專利名稱：一種外線測試裝置和故障分析方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電信網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)，更具體地涉及其內(nèi)的外線測試裝置和故障分析方法。
本發(fā)明可為諸如本申請人于1997年2月21日提交的申請?zhí)枮?7108835.7，題為“一種電信網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)”的發(fā)明申請之類系統(tǒng)中的一個組成部分。

圖10示出了本發(fā)明外線測試裝置101在部分示出的該測試系統(tǒng)111中的位置，如該圖所示，本發(fā)明裝置101僅與該系統(tǒng)中的測試端口矩陣103和測試頭管理模塊102直接有關(guān)，一旦測試管理中心(圖中未示)受理的用戶中告通過廣域網(wǎng)(DDN/X.25)送到被測用戶所在分局的測試接口機(jī)105，該接口機(jī)105便根據(jù)被測用戶號碼向交換機(jī)104發(fā)出測試請求命令，交換機(jī)返回允許測試標(biāo)志，并將被測用戶的用戶線接到外測總線EBi(i為≥1的整數(shù))上，接口機(jī)105即向測試頭管理模塊102發(fā)外線測試命令，該管理模塊102將外線測試命令轉(zhuǎn)發(fā)到外線測試裝置101，外線測試裝置101便啟動外線測試并將測試結(jié)果通過管理模塊102送回接口機(jī)105，由接口機(jī)105向交換機(jī)104發(fā)釋放命令并將測試結(jié)果送回測試管理中心(圖中未示)。有關(guān)該專利中請的其他內(nèi)容，可參閱該文獻(xiàn)，不在本文贅述。
眾所周知，諸如混線、地氣、斷線、漏電等原因引起的每種線路故障都可能導(dǎo)致用戶不能通話或通話質(zhì)量下降，成為用戶申告的主要原因，故如何盡快找到故障原因及時排除故障是提高電信服務(wù)質(zhì)量的一個關(guān)鍵因素。
實(shí)踐表明故障種類繁多，引起故障的原因也千變?nèi)f化，同樣的故障可能由不同原因引起，同樣的原因可能產(chǎn)生不同類故障，不同區(qū)域不同環(huán)境產(chǎn)生的故障也不相同。線路故障分析即是通過對線路各項(xiàng)特性參數(shù)進(jìn)行測試并綜合分析這些測試結(jié)果得出線路是否有故障的全過程，其中包括對不同局的線路測試還要根據(jù)線路實(shí)際情況對故障邊界進(jìn)行調(diào)整，同時還需根據(jù)多種測試方法和多種分析模式對故障進(jìn)行分析。本申請所述外線測試就是完成對各種參數(shù)測量，主要指郵電部標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的A線對地，B線對地，A、B線間的直流電壓，交流電壓，絕緣電阻，電容等共十二項(xiàng)參數(shù)的測量。
現(xiàn)有測試系統(tǒng)基本上采用單一測試手段和單一分析模式進(jìn)行分析，對故障分析的準(zhǔn)確率較低，并受區(qū)域環(huán)境等因素的影響顯著。
本發(fā)明的目的就是克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種準(zhǔn)確率高和不受區(qū)域環(huán)境等因素影響的外線測試裝置與故障分析方法。
為達(dá)此目的的本發(fā)明外線測試裝置包括接收來自測試系統(tǒng)的被測信號，用于測試電壓，電阻，電容等參數(shù)的測試單元；用于控制所述測試單元，并可與測試系統(tǒng)通信的控制單元；用于采集來自測試單元的測試信號并加以處理的信號采集處理單元；
