置，包括阻抗測(cè)試單元向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)試信號(hào)后，采集卡將被測(cè)電力線上的電壓信號(hào)和電流信號(hào)發(fā)送到PC機(jī)以計(jì)算被測(cè)電力線的阻抗；噪聲測(cè)試單元包括耦合器，測(cè)量被測(cè)電力線的噪聲信號(hào)；衰減測(cè)試單元包括衰減發(fā)送模塊和衰減接收模塊；衰減發(fā)送模塊向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)量信號(hào)；衰減接收模塊檢測(cè)測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度；采集卡將被測(cè)電力線兩端的測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度均發(fā)送到PC機(jī)，PC機(jī)依據(jù)電壓強(qiáng)度計(jì)算被測(cè)電力線的衰減值。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置為集成了阻抗、噪聲和衰減3個(gè)參數(shù)的多功能信道特征參數(shù)測(cè)試裝置，測(cè)量精度高，頻率分辨率高。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及一種電力線測(cè)試裝置，具體涉及一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝 置。

【背景技術(shù)】
[0002] 電力線載波（Power Line Carrier，PLC)通信是利用電力線作為信息傳輸媒介 進(jìn)行語(yǔ)音或數(shù)據(jù)傳輸?shù)囊环N特殊通信方式。電力線在電力載波領(lǐng)域一般分為高中低3 類(lèi)，通常高壓電力線指35kV及以上電壓等級(jí)、中壓電力線指IOkV電壓等級(jí)或低壓配電線 380/220V用戶線。最大特點(diǎn)是不需要重新架設(shè)網(wǎng)絡(luò)，只要有電線，就能進(jìn)行數(shù)據(jù)傳遞。
[0003] 由于電力線主要是為用電設(shè)備傳送電能，因此其特性在很多方面難以直接滿足載 波通信的要求。由于電力線連接有眾多未知的用電負(fù)載，低壓配電網(wǎng)的電氣特性顯得非常 復(fù)雜。相比于輸電網(wǎng)絡(luò)和中壓配電網(wǎng)，低壓配電網(wǎng)具有更加多變的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和負(fù)載變化，阻 抗匹配性能更差，噪聲環(huán)境更加惡劣，信號(hào)在其上傳輸?shù)乃p也更加劇烈。這些不利因素對(duì) 依賴低壓配電網(wǎng)作為通信介質(zhì)的低壓電力線載波通信技術(shù)提出了挑戰(zhàn)，也給電力線載波通 信產(chǎn)品的性能提出了很高的要求。
[0004] 目前，國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有的測(cè)試電力線載波信道特征參數(shù)的系統(tǒng)和裝置具有下述缺陷：
[0005] ①：只有單獨(dú)的阻抗測(cè)試設(shè)備、衰減測(cè)試設(shè)備以及噪聲測(cè)試設(shè)備，沒(méi)有一個(gè)可以測(cè) 量這三個(gè)參數(shù)的電力線載波信道綜合測(cè)試裝置；
[0006] ②：測(cè)量精度低，測(cè)量的頻率分辨率低；
[0007] ③：在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)需要多個(gè)測(cè)試設(shè)備才能完成多個(gè)參數(shù)的測(cè)量，體積較大，集成度 低，攜帶不方便，不利于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試；
[0008] ④：在測(cè)試多個(gè)參數(shù)時(shí)，需要分別連接不同的測(cè)試設(shè)備，因此自動(dòng)化測(cè)試水平較 低。
[0009] 綜上，為了能夠評(píng)判低壓載波通信產(chǎn)品的通信性能，為其在真實(shí)條件下的可靠應(yīng) 用提供指導(dǎo)，現(xiàn)階段迫切需要一種既能測(cè)量電力線信道阻抗、噪聲和衰減等特征參數(shù)，又能 適用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的電力線載波信道綜合測(cè)試裝置，以實(shí)現(xiàn)對(duì)載波設(shè)備的有效測(cè)試和評(píng)估， 加強(qiáng)對(duì)載波通信設(shè)備的質(zhì)量控制。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 為了滿足現(xiàn)有技術(shù)的需要，本實(shí)用新型提供了一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝 置，所述裝置包括分別與采集卡連接的阻抗測(cè)試單元、噪聲測(cè)試單元和衰減測(cè)試單元；所述 米集卡為4通道米集卡。
