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      太陽能級硅晶體的制備及提純方法

      文檔序號:8200626閱讀:509來源:國知局
      專利名稱:太陽能級硅晶體的制備及提純方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及硅晶體材料制備領(lǐng)域,尤其涉及一種采用Czochralski法提 純及制備太陽能級硅晶體的方法。
      背景技術(shù)
      Czochralski法(簡稱CZ法)是硅晶體生長的一種廣泛使用的方法。 晶體提拉爐(Crystal Puller)為采用C Z法進(jìn)行晶體生長的設(shè)備。硅晶體 是半導(dǎo)體行業(yè)和太陽能光伏行業(yè)最常使用的材料。CZ法通常是在外層坩堝( 一般是將三瓣或四瓣石墨片組合在一起形成 的石墨坩堝)內(nèi)放置內(nèi)層坩堝(石英坩堝),硅熔液在內(nèi)層坩堝(石英蚶 堝)中,通過籽晶誘導(dǎo)下生長出圓柱狀的硅晶體。以上過程在晶體提拉爐 內(nèi)完成。例如中國發(fā)明專利200410061587.3中公開了 一種用于生長珪晶體的 蚶堝,以及一種利用該蚶堝通過Czochralski法來生長硅晶體的方法,其中 用于CZ法生長硅晶體的內(nèi)層坩堝,也采用石英坩堝。在中國發(fā)明專利申請200610043186.4中公開了 一種單晶珪拉制爐用熱 場炭/炭坩堝的制備方法,該方法中也提及硅晶體生長時(shí),是在外層坩堝(炭 /炭坩堝)內(nèi)放置石英坩堝,硅熔體置于石英坩堝中進(jìn)行晶體的加工。石英坩堝的主要成分為二氧化硅,在高溫下部分氧原子會從石英中游 離出來,進(jìn)入到硅晶體中。因此,由石英坩堝作為容器的C Z法生長出的 晶體會有較高的氧濃度。對于某些使用場合下需要極低氧含量的硅晶體, 例如,為了提高作為摻硼太陽能光伏硅材料的壽命,減少光致衰減帶來的 負(fù)面影響,硅晶體中的氧含量需要最小化。在這種情況下,避免使用石英 蚶堝將從根源上解決C Z法硅晶體氧含量高的問題。但是不使用石英坩堝而直接使用石墨坩堝則會導(dǎo)致另外的問題。最主要的困難在于,硅凝固時(shí) 體積膨脹對石墨坩堝造成損害。當(dāng)硅與石墨一起冷卻時(shí),兩者熱膨脹系數(shù) 的不同也會對石墨造成損害。晶體硅太陽能電池所要求的硅原料純度需要在6N (99.9999%)以上。 因此,6N純度以下的硅材料在制作成太陽能光伏利用所要求的硅多晶或 硅單晶鑄錠之前,往往要求被進(jìn)一步提純。由于提純通常需要在高溫真空 下將硅原料熔化后進(jìn)行,而晶體生長之前也需要將硅原料熔化,因此最經(jīng) 濟(jì)節(jié)能的做法是,在硅原料熔化后即進(jìn)行提純,提純后不將硅熔液冷卻結(jié) 晶,就進(jìn)行硅晶體的生長。但是將提純和晶體生長連續(xù)完成的方案在傳統(tǒng) 的采用石英坩堝作為容器的CZ法中具有難以克服的困難。首先,為了將 易揮發(fā)的雜質(zhì)從硅熔液液面揮發(fā),提純環(huán)境需要小于500Pa的真空度。