專利名稱：電子電路、電子裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及具備多個電子部件的電子電路。
背景技術(shù)：
在具備多個電子部件的電子電路中，為了檢測各電子部件的不良、配線的斷線，需要進(jìn)行工作確認(rèn)。例如，專利文獻(xiàn)1公開有如下技術(shù)，即，通過將光耦合元件的發(fā)光元件與作為電子電路的一種的恒流電源電路的恒流狀輸出線路(” > )串聯(lián)連接，并檢測光接收元件產(chǎn)生的電壓，可以利用簡單且廉價的構(gòu)成檢測出恒流輸出線路的斷線。此外，專利文獻(xiàn)2公開有如下技術(shù)，S卩，作為電子電路在半導(dǎo)體基板上的輸入輸出端子間串聯(lián)連接多個逆變器，從中間級的逆變器導(dǎo)出測試用焊盤，使用該測試用焊盤來檢測配線的斷線。然而，在專利文獻(xiàn)1中，為了檢測配線的斷線，需要另外設(shè)置發(fā)光元件和光接收元件，因此，產(chǎn)生增加了用于制造電路基板的工序的問題。此外，在專利文獻(xiàn)2中，為了檢測配線的斷線，需要另外設(shè)置測試用焊盤，因此，也產(chǎn)生增加了用于制造電路基板的工序的問題。對此，在專利文獻(xiàn)3中公開有如下技術(shù)，S卩，根據(jù)表示電子電路中的電路配線的圖像數(shù)據(jù)，檢測電路配線的斷線等，由此不需要如專利文獻(xiàn)1、2等那樣，在電路基板上另外設(shè)置斷線檢測用的構(gòu)件?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 開)”專利文獻(xiàn)2
開)”專利文獻(xiàn)3
開)”

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題然而，在專利文獻(xiàn)3所公開的技術(shù)中，需要另外設(shè)置從電路基板取得表示電路配線的圖像數(shù)據(jù)的裝置，其結(jié)果，會產(chǎn)生用于檢測電路配線斷線的裝置大型化的問題。而且，專利文獻(xiàn)3所公開的技術(shù)，雖然可以進(jìn)行電路配線的斷線確認(rèn)，但無法確認(rèn)各元件的配線錯誤。本發(fā)明就是根據(jù)上述問題而完成的，其目的在于，提供一種電子電路，上述電子電路不會增加用于電路配線的斷線檢測的電路的構(gòu)成要素，能適當(dāng)?shù)貦z測出電路配線的斷日本公開專利公報“特開昭60-125111號公報(1985年07月04日公 日本公開專利公報“特開昭60-170955號公報(1985年09月04日公 日本公開專利公報“特開2003-255008號公報(2003年09月10日公線，并且能容易檢測出各元件的配線錯誤。用于解決問題的方案為解決上述問題點(diǎn)，本發(fā)明提供一種電子電路，其特征在于，包括多個電子部件， 當(dāng)將上述多個電子部件中的至少一個電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所需要的主部件、將剩余的電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件時，在與上述主部件連接且用于進(jìn)行該主部件的工作所需要的信號的供給或通過該主部件的工作得到的信號的輸出的配線連接有上述輔助部件。根據(jù)上述構(gòu)成，由于在連接有判定電子電路是否正常工作所需要的主部件的配線上連接有判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件，因此能經(jīng)由該輔助部件進(jìn)行主部件的工作所需要的信號的供給或通過該主部件的工作得到的信號的輸出。不過，由于上述輔助部件為判定電子電路是否正常工作所不需要的電子部件，因此，即使輔助部件產(chǎn)生不良或至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線，作為電子電路也似乎以正常進(jìn)行工作的方式進(jìn)行動作。因此，僅確認(rèn)電子電路的通常工作，不能知道輔助部件是否產(chǎn)生不良或至輔助部件的配線是否產(chǎn)生斷線。但是，根據(jù)上述構(gòu)成，在上述輔助部件未工作的狀態(tài)、例如輔助部件發(fā)生故障的狀態(tài)、或至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的狀態(tài)下，不能進(jìn)行信號向上述主部件的供給或信號從上述主部件的輸出，電子電路成為沒有正常工作。由此，如果進(jìn)行通常進(jìn)行的電子電路的工作確認(rèn)，判斷為電子電路未正常工作，則在主部件的不良、對主部件的配線產(chǎn)生斷線的情況以外，還包含輔助部件的不良、至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的情況。因此，僅靠通常進(jìn)行的確認(rèn)電子電路是否正常工作，就能將輔助部件產(chǎn)生不良的情況、至該輔助部件的配線產(chǎn)生的斷線的情況也包含于不能正常工作的情況的原因中，因此，不需要另外進(jìn)行用于檢測輔助部件的不良、至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的檢查。