[0011] 所述阻抗測(cè)試單元向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)試信號(hào)后，所述采集卡將所述被測(cè)電力線 上的電壓信號(hào)和電流信號(hào)發(fā)送到PC機(jī)；
[0012] 所述噪聲測(cè)試單元包括信號(hào)耦合器，測(cè)量被測(cè)電力線的噪聲信號(hào)；
[0013] 所述衰減測(cè)試單元包括衰減發(fā)送模塊和衰減接收模塊；衰減發(fā)送模塊向被測(cè)電力 線發(fā)送測(cè)量信號(hào)；衰減接收模塊檢測(cè)所述測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度，并將所述電壓強(qiáng)度發(fā)送到 采集卡；所述采集卡將被測(cè)電力線兩端的測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度均發(fā)送到PC機(jī)。
[0014] 優(yōu)選的，所述阻抗測(cè)試單元包括測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路和耦合驅(qū)動(dòng)電路；
[0015] 所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路包括依次連接的MCU、DDS、運(yùn)算放大器和功率放大器；所 述MCU通過(guò)RS232串口接收所述PC機(jī)下發(fā)的信號(hào)產(chǎn)生指令后，驅(qū)動(dòng)所述DDS輸出正弦信 號(hào)；所述運(yùn)算放大器和功率放大器分別對(duì)所述正弦信號(hào)放大后通過(guò)耦合驅(qū)動(dòng)電路發(fā)送到被 測(cè)電力線；
[0016] 所述耦合驅(qū)動(dòng)電路包括耦合線圈，所述耦合線圈的初級(jí)繞組與所述功率放大器連 接，次級(jí)繞組的一端通過(guò)耦合電容接入被測(cè)電力線的火線，另一端通過(guò)測(cè)試電阻接入被測(cè) 電力線的零線；所述耦合電容兩端并聯(lián)有放電電阻；
[0017] 優(yōu)選的，所述耦合電容與被測(cè)電力線之間連接有電源相序測(cè)試部件，包括串聯(lián)的 電阻和氖管；所述電阻與耦合電容連接，所述氖管與所述測(cè)試裝置的外殼連接；當(dāng)測(cè)試電 阻接入被測(cè)電力線的一側(cè)懸空時(shí)若氖管發(fā)亮，則耦合電容與火線連接，若氖管不亮，則耦合 電容與零線連接；
[0018] 優(yōu)選的，所述采集卡的A通道的一路高壓探頭連接于耦合電容與次級(jí)繞組之間， 另一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與零線之間，采集次級(jí)繞組與耦合電容串聯(lián)支路的電壓 Ua;所述采集卡的C通道的一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與零線之間，另一路高壓探頭連接 于測(cè)試電阻與次級(jí)繞組之間，采集測(cè)試電阻兩端的電壓U c;所述測(cè)試電阻為純阻性的無(wú)感 電阻，其阻值為定值；
[0019] 所述采集卡將電壓Ua和電壓U。發(fā)送到PC機(jī)。
[0020] 優(yōu)選的，所述衰減發(fā)送模塊包括依次連接的MCU、DDS、運(yùn)算放大器和功率放大器； 所述MCU通過(guò)RS232串口接收所述PC機(jī)下發(fā)的信號(hào)產(chǎn)生指令后，驅(qū)動(dòng)所述DDS輸出正弦信 號(hào)；所述運(yùn)算放大器和功率放大器分別對(duì)所述正弦信號(hào)放大后將其發(fā)送到被測(cè)電力線；
[0021] 優(yōu)選的，所述衰減接收模塊包括連接于被測(cè)電力線的火線和PEN線之間的信號(hào)耦 合器，以及連接于火線和零線之間的5階RC高通濾波器；所述5階RC高通濾波器的一個(gè)輸 出端接地，另一個(gè)輸出端與采集卡連接；
[0022] 優(yōu)選的，檢測(cè)所述被測(cè)電力線的衰減值時(shí)，在被測(cè)電力線的兩端分別設(shè)置一臺(tái)所 述測(cè)試裝置；所述被測(cè)電力線一端的測(cè)試裝置的衰減發(fā)送模塊向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)量信 號(hào)，衰減接收模塊檢測(cè)所述測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度U 1;所述被測(cè)電力線另一端的測(cè)試裝置的 衰減接收模塊檢測(cè)經(jīng)過(guò)被測(cè)電力線傳輸衰減后的所述測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度U 2;
