一種射頻性能測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種射頻性能測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在無線終端的生產(chǎn)過程中，為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進行天線的耦合測試，進而通過測試判斷無線終端中的天線是否滿足性能要求。
[0003]目前，現(xiàn)有的測試方式主要有以下兩種:第一種是采用耦合三角錐屏蔽箱，通過采用信令測試設(shè)備的方式進行終端的天線射頻性能測試，上述屏蔽箱需要對通用串行總線(Universal Serial Bus, USB)進線口進行改造才能連接USB線，但采用所述方式會降低屏蔽性，從而影響測試結(jié)果，且由于終端位置固定，不便于在進行不同頻段測試時對被測試對象的位置進行靈活調(diào)整。第二種是采用帶平板天線的屏蔽箱，對于多天線的手機，采用所述裝置難以調(diào)整其放置位置以使測試結(jié)果準確度不高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明實施例提供一種射頻性能測試裝置，通過設(shè)有可調(diào)節(jié)終端設(shè)備位置的夾具來快速和準確地調(diào)整終端設(shè)備相對天線的位置，便于信號傳達，提高射頻性能測試的效率和測試結(jié)果的準確性。
[0005]本發(fā)明實施例提供了一種射頻性能測試裝置，包括:屏蔽箱、天線和夾具；
[0006]所述屏蔽箱包括屏蔽腔，所述屏蔽腔內(nèi)設(shè)有固定板，所述固定板上固定連接所述天線，所述天線的長度方向垂直所述固定板，所述夾具包括支架和托盤，所述支架沿靠近或遠離所述天線的方向滑動連接于所述固定板上，所述托盤滑動連接于所述支架上，所述托盤的滑動方向垂直所述固定板，所述托盤用以安裝所述終端設(shè)備，其中，所述天線向所述終端設(shè)備發(fā)送射頻信號。
[0007]其中，所述屏蔽箱包括一屏蔽盒和轉(zhuǎn)動裝于所述屏蔽盒上的屏蔽蓋，所述屏蔽蓋轉(zhuǎn)動連接于所述屏蔽盒上，所述屏蔽腔位于所述屏蔽盒內(nèi)，所述屏蔽蓋蓋于所述屏蔽盒上以密封所述屏蔽腔。
[0008]其中，所述屏蔽箱還包括伸縮桿；所述伸縮桿包括相對設(shè)置的第一端和第二端，所述第一端和第二端分別轉(zhuǎn)動連接于所述屏蔽盒和所述屏蔽蓋。
[0009]其中，所述固定板一表面上開設(shè)第一滑槽，所述夾具的支架滑動裝于所述第一滑槽內(nèi)。
[0010]其中，所述固定板設(shè)有所述第一滑槽的表面設(shè)有一凹槽，所述天線包括底座、限位盤和固定于所述底座上的輻射桿，所述底座固定于所述凹槽內(nèi)，所述限位盤固定于所述底座遠離所述凹槽的表面并遮蔽所述凹槽，所述輻射桿穿過所述限位盤位于所述屏蔽腔內(nèi)。
[0011]其中，所述支架上開設(shè)有第二滑槽及滑動裝于所述第二滑槽內(nèi)的第一調(diào)節(jié)桿，所述托盤與所述第一調(diào)節(jié)桿固定連接。
[0012]其中，所述托盤包括主托盤及轉(zhuǎn)盤；所述主托盤固定連接所述第一調(diào)節(jié)桿，所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動連接于所述主托盤上，所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動方向平行所述固定板。
[0013]其中，所述屏蔽箱設(shè)有控制接口，所述控制接口電連接所述天線，用以從外部信號設(shè)備獲取射頻信號。
[0014]其中，所述射頻性能測試裝置還包括延時繼電器；所述延時繼電器電連接所述天線，所述延時繼電器控制所述天線發(fā)送所述射頻信號的時長。
[0015]其中，所述射頻性能測試裝置還包括吸波層；所述吸波層覆蓋于所述屏蔽箱的內(nèi)壁表面，用于吸收反射電磁波。