如上所述，根據(jù)上述構(gòu)成，不增加用于檢測電路配線的斷線的電路構(gòu)成，可實(shí)現(xiàn)能適當(dāng)檢測出電路配線的斷線且容易地檢測出各部件的配線錯誤的電子電路。發(fā)明效果本發(fā)明的電子電路包括多個電子部件，當(dāng)將上述多個電子部件中的至少一個電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所需要的主部件，將剩余的電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件時，在與上述主部件連接且用于進(jìn)行該主部件的工作所需要的信號的供給或通過該主部件的工作得到的信號的輸出的配線連接有上述輔助部件，由此，具有如下效果，即，不增加用于檢測電路配線的斷線的電路構(gòu)成，可實(shí)現(xiàn)能適當(dāng)檢測出電路配線的斷線且容易地檢測出各部件的配線錯誤的電子電路。


圖1是本申請發(fā)明的電子電路的電路配線的特征部分的說明圖，(a) (C)是用于說明本發(fā)明的特征性構(gòu)成的概略框圖。圖2是移位寄存器電路的比較例的說明圖，(a)、(b)是移位寄存器電路的電路圖。圖3是表示圖2(a)、(b)所示的移位寄存器電路的理想的波形圖形的波形圖。圖4是表示圖2(a)、(b)所示的移位寄存器電路的實(shí)際的波形圖形的波形圖。
圖5是圖2 (a)、(b)所示的移位寄存器電路的波形圖形，是表示圖2 (a)所示的級的移位寄存器電路的配線產(chǎn)生斷線時的波形圖形的波形圖。圖6是本發(fā)明的實(shí)施例1的移位寄存器電路的電路圖。圖7是表示圖6所示的移位寄存器電路的實(shí)際的波形圖形的波形圖。圖8是對圖2(a)、(b)所示的移位寄存器電路追加了一個晶體管的移位寄存器電路的電路圖。圖9是本發(fā)明的實(shí)施例2的移位寄存器電路的電路圖。
具體實(shí)施例方式以下，對本申請發(fā)明的電子電路的電路配線的特征部分進(jìn)行說明。圖1(a)表示與電路的輸入(輸入端子)連接的第1電路配線101，圖1 (b)表示電路內(nèi)部的第2電路配線102，圖1 (c)表示與電路的輸出連接的第3電路配線103。如圖1(a)所示，上述第1電路配線101為在輸入和主部件IOla之間串聯(lián)連接有三個輔助部件IOIb的電路配線。在此，上述主部件IOla是在未與第1電路配線101連接時包含該第1電路配線 101的電子電路未工作的情況的元件。即，上述主部件IOla是為實(shí)現(xiàn)電子電路的所希望的功能而所必需的電子部件(元件)。另外，上述輔助部件IOlb是指即使不與第1電路配線101連接、包含該第1電路配線101的電子電路也進(jìn)行工作的情況的某電子部件。通常，電子電路中，由于即使連接有輔助部件IOlb的配線斷線，有時作為電路整體也進(jìn)行工作，因此，難以發(fā)現(xiàn)該斷線。但是，如上所述，通過在不與第1電路配線101連接就不進(jìn)行工作的主部件IOla 和輸入之間串聯(lián)連接輔助部件101b，由此，連接有該輔助部件IOlb的配線的斷線原樣地成為主部件IOla的斷線。這種情況下，如果主部件IOla不工作，則在第1電路配線101中的各元件間的任一配線產(chǎn)生斷線，包含第1電路配線101的電路變?yōu)椴荒苷９ぷ?。S卩，僅確認(rèn)包含第1電路配線101的電路是否正常工作，即可判斷第1電路配線 101中的各元件間的任一配線是否產(chǎn)生斷線。在上述的情況下，對在輸入和主部件IOla之間串聯(lián)連接了輔助部件IOlb的例子進(jìn)行說明，但如圖1 (b)所示的第2電路配線102，即使在電路內(nèi)部的主部件10加、1023間串聯(lián)連接有兩個輔助部件102b的電路配線的情況下，也能判斷如上所述的配線的斷線。在此，上述主部件10 具有與上述主部件IOla相同的功能，上述輔助部件102b具有與上述輔助部件IOlb相同的功能。S卩，上述構(gòu)成的第2電路配線102中，與上述第1電路配線101同樣，僅確認(rèn)包含第2電路配線102的電路是否正常工作，即可判斷第2電路配線102的各元件間的任一配線是否產(chǎn)生斷線。另外，如圖1(c)所示的第3電路配線103，在主部件103a和輸出之間串聯(lián)連接有三個輔助部件10 的電路配線的情況下，也可以判斷如上述的配線的斷線。在此，上述主部件103a具有與上述主部件IOla相同的功能，上述輔助部件10 具有與上述輔助部件 IOlb相同的功能。