所述信號采集處理單元包括數(shù)據(jù)采集電路和數(shù)字信號處理系統(tǒng)；所述控制單元包括用于控制與外界通訊和用于控制所述測試電路動作，通知數(shù)字信號處理系統(tǒng)需采集何種信號并接收其處理結(jié)果的控制通信系統(tǒng)；所述測試單元包括檢測被測線路有無碰電力線的高壓檢測器；泄放話機(jī)及線路電容中的殘存電荷的放電電路；用于在測試過程中測試線碰上高壓時降壓和限流的過壓過流保護(hù)電路；用于測量交、直流電壓的電壓測量單元；用于測量線路絕緣電阻的電阻測量單元；用于測量電容的電容測量單元，以及對來自所述電壓和電阻測量單元的信號進(jìn)行歸一化后送到所述數(shù)據(jù)采集電路的信號調(diào)理單元。
所述電阻測量單元包括設(shè)有某一高阻基準(zhǔn)值的高阻比較電路；用于測量低于/等于所述高阻基準(zhǔn)值的電阻并將測量結(jié)果送到所述信號調(diào)理單元的高阻測量電路以及用于測量低于某一低阻值的小電阻并將測量結(jié)果送到所述信號調(diào)理單元的小電阻測量電路；所述電容測量單元包括依次相連的用于提升標(biāo)準(zhǔn)電源電壓的開關(guān)電源；用于產(chǎn)生基準(zhǔn)恒流電流供被測電容充電的恒流電路，用于比較兩充電點(diǎn)電壓的比較電路，以及對所述兩充電點(diǎn)進(jìn)行計(jì)時的計(jì)時電路。
所述信號調(diào)理單元包括用于濾掉輸入信號之高頻分量的低通濾波器，級聯(lián)放大所述低通濾波器輸出信號的兩級程控放大器以及用于反饋控制所述兩級程控放大器之放大倍數(shù)的β控制單元。所述β控制單元包括用于將所述程控放大器輸出信號與設(shè)定的基準(zhǔn)信號相比較的比較電路和接收比較結(jié)果控制所述程控放大器倍數(shù)，為下一級數(shù)據(jù)采集提供良好信噪比的β控制電路。
所述信號采集處理單元中的所述數(shù)據(jù)采集電路包括對多個被測用戶進(jìn)行測試選擇的選擇開關(guān)和將所選模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號送往數(shù)字信號處理系統(tǒng)的A/D轉(zhuǎn)換器。
本發(fā)明故障分析方法包括以自動調(diào)整分析模式的方式，用多種測量方法對同一參數(shù)進(jìn)行線路測量，以便比較分析確定故障類型；在業(yè)務(wù)系統(tǒng)上為每個用戶建立相應(yīng)健康檔案，以便將實(shí)測數(shù)據(jù)與其進(jìn)行比較分析，去除由區(qū)域，環(huán)境因素造成的誤判。
所述多種測量方法包括用兩種測量電路測試不同范圍的電阻值以區(qū)分判定不同故障的電阻測量法和/或用兩種充電電流和高、低兩種電壓比較值來區(qū)分判別是否真正斷線的電容測試法。
所述電阻測量法包括以下步驟用電阻測量電路測出第一阻值；當(dāng)?shù)谝蛔柚德湓谝欢▍^(qū)間內(nèi)時，啟用用戶電路測出第二阻值；根據(jù)所述第一阻值和第二阻值是否相同來區(qū)分和判定不同故障；用戶未掛機(jī)或AB線絕緣性能差。
所述電容測試法的所述高、低兩種電壓比較值分別用于測量線間電容與話機(jī)電容的組合電容以及線間電容，從而區(qū)分線間與話機(jī)電容，判定是否真正斷線。
本發(fā)明還包括為實(shí)施多路并行測試上述各參數(shù)而采用的狀態(tài)控制法，即，將上述每一路的測試視為對測高壓、放電、測電壓、測電阻、測電容等狀態(tài)的測試，每個狀態(tài)又包括對應(yīng)其測量全過程中依次動作的多個子狀態(tài)，并存貯有按序排列的狀態(tài)與相應(yīng)控制操作相對照的狀態(tài)控制表。
該狀態(tài)控制法包括對所述多路依次循環(huán)掃描，依次對每一路進(jìn)行控制；所述每一路控制包括從所述狀態(tài)控制表中提取該路目前執(zhí)行的狀態(tài)；執(zhí)行該狀態(tài)下的操作；完成操作后將狀態(tài)值修改后存入狀態(tài)控制表；轉(zhuǎn)入下一路掃描；以及進(jìn)入一個新狀態(tài)時必須進(jìn)行狀態(tài)處理；包括將新狀態(tài)所用參數(shù)初始化，并將操作置于初始子狀態(tài)，然后進(jìn)入上述狀態(tài)控制，操作。