[0016]本發(fā)明所述的射頻性能測試裝置采用可滑動調(diào)節(jié)橫向和縱向位移的夾具來承載待測試的終端設(shè)備，便于根據(jù)射頻性能測試要求調(diào)整所述終端設(shè)備相對于所述天線的位置，以實現(xiàn)在不同頻段測試時對所述終端設(shè)備的位置進行快速和準確地調(diào)整，便于信號傳達，提高了射頻性能測試的效率和測試結(jié)果的準確性。
【附圖說明】
[0017]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0018]圖1是本發(fā)明實施例提供的射頻性能測試裝置的示意圖；
[0019]圖2是圖1的射頻性能測試裝置沿I1-1I部分的剖視圖；
[0020]圖3是圖1的提供的射頻性能測試裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0021]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0022]請參照圖1-3，圖1為本發(fā)明實施例提供的射頻性能測試裝置的示意圖。圖2射頻性能測試裝置沿I1-1I部分的剖視圖。圖3為射頻性能測試裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖，本發(fā)明提供了一種射頻性能測試裝置包括:屏蔽箱1、天線2和夾具3。
[0023]所述屏蔽箱I包括屏蔽腔11。所述屏蔽腔11內(nèi)設(shè)有固定板111。所述固定板111上固定連接所述天線2，所述天線2的長度方向垂直所述固定板111。所述夾具3包括支架31和托盤32。所述支架31沿靠近或遠離所述天線2的方向滑動連接于所述固定板111上，所述托盤32滑動連接于所述支架31上。所述托盤32的滑動方向垂直所述固定板111，所述托盤32用以安裝所述終端設(shè)備，其中，所述天線2向所述終端設(shè)備4發(fā)送射頻信號。
[0024]進一步的，所述屏蔽箱I包括一屏蔽盒12和轉(zhuǎn)動裝于所述屏蔽盒12上的屏蔽蓋13，所述屏蔽蓋13轉(zhuǎn)動連接于所述屏蔽盒12上，所述屏蔽腔11位于所述屏蔽盒12內(nèi)，所述屏蔽蓋13蓋于所述屏蔽盒12上以密封所述屏蔽腔11。
[0025]具體的，所述屏蔽盒12矩形中空體，其包括底壁(未示出)及圍繞底壁表面設(shè)置的周側(cè)壁(未示出)。所述屏蔽蓋13通過轉(zhuǎn)軸等方式可翻轉(zhuǎn)的裝于所述屏蔽盒12的周側(cè)壁(未示出)邊緣并將所述屏蔽盒12封閉。所述屏蔽腔11可以是通過屏蔽盒12和蓋于所述屏蔽盒12的屏蔽蓋13所形成的封閉的空間，也可以是所述屏蔽箱I內(nèi)單獨設(shè)置的空間。本實施例中，所述屏蔽腔11為所述屏蔽盒12的空腔并由所述屏蔽蓋13封閉，所述固定板111設(shè)于所述屏蔽盒12的底壁(未示出)。當所述屏蔽蓋13轉(zhuǎn)動至打開狀態(tài)時，測試人員可以進行所述天線2更換或?qū)λ鰥A具3的位置進行調(diào)節(jié)，當進行測試過程中，可以通過轉(zhuǎn)動所述屏蔽蓋13將所述屏蔽箱I進行封閉。在其他實施例中，所述屏蔽箱I也可以設(shè)計為所述屏蔽蓋13可滑動連接于所述屏蔽盒12的形式，將所述屏蔽蓋13滑動至完全蓋住所述屏蔽盒12的開口即可封閉所述屏蔽箱I。通過將所述屏蔽箱I設(shè)置為所述屏蔽盒12和所述屏蔽蓋13兩部分，可方便測試人員對所述屏蔽箱I的開啟和關(guān)閉，從而便于對所述天線2和所述終端設(shè)備4位置的調(diào)節(jié)或更換，提高了測試人員測試的便捷性。
[0026]需要說明的是，在進行射頻性能測試中，所述屏蔽箱I主要起到屏蔽外部干擾信號的作用。本實施例中的所述天線2是指360度全向天線，根據(jù)測試需要，所述天線2固定連接于所述固定板11上，所述天線2的長度方向垂直固定板111，以使所述天線2所發(fā)送的射頻信號可以被置于所述天線2周圍的所述終端設(shè)備4所接收。本射頻性能測試裝置可以支持一個或多個終端設(shè)備4同時進行測試。在進行測試時，可以通過所述支架31沿靠近或遠離所述天線2的方向進行滑動來調(diào)整所述支架31相對所述托盤32的位置，從而控制所述天線2相對于所述托盤32上的終端設(shè)備4的位置。所述托盤32可以垂直于所述固定板111進行上下滑動，以調(diào)節(jié)所述