一種減少卷積碼譯碼誤檢的方法和裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及通信領域，特別涉及一種減少卷積碼譯碼誤檢的方法和裝置。
【背景技術】
[0002] 在LTE化ongTermEvolution,長期演進）通信系統(tǒng)中，PDCCH(physicaldownlink controlchannel,物理下行控制信道）是一組物理資源粒子的集合，其上承載上下行控 制信息，根據(jù)其作用域不同，PDCCH承載信息區(qū)分公共控制信息和專用控制信息，公共搜 索空間用于搜索公共控制信息，專用搜索空間用于搜索專用控制信息，搜索空間定義了盲 檢的開始位置和信道搜索方式，PDCCH信道主要承載著PUSCH(化ysical化link化ared Qiannel,物理上行共享信道)和PDSCH(化ysicalDownlink化aredQiannel,物理下行共 享信道）信道的控制信息（DownlinkControlIn化rmation，DCI)，不同終端的PDCCH信息 需要通過該終端對應的RNTI(CellRadioNetworkTemporaryIdentifier,無線網(wǎng)絡臨 時鑒定)信息區(qū)分，即該終端的DCI的CRC(切clicalRe化ndancy化eck，循環(huán)兀余碼校驗） 由RNTI加擾。PDCCH中承載的是DCI，包含一個或多個肥（UserEquipment,用戶終端)上 的資源分配和其他的控制信息。在LTE中上下行的資源調(diào)度信息都是由PDCCH來承載的。 一般來說，在一個子峽內(nèi)，可W有多個PDCCH。肥需要首先解調(diào)PDCCH中的DCI，然后才能夠 在相應的資源位置上解調(diào)屬于肥自己的PDSCH信道中的信息，然后才能得到屬于自己的廣 播消息、尋呼消息及自己的數(shù)據(jù)等。
[0003] 卷積碼是一種常用的信道編碼技術，在移動通信系統(tǒng)中廣泛使用。常用的卷積編 碼器結構如圖1所示。在LTE中，為了進一步提高編碼效率，PDCCH采用了咬尾卷積碼，咬 尾卷積碼要求編碼器的初始狀態(tài)和末狀態(tài)相同，傳統(tǒng)的卷積編碼器初始狀態(tài)都為0。此外卷 積碼是一種糾錯編碼技術，通常會和檢錯碼聯(lián)合使用，常用的檢錯碼是CRC(循環(huán)兀余碼校 驗，切clicalRe化ndan巧化eck)碼，在使用時，先在發(fā)送的數(shù)據(jù)末尾加上一定長度的CRC 校驗碼，然后再進行卷積編碼，接收的時候則相反，先進行卷積譯碼，然后進行CRC校驗，女口 果CRC校驗通過，則認為卷積譯碼正確，否則認為卷積譯碼錯誤。
[0004] 由于CRC校驗碼存在一定的誤判概率，即有可能譯碼是不正確的，誤判概率也稱 誤檢概率。即在譯碼不正確時，CRC校驗也會通過，在假設譯碼輸出數(shù)據(jù)完全隨機的前提下， 該個概率理論上等于（1/2'L)，其中L為CRC的長度。通常情況下，認為該個誤判的概率很 低，可W忽略，然而實際應用中發(fā)現(xiàn)在有些情況下是不能忽略的。
[0005] 示例的，LTE系統(tǒng)中的PDCCH，終端需要對PDCCH進行盲檢測，得到可能的DCI，簡 單地將LTE終端在1ms，即1個子峽內(nèi)需要進行44次咬尾卷積譯碼，然后根據(jù)CRC來判斷該 44次譯碼結果是否正確，如果正確則認為對應的DCI信息是正確的。LTE終端1砂需要進 行44000次咬尾卷積譯碼和CRC校驗，該樣按照CRC的誤判概率算下來，平均幾十砂就會出 現(xiàn)一次誤檢。因此，單純依靠CRC校驗的結果來判斷卷積碼譯碼是否正確，會導致誤檢概率 較高。而一旦出現(xiàn)誤檢，可能會導致終端出現(xiàn)一些不可預知的錯誤。在出現(xiàn)PDCCH誤檢時， 不管該誤檢出的PDCCH是調(diào)度上行發(fā)送還是下行接收，都會導致終端處理量和耗電量的增 加。進一步的，如果誤檢出的PDCCH調(diào)度了上行發(fā)送，則終端還會錯誤發(fā)送上行數(shù)據(jù)，會進 一步導致系統(tǒng)干擾的增加，也會導致高層重傳從而降低終端上行速率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明的目的在于提供一種減少卷積碼譯碼誤檢的方法和裝置，使得在進行卷積 碼譯碼過程中，不是僅僅依靠CRC校驗進行檢錯，從而降低卷積碼譯碼的誤檢概率。此外， 將卷積碼譯碼的CRC校驗分為針對上行調(diào)度的校驗和針對下行調(diào)度的校驗。
[0007] 為解決上述技術問題，本發(fā)明的實施方式提供了一種減少卷積碼譯碼誤檢的方 法，包括W下步驟：
[0008]S1、對上行調(diào)度卷積碼和/或下行調(diào)度卷積碼，利用維特比譯碼算法對所述上行 調(diào)度卷積碼和/或所述下行調(diào)度卷積碼進行譯碼，在譯碼過程中保存譯碼的中間信息，其 中，所述上行調(diào)度卷積碼為攜帶上行調(diào)度信息的卷積碼，譯碼得到的數(shù)據(jù)為上行調(diào)度數(shù)據(jù)， 所述下行調(diào)度卷積碼為攜帶下行調(diào)度信息的卷積碼，譯碼得到的數(shù)據(jù)為下行調(diào)度數(shù)據(jù)；