由于本文首頁已提到的外線測試和分析的多變性、復(fù)雜性，使得傳統(tǒng)方法的測試準(zhǔn)確率難以提高，據(jù)郵電部維護(hù)處統(tǒng)計(jì)，目前外線測量準(zhǔn)確率達(dá)到80％就算不錯了，而本發(fā)明構(gòu)思正是基于考慮了多方面的相關(guān)因素，跳出了僅用實(shí)驗(yàn)室環(huán)境模擬線路模型的框框，采用盡可能多地去適應(yīng)現(xiàn)實(shí)環(huán)境的多變復(fù)雜的上述方法和裝置，從不同角度，不同層次去提高測試準(zhǔn)確率，因而本發(fā)明的最大優(yōu)點(diǎn)和效果就是大大提高了測試準(zhǔn)確率，據(jù)本申請人的大量實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)表明，本發(fā)明裝置和方法的故障分析準(zhǔn)確率高達(dá)98％以上，而且多路并行測試顯然大大提高了對用戶申告的響應(yīng)和例行測試速度。
現(xiàn)結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明裝置和方法的實(shí)施例。諸附圖中相同部分用相同標(biāo)號表示。
圖1是本發(fā)明外線測試裝置一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)方塊圖，圖2是圖1所示測試單元中的一塊子板的結(jié)構(gòu)框圖；圖3是圖2所示裝置中電阻測量單元的結(jié)構(gòu)框圖；圖4是圖2所示裝置中電容測量單元的結(jié)構(gòu)框圖；圖5是圖2所示裝置中信號調(diào)理單元的結(jié)構(gòu)框圖；圖6是圖1所示采集處理單元的結(jié)構(gòu)框圖，圖7是說明多路并行測試時采用狀態(tài)控制法的流程示意圖；圖8是說明圖7所示方法時每一路的測試流程圖，圖9是實(shí)現(xiàn)圖7中所示步驟S74的流程圖，圖10是表示本發(fā)明外線測試裝置與電信網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)的關(guān)系示意圖；圖1示出本發(fā)明外線測試裝置的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)方塊。
本實(shí)施例是將本發(fā)明外線測試裝置101應(yīng)用于深圳華為公司112集中測量系統(tǒng)111時的情況，由該圖可見，測量系統(tǒng)111中的測試端口矩陣(RLC)103具有兩個8×8的交換矩陣能將交換機(jī)過來的8根外測總線EB1～EB8通過測試線對ML1～ML8分配到外線測試板101。即，本例中采用并行四路測試，一塊外線測試板101包括由四塊測試子板組成的測試單元11，經(jīng)測試單元11測出的電壓，電阻值經(jīng)模擬開關(guān)12選擇四路中的一路數(shù)據(jù)送至信號采集處理單元19，所述采集處理單元19由數(shù)據(jù)采集電路13和DSP系統(tǒng)14組成，后者通過RS232方式與控制單元17進(jìn)行通信，該控制單元17包括主控電路16和8031系統(tǒng)15，8031系統(tǒng)15控制測試電路動作，通知DSP系統(tǒng)14需要對哪種信號進(jìn)行采集，DSP系統(tǒng)14對需要采集的信號進(jìn)行處理后，將處理結(jié)果送至8031系統(tǒng)15，控制單元17還通過通信郵箱18本例中為雙口RAM，與測試系統(tǒng)中的管理模塊(TCN)102進(jìn)行通信，由管理模塊102轉(zhuǎn)發(fā)外線測試板101與測量系統(tǒng)中的測試接口機(jī)CTC之間的交流信息命令接收，結(jié)果上報。