S卩，上述構(gòu)成的第3電路配線103中，也與上述第3電路配線103同樣，僅確認(rèn)包含第3電路配線103的電路是否正常工作，即可判斷第3電路配線103的各元件間的任一配線是否產(chǎn)生斷線。通常，在電路內(nèi)部，在難以發(fā)現(xiàn)斷線的元件(輔助部件IOlb等)的配線產(chǎn)生斷線的情況下，如果在可能給元件造成壞影響的檢查環(huán)境中不進(jìn)行特別的檢查，則不能發(fā)現(xiàn)上述的斷線，但根據(jù)上述構(gòu)成的電路配線，僅判斷包含該電路配線的電路是否正常工作，即可確認(rèn)電路配線內(nèi)是否產(chǎn)生斷線，因此，不需要進(jìn)行特別的檢查。如上所述，根據(jù)上述構(gòu)成的第1電路配線101、第2電路配線102、第3電路配線103，通過在連接有包含這些電路配線的電子電路是否正常工作的判定所需要的主部件 101aU02aU03a的配線上連接電子電路是否正常工作的判定所不需要的輔助部件101b、 102b、103b，可經(jīng)由該輔助部件101b、102b、103b進(jìn)行主部件101a、102a、103a的工作所需要的信號的供給或通過該主部件101a、102a、103a的工作得到的信號的輸出。由于上述輔助部件101b、102b、10;3b為電子電路是否正常工作的判定所不需要的電子部件，因此，即使輔助部件101b、102b、10 產(chǎn)生不良或至輔助部件101b、102b、10 的配線產(chǎn)生斷線，作為電子電路也能以似乎正常工作的方式進(jìn)行動作。因此，僅確認(rèn)電子電路的通常工作，不能知道輔助部件101b、102b、10 是否產(chǎn)生不良或至輔助部件101b、102b、 10 的配線是否產(chǎn)生斷線。但是，根據(jù)上述構(gòu)成，在上述輔助部件101b、102b、10;3b未工作的狀態(tài)、例如輔助部件101b、102b、10 發(fā)生故障的狀態(tài)、或至輔助部件101b、102b、10 的配線發(fā)生了斷線的狀態(tài)下，不能進(jìn)行信號向上述主部件101a、102a、103a的供給或信號從上述主部件101a、 102aU03a的輸出，電子電路不能正常工作。由此，進(jìn)行通常進(jìn)行的電子電路的工作確認(rèn)，如果判斷為電子電路未正常工作，則在主部件101a、102a、103a產(chǎn)生不良、至主部件101a、102a、103a的配線產(chǎn)生斷線的情況以外，還包含輔助部件101b、102b、10 產(chǎn)生不良、至輔助部件101b、102b、10 的配線產(chǎn)生斷線的情況。因此，僅靠通常進(jìn)行的確認(rèn)電子電路是否正常工作，就能將輔助部件101b、102b、 10 產(chǎn)生不良的情況、至該輔助部件101b、102b、10 的配線產(chǎn)生的斷線的情況也包含于不能正常工作的情況的原因內(nèi)，因此，不需要另外進(jìn)行用于檢測輔助部件101b、102b、10;3b 產(chǎn)生不良及至輔助部件101b、102b、10 的配線產(chǎn)生斷線的檢查。如上所述，根據(jù)上述構(gòu)成，不增加用于進(jìn)行電路配線的斷線檢測的電路構(gòu)成，即可實(shí)現(xiàn)可以適當(dāng)?shù)貦z測出電路配線的斷線且容易地檢測出各部件的配線錯誤的電子電路。另外，例如上述電路配線101、102、103也可以包括能在兩端進(jìn)行電阻測定的一條配線線路，在上述配線線路上連接兩個以上的上述主部件。在此，進(jìn)行本申請發(fā)明的電子電路的電路配線的具體的說明。在此，作為電路配線，以下以包含于非晶態(tài)TFTCThin Film Transistor)的柵極驅(qū)動器單片面板的移位寄存器電路為例進(jìn)行說明。在以下的說明中，以上述的主部件為主元件、以輔助部件為輔助元件進(jìn)行說明。首先，對移位寄存器電路的比較例進(jìn)行說明。圖2(a)、(b)表示移位寄存器電路，該圖(a)表示第η級的移位寄存器電路，該圖(b)表示第n+1級的移位寄存器電路。另外，圖2(a)、(b)所示的移位寄存器電路為一般的電路，因此省略詳細(xì)的說明。在上述移位寄存器電路中，未連接該元件時作為移位寄存器電路不能正常工作的主元件為四個晶體管TrA、TrB, TrC, TrD,即使不連接該元件也可以作為移位寄存器電路工作的輔助元件為電容器C。圖2 (a)所示的第η級的移位寄存器電路中，通過輸入時鐘信號CK1、第η_1級的移位寄存器電路的輸出n-1、第n+1級的移位寄存器電路的輸出n+1，得到輸出η。圖2(b)所示的第n+1級的移位寄存器電路中，也與第η級的移位寄存器電路相同，通過輸入時鐘CK2、第η級的移位寄存器電路的輸出η、第η+2級的移位寄存器電路的輸出η+2，得到輸出n+1。S卩，在某級的移位寄存器電路中，在未輸入時鐘信號和前后級的移位寄存器電路的輸出時，不能得到輸出。在上述構(gòu)成的移位寄存器電路中，在至作為主元件的晶體管TrA、晶體管TrB的配線斷線的情況下，由于移位寄存器電路不能可靠地工作，因此沒有輸出。另外，在至晶體管 TrC、晶體管TrD的配線斷線的情況下，雖然移位寄存器電路進(jìn)行工作，但輸出不正常。艮口， 如果至主元件的配線斷線，則移位寄存器電路的工作不正常，因此，可以容易地確認(rèn)在該移位寄存器電路內(nèi)產(chǎn)生斷線。但是，在移位寄存器電路中，在僅考慮各元件的配置效率的情況下，圖2(a)所示的與電容器C連接的輸出配線(輸出信號配線)11上的X標(biāo)記處容易產(chǎn)生斷線。