[0009]S2、對所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)和/或所述下行調(diào)度數(shù)據(jù)分別進行循環(huán)兀余校驗碼CRC 校驗；
[0010]S3、如果所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)和/或所述下行調(diào)度數(shù)據(jù)CRC校驗正確，則結合所述譯 碼的中間信息，對所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)和/或所述下行調(diào)度數(shù)據(jù)CRC校驗得到的數(shù)據(jù)，進行二 次校驗；
[0011]S4、如果所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)二次校驗的結果滿足上行預設條件，則判定所述上行 調(diào)度卷積碼譯碼正確，否則判定所述上行調(diào)度卷積碼的CRC檢驗結果為誤檢；如果所述下 行調(diào)度數(shù)據(jù)二次校驗的結果滿足下行預設條件，則判定所述下行調(diào)度卷積碼譯碼正確，否 則判定所述下行調(diào)度卷積碼的CRC檢驗結果為誤檢。
[0012] 本發(fā)明的實施方式還提供了一種卷積碼譯碼裝置，包括W下單元：
[0013] 處理單元，用于對上行調(diào)度卷積碼和/或下行調(diào)度卷積碼，利用維特比譯碼算法 對所述上行調(diào)度卷積碼和/或所述下行調(diào)度卷積碼進行譯碼，在譯碼過程中保存譯碼的中 間信息，其中，所述上行調(diào)度卷積碼為攜帶上行調(diào)度信息的卷積碼，譯碼得到的數(shù)據(jù)為上行 調(diào)度數(shù)據(jù)，所述下行調(diào)度卷積碼為攜帶下行調(diào)度信息的卷積碼，譯碼得到的數(shù)據(jù)為下行調(diào) 度數(shù)據(jù)；
[0014] 第一校驗單元，用于對所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)和/或所述下行調(diào)度數(shù)據(jù)進行循環(huán)兀余 校驗碼CRC校驗；
[0015] 第二校驗單元，用于在所述第一校驗單元對所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)和/或所述下行調(diào) 度數(shù)據(jù)CRC校驗正確時，結合所述譯碼的中間信息，對所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)和/或所述下行調(diào) 度數(shù)據(jù)CRC校驗得到的數(shù)據(jù)，進行二次校驗；
[0016] 判定單元，用于當所述上行調(diào)度數(shù)據(jù)二次校驗的結果滿足上行預設條件，則判定 所述上行調(diào)度卷積碼譯碼正確，否則判定所述上行調(diào)度卷積碼的CRC檢驗結果為誤檢；當 所述下行調(diào)度數(shù)據(jù)二次校驗的結果滿足下行預設條件，則判定所述下行調(diào)度卷積碼譯碼正 確，否則判定所述下行調(diào)度卷積碼的CRC檢驗結果為誤檢。
[0017] 本發(fā)明實施方式相對于現(xiàn)有技術而言，在進行Viterbi譯碼過程中，利用譯碼過 程中的信息，結合CRC校驗信息進行二次校驗，不是僅僅依靠CRC校驗進行檢錯，從而降低 了卷積碼譯碼的誤檢概率。此外，將卷積碼譯碼的CRC校驗分為上行調(diào)度校驗和下行調(diào)度 校驗。
[0018] 優(yōu)選的，在所述S1中，所述譯碼的中間信息包括：所述上行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值 和/或所述下行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值，其中，所述上行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值和所述下行調(diào) 度卷積碼的參數(shù)值均包括包括留存路徑的初狀態(tài)及末狀態(tài)、留存路徑的末狀態(tài)對應的度量 值、留存路徑的末狀態(tài)對應的度量值與初狀態(tài)對應的度量值的比值、留存路徑中末狀態(tài)最 大度量值與次大度量值的比值中的任意一種或者任意幾種的組合；在所述S4中，所述上行 預設條件包含：所述上行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值中所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)為同一狀 