參見圖2和圖8，它們分別示出圖1中測試單元11的一路結(jié)構(gòu)及其測試流程。由圖可見，測試單元11接收測試線對ML1上的被測信號首先加到高壓檢測器203，即在S81步檢測高壓并在S82步判斷其有無碰觸電力線，若已碰觸電力線則流程直接進(jìn)到電壓測量步驟S84，也就是將電壓加至電壓測量單元205只作電壓測量；若S82步判斷結(jié)果為未碰電力線，則流程進(jìn)至S83，經(jīng)由放電電路204對用戶話機(jī)進(jìn)行放電，放掉話機(jī)上的殘存電荷后再進(jìn)行經(jīng)電壓測量單元205，電阻測量單元208，電容測量單元207的電壓，電阻電容測量步驟S84、S85、S86。圖2中位于電阻測量單元208和電容測量單元207前的過壓過流保護(hù)電路206在測量過程中線路碰高壓(電力線)時可降壓限流以免損害測量電路。此處電壓測量單元205，電阻測量單元208均以電壓形式輸出測值V1、V2，經(jīng)信號調(diào)理單元201送至圖1中的數(shù)據(jù)采集電路13。另一方面電容測量單元207采用恒流充電法測量(后面要詳述)其測值由硬件自動計(jì)數(shù)送至測量系統(tǒng)111的測試接口機(jī)CTC進(jìn)行計(jì)算。
由圖2可見，測試單元11還包括受主控電路16控制的控制電路202用于控制測試單元各測試電路的操作。
參見圖3，該圖示出圖2所示電阻測量單元208的具體結(jié)構(gòu)，由圖可見，來自過壓過流保護(hù)電路206的信號輸入該單元208的高阻比較器301，與10MΩ的基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，并將小于該基準(zhǔn)值的信號引入高阻測量電路302，電路302采用電阻分壓原理測量電阻，并將小于10KΩ的小電阻加到小電阻測量電路303，經(jīng)恒流測壓法測出的小電阻值與大于10KΩ的高阻測量電路302的輸出一起加到信號調(diào)理單元201，經(jīng)其歸一化后輸出至數(shù)據(jù)采集電路13(圖1)。
參見圖4，該圖示出圖2所示電容測量單元207的具體結(jié)構(gòu)，由該圖可見，本例采用恒流充電法測量電容開關(guān)電源升壓電路401將+12V電源電壓經(jīng)升壓至+50V以上再加到恒流電路402上，以產(chǎn)生基準(zhǔn)恒流電流對自過壓過流保護(hù)電路206(圖2)加至充電電壓比較電路403的被測電容充電，由該比較電路403比較得到充電過程中兩充電點(diǎn)的電壓差ΔV，并啟動計(jì)時電路404進(jìn)行計(jì)時和得到相應(yīng)時間差Δt，則根據(jù)公式I＝C(ΔV/Δt)便可由圖8所示步驟S86計(jì)算電容C的測值。
參見圖5，該圖示出圖2中所示信號調(diào)理單元201的具體結(jié)構(gòu)。由該圖可見，來自圖2中電壓，電阻測量單元205、208的電壓信號V1、V2先經(jīng)低通濾波器501濾掉高頻分量后便進(jìn)入級聯(lián)的兩級程控放大器502A、502B，經(jīng)放大后的信號便可輸出至圖1中的數(shù)據(jù)采集電路13、此處要特別指出的是程控放大器502A、502B的放大倍數(shù)是由β控制單元503控制的，該單元503包括β控制電路504和比較電路505，程控放大器502B的輸出信號與比較電路505中的兩基準(zhǔn)信號比較后的差值經(jīng)β控制電路504反饋至程控放大器502A和502B使它們的輸出信號在兩基準(zhǔn)電壓之間或至程控放大器的最大放大倍數(shù)，以便給下一級的數(shù)據(jù)采集電路13提供良好的輸入信號，提高其輸入信噪比，把其后的模/數(shù)轉(zhuǎn)換誤差降至最低。