該情況下，在通常工作確認(rèn)時，移位寄存器電路似乎以正常工作的方式進(jìn)行動作，因此，可能會漏識別不良。S卩，在至作為上述輔助元件的電容器C的配線斷線的情況下，由于根據(jù)各晶體管的大小產(chǎn)生寄生電容來代替電容器C的功能，因此，移位寄存器電路似乎以正常工作的方式進(jìn)行動作。難以檢測出這種情況下的配線的斷線。下面，參照圖3 圖5所示的波形圖對上述的問題點(diǎn)進(jìn)行說明。在各波形圖中，內(nèi)部配線12表示與構(gòu)成各級的移位寄存器電路的晶體管TrB的漏極電極和晶體管TrD的源極電極連接并且與晶體管TrA的柵極電極和電容器C連接的配線。圖3是表示圖2(a)、(b)所示的移位寄存器電路的理想的波形圖形的波形圖。 這樣，在理想的波形圖形的波形圖中，內(nèi)部配線12的信號Sn、Sn+Ι ；輸出信號n、n+1在 high(高電平)期間的上升、下降不會產(chǎn)生變形(& i >9 )，另外，在low(低電平)期間也成為low電位穩(wěn)定的狀態(tài)。但是，實(shí)際的波形圖形為圖4所示的波形圖。S卩，在內(nèi)部配線12的信號中，由于配線電阻和電容，使得high期間a的上升部分稍微產(chǎn)生變形，另外，本來在應(yīng)維持低電平的 low期間b，也受時鐘信號CK1、CK2的影響而成為不能維持低電平的狀態(tài)。另夕卜，在圖4所示的波形圖中，輸出信號n、n+1受到內(nèi)部配線12的信號的影響和輸出目標(biāo)的負(fù)載的影響，在high期間c的上升部分產(chǎn)生變形，在應(yīng)維持低電平的low期間 d，成為不能維持低電平的狀態(tài)。在此，圖4所示的波形圖表示在移位寄存器電路中未產(chǎn)生配線的斷線時的實(shí)際的波形圖形。與之相對，圖5所示的波形圖表示在圖2(a)所示的移位寄存器電路中電容器C的輸出配線11上的X部分發(fā)生了斷線時的波形圖形。圖5所示的波形圖中，內(nèi)部配線12的信號Sn在high期間e向下降部分的下降方向的傾斜增大。這是由于，電容器C不發(fā)揮功能，從而電位保持力消失，電位的降低增大。由于該內(nèi)部配線12的信號Sn的影響，從而輸出信號η在high期間f向下降部分的下降方向的傾斜也增大。另外，在下一級的移位寄存器電路的內(nèi)部配線12的信號Sn+1 中，對high期間g的從上升部分的前半部向后半部的切換部分帶來影響(產(chǎn)生傾斜)。但是，由于假設(shè)在作為下一級的n+1級的移位寄存器電路中沒有產(chǎn)生斷線，因此對下一級的內(nèi)部配線12的信號Sn+Ι在high期間的下降及輸出信號n+1不會帶來影響。如上所述，在移位寄存器電路中，在至作為輔助元件的電容器C的配線產(chǎn)生斷線的情況下，如圖5所示的波形圖，可知，雖然對波形圖形帶來若干影響，但可以看出，與未產(chǎn)生斷線時的圖4所示的波形圖的波形圖形幾乎沒有不同。因此，可知，僅確認(rèn)通常的移位寄存器電路的工作，難以發(fā)現(xiàn)斷線產(chǎn)生。因此，為可靠地判斷有無至這樣的輔助元件的配線的斷線，需要根據(jù)通常的移位寄存器電路的工作環(huán)境，將檢查環(huán)境或驅(qū)動脈沖的周期及電位變更為與通常不同的條件下的工作環(huán)境。這樣的特殊的檢查環(huán)境或驅(qū)動脈沖的周期或電位，容易對移位寄存器電路內(nèi)的元件帶來壞影響，從而有可能加速元件的劣化。因此，作為移位寄存器電路的功能保持原樣，作為通過研究各元件的配線而用通常工作確認(rèn)就能可靠地判斷至輔助元件的配線的斷線的有無的電路配線，例如有圖6所示的移位寄存器電路?！矊?shí)施例1〕圖6表示具有構(gòu)成與圖2(a)相同級的移位寄存器電路的各元件并使元件間的配線的引繞(引t回)不同的移位寄存器電路。圖6中，虛線圓表示各個元件，圓內(nèi)的各分支經(jīng)由元件進(jìn)行配線。在圖6所示的移位寄存器電路中，與包括一條輸出線的輸出配線11連接的僅是作為輔助元件的電容器C，作為主元件的晶體管TrA、晶體管TrC未直接連接。即，成為在輸出配線11和作為主元件的晶體管TrA或晶體管TrC之間連接有作為輔助元件的電容器C的形式。如圖6所示，上述移位寄存器電路為包含四個晶體管TrA、TrB、TrC、TrD以及一個電容器C而構(gòu)成，形成特征性電路配線。即，上述晶體管TrA中，源極電極與包括輸入時鐘信號CKl的一條輸入線路的配線 (輸入信號配線)13連接，柵極電極與內(nèi)部配線12連接，漏極電極經(jīng)由配線14與相鄰的晶體管TrC的源極電極連接。上述晶體管TrC中，源極電極與上述配線14連接，并且，經(jīng)由其它配線15與電容器C的一端子連接。這樣，上述配線14和配線15從晶體管TrC的源極電極分支，形成分支線路。另外，上述晶體管TrC中，漏極電極經(jīng)由配線16與晶體管TrD的漏極電極連接，柵極電極經(jīng)由配線17與晶體管TrD的柵極電極連接。在此，晶體管TrD的柵極電極，由于也與輸入下一級的移位寄存器電路的輸出信號n+1的配線18連接，因此來自與該柵極電極連接的配線18的輸出信號n+1也被輸入經(jīng)由上述配線17連接的上述晶體管TrC的柵極電極。