[0023] 優(yōu)選的，所述衰減接收模塊與采集卡的B通道連接；被測(cè)電力線兩端的測(cè)量裝置 的采集卡分別將電壓強(qiáng)度U 1和電壓強(qiáng)度U 2發(fā)送到PC機(jī)；
[0024] 優(yōu)選的，所述噪聲測(cè)試單元包括連接于被測(cè)電力線的火線和PEN線之間的信號(hào)耦 合器，以及連接于火線和零線之間的5階RC高通濾波器；所述5階RC高通濾波器的一個(gè)輸 出端接地，另一個(gè)輸出端與所述采集卡的D通道連接。
[0025] 與最接近的現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)異效果是：
[0026] 1、本實(shí)用新型技術(shù)方案中，測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路和衰減發(fā)送模塊中的功率放大器， 以及耦合驅(qū)動(dòng)電路專(zhuān)門(mén)針對(duì)低壓電力線而設(shè)計(jì)，被測(cè)電力線路接入阻抗即使很低的情況下 (0-10歐姆），測(cè)試裝置仍能輸出較高的電壓，從而保證測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量精度；
[0027] 2、本實(shí)用新型技術(shù)方案中，耦合電容與被測(cè)電力線之間連接有電源相序測(cè)試部 件，使得在沒(méi)有試電筆的情況下保證被測(cè)電力線的正確連接；
[0028] 3、本實(shí)用新型技術(shù)方案中，衰減接收模塊和噪聲測(cè)試單元中的5階RC高通濾波器 采用電容直接耦合，比普通的電感線圈耦合的傳輸損耗要小，測(cè)量更準(zhǔn)確；
[0029] 4、本實(shí)用新型技術(shù)方案中，耦合驅(qū)動(dòng)電路中測(cè)試電阻Rl的電阻值為1Ω，便于通 過(guò)采集卡采集的電壓值計(jì)算被測(cè)電力線的電流值；耦合線圈的初級(jí)繞組與次級(jí)繞組的比值 為10:4時(shí)，能夠增大功放的負(fù)載阻抗，是測(cè)量信號(hào)可以最大程度的輸出，從而保證了測(cè)量 的精度；
[0030] 5、本實(shí)用新型提供的一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置，是集成了測(cè)量阻抗、噪 聲和衰減3個(gè)參數(shù)的多功能信道特征參數(shù)測(cè)試裝置，測(cè)量精度高，頻率分辨率高。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0031] 下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明。
[0032] 圖1 :本實(shí)用新型實(shí)施例中一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)圖；
[0033] 圖2 :本實(shí)用新型實(shí)施例中阻抗測(cè)試單元的電路圖；
[0034] 圖3 :本實(shí)用新型實(shí)施例中耦合驅(qū)動(dòng)電路圖；
[0035] 圖4 :本實(shí)用新型實(shí)施例中衰減發(fā)送模塊示意圖；
[0036] 圖5 :本實(shí)用新型實(shí)施例中衰減接收模塊示意圖；
[0037] 圖6 :本實(shí)用新型實(shí)施例中衰減測(cè)試示意圖；
[0038] 圖7 :本實(shí)用新型實(shí)施例中噪聲測(cè)試模塊電路圖；
[0039] 圖8 :本實(shí)用新型實(shí)施例中噪聲測(cè)試模塊插入損耗波形圖。

【具體實(shí)施方式】
[0040] 下面詳細(xì)描述本實(shí)用新型的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始 至終相同或類(lèi)似的標(biāo)號(hào)表示相同或類(lèi)似的元件或具有相同或類(lèi)似功能的元件。下面通過(guò)參 考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本實(shí)用新型，而不能理解為對(duì)本實(shí)用新型 的限制。
[0041] 電力載波信道的特征參數(shù)主要包括阻抗、噪聲和衰減值，由于電力線載波信道是 一個(gè)時(shí)變的信道，因此各個(gè)時(shí)刻信道的特性不一樣，這就對(duì)電力載波影響很大，本實(shí)用新型 提供電力線載波信道綜合測(cè)試裝置能夠全面測(cè)量電力信道阻抗、噪聲和衰減的特征參數(shù)， 為電力載波通信的穩(wěn)定提供有力的支持。