然 而當(dāng)真空度下降到500Pa以下時(shí),在溫度較高時(shí)石英坩堝(Si02)與硅熔 液(Si)反應(yīng)生成的一氧化硅(SiO)將導(dǎo)致硅液沸騰或者硅液面不穩(wěn)定, 并使SiO快速從液面揮發(fā)使得硅液中的SiO濃度降得很低,從而導(dǎo)致石英 蚶堝與硅熔液的反應(yīng)加快,使石英坩堝變形甚至漏硅。其次,硅材料提純 的溫度往往比晶體生長的溫度更高。石英坩堝雖然可以長時(shí)間承受晶體生 長所需的溫度(1400~ 1550。C),但是不能在提純所需的高溫(1550~ 1850°C)下長時(shí)間工作。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種可連續(xù)生產(chǎn)、產(chǎn)品純度高的采用cz法進(jìn)行硅晶體制 備和提純的方法。一種太陽能級硅晶體的制備及提純方法,整個(gè)過程在晶體提拉爐內(nèi)進(jìn) 行,采用石墨材料加工的坩堝作為與硅原料(及其熔化后的熔液)直接接 觸的容器。其方法包括如下步驟(1) 加熱使石墨坩堝內(nèi)的硅原料熔化,在硅熔液溫度1500 ~ 2000°C, 硅熔M面真空度0 ~ 500Pa條件下蒸發(fā)雜質(zhì)一小時(shí)或以上;(2) 控制硅熔液溫度在1410 ~ 1500。C之間,通過籽晶誘導(dǎo)制備圓柱 形硅晶體。至此即可以得到純度較高的硅晶體,為了實(shí)現(xiàn)連續(xù)化生產(chǎn),必須對反 應(yīng)后期石墨坩堝內(nèi)殘余的硅熔液進(jìn)行再次提純,(3) 隨著硅晶體的不斷生成,石墨坩堝內(nèi)硅熔液逐漸減少,當(dāng)石墨 坩堝內(nèi)的硅熔液的殘余質(zhì)量為0.1-3.5KG時(shí),升溫至1600- 1850。C,硅熔液表面的真空度控制在0 ~ 5Pa,蒸發(fā)硅熔液中余下的雜質(zhì);(4) 降溫但保持石墨坩堝內(nèi)溫度800。C以上,向石墨坩堝中加入下 一批硅原料;(5) 重復(fù)步驟(1) ~步驟(4)的才喿作連續(xù)生產(chǎn)。步驟(l)中蒸發(fā)雜質(zhì),主要針對的是易揮發(fā)雜質(zhì),易揮發(fā)雜質(zhì)含有 磷、砷、硼、氧中至少一種元素,雜質(zhì)可以以化合物或單質(zhì)的形式揮發(fā)。 另外,易揮發(fā)雜質(zhì)還包括鋁、鐵、銅、鈦等金屬雜質(zhì)及含有金屬雜質(zhì)的易 揮發(fā)的化合物。為了達(dá)到雜質(zhì)揮發(fā)通常需要較低的蒸氣壓,爐內(nèi)壓力應(yīng)保 持在500Pa以下的真空度。根據(jù)真空提純的原理,蒸氣壓大的元素單質(zhì)或 化合物將先揮發(fā)。而硅的蒸氣壓比大多數(shù)雜質(zhì)要低。例如,當(dāng)硅熔液的溫 度在1700K時(shí),硅的蒸氣壓僅有0.0689Pa。因此,當(dāng)雜質(zhì)或其化合物的蒸 氣壓比硅更高時(shí)(>0.0689Pa),雜質(zhì)將先于硅蒸發(fā)出來,實(shí)現(xiàn)了硅原料的 提純。進(jìn)行高溫真空揮發(fā)過程的時(shí)間和溫度應(yīng)根據(jù)硅中雜質(zhì)的含量和類型 決定,通常揮發(fā)過程應(yīng)持續(xù)1小時(shí)以上,硅熔液平均溫度應(yīng)保持在1500。C 以上。在含有金屬雜質(zhì)較多的情況下,提純環(huán)境應(yīng)保持在硅熔液平均溫度 在1550°C以上,硅熔液表面的真空度在0 5Pa。