上述晶體管TrD中，源極電極與相鄰的晶體管TrB的漏極電極連接，并且還與上述內(nèi)部配線12連接。這樣，內(nèi)部配線12為從晶體管TrD的源極電極分支的配線。另外，上述晶體管TrD中，漏極電極與低電平(low)連接，并且還與上述的配線16 連接。由此，將從晶體管TrC的漏極電極輸出的信號、和從晶體管TrD的漏極電極輸出的信號維持在低電平。最后，上述晶體管TrB中，源極電極與輸入來自前級的移位寄存器電路的輸出信號n-1的配線19連接，柵極電極與上述配線19連接，漏極電極與上述晶體管TrD的源極電極連接。在此，在晶體管TrD的源極電極上，如上所述，連接有內(nèi)部配線12，因此，來自上述晶體管TrB的漏極電極的輸出信號被輸入內(nèi)部配線12。在移位寄存器電路中，通過設(shè)為圖6所示的電路配線，從而在任何地方的元件間的配線、即輸出配線11、內(nèi)部配線12、其它配線13 19的任一個發(fā)生了斷線的情況下，晶體管TrA、晶體管TrB、晶體管TrC、晶體管TrD從輸入輸出配線(輸出配線11、配線13、配線 18,19)或內(nèi)部配線12被斷開。由此，由于在移位寄存器電路內(nèi)的至各元件的配線的斷線原樣地成為輸出不正常，因此，可通過在通常條件下的移位寄存器電路的驅(qū)動檢查來判定有無斷線。即，即使在至作為輔助元件的電容器C的配線(上述的輸出配線11)斷線的情況下，無論是移位寄存器電路內(nèi)的哪一配線產(chǎn)生的斷線，都可以通過通常工作確認(rèn)來進(jìn)行判斷，因此，由于不需要進(jìn)行導(dǎo)致元件劣化的特殊的檢查，因此可以實(shí)現(xiàn)元件的長壽命化，其結(jié)果，具有可延長移位寄存器電路的壽命，且可以穩(wěn)定地工作的效果。但是，圖6所示的電路配線的移位寄存器電路的情況下，根據(jù)溫度或噪聲等外部因素、電路自身或者輸出目標(biāo)的電容、驅(qū)動周期、電壓等條件，對內(nèi)部配線12的信號或輸出信號η帶來壞影響，如上述圖4所示的實(shí)際的波形圖形的波形圖的說明所述的各影響增大。 例如，圖7表示因溫度上升而受到壞影響的波形圖形的波形圖。如圖7所示，當(dāng)因溫度上升而各晶體管Tr的截止電阻降低時，例如時鐘信號CKl 的影響經(jīng)由晶體管TrA使內(nèi)部配線12的信號Sn的low期間h及輸出信號η的low期間i 不穩(wěn)定，該輸出信號η對下一級的內(nèi)部配線12的信號的low期間j及輸出信號n+1的low 期間k也帶來影響。如果影響變得厲害，則在移位寄存器電路的第某級會不正常工作。艮口， 越是后級，移位寄存器電路的內(nèi)部配線12的信號的low期間的電位、輸出信號的low期間的電位越上升，最終導(dǎo)致不正常工作?！矊?shí)施例2〕因此，在圖8所示的移位寄存器電路中，為使內(nèi)部配線的信號的low期間和輸出信號在low期間的low電位穩(wěn)定化，而追加了晶體管TrE。該圖8所示的移位寄存器電路為對于圖2(a)、(b)所示的移位寄存器電路追加了上述晶體管TrE的電路。晶體管TrE實(shí)現(xiàn)利用下一級的時鐘信號CK2使輸出信號η的low期間的電位靠向 low電位的效果。但是，在輸出信號η穩(wěn)定時(即使有影響也處于可工作的范圍時)，例如即使至晶體管TrE的配線斷線，工作上也是沒有問題的，因此，在對于移位寄存器電路的通常的驅(qū)動檢查中，不能判斷至上述晶體管TrE的配線有無斷線。因此，與上述實(shí)施例1所示的圖6所示的移位寄存器電路相同，作為通過研究各元件的配線，利用通常工作確認(rèn)而能簡單且可靠地判斷至晶體管TrE的配線有無斷線的電路配線，例如有圖9所示的移位寄存器電路。圖9所示的移位寄存器電路，除設(shè)有晶體管TrE以外，具有與圖6所示的移位寄存器電路相同的元件且使元件間的配線的引繞不同。圖9中，虛線圓表示各個元件，圓內(nèi)的各分支經(jīng)由元件進(jìn)行配線。S卩，如圖9所示，上述移位寄存器電路被新追加了上述晶體管TrE，該晶體管TrE的源極電極與連接于電容器C的一端子的配線1 連接。該配線1 從晶體管TrE的漏極電極分支，形成分支線路，并與連接于晶體管TrC的源極電極的配線1 連接。另外，向晶體管TrE的柵極電極輸入下一級的時鐘信號CK2。另外，上述晶體管TrE的漏極電極與連接于晶體管TrC的漏極電極的配線16連接。該配線16與從晶體管TrD的漏極電極分支的用于引向low的配線20連接。由此，晶體管TrC的漏極電極、晶體管TrD的漏極電極、晶體管TrE的漏極電極被維持在low電位，因此，在移位寄存器電路中，可以使內(nèi)部配線的信號的low期間和輸出信號的low期間的low電位穩(wěn)定化。在此，在圖9所示的第η級的移位寄存器電路中，在配線12上的(1)的部分產(chǎn)生了斷線的情況下，晶體管TrA當(dāng)然不會工作，因此，不輸出信號η。另外，在圖9所示的第η級的移位寄存器電路中，在配線1 上的(2)的部分產(chǎn)生了斷線的情況、即在晶體管TrA和輸出端子η間產(chǎn)生了斷線的情況下，即使晶體管TrA、TrC、 TrE正常工作，也不會向輸出端子η輸出信號。由此，由于移位寄存器電路內(nèi)的至晶體管TrE的配線的斷線原樣地導(dǎo)致輸出不正常，因此，可利用通常條件下的移位寄存器電路的驅(qū)動檢查判定上述斷線的有無。