[0042] 如圖1所示，本實(shí)施例中該測(cè)試裝置包括分別與采集卡連接的阻抗測(cè)試單元、噪 聲測(cè)試單元和衰減測(cè)試單元。
[0043] 阻抗測(cè)試單元向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)試信號(hào)后，采集卡將被測(cè)電力線的電壓信號(hào)和 電流線號(hào)發(fā)送到PC機(jī)，以計(jì)算被測(cè)電力線的阻抗；
[0044] 噪聲測(cè)試單元包括耦合器，測(cè)量被測(cè)電力線的噪聲信號(hào)；
[0045] 衰減測(cè)試單元包括衰減發(fā)送模塊和衰減接收模塊；衰減發(fā)送模塊向被測(cè)電力線發(fā) 送測(cè)量信號(hào)；衰減接收模塊檢測(cè)測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度，并將電壓強(qiáng)度發(fā)送到采集卡；采集 卡將被測(cè)電力線兩端的測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度均發(fā)送到PC機(jī)，PC機(jī)依據(jù)電壓強(qiáng)度計(jì)算被測(cè) 電力線的衰減值；
[0046] 采集卡為4通道采集卡，最高采樣率為80MS/s，使得測(cè)量具有較高的頻率分辨率。
[0047] (一）阻抗測(cè)試單元；
[0048] 如圖2所示，阻抗測(cè)試單元包括測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路和耦合驅(qū)動(dòng)電路；
[0049] 1、測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路包括依次連接的MCU、DDS、運(yùn)算放大器和功率放大器；
[0050] MCU通過(guò)RS232串口接收PC機(jī)下發(fā)的信號(hào)產(chǎn)生指令后，驅(qū)動(dòng)DDS輸出正弦信號(hào)； 運(yùn)算放大器和功率放大器分別對(duì)正弦信號(hào)放大后通過(guò)耦合驅(qū)動(dòng)電路發(fā)送到被測(cè)電力線。
[0051] 本實(shí)施例中技術(shù)人員依據(jù)被測(cè)電力線的實(shí)際情況，調(diào)整測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路可以輸 出9kHz?20MHz頻率范圍內(nèi)的單頻點(diǎn)正弦信號(hào)、9kHz?20MHz頻率范圍內(nèi)的掃頻信號(hào)等 等。
[0052] 同時(shí)，若需要9kHz?500kHz頻率范圍的測(cè)量信號(hào)時(shí)，可以采用：
[0053] ①：AD9854芯片、LTC1994芯片和LM4765芯片依次連接的方式；
[0054] ②：AD9854芯片、LTC1994芯片和LM1876芯片依次連接的方式。
[0055] 若需要500kHz?20MHz頻率范圍的測(cè)量信號(hào)時(shí)，可以采用：
[0056] ①：AD9854芯片和AD8016芯片連接的方式；
[0057] ②：AD9854芯片和OPA2674芯片連接的方式；
[0058] ③：AD9854芯片和OPA2677芯片連接的方式。
[0059] 2、如圖3所示，親合驅(qū)動(dòng)電路包括親合線圈；
[0060] 耦合線圈的初級(jí)繞組與功率放大器連接，次級(jí)繞組的一端通過(guò)耦合電容接入被測(cè) 電力線的火線，另一端通過(guò)測(cè)試電阻接入被測(cè)電力線的零線；耦合電容兩端并聯(lián)有放電電 阻；測(cè)試電阻為純阻性的無(wú)感電阻，其阻值為定值。
[0061] 本實(shí)施例中初級(jí)繞組與次級(jí)繞組的比值大于10 :4,耦合電容Cl的電容值為 0. 22uF，測(cè)試電阻Rl的電阻值為1 Ω，放電電阻R2的阻值為1ΜΩ ;
[0062] 其中，測(cè)試電阻Rl的電阻值為1Ω時(shí)，便于通過(guò)采集卡采集的電壓值計(jì)算被測(cè)電 力線的電流值；初級(jí)繞組與次級(jí)繞組的比值為10 :4時(shí)，能夠增大功放的負(fù)載阻抗，是測(cè)量 信號(hào)可以最大程度的輸出，從而保證了測(cè)量的精度。
[0063] 耦合電容與被測(cè)電力線之間連接有電源相序測(cè)試部件，包括串聯(lián)的電阻和氖管； 電阻與耦合電容連接，氖管與測(cè)試裝置的外殼連接；
[0064] 當(dāng)測(cè)試電阻接入被測(cè)電力線的一側(cè)懸空時(shí)：
[0065] 若氖管發(fā)亮，則耦合電容與火線連接，連接正確；若氖管不亮，則耦合電容與零線 連接，需要重新連接。該電源相序測(cè)試部件使得在沒(méi)有試電筆的情況下保證被測(cè)電力線的 正確連接。