經(jīng)研究表明,當(dāng)硅原料在石墨坩堝內(nèi)熔化之后,石墨坩堝完全能夠起 到作為存放硅熔液容器的作用,但石墨仍在高溫下與硅發(fā)生如下反應(yīng)Si+C~>SiC但在提純所需的高溫溫度為1500~2000°C的范圍內(nèi),硅與石墨的反 應(yīng)比較緩慢,并且反應(yīng)的生成物SiC將以固態(tài)的形式覆蓋在石墨坩堝內(nèi)壁, 在一定程度上阻止硅與石墨的進(jìn)一步反應(yīng)。提純需要500Pa以下較高的真 空度。為了使提純的時(shí)間更短,最優(yōu)的真空度應(yīng)在5Pa以下。石墨坩堝的 主要成分碳(C),以及與硅的反應(yīng)物碳化珪(SiC)在高溫和高真空度下 仍然有很低的蒸汽壓,使得具有比碳、硅和碳化硅更高蒸汽壓的雜質(zhì)或其 化合物很容易從液面揮發(fā),達(dá)到了提純的目的。例如對光致衰減有很大影 響的氧元素,將以SiO的形式從液面揮發(fā)。經(jīng)過以上過程的提純之后,硅熔液中仍然保留具有較高蒸汽壓的雜 質(zhì),這類雜質(zhì)通常為對少子壽命有很大影響的金屬雜質(zhì),例如Fe、 Al、 Ca、 Ti、 Cu等。這類雜質(zhì)的分凝系數(shù)都比較小,可以通過隨后的晶體生 長過程將雜質(zhì)富集在晶體的尾部及堝底料中,從而使晶體頭部具有較高的純度。經(jīng)過步驟(1)蒸除易揮發(fā)雜質(zhì)后,略降溫,控制硅熔液溫度在1410 (硅熔點(diǎn)) 1500。C之間,通過籽晶誘導(dǎo)制備珪晶體。步驟(3)中,石墨坩堝內(nèi)硅熔液將耗盡時(shí),即在晶體生長的最后階 段,由于坩堝的圓弧形底部使得硅熔液很難被完全生長成晶體提拉出液 面,但殘余的硅熔液(冷卻后形成堝底料)中富含雜質(zhì),如果繼續(xù)留在石 墨坩堝中會帶來兩方面的問題首先,由于硅與石墨的熱膨脹系數(shù)不同, 堝底料在冷卻時(shí)有可能導(dǎo)致石墨坩堝產(chǎn)生裂紋。其次,雜質(zhì)含量^f艮多的殘 余硅熔液一旦在石墨坩堝底部凝固,則很難通過機(jī)械或化學(xué)的方法將堝底 料與石墨坩堝分開。這使得石墨坩堝在再次加料進(jìn)行生產(chǎn)時(shí),富含雜質(zhì)的 堝底料將不得不作為下次生產(chǎn)時(shí)的原料的一部分,影響了下次生產(chǎn)時(shí)硅原 料提純和晶體生長的效果和質(zhì)量。針對上述問題,本發(fā)明提出了針對性的操作工藝。首先,應(yīng)盡可能地 將殘余的硅熔液(冷卻后將形成堝底料)質(zhì)量降到3.5KG以下。通過提高 操作技術(shù),最優(yōu)選擇是將殘余的硅熔液質(zhì)量降到1.5KG以下。其次,可以 通過提高加熱器功率,將殘余的硅熔液的溫度提高到1600。C以上,真空 度下降到5Pa以下,通過高溫蒸烤可將原來難以揮發(fā)的雜質(zhì)得以進(jìn)一步揮 發(fā)。最后,為了避免冷卻時(shí)^f圭與石墨的熱膨月長系^t不同而導(dǎo)致石墨坩堝產(chǎn) 生裂紋,采用多次加料的方法,使石墨坩堝不經(jīng)過冷卻實(shí)現(xiàn)多次使用,延 長石墨坩堝的使用壽命。具體的做法是經(jīng)過步驟(3)將殘余的硅熔液經(jīng)過高溫蒸烤進(jìn)一步 除去雜質(zhì)后,再進(jìn)行步驟(4),將新的硅原料通過加料器放入石墨坩堝中。 