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      碳化物材料形成或涂敷的氣體電離器發(fā)射電極的制作方法

      文檔序號:8023765閱讀:275來源:國知局
      專利名稱:碳化物材料形成或涂敷的氣體電離器發(fā)射電極的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及氣體電離器發(fā)射電極,更具體說,涉及由諸如碳化硅之類的碳化物材料形成或涂敷的氣體電離器發(fā)射電極。
      背景技術(shù)
      籠統(tǒng)地說離子發(fā)生器涉及可中和工作間內(nèi)的靜電荷,以使靜電放電的可能性降至最低的器件領(lǐng)域。在諸如大規(guī)模集成電路、磁阻記錄頭等工藝生產(chǎn)中,消除靜電是一項重要的工作。在靜電消除器中,用電暈產(chǎn)生電極產(chǎn)生顆粒物質(zhì)對建立無顆粒和雜質(zhì)的環(huán)境來說也同樣重要。對于這種工藝,金屬雜質(zhì)可造成致命的損害,所以需要將這種污染物抑制到最低可能水平。
      在本領(lǐng)域中已知,當金屬離子發(fā)射電極遇到房間空氣的電暈放電時,它們將在幾小時內(nèi)顯示出老化和/或氧化的跡象,并且產(chǎn)生細小的顆粒。對于由銅、不銹鋼、鋁和鈦形成的針狀電極,這個問題是普遍存在的。在放電或遇到活性氣體物質(zhì)NOX的區(qū)域內(nèi)發(fā)現(xiàn)有腐蝕。在所有上述材料上都發(fā)現(xiàn)有NO3離子,無論發(fā)射電極是正極性還是負極性。另外,與臭氧有關(guān)的腐蝕與相對濕度有關(guān)并與凝聚核密度有關(guān)。用干燥的空氣吹洗發(fā)射電極可減少空氣傳播污染或沉積在發(fā)射電極上的NH4NO3。
      表面反應可導致改變發(fā)射電極機械結(jié)構(gòu)的化合物的形成。與此同時,這些反應還導致電極產(chǎn)生顆?;蛐纬蓺庀囝w粒。
      在存在電暈放電的情況下,硅和二氧化硅發(fā)射電極比金屬發(fā)射電極的腐蝕低得多。已知硅會經(jīng)歷熱氧化、等離子體氧化,受離子轟擊和注入而氧化,也會經(jīng)受同樣形式的氮化。一些人曾試圖用含有如磷、硼、銻等摻雜物的99.99%純度的硅來改善硅發(fā)射電極。例如,美國專利5,650,203(Gehlke)中公開了含有摻雜材料的硅發(fā)射電極。但是,即使這么高純度的摻雜硅發(fā)射極表面也會被腐蝕和老化。
      另一種方法是用幾乎純的鍺或具有一種摻雜材料的鍺來形成發(fā)射電極。例如,6215248(Noll)中公開了用于低顆粒產(chǎn)生氣體電離器和靜電消除器中的鍺針或發(fā)射電極,該專利內(nèi)容在此引作參考。雖然這種鍺發(fā)射電極被證明比金屬發(fā)射電極和具有一種摻雜物的硅發(fā)射電極更難腐蝕和老化,但仍然需要一種具有增加抗蝕性,與此同時,產(chǎn)生或者說造成更少金屬和/或非金屬污染的發(fā)射電極。

      發(fā)明內(nèi)容
      簡短地說,在一個實施例中,本發(fā)明包括一個由碳化物形成或涂敷的電離器發(fā)射電極,其中碳化物選自碳化鍺、碳化硼、碳化硅和碳化硅-鍺。本發(fā)明也包括主要由碳化硅構(gòu)成的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極。在另一方面,本發(fā)明是一種由導電的金屬基底形成的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,該金屬基底至少部分地被碳化硅涂敷。在又一方面,本發(fā)明是一種電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,當加上高壓時,該電極會造成氣體電離。該發(fā)射電極主要由碳化硅形成,但碳化硅中摻有為得到小于或等于100Ω-cm電阻率所需的摻雜物。