參見圖6，該圖示出圖1中信號采集處理單元19的更具體結(jié)構(gòu)，由于本例中外線測試板有四塊測試子板，可同時對4個用戶進(jìn)行外線測試，故該信號采集處理單元19先經(jīng)模擬開關(guān)12對四塊測試子板的相應(yīng)4路輸出信號IS1～I(xiàn)S4選擇其中之一送入A/D轉(zhuǎn)換器601，模擬開關(guān)12的選擇控制及A/D轉(zhuǎn)換器601的啟動由DSP56002系統(tǒng)602控制，經(jīng)轉(zhuǎn)換成的數(shù)字信號DS送入DSP56002系統(tǒng)602，數(shù)據(jù)處理后的輸出信號OS通過RS232接口送至圖1中的8031系統(tǒng)15。本例中DSP56002是Motorola公司制造的數(shù)字信號處理器件，有24位數(shù)據(jù)總線，內(nèi)有X、Y兩個地址總線產(chǎn)生單元可按照從程序存貯器605讀取的程序，并行地對X存貯區(qū)603，Y存貯區(qū)604進(jìn)行操作，特別適合于數(shù)字信號算法處理(如FFT等)，在其上可快速實(shí)現(xiàn)各種算法處理。
參見圖7和圖9，它們示出為實(shí)施多路(本例為4路)并行測試所采用的本發(fā)明狀態(tài)控制法的流程。由該圖可見，四路并行處理時是采用四路掃描方式，每個狀態(tài)根據(jù)其最大執(zhí)行時間設(shè)有一個超時計(jì)數(shù)器，以防出現(xiàn)意外而退不出該狀態(tài)，每路沒有一個總超時計(jì)數(shù)器。該控制流程是在S71，判斷是否到達(dá)每路總超時，若已到達(dá)則進(jìn)到步驟S75判斷是否完成了四路測試，反之，若未到達(dá)總超時刻，則進(jìn)到步驟S72判斷是否進(jìn)行了狀態(tài)初始化對該狀態(tài)中所用參數(shù)的初始化，并將操作置于初始子狀態(tài)，若判定為“否”則進(jìn)至S73進(jìn)行上述的狀態(tài)處理，反之，若已執(zhí)行了上述狀態(tài)處理則進(jìn)至S74，進(jìn)入狀態(tài)控制 執(zhí)行該狀態(tài)下的各種操作，如圖9所示，該狀態(tài)控制步驟包括首先在步驟S91從存貯器中的一張按序排列的狀態(tài)與相應(yīng)控制操作相對照的狀態(tài)控制表中提取目前狀態(tài)，接著在S92，執(zhí)行該表指示的相應(yīng)操作；完成操作后在步驟S93將得到的新的狀態(tài)值刷新和存入狀態(tài)控制表，接著在S94掃描下一路，循環(huán)重復(fù)上述步驟，直至在S75，判定四路并行測試均已執(zhí)行完畢時執(zhí)行S76，返回主程序。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明大幅提高外線測試和判斷故障的準(zhǔn)確率和基本消除區(qū)域環(huán)境等因素影響的目的，本發(fā)明采用對同一參數(shù)運(yùn)用不同測量方法來區(qū)分和準(zhǔn)確判定故障性質(zhì)。例如，用單一測量方法很難區(qū)分用戶未掛機(jī)與AB線間絕緣性能差或自混故障，本發(fā)明則用兩種測量方法來區(qū)分這些故障，由于話機(jī)摘機(jī)電阻(環(huán)阻)是非線性的，不同的供電電流，其等效阻值不同，電流越小，電阻越大，根據(jù)這一原理，本發(fā)明故障分析法先用電阻測量電路進(jìn)行測量，若測值落在例如<3KΩ>100KΩ范圍內(nèi)時(不能區(qū)分是用戶未掛機(jī)還是AB間絕緣差等故障)，再啟用正常饋電電路(用戶電路)進(jìn)行測量，那么若后者測得的電阻小于3KΩ時，則可判斷用戶未掛機(jī)，反之則為AB線絕緣差。又如，一般都通過測量話機(jī)振鈴電路中的隔直電容來判斷有無斷線，但有時該電容值很小，與線間電容同一量級，則就很難分清測到的是線間電容還是話機(jī)電容，故本發(fā)明采了了兩種電壓比較點(diǎn)的測試低的電壓比較點(diǎn)用于測量線間電容，高的電壓比較點(diǎn)用于測量線間電容與話機(jī)電容的并聯(lián)電容。通過這兩種電容測量便可區(qū)分線間與話機(jī)電容，從而斷定是否真正斷線。