為了降溫加料,加料前應(yīng)調(diào)節(jié)加熱器功率使其不高于晶體的等徑生長的功 率。加料后再加功率升溫進(jìn)行再次化料并形成新的硅熔液,進(jìn)行下一次的 提純和晶體生長。加料器可以采用套筒形式的加料器,通過副室將裝滿硅料的加料器放 入爐內(nèi),在坩堝上方將硅料倒入石墨坩堝之中。加料器也可以釆用側(cè)面加 料的方法,安裝在爐蓋上方一側(cè),通過打開加料開關(guān),將硅原料從側(cè)面加 入到石墨坩堝之中。加料器伸入爐內(nèi)高溫區(qū)部分的材質(zhì)可由炭炭復(fù)合材 料、石墨或石英材料加工而成。從安全和成本角度考慮,不經(jīng)過冷卻的石墨坩堝在多次使用時(shí),溫度6不應(yīng)冷卻到800。C以下,最優(yōu)選擇應(yīng)將石墨坩堝的平均溫度始終維持在 1200°C以上。重復(fù)進(jìn)行的提純和晶體生長的循環(huán)次數(shù)由晶體提拉爐、石 墨坩堝,真空泵及熱場材料等易損品的情況而定,在通常情況下可連續(xù)循 環(huán)使用5~10次。本發(fā)明方法使用的坩堝是一個(gè)整體,而不是傳統(tǒng)CZ法中作為輔助石 英坩堝承重用的由三瓣或多瓣組成的石墨坩堝,其內(nèi)部也不需要襯一個(gè)石 英坩堝。由于不需要使用石英坩堝,所以生成的硅晶體中含氧量很低,同 時(shí)本發(fā)明提供的操作工藝還能避免石墨坩堝開裂。另外由于不需要使用石 英坩堝,本發(fā)明可以對晶體生長之前的硅熔液和晶體生長之后的殘余硅熔 液進(jìn)行高溫下提純,避免了由于使用石英坩堝可能導(dǎo)致的坩堝變形和漏硅 的問題。最后,多次加料工藝的使用在很大程度上減少了每爐的升溫和降 溫冷卻過程,節(jié)約了能源。在本發(fā)明中蚶堝所用的材質(zhì)優(yōu)先為等靜壓石墨 (IsotropicGraphite)材料或炭炭(C-C)復(fù)合石墨材料,但不排除可以使 用耐高溫陶瓷或在硅材料中的分凝系數(shù)小的耐高溫金屬作為坩堝材質(zhì)的 可能性。本發(fā)明采用石墨整體坩堝而不采用石英坩堝作為硅原料的反應(yīng)容器, 結(jié)合堝底料的處理和連續(xù)硅原料的加料技術(shù),可以避免使用石墨坩堝帶來 的因熱膨脹導(dǎo)致的問題,也克服了現(xiàn)有CZ法制備硅晶體的含氧問題。本發(fā)明方法生產(chǎn)的摻硼低氧含量硅晶體制作成太陽能電池,可以使光 致衰減帶來的負(fù)面影響最小化,提高太陽能光伏產(chǎn)品的壽命。本發(fā)明方法免去了 CZ法中的石英坩堝,不僅可以增加硅晶體的生產(chǎn) 率,更可以減少硅晶體中的含氧量,提高硅晶體的品質(zhì)。


      圖1為利用CZ法進(jìn)行硅晶體生產(chǎn)的現(xiàn)有技術(shù)反應(yīng)裝置示意圖; 圖2為利用本發(fā)明方法制備硅晶體的反應(yīng)裝置示意圖; 圖3為利用本發(fā)明方法從副室進(jìn)行二次加料的示意圖; 圖4為利用本發(fā)明方法從爐蓋側(cè)面進(jìn)行二次加料的示意圖;具體實(shí)施方式