      結(jié)合附圖閱讀說明書后將會對上述概述及下面本發(fā)明優(yōu)選實施例的詳細說明有更好的理解。為了說明本發(fā)明,在附圖中給出幾個目前的優(yōu)選實施例。但是,應該明白,本發(fā)明及其應用不限于這些精確的布置和結(jié)構(gòu)。附圖中圖1是按照本發(fā)明某些優(yōu)選實施例,由碳化物形成或涂敷的發(fā)射電極側(cè)視圖;圖2A是按照本發(fā)明第一優(yōu)選實施例的點對平面電暈產(chǎn)生裝置示意圖;圖2B是按照本發(fā)明第二優(yōu)選實施例的點對點電暈產(chǎn)生裝置示意圖;圖2C是按照本發(fā)明第三優(yōu)選實施例的線對平面電暈產(chǎn)生裝置示意圖;圖2D是按照本發(fā)明第四優(yōu)選實施例的線對圓筒電暈產(chǎn)生裝置示意圖;圖2E是按照本發(fā)明第五優(yōu)選實施例的點對房間電暈產(chǎn)生裝置示意圖;圖3是采用本發(fā)明優(yōu)選實施例的氣體電離器示意圖。
      具體實施例方式
      在下述詳細說明中僅為了方便使用了某些術(shù)語,但不受其限制。詞“右”、“左”、“下”、“上”標示附圖中的參考方向。“向內(nèi)”和“向外”分別指朝向和遠離所述裝置及所示部件的幾何中心。術(shù)語包括上面具體提及的詞及其派生詞和類似含義的詞。另外,在權(quán)利要求書和說明書的相應部分中使用的“一個”表示“一個”或“至少一個”。
      詳細參考附圖,其中,相同的標號始終標記相同的元件,按照本發(fā)明某些優(yōu)選實施例,由如碳化硅(SiC)之類的碳化物形成或涂敷的發(fā)射電極12在圖1中示出。發(fā)射電極有大致圓柱形的體部和帶有圓形末端17的大致圓錐形端部18。另一選擇是,圓形末端17是很銳利的錐形或尖角。尾端有倒角19。圖1發(fā)射電極12的形狀只是示例性的,不應被認為是對本發(fā)明的限制。在不偏離本發(fā)明的情況下可使用其它形狀、尺寸或比例。
      實驗證明,純和超純SiC比其它電極材料,如金屬、摻雜硅、甚至純鍺電極更耐用。與其它提及的材料相比,已證明,在具有非常好的熱學性能的同時,SiC還有優(yōu)越的抗化學、等離子體和腐蝕的性質(zhì)。化學蒸氣淀積(CVD)制作工藝產(chǎn)生高純度和可商用的化學蒸氣淀積(CVD)SiC。例如,用CVD制作工藝可獲得大約99.9995%純度的CVD SiC。由于CVDSiC的純度高,在氣體電離應用中不希望有的金屬和/非金屬污染大大降低并且?guī)缀跸Ec相同設(shè)計的半導電對應材料相比,CVD SiC發(fā)射電極12還顯示出更好的機械強度和更少的破裂。實驗表明,就細小顆粒而言,SiC,特別是CVD SiC發(fā)射電極比多晶鍺發(fā)射電極和單晶硅發(fā)射電極更清潔。也可使用顯示出物理性質(zhì)的其它碳化物材料,例如碳化鍺、碳化硼、碳化硅-鍺等。
      優(yōu)選的是,發(fā)射電極12由至少99.99%純度的碳化硅形成。優(yōu)選的是,碳化硅是化學蒸氣淀積(CVD)碳化硅。優(yōu)選的是,發(fā)射電極12是一種主要由碳化硅形成的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極12。
      為了得到所需要的電導率,需要對碳化物材料進行摻雜。例如,在碳化硅的情況下,一般摻入氮以控制電導率(電阻率)。優(yōu)選的是,對碳化物材料進行摻雜以得到預定的電導率特性。
      另一選擇是,發(fā)射電極12是一種由導電金屬基底形成的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極12,金屬基底至少部分地涂敷了碳化硅。該金屬基底由銅、不銹鋼、鋁、鈦等形成,只要用碳化硅涂敷端部18的相當大部分或全部就行。優(yōu)選的是,用碳化硅材料涂敷金屬基底的全部暴露表面,以降低腐蝕和老化的可能性。