另外，在圖9所示的移位寄存器電路中，由于為與圖6所示的電路配線同樣的電路配線，因此在任何地方的元件間的配線、即輸出配線11、內(nèi)部配線12、其它配線13 20的任一個發(fā)生了斷線的情況下，晶體管TrA、晶體管TrB、晶體管TrC、晶體管TrD及晶體管TrE 從輸入輸出配線(輸出配線11、配線13、配線18 20)或內(nèi)部配線12被斷開。由此，由于移位寄存器電路內(nèi)的至各元件的配線的斷線原樣地導(dǎo)致輸出不正常， 因此，可利用通常條件下的移位寄存器電路的驅(qū)動檢查判定有無斷線。即，即使在至作為輔助元件的電容器C的配線(上述輸出配線11)發(fā)生斷線的情況下，即使是移位寄存器電路內(nèi)的某一配線發(fā)生的斷線，也能利用通常工作確認(rèn)進(jìn)行判斷，因此，不需要進(jìn)行導(dǎo)致元件劣化的特殊的檢查。其結(jié)果，實(shí)現(xiàn)可使元件長壽命化、延長移位寄存器電路的壽命且穩(wěn)定地工作的效果。在以上的說明中，在移位寄存器電路(電子電路)中，作為主部件，使用晶體管TrA 等用于在該移位寄存器電路中發(fā)揮功能的構(gòu)件，但本發(fā)明不限于此，作為上述主部件，也可以是用于判定移位寄存器電路(電子電路)是否正常工作的專用的電子部件。該情況下，通過將引繞多個輸入信號的線路的連接目標(biāo)匯集至作為專用的電子部件的專用元件，實(shí)現(xiàn)可以減少不良確認(rèn)作業(yè)數(shù)的效果。如上所述，在上述的說明中，對將本申請發(fā)明的電路配線適用于用于驅(qū)動TFT面
11板的驅(qū)動電路內(nèi)的移位寄存器電路的例子進(jìn)行說明，但不限于此。例如，即使是將處于主元件、輔助元件的關(guān)系的電子部件彼此連接的配線，本申請發(fā)明也可以適用。本申請發(fā)明，例如，不僅適用于上述的非晶態(tài)TFT的柵極驅(qū)動器單片面板，當(dāng)然也適用于其它平板顯示器的驅(qū)動電路，只要是在基板上形成電路的構(gòu)成(與元件的形成、搭載無關(guān))，則均可適用。另外，即使不是在基板上，即使是對于伴隨實(shí)態(tài)配線的例如機(jī)動車的配線、設(shè)備的配線、電化制品等，通過使主部件經(jīng)由輔助部件進(jìn)行配線，也可以容易地檢測出連接錯誤等。具備多個電子部件的電子裝置也同樣地可以實(shí)施本申請發(fā)明。本發(fā)明的電子電路包括多個電子部件，在將上述多個電子部件中的至少一個電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所需要的主部件(101a、102a、103a)，將剩余的電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件(101b、102b、103b)時，在與主部件(101a、10加、103a)連接且用于主部件(101a、10加、103a)的工作所需要的信號的供給或通過該主部件的工作而得到的信號的輸出的配線連接有輔助部件(101b、102b、103b)。根據(jù)上述構(gòu)成，通過在連接有判定電子電路是否正常工作所需要的主部件的配線上連接判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件，經(jīng)由該輔助部件進(jìn)行主部件的工作所需要的信號的供給或通過該主部件的工作得到的信號的輸出。由于輔助部件(101b、102b、103b)為判定電子電路是否正常工作所不需要的電子部件，因此，即使輔助部件產(chǎn)生不良或至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線，作為電子電路也似乎以正常工作的方式進(jìn)行動作。因此，僅進(jìn)行電子電路的通常工作確認(rèn)，不能知道輔助部件是否產(chǎn)生不良或至輔助部件的配線是否產(chǎn)生斷線。但是，根據(jù)上述構(gòu)成，在輔助部件(101b、102b、103b)未工作的狀態(tài)、例如輔助部件發(fā)生了故障的狀態(tài)、或至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的狀態(tài)下，不能進(jìn)行向主部件(101a、 102aU03a)的信號的供給或從主部件(101a、10加、103a)的信號的輸出，因此，電子電路不