      實(shí)施例1參見圖1,圖i是一個(gè)cz法晶體提拉爐的典型縱剖面。通常用于生 長硅晶體的石圭原料^:置在內(nèi)層坩堝即石英坩堝2內(nèi)由加熱器3加熱,在保溫材料8的保護(hù)下熔化成硅熔液4 。石英坩堝2放置在外層蚶堝即石墨坩 堝1內(nèi)。而石墨坩堝;^文置在可以升降的坩堝軸7上。在CZ法中,晶體生 長的界面處于硅熔液4自由液面的中間。通過適當(dāng)?shù)卦O(shè)計(jì)加熱功率,并給 定適當(dāng)?shù)嫩釄遢S7和籽晶5的轉(zhuǎn)速,籽晶5通過牽引機(jī)構(gòu)所帶動的籽晶繩 9的提拉下,誘導(dǎo)硅熔液4生長出圓柱狀的晶體6。在晶體6生長過程中,石英坩堝2的主要成分為二氧化硅,在高溫下 部分氧原子會從石英中游離出來,進(jìn)入到晶體6中。因此,由石英坩堝2 作為容器的CZ法生長出的晶體6會有較高的氧濃度。另外,由于石英坩 堝存在,系統(tǒng)不允許進(jìn)行高溫和真空度小于500Pa的真空提純操作。參見圖2,本發(fā)明將整體的石墨坩堝作為存放硅原料的容器而不再采 用石英坩堝作為內(nèi)層坩堝。在硅原料熔化之后硅晶體生長之前,可以將真 空度下降到lPa左右,并將硅熔液的溫度上升到1800。C進(jìn)行硅原料中雜 質(zhì)的蒸發(fā)。將雜質(zhì)的蒸發(fā)過程持續(xù)3個(gè)小時(shí)之后,將加熱器功率適當(dāng)下降, 使硅熔液4的平均溫度在1450°C左右。將溫度穩(wěn)定1小時(shí)后,進(jìn)行籽晶 引晶,并最終誘導(dǎo)硅熔液4生長出圓柱狀的晶體6。當(dāng)坩堝內(nèi)硅熔液含量很少時(shí),通過調(diào)節(jié)加熱器3的功率得到適當(dāng)?shù)臏?度,可使硅熔液最大限度地從液面提拉出來,最后殘余的硅熔液13在1 KG 左右。由于殘余的硅熔液中雜質(zhì)含量較多,因此再次調(diào)高加熱器功率,使 殘余的硅熔液13的溫度達(dá)到1800。C左右,并調(diào)節(jié)真空度在1Pa左右進(jìn)行 雜質(zhì)的揮發(fā)。雜質(zhì)揮發(fā)完成后,如圖3所示,在不冷卻石墨坩堝(石墨坩 堝的溫度保持在1200°C以上)的前提下,通過加料器11加料。裝滿塊狀 和顆粒狀的硅原料12的加料器11從副室10通過籽晶繩9吊下,在石墨 坩堝上方將硅原料12釋放。當(dāng)石墨坩堝1內(nèi)加滿硅原料后,即可提高加 熱器功率,將硅原料融化成硅熔液,進(jìn)行下一次的提純和晶體生長過程。 由于石墨蚶堝沒有經(jīng)歷大溫差的冷卻過程,避免了石墨坩堝因石圭和石墨的 熱膨脹系數(shù)不同可能導(dǎo)致的坩堝損壞的情況。以上提純和晶體生長過程可連續(xù)進(jìn)行5 ~ 10次,與傳統(tǒng)的方法相比, 由于減少了加溫和冷卻的過程,縮短了一個(gè)工作循環(huán)的時(shí)間,因此使工作 效率大大提高了。實(shí)施例2采用實(shí)施例l相同的工藝過程。不同之處在于,加料過程由安裝在爐 蓋上的加料器14進(jìn)行側(cè)面加料。如圖4所示。加料器14中存放的硅原料 15為顆粒狀,等效直徑在0.5mm ~ 15mm之間。
      權(quán)利要求
      1、一種太陽能級硅晶體的制備及提純方法,其特征在于,在晶體提拉爐內(nèi),采用石墨材料的坩堝作為與硅原料直接接觸的容器(1)加熱使石墨坩堝內(nèi)的硅原料熔化,在硅熔液溫度1500~2000℃,硅熔液表面真空度0~500Pa條件下蒸發(fā)雜質(zhì)1小時(shí)或以上;(2)控制硅熔液溫度在1410~1500℃之間,通過籽晶誘導(dǎo)制備硅晶體。