      參考圖3,在圖3中示意地表示出采用了本發(fā)明優(yōu)選實施例的典型氣體電離器100。氣體電離器100一般將已電離的氣體傳遞到潔凈間,例如10級潔凈間或更高潔凈度的小環(huán)境中。高壓電源22被電耦合于發(fā)射電極12。通過將高電壓加到電極12上來產(chǎn)生電暈。氣體電離器100可包括多個全部連接于AC電壓的發(fā)射電極12,以便產(chǎn)生正、負兩種離子(未示出)。另一種選擇是,氣體電離器100包括兩組與雙極性DC電壓分開連接的發(fā)射電極12,這種氣體電離器100允許一組發(fā)射電極12工作在正電壓,第二組發(fā)射電極12工作在負電壓,以產(chǎn)生正離子和負離子(未示出)。
      高壓電源22所提供的電壓一般被控制在大約70V和約240VAC之間和大約50Hz和60Hz之間。高壓電源22可包括一個電路(未詳細示出),例如變壓器,它可在大約50Hz和60Hz之間逐步將電壓升高到大約3KV和10KV AC之間。另一選擇是,高壓電源22可包括一個電路,例如整流器,它包括一個二極管和電容配置,能夠?qū)⒄拓摌O性DC電壓逐步升高到大約5KV和10KV之間。另一選擇是,高壓電源22是由被控制在大約24V DC的電流供電的。高壓電源22可包括一個電路,例如自激振蕩器或開關(guān)裝置,它被用來驅(qū)動其輸出要被整流的變壓器,高壓電源正和負兩種極性的電壓都能被控制在大約3KV和10KV之間。在不偏離本發(fā)明的情況下可使用其它電壓的其它電源。
      圖2A是按照本發(fā)明第一優(yōu)選實施例的點對平面的電暈產(chǎn)生裝置示意圖。發(fā)射電極12被配置成點狀幾何形狀,而對側(cè)電極20被配置成平面幾何形狀。電源22耦合于發(fā)射電極12以產(chǎn)生電暈。對側(cè)電極20在高壓AC的情況下被連接于地(即地線)或在高壓DC的情況下連接于電源22的與發(fā)射電極12極性相反的那個電極。
      圖2B是按照本發(fā)明第二優(yōu)選實施例的點對點的電暈產(chǎn)生裝置示意圖。兩個或更多發(fā)射電極12被配置成點狀幾何形狀,其中,各電極有相反的電壓極性。電源22電耦合于每個發(fā)射電極12以產(chǎn)生電暈。
      圖2C是按照本發(fā)明第三優(yōu)選實施例的線對平面的電暈產(chǎn)生裝置示意圖。由SiC形成的線狀電極23被配置成細線狀的幾何形狀,而對側(cè)電極20被配置成平面幾何形狀。電源22被電耦合于發(fā)射電極12,以產(chǎn)生電暈。在高壓AC的情況下對側(cè)電極20可連接于地或者在高壓DC的情況下連接于電源22的與發(fā)射電極12極性相反的那個電極。
      圖2D是按照本發(fā)明第四優(yōu)選實施例的線對圓筒的電暈產(chǎn)生裝置示意圖。由SiC形成的電極23配置成細線狀的幾何形狀,而對側(cè)電極21被配置成圓筒狀的幾何形狀,電源22被電耦合于發(fā)射電極12以產(chǎn)生電暈。在高壓AC的情況下對側(cè)電極21被連接于地或者在高壓DC的情況下連接于電源22的極性與發(fā)射電極12相反的那個電極。
      圖2E是按照本發(fā)明第五優(yōu)選實施例的點對房間的電暈產(chǎn)生裝置示意圖。發(fā)射電極12被配置成點狀幾何形狀,并且沒有對側(cè)電極20,21。電源22被電耦合于發(fā)射電極12,以產(chǎn)生電暈。電源22也連接于地(即地線)。
      從以上敘述可以知道,本發(fā)明包括一個與氣體電離器一起使用、由SiC或CVD SiC形成或涂敷的發(fā)射電極。本領(lǐng)域的技術(shù)人員會明白,在不離開本發(fā)明寬廣發(fā)明性概念的情況下可對上述實施例做一些修改。因此應該明白,本發(fā)明不限于所公開的特定實施例,而旨在覆蓋由所附權(quán)利要求書限定的本發(fā)明精神和范圍內(nèi)的所有修改。
      權(quán)利要求
      1.一種由碳化物材料形成或至少部分被碳化物材料涂敷的電離器發(fā)射電極,所述碳化物材料選自碳化鍺、碳化硼、碳化硅和碳化硅-鍺。
      2.按照權(quán)利要求1所述的電離器發(fā)射電極,其中所述電極有大致圓柱形的體部和大致圓錐形的端部。
      3.按照權(quán)利要求1所述的電離器發(fā)射電極,其中所述電極是線狀的。