能正常工作。由此，如果進(jìn)行通常進(jìn)行的電子電路的工作確認(rèn)，判斷為電子電路未正常工作，則在主部件產(chǎn)生不良、至主部件的配線產(chǎn)生斷線的情況之外，還包含輔助部件產(chǎn)生不良、至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的情況。因此，僅靠通常進(jìn)行的確認(rèn)電子電路是否正常工作，就能將輔助部件產(chǎn)生不良的情況、至該輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的情況也包含在不能正常工作的情況的原因內(nèi)，因此， 不需要另外進(jìn)行用于檢測輔助部件產(chǎn)生不良或至輔助部件的配線產(chǎn)生斷線的檢查。如上所述，根據(jù)上述構(gòu)成，不增加用于進(jìn)行電路配線的斷線檢測的電路構(gòu)成，即可實(shí)現(xiàn)適當(dāng)?shù)貦z測出電路配線的斷線且容易地檢測出各部件的配線錯誤的電子電路。主部件(101a、10加、103a)也可以是為實(shí)現(xiàn)電子電路的所希望的功能所必需的電子部件。該情況下，由于不需要新設(shè)置電子部件，因此，可以抑制檢查斷線等不良導(dǎo)致的電路的增大化。主部件(101a、10加、103a)也可以是用于判定電子電路是否正常工作的專用的電子部件。該情況下，由于使用專用的電子部件，因此，相比使用上述那樣的已有的電子部件的情況，可以使配線的引繞簡單。也可以是，配線13是輸入信號配線，輔助部件(101b、102b、103b)連接于主部件 (101aU02aU03a)和上述輸入信號配線的信號的輸入端子之間。該情況下，可以通過有無主部件的工作所需要的信號的供給，來判斷斷線。也可以是，上述輸入信號配線包括一條輸入線路，在上述輸入線路僅連接一個主部件(101a、102a、103a)。該情況下，通過對一個輸入信號設(shè)置一條引繞的線路，使斷線時斷開的主部件為一個，可以僅確認(rèn)一個不良癥狀來判斷斷線。也可以是，在上述輸入信號配線包括一條輸入線路，主部件(101a、10加、103a)為專用的電子部件時，上述專用的電子部件利用多個輸入信號進(jìn)行工作，上述專用的電子部件的數(shù)量比輸入線路數(shù)量少。該情況下，通過將引繞多個輸入信號的線路的連接目標(biāo)匯集至作為專用的電子部件的專用元件，可以減少不良確認(rèn)作業(yè)數(shù)。也可以是，上述輸入信號配線包括信號的輸入側(cè)的相反側(cè)從一條線路分支為至少兩個的分支線路，在上述分支線路的至少一方分支線路連接輔助部件(101b、102b、10 )， 在連接有該輔助部件的分支線路以外的分支線路連接主部件(101a、10加、103a)。該情況下，即使是在電子電路的構(gòu)成上難以進(jìn)行電子部件的引繞的情況，也能檢測配線的斷線。也可以是，輸出配線11為輸出信號配線，輔助部件(101b、102b、103b)連接于主部件(101a、10加、103a)和上述輸出信號配線的信號的輸出端子之間。 該情況下，可以通過有無從主部件輸出的信號判斷斷線。也可以是，上述輸出信號配線包括一條輸出線路，在上述輸出線路僅連接一個主部件(101a、102a、103a)。該情況下，通過設(shè)置一條引繞一個輸出信號的線路，使斷線時被斷開的主部件為一個，可以通過僅確認(rèn)一個不良癥狀來判斷出斷線。也可以是，上述輸出信號配線包括一條輸出線路，主部件(101a、10加、103a)為專用的電子部件時，上述專用的電子部件利用多個輸入信號進(jìn)行工作，上述專用的電子部件的數(shù)量比輸出線路數(shù)量少。該情況下，通過將引繞多個輸入信號的線路的連接目標(biāo)匯集至作為專用的電子部件的專用元件，可以減少不良確認(rèn)作業(yè)數(shù)。也可以是，上述輸出信號配線包括信號的輸出側(cè)的相反側(cè)從一條線路分支為至少兩個的分支線路，在上述分支線路的至少一方分支線路連接有輔助部件(101b、102b、 10 )，在連接有該輔助部件的分支線路以外的分支線路連接主部件(101a、10加、103a)。該情況下，即使在電子電路的構(gòu)成上難以進(jìn)行電子部件的引繞的情況下，也能檢測配線的斷線。也可以是，上述配線沒有連接于輸入端子及輸出端子的任一個，而在上述配線連接有兩個上述主部件，并且在這些主部件之間連接有輔助部件(101b、102b、103b)。也可以是，上述兩個主部件中的至少一個主部件為用于判定電子電路是否正常工作的專用的電子部件。
也可以是，上述配線包括可在兩端進(jìn)行電阻測定的一條配線線路，在上述配線線路連接有兩個以上的主部件(101a、10加、103a)。該情況下，在配線的兩端進(jìn)行電阻測定時，可減少不良確認(rèn)次數(shù)。也可以是，主部件(101a、10加、103a)中的至少一個主部件為用于判定電子電路是否正常工作的專用的電子部件。也可以是，電子裝置具備上述任一種構(gòu)成的電子電路。例如也可以是在多個電路基板(TFT基板和安裝基板、包括多個基板的電路等)間應(yīng)用電子電路的電子裝置。另外，也可以是在組裝機(jī)械設(shè)備等的實(shí)態(tài)配線時將電子電路適用于對機(jī)器間的連接方法的電子裝置。另外，也可以是將電子電路復(fù)合地組裝到電路基板及機(jī)器類或機(jī)械設(shè)備等的電子
直ο本發(fā)明不限于上述的各實(shí)施方式，在權(quán)利要求所表示的范圍內(nèi)可以進(jìn)行各種變更，而且適當(dāng)組合由不同的實(shí)施方式分別公開的技術(shù)手段得到的實(shí)施方式，也包含于本發(fā)明的技術(shù)范圍。工業(yè)上的可利用件本發(fā)明可以全面地用于具備多個電子部件的電子電路。附圖標(biāo)記說明11輸出配線12內(nèi)部配線13 配線14 配線15 配線16 配線17 配線18 配線19 配線20 配線101第1電路配線IOla 主部件IOlb輔助部件102第2電路配線102a 主部件102b輔助部件103第3電路配線103a 主部件103b輔助部件C電容器CKl時鐘信號