以上雖結(jié)合實(shí)施例對本發(fā)明的外線測試裝置與故障分析方法作了詳細(xì)描述，但本發(fā)明并不僅限于用在本申請人的電信網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)中，顯然本發(fā)明還可用于同提供相應(yīng)接口的其他電信測試系統(tǒng)，故本發(fā)明保護(hù)范圍并不受上述實(shí)施例的限制而應(yīng)由包含本領(lǐng)域技術(shù)人員可能作出的種種顯而易見變動和改型的所附權(quán)利要求書來確定。
權(quán)利要求
1.一種電信網(wǎng)絡(luò)的外線測試裝置，該裝置包括接收來自所述電信網(wǎng)絡(luò)的被測信號，用于測試多種電參數(shù)的測試單元(11)；用于控制所述測試單元并可與所述電信網(wǎng)絡(luò)通信的控制單元(17)；用于采集來自測試單元的測試信號并加以處理的信號采集，處理單元(19)；所述信號采集處理單元(19)包括數(shù)據(jù)采集電路(13)和數(shù)字信號處理系統(tǒng)(14)，所述控制單元(17)包括用于控制與外界通訊的主控制電路(16)和用于控制所述測試電路動作、通知所述數(shù)字信號處理系統(tǒng)需采集何種信號并接收其處理結(jié)果的控制通信系統(tǒng)(15)。
2.如權(quán)利要求1所述的外線測試裝置，其特征在于所述測試單元(11)包括檢測被測線路有無碰電力線的高壓檢測器(203)，泄放話機(jī)及線路電容中的殘存電荷的放電電路(204)，用于在測試過程中測試線碰上高壓時降壓和限流的過壓過流保護(hù)電路(206)；用于測量交、直流電壓的電壓測量單元(205)，用于測量線路絕緣電阻的電阻測量單元(208)，用于測量電容的電容測量單元(207)；以及對來自所述電壓測量單元和所述電阻測量單元的信號進(jìn)行歸一化后送到所述數(shù)據(jù)采集電路的信號調(diào)理單元(201)。
3.如權(quán)利要求2所述的外線測試裝置，其特征在于所述電阻測量單元(208)包括設(shè)有某一高阻基準(zhǔn)值的高阻比較電路(301)；用于測量低于/等于所述高阻基準(zhǔn)值的電阻并將測量結(jié)果送到所述信號調(diào)理電路的高阻測量電路(302)；以及用于測量低于某一低阻值的小電阻并將其測量結(jié)果送到所述信號調(diào)理單元(201)的小電阻測量電路(303)。
4.如權(quán)利要求2所述的外線測試裝置，其特征在于所述電容測量單元包括依次相連的用于提升標(biāo)準(zhǔn)電源電壓的開關(guān)電源升壓電路(401)用于產(chǎn)生基準(zhǔn)恒流電流供被測電容充電的恒流電路(402)用于比較兩充電點(diǎn)電壓的比較電路(403)；以及對所述兩充電點(diǎn)進(jìn)行計(jì)時的計(jì)時電路(404)。
5.如權(quán)利要求2所述的外線測試裝置，其特征在于所述信號調(diào)理單元(201)包括用于濾掉輸入信號之高頻分量的低通濾波器(501)，級聯(lián)放大所述低通濾波器輸出信號的兩級程控放大器(502A，502B)以及用于反饋控制所述兩級程控放大器之放大倍數(shù)的β控制單元(503)。
6.如權(quán)利要求2所述的外線測試裝置，其特征在于所述信號采集處理單元(19)中的所述數(shù)據(jù)采集電路(13)包括將所選模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號送往數(shù)字信號處理系統(tǒng)(14)的A/D轉(zhuǎn)換器(601)。