[0066] 3、采集卡與阻抗測(cè)試單元的連接方式：
[0067] 采集卡的A通道的一路高壓探頭連接于耦合電容與次級(jí)繞組之間，如圖3所示的A 點(diǎn)，另一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與零線之間，如圖3所示的N點(diǎn)，采集次級(jí)繞組與耦合 電容串聯(lián)支路的電壓U a;
[0068] 采集卡的C通道的一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與零線之間，如圖3所示的N點(diǎn)， 另一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與次級(jí)繞組之間，如圖3所示的C點(diǎn)，采集測(cè)試電阻兩端的 電壓U。；
[0069] 采集卡將電壓Ua和電壓U。發(fā)送到PC機(jī)，PC機(jī)根據(jù)電壓U。和測(cè)試電阻Rl計(jì)算被 測(cè)電力線回路的電流I，依據(jù)被測(cè)電力線的電壓隊(duì)和電流值I計(jì)算被測(cè)電力線的阻抗。
[0070] (二）衰減測(cè)試單元；
[0071] 1、如圖4所示，衰減發(fā)送模塊包括依次連接的MCU、DDS、運(yùn)算放大器和功率放大 器；MCU通過(guò)RS232串口接收PC機(jī)下發(fā)的信號(hào)產(chǎn)生指令后，驅(qū)動(dòng)DDS輸出正弦信號(hào)；運(yùn)算放 大器和功率放大器分別對(duì)正弦信號(hào)放大后將其發(fā)送到被測(cè)電力線。
[0072] 2、如圖5所示，衰減接收模塊包括連接于被測(cè)電力線的火線和PEN線之間的信號(hào) 耦合器，以及連接于火線和零線之間的5階RC高通濾波器；5階RC高通濾波器的一個(gè)輸出 端接地，另一個(gè)輸出端與采集卡連接。
[0073] 其中，5階RC高通濾波器采用電容直接耦合，比普通的電感線圈耦合的傳輸損耗 要小，測(cè)量更準(zhǔn)確。
[0074] 3、衰減測(cè)試單元的應(yīng)用：
[0075] 如圖6所示，檢測(cè)被測(cè)電力線的衰減值時(shí)，需要在被測(cè)電力線的兩端分別設(shè)置一 臺(tái)測(cè)試裝置，如圖所示測(cè)試裝置1和測(cè)試裝置2 ;
[0076] 被測(cè)電力線一端的測(cè)試裝置1的衰減發(fā)送模塊向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)量信號(hào)，衰減 接收模塊檢測(cè)測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度U 1;被測(cè)電力線另一端的測(cè)試裝置2的衰減接收模塊檢 測(cè)經(jīng)過(guò)被測(cè)電力線傳輸衰減后的測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度U2。
[0077] 衰減接收模塊與采集卡的B通道連接；被測(cè)電力線兩端的測(cè)試裝置1和測(cè)試裝 置2的采集卡分別將電壓強(qiáng)度U 1和電壓強(qiáng)度U 2發(fā)送到PC機(jī)，PC機(jī)計(jì)算衰減值的公式為

【權(quán)利要求】
1. 一種電力線載波信道綜合測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括分別與采集卡連接 的阻抗測(cè)試單元、噪聲測(cè)試單元和衰減測(cè)試單元；所述采集卡為4通道采集卡； 所述阻抗測(cè)試單元向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)試信號(hào)后，所述采集卡將所述被測(cè)電力線上的 電壓信號(hào)和電流信號(hào)發(fā)送到PC機(jī)； 所述噪聲測(cè)試單元包括信號(hào)禪合器，測(cè)量被測(cè)電力線的噪聲信號(hào)； 所述衰減測(cè)試單元包括衰減發(fā)送模塊和衰減接收模塊；衰減發(fā)送模塊向被測(cè)電力線發(fā) 送測(cè)量信號(hào)；衰減接收模塊檢測(cè)所述測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度，并將所述電壓強(qiáng)度發(fā)送到采集 卡；所述采集卡將被測(cè)電力線兩端的測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度均發(fā)送到PC機(jī)。