CK2時鐘信號η輸出信號Sn 信號TrA晶體管TrB晶體管TrC晶體管TrD晶體管TrE晶體管
1權(quán)利要求
1.一種電子電路，其特征在于， 包括多個電子部件，當(dāng)將上述多個電子部件中的至少一個電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所需要的主部件、將剩余的電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件時，在與上述主部件連接且用于進(jìn)行該主部件的工作所需要的信號的供給或通過該主部件的工作得到的信號的輸出的配線上連接有上述輔助部件。
2.如權(quán)利要求1所述的電子電路，其特征在于，上述主部件是為實(shí)現(xiàn)電子電路的所希望的功能所必需的電子部件。
3.如權(quán)利要求1所述的電子電路，其特征在于，上述主部件為用于判定電子電路是否正常工作的專用的電子部件。
4.如權(quán)利要求1 3中任一項所述的電子電路，其特征在于， 上述配線為輸入信號配線，上述輔助部件被連接于上述主部件和上述輸入信號配線的信號的輸入端子之間。
5.如權(quán)利要求4所述的電子電路，其特征在于， 上述輸入信號配線包括一條輸入線路，在上述輸入線路上僅連接有一個上述主部件。
6.如權(quán)利要求4所述的電子電路，其特征在于， 上述輸入信號配線包括一條輸入線路， 在上述主部件為專用的電子部件時，上述專用的電子部件利用多個輸入信號進(jìn)行工作， 上述專用的電子部件的數(shù)量比輸入線路數(shù)量少。
7.如權(quán)利要求2所述的電子電路，其特征在于， 上述配線為輸入信號配線，上述輸入信號配線包括信號的輸入側(cè)的相反側(cè)從一條線路分支為至少兩條的分支線路，在上述分支線路的至少一方分支線路連接有上述輔助部件，在連接有該輔助部件的分支線路以外的分支線路連接有上述主部件。
8.如權(quán)利要求1 3中任一項所述的電子電路，其特征在于， 上述配線為輸出信號配線，上述輔助部件被連接于上述主部件和上述輸出信號配線的信號的輸出端子之間。
9.如權(quán)利要求8所述的電子電路，其特征在于， 上述輸出信號配線包括一條輸出線路，在上述輸出線路僅連接有一個上述主部件。
10.如權(quán)利要求8所述的電子電路，其特征在于， 上述輸出信號配線包括一條輸出線路， 在上述主部件為專用的電子部件時，上述專用的電子部件利用多個輸入信號進(jìn)行工作， 上述專用的電子部件的數(shù)量比輸出線路數(shù)量少。
11.如權(quán)利要求2所述的電子電路，其特征在于，上述配線為輸出信號配線，上述輸出信號配線包括信號的輸出側(cè)的相反側(cè)從一條線路分支為至少兩條的分支線路，在上述分支線路的至少一方分支線路連接有上述輔助部件，在連接有該輔助部件的分支線路以外的分支線路連接有上述主部件。
12.如權(quán)利要求1所述的電子電路，其特征在于， 上述配線沒有連接于輸入端子及輸出端子的任一個，在上述配線連接有兩個上述主部件并且在這些主部件之間連接有上述輔助部件。
13.如權(quán)利要求12所述的電子電路，其特征在于，上述兩個主部件中的至少一個主部件為用于判定電子電路是否正常工作的專用的電子部件。
14.如權(quán)利要求1所述的電子電路，其特征在于， 上述配線包括能在兩端進(jìn)行電阻測定的一條配線線路， 在上述配線線路連接有兩個以上的上述主部件。
15.如權(quán)利要求14所述的電子電路，其特征在于，上述主部件中的至少一個主部件為用于判定電子電路是否正常工作的專用的電子部件。
16.一種電子裝置，具備權(quán)利要求1 15中任一項所述的電子電路。
全文摘要
本發(fā)明的電子電路，包括多個電子部件，當(dāng)將上述多個電子部件中的至少一個電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所需要的主部件(101a、102a、103a)、將剩余的電子部件設(shè)為判定電子電路是否正常工作所不需要的輔助部件(101b、102b、103b)時，在與上述主部件(101a、102a、103a)連接且用于進(jìn)行該主部件(101a、102a、103a)的工作所需要的信號的供給或通過該主部件(101a、102a、103a)的工作得到的信號的輸出的配線上連接有上述輔助部件(101b、102b、103b)。由此，可以不增加用于檢測電路配線的斷線的電路構(gòu)成，就可提供適當(dāng)?shù)貦z測出電路配線的斷線且可容易地檢測各元件的配線錯誤的電子電路。
文檔編號H05K3/00GK102301249SQ20098015557
公開日2011年12月28日 申請日期2009年11月19日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月11日
發(fā)明者小笠原功, 川瀨伸行, 生田一秀 申請人:夏普株式會社