態(tài)，所述上行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值中除所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)之外的各參數(shù)值大 于所述各參數(shù)值對應的預設口限；所述下行預設條件包含：所述下行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值 中所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)為同一狀態(tài)，所述下行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值中除所述留 存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)之外的各參數(shù)值大于所述各參數(shù)值對應的預設口限；所述上行調(diào) 度卷積碼的參數(shù)值中各參數(shù)值對應的預設口限分別大于所述下行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值中 各參數(shù)值對應的預設口限。
[0019] 對于上行調(diào)度卷積碼，虛警的影響要比漏檢還大，因為上行的虛警會導致終端誤 發(fā)送上行數(shù)據(jù)，從而可能對其他用戶造成干擾，影響系統(tǒng)容量，虛警是指在首次CRC校驗 時，有可能卷積碼譯碼是錯誤的，但是CRC校驗的結果是正確的，該種情況就稱為虛警；而 對于下行調(diào)度卷積碼，虛警的影響則沒有上行大。因此，在卷積碼譯碼正確時，設置二次 校驗，且在二次校驗時，針對上行調(diào)度的校驗設定較高的口限，可W避免因為調(diào)度上行的 PDCCH的誤檢導致的系統(tǒng)干擾增加及上行速率降低的情況發(fā)生。通過保存留存路徑的末狀 態(tài)對應的度量值與初狀態(tài)對應的度量值的比值、留存路徑的末狀態(tài)對應的度量值、留存路 徑中末狀態(tài)最大度量值與次大度量值的比值該些譯碼的中間信息，用于判斷誤檢，可W使 本發(fā)明實現(xiàn)簡單，基本不會增加卷積碼譯碼的復雜度。
[0020] 另外，在所述S1中，若所述卷積碼為咬尾卷積碼，則所述譯碼的中間信息包括：所 述上行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值和/或所述下行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值，其中，所述上 行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值及所述下行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值均包括留存路徑的初狀 態(tài)和末狀態(tài)、留存路徑的末狀態(tài)對應的度量值與初狀態(tài)對應的度量值的比值、留存路徑的 末狀態(tài)對應的度量值、留存路徑中末狀態(tài)最大度量值與次大度量值的比值中的任意一種或 者幾種的組合；在所述S4中，所述上行預設條件包含；所述上行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值 中所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)為同一狀態(tài)，且所述上行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值中除 所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)之外的各參數(shù)值均大于所述各參數(shù)值對應的預設口限；所 述下行預設條件包含：所述下行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值中所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀 態(tài)為同一狀態(tài)，且所述下行調(diào)度咬尾卷積碼的參數(shù)值中除所述留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài) 之外的各參數(shù)值均大于所述各參數(shù)值對應的預設口限；所述上行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值中各 參數(shù)值對應的預設口限分別大于所述下行調(diào)度卷積碼的參數(shù)值中各參數(shù)值對應的預設口 限。
[0021] 在咬尾卷積碼譯碼中，充分利用留存路徑的初狀態(tài)和末狀態(tài)是同一狀態(tài)該一特點 來判斷誤檢，可W進一步降低卷積碼譯碼的誤檢概率。
[0022] 另外，在所述S1中，包括W下子步驟；當所述卷積碼