2. 如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述阻抗測(cè)試單元包括測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路 和禪合驅(qū)動(dòng)電路； 所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生電路包括依次連接的MCU、DDS、運(yùn)算放大器和功率放大器；所述MCU通過(guò)RS232串口接收所述PC機(jī)下發(fā)的信號(hào)產(chǎn)生指令后，驅(qū)動(dòng)所述孤S輸出正弦信號(hào)；所述 運(yùn)算放大器和功率放大器分別對(duì)所述正弦信號(hào)放大后通過(guò)禪合驅(qū)動(dòng)電路發(fā)送到被測(cè)電力 線； 所述禪合驅(qū)動(dòng)電路包括禪合線圈，所述禪合線圈的初級(jí)繞組與所述功率放大器連接， 次級(jí)繞組的一端通過(guò)禪合電容接入被測(cè)電力線的火線，另一端通過(guò)測(cè)試電阻接入被測(cè)電力 線的零線；所述禪合電容兩端并聯(lián)有放電電阻。
3. 如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述禪合電容與被測(cè)電力線之間連接有電 源相序測(cè)試部件，包括串聯(lián)的電阻和氛管；所述電阻與禪合電容連接，所述氛管與所述測(cè)試 裝置的外殼連接；當(dāng)測(cè)試電阻接入被測(cè)電力線的一側(cè)懸空時(shí)若氛管發(fā)亮，則禪合電容與火 線連接，若氛管不亮，則禪合電容與零線連接。
4. 如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述采集卡的A通道的一路高壓探頭連接于 禪合電容與次級(jí)繞組之間，另一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與零線之間，采集次級(jí)繞組與 禪合電容串聯(lián)支路的電壓Ua;所述采集卡的C通道的一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與零線 之間，另一路高壓探頭連接于測(cè)試電阻與次級(jí)繞組之間，采集測(cè)試電阻兩端的電壓叫;所述 測(cè)試電阻為純阻性的無(wú)感電阻，其阻值為定值； 所述采集卡將電壓Ua和電壓Ue發(fā)送到PC機(jī)。
5. 如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述衰減發(fā)送模塊包括依次連接的MCU、 DDS、運(yùn)算放大器和功率放大器；所述MCU通過(guò)RS232串口接收所述PC機(jī)下發(fā)的信號(hào)產(chǎn)生指 令后，驅(qū)動(dòng)所述孤S輸出正弦信號(hào)；所述運(yùn)算放大器和功率放大器分別對(duì)所述正弦信號(hào)放 大后將其發(fā)送到被測(cè)電力線。
6. 如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述衰減接收模塊包括連接于被測(cè)電力線 的火線和PEN線之間的信號(hào)禪合器，W及連接于火線和零線之間的5階RC高通濾波器；所 述5階RC高通濾波器的一個(gè)輸出端接地，另一個(gè)輸出端與采集卡連接。
7. 如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，檢測(cè)所述被測(cè)電力線的衰減值時(shí)，在被測(cè)電 力線的兩端分別設(shè)置一臺(tái)所述測(cè)試裝置；所述被測(cè)電力線一端的測(cè)試裝置的衰減發(fā)送模塊 向被測(cè)電力線發(fā)送測(cè)量信號(hào)，衰減接收模塊檢測(cè)所述測(cè)量信號(hào)的電壓強(qiáng)度Ui;所述被測(cè)電 力線另一端的測(cè)試裝置的衰減接收模塊檢測(cè)經(jīng)過(guò)被測(cè)電力線傳輸衰減后的所述測(cè)量信號(hào) 的電壓強(qiáng)度&。
8. 如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述衰減接收模塊與采集卡的B通道連接； 被測(cè)電力線兩端的測(cè)量裝置的采集卡分別將電壓強(qiáng)度Ui和電壓強(qiáng)度U2發(fā)送到PC機(jī)。
9. 如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述噪聲測(cè)試單元包括連接于被測(cè)電力線 的火線和PEN線之間的信號(hào)禪合器，W及連接于火線和零線之間的5階RC高通濾波器；所 述5階RC高通濾波器的一個(gè)輸出端接地，另一個(gè)輸出端與所述采集卡的D通道連接。
【文檔編號(hào)】H04B3/46GK204231341SQ201420683569
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月14日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月14日
【發(fā)明者】杜娟 申請(qǐng)人:北京泛在互聯(lián)科技有限公司