7.如權(quán)利要求5所述的外線測試裝置，其特征在于所述β控制單元(503)包括用于將所述程控放大器輸出信號與設(shè)定的基準(zhǔn)信號相比較的比較電路(505)和接收比較結(jié)果控制所述程控放大器倍數(shù)，為下一級數(shù)據(jù)采集提供良好信噪比的β控制電路(504)。
8.一種外線測試分析方法，包括以自動調(diào)整分析模式方式，用多種測量方法對同一參數(shù)進(jìn)行線路測量，以便比較分析確定故障類型和/或，在業(yè)務(wù)系統(tǒng)上為每個用戶建立某一區(qū)域，環(huán)境下的相應(yīng)健康檔案，以便將實(shí)測數(shù)據(jù)與其進(jìn)行比較分析，避免由區(qū)域環(huán)境因素造成的故障誤判。
9.如權(quán)利要求8所述的外線測試分析方法，其特征在于所述多種測量方法包括用兩種測量電路測試不同范圍的電阻值以區(qū)分判定不同故障的電阻測量法和/或用兩種充電電流和高、低兩種電壓比較值來區(qū)分判別是否真正斷線的電容測試法。
10.如權(quán)利要求9所述的外線測試分析方法，其特征在于所述電阻測量法包括以下步驟用電阻測量電路測出第一阻值；當(dāng)?shù)谝蛔柚德湓谝欢▍^(qū)間內(nèi)時，啟用用戶電路測出第二阻值；根據(jù)所述第一阻值和第二阻值是否相同來區(qū)分和判定用戶未掛機(jī)還是AB線絕緣性能差。
11.如權(quán)利要求9或10所述的外線測試分析方法，其特征在于所述電容測試法的所述高、低兩種電壓比較值分別用于測量線間電容與話機(jī)電容的組合電容以及線間電容，從而區(qū)分線間與話機(jī)電容，判定是否真正斷線。
12.如權(quán)利要求8所述的外線測試分析方法，其特征在于還包括多路并行測試的狀態(tài)控制法，該狀態(tài)控制法包括—將每一路的測試分成測試不同參數(shù)的相應(yīng)測試狀態(tài)，每個所述測試狀態(tài)又被分成對應(yīng)其測量全過程中依次動作的多個子狀態(tài)，以及—動態(tài)建立和存貯按序排列的所述測試狀態(tài)和所述子狀態(tài)與相應(yīng)控制操作相對照的狀態(tài)控制表。
13.如權(quán)利要求12所述的外線測試分析方法，其特征在于包括對所述多路依次循環(huán)掃描，依次對每一路進(jìn)行所述狀態(tài)控制，以及進(jìn)入一個新狀態(tài)時必須進(jìn)行狀態(tài)處理將所述新狀態(tài)下所用參數(shù)初始化，并將操作置于初始子狀態(tài)，然后進(jìn)入所述狀態(tài)控制。
14.如權(quán)利要求13所述的外線測試分析方法，其特征在于每一路所述狀態(tài)控制包括以下步驟從所述狀態(tài)控制表中提取該路目前狀態(tài)；執(zhí)行該狀態(tài)下的相應(yīng)操作；完成操作后即將狀態(tài)值修改后存入所述狀態(tài)控制表，轉(zhuǎn)入下一路掃描。
15.如權(quán)利要求13或14所述的外線測試分析方法，其特征在于還包括對所述每路設(shè)置一個總超時計(jì)數(shù)器以及對每個所述狀態(tài)設(shè)置一個超時計(jì)數(shù)器，以防意外情況退不出該狀態(tài)。
全文摘要
電信網(wǎng)外線測試分析裝置和方法。裝置包括測試多種電參數(shù)的測試單元(11),用于控制該測試單元并可與電信網(wǎng)通信的控制單元(17),用于采集測試信號并予以處理的采集處理單元(19)。方法包括對同一參數(shù)以多種測量方法測試的過程以及為每個用戶建立一定區(qū)域環(huán)境下的相應(yīng)健康檔案,以便比較分析準(zhǔn)確判定故障類型。統(tǒng)計(jì)表明本裝置和方法的測試準(zhǔn)確率大為提高,致使故障分析準(zhǔn)確率高達(dá)98%以上。
文檔編號H04B3/46GK1202052SQ97108938
公開日1998年12月16日 申請日期1997年6月6日 優(yōu)先權(quán)日1997年6月6日
發(fā)明者任雄偉 申請人:深圳市華為技術(shù)有限公司