      4.按照權(quán)利要求1所述的電離器發(fā)射電極,其中所述電極是至少99.99%純度的碳化硅,為了得到預定的電導率特性對該碳化硅進行摻雜。
      5.按照權(quán)利要求1的電離器發(fā)射電極,其中碳化硅是化學蒸氣淀積(CVD)的碳化硅。
      6.一種主要由碳化硅形成的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極。
      7.按照權(quán)利要求6所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中所述電極有大致圓柱形的體部和大致圓錐形的端部。
      8.按照權(quán)利要求6的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中所述電極是線狀的。
      9.按照權(quán)利要求6所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中所述電極是至少99.99%純度的碳化硅,為了得到預定的電導率特性對該碳化硅進行摻雜。
      10.按照權(quán)利要求6所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中碳化硅為化學蒸氣淀積(CVD)的碳化硅。
      11.一種由導電金屬基底形成的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,所述金屬基底至少部分用碳化硅涂敷。
      12.按照權(quán)利要求11所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中所述電極有大致圓柱形的體部和大致圓錐形的端部。
      13.按照權(quán)利要求11所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中所述電極是線狀的。
      14.按照權(quán)利要求11所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中碳化硅是至少99.99%純度的碳化硅,為了得到預定的電導率特性對該碳化硅進行摻雜。
      15.按照權(quán)利要求11所述的電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,其中碳化硅是化學蒸氣淀積(CVD)碳化硅。
      16.一種電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極,當在其上施加高電壓時該電極使氣體電離,所述發(fā)射電極主要由碳化硅形成并且其電阻率低于或等于大約100Ω-cm。
      全文摘要
      一種電離器發(fā)射電極理想地由碳化物材料形成或至少部分地涂敷了碳化物材料,其中碳化物選自碳化鍺、碳化硼、碳化硅和碳化硅-鍺。另一種選擇是,一種電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極主要由碳化硅形成。另一選擇是,一種電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極由至少部分用碳化硅涂敷的導電金屬基底形成。另一選擇是,當加上高電壓時,電暈產(chǎn)生電離器發(fā)射電極使氣體電離,并且發(fā)射電極主要由碳化硅組成有低于或等于大約100Ω-cm的電阻率。
      文檔編號H05F3/00GK1764028SQ200510098389
      公開日2006年4月26日 申請日期2005年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年10月1日
      發(fā)明者R·柯蒂斯 詹姆斯, A·戈齊扎克 約翰 申請人:伊利諾斯器械工程公司
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