      2、 如權(quán)利要求1所述的制備及提純方法,其特征在于(3) 當(dāng)石墨坩堝內(nèi)的硅熔液的殘余質(zhì)量為0.1~3.5KG時(shí),升溫至 1600~ 1850。C,珪熔液表面的真空度控制在0~5Pa,蒸發(fā)硅熔液中余下 的易揮發(fā)雜質(zhì);(4) 降溫但保持石墨坩堝內(nèi)溫度800。C以上,向石墨坩堝中加入下 一批硅原料;(5) 重復(fù)步驟(1) ~步驟(4)的操作連續(xù)生產(chǎn)。
      3、 如權(quán)利要求1所述的制備及提純方法,其特征在于步驟(l)中 在硅熔液溫度1550~ 1850。C,硅熔液表面真空度0 5Pa條件下蒸發(fā)雜質(zhì)。
      4、 如權(quán)利要求2所述的制備及提純方法,其特征在于步驟(3)中 所述的硅熔液的殘余質(zhì)量為0.1 ~ 1.5KG。
      5、 如權(quán)利要求1所述的制備及提純方法,其特征在于所述的石墨 材料為等靜壓石墨材料或炭炭復(fù)合石墨材料。
      6、 如權(quán)利要求1所述的制備及提純方法,其特征在于所述的硅晶 體包括硅單晶和硅多 晶。
      7、 如權(quán)利要求2所述的制備及提純方法,其特征在于步驟(4)降 溫但保持石墨坩堝內(nèi)溫度1200。C以上,向石墨坩堝中加入下一批硅原料。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種太陽能級硅晶體的制備及提純方法,其特點(diǎn)是提純及硅晶體制備過程在晶體提拉爐(采用Czochralski法進(jìn)行晶體生長的設(shè)備)內(nèi)完成,并且采用石墨材料加工的坩堝作為與硅原料(及其熔化后的熔液)直接接觸的容器,其操作過程包括(1)加熱使石墨坩堝內(nèi)的硅原料熔化,在硅熔液溫度1500~2000℃,硅熔液表面真空度0~500Pa條件下蒸發(fā)雜質(zhì);(2)控制硅熔液溫度在1410~1500℃之間,通過籽晶誘導(dǎo)制備硅晶體;(3)石墨坩堝內(nèi)硅熔液將耗盡時(shí),升溫至1600~1850℃,硅熔液表面的真空度控制在0~5Pa,蒸發(fā)硅熔液中余下的雜質(zhì);(4)降溫但保持石墨坩堝內(nèi)溫度800℃以上,向石墨坩堝中加入下一批硅原料;(5)重復(fù)步驟(1)~(4)的操作連續(xù)生產(chǎn)。本發(fā)明方法生產(chǎn)的硅晶體氧含量很低,改善了摻硼硅晶體制作成的太陽能電池的光致衰減性能,也實(shí)現(xiàn)了連續(xù)生產(chǎn)。
      文檔編號C30B29/06GK101545135SQ200910098370
      公開日2009年9月30日 申請日期2009年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月11日
      發(fā)明者喬 李, 遠(yuǎn) 馬 申請人:浙江碧晶科技有限公司
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