專利名稱：多電源模塊上電控制方法和系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及電路控制領域，更具體地說，涉及一種多電源模塊上電控制方法和系統(tǒng)。
背景技術：
燈具驅(qū)動控制電路中需要用到多種驅(qū)動電壓，為不同的芯片工作提供電源。目前，多電源模塊設計的電路一般包括I個輸入電壓即5V電源模塊和I個5V-3. 3V電源轉換模塊。其中5V電源模塊主要給電路內(nèi)5V器件供電，5V-3. 3V電源轉換模塊主要給電路內(nèi)FPGA、ASIC供電以及供給直流電壓轉換器進行更小電壓的轉換。這種設計，由于不同電源模塊的指標差異，存在上電順序的問題。如果5V達到穩(wěn)定的時間比3. 3V早，那么將可能造 成如下問題5V器件已經(jīng)運行正常，而3. 3V的FPGA、ASIC還未加載或初始化完畢，這時電路內(nèi)5V供電MCU單元開始工作，那么MCU將初始化FPGA和ASIC失敗，電路工作將不正常。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術問題在干，針對現(xiàn)有技術的多電源模塊上電由于上電順序不能控制的問題導致電路工作不正常的缺陷，提供ー種可控制上電順序的多電源模塊上電控制方法和系統(tǒng)。本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是構造ー種多電源模塊上電控制方法，其中包括步驟si、根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；S2、當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；S3、根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制方法中，所述步驟S3具體為如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片；如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器并返回步驟S2。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制方法中，所述方法還包括步驟S4、當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制方法中，所述計數(shù)器的固定計數(shù)由電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期確定。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制方法中，所述方法還包括步驟S0、設定所述計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的所述設定檢測次數(shù)或所述設定檢測時間。本發(fā)明還涉及ー種多電源模塊上電控制系統(tǒng)，其中包括啟動模塊用于根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；檢測模塊用于當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；以及確定模塊用于根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)中，所述確定模塊包括初始化單元用于如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片；以及重啟單元用于如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器。 在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)中，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)還包括報警模塊用于當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)中，所述計數(shù)器的固定計數(shù)由電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期確定。在本發(fā)明所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)中，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)還包括設定模塊用于設定所述計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的所述設定檢測次數(shù)或所述設定檢測時間。
實施本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法和系統(tǒng)，具有以下有益效果對多電源模塊的上電順序進行控制，使多電源模塊中的各芯片按照預先設定的順序進行上電驅(qū)動，避免了現(xiàn)有的多電源模塊由于上電順序不能控制的問題導致電路工作不正常的缺陷。


下面將結合附圖及實施例對本發(fā)明作進ー步說明，附圖中圖I是本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第一優(yōu)選實施例的流程圖；圖2是本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第二優(yōu)選實施例的流程圖；圖3是本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第三優(yōu)選實施例的流程圖；圖4是本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第四優(yōu)選實施例的流程圖；圖5是本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第一優(yōu)選實施例的結構示意圖；圖6是本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第二優(yōu)選實施例的結構示意圖；圖7是本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第三優(yōu)選實施例的結構示意圖；圖8是本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第四優(yōu)選實施例的結構示意圖；圖9是本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的優(yōu)選實施例的具體流程圖；圖10是本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的優(yōu)選實施例的具體電路圖。
具體實施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進ー步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。在圖I所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第一優(yōu)選實施例的流程圖中，所述多電源模塊上電控制方法開始于步驟100，隨后執(zhí)行步驟101，根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；步驟102，當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；步驟103，根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。最終所述方法結束于步驟104。
本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法利用MCU單片機上電后，先啟動計數(shù)器內(nèi)部計數(shù)，起到延時的作用，等延遲一段時候后檢測低工作電壓芯片(FPGA、ASIC等)的供電電壓是否達到了工作電壓(如3. 3V)，若達到則初始化低工作電壓芯片使其開始工作，本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法對多電源模塊的上電順序進行控制，使多電源模塊中的各芯片按照預先設定的順序進行上電驅(qū)動，避免了現(xiàn)有的多電源模塊由于上電順序不能控制的問題導致電路工作不正常的缺陷。在圖2所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第二優(yōu)選實施例的流程圖中，所述多電源模塊上電控制方法開始于步驟200，隨后執(zhí)行步驟201，根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；步驟202，當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；步驟203，如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作 電壓芯片；如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器并返回步驟202。最終所述方法結束于步驟204。本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法通過計數(shù)器的反復計數(shù)，使得可以對低工作電壓芯片的供電電壓進行多次檢測，當?shù)谝淮喂潭ㄓ嫈?shù)后低工作電壓芯片的供電電壓沒有達到工作電壓還可通過重啟計數(shù)器進行第二次計數(shù)，以此類推。這樣可以避免由于其他原因造成的低工作電壓芯片長時間沒有達到工作電源，使得多電源模塊需要進行復位操作才能再次啟動。在圖3所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第三優(yōu)選實施例的流程圖中，所述多電源模塊上電控制方法開始于步驟300，隨后執(zhí)行步驟301，根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器； 步驟302，當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；步驟303，如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片；如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器并返回步驟302 ；步驟304，當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號；最終所述方法結束于步驟305。本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法可以對低工作電壓芯片的供電電壓的檢測次數(shù)或檢測時間進行設定，以避免低工作電壓芯片不能達到工作電壓時的反復檢測。檢測的次數(shù)可以根據(jù)需要通過計數(shù)器的計數(shù)次數(shù)進行調(diào)整，檢測的時間可以根據(jù)需要通過計數(shù)器的計數(shù)多少和計數(shù)次數(shù)進行調(diào)整。在圖4所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的第四優(yōu)選實施例的流程圖中，所述多電源模塊上電控制方法開始于步驟400，隨后執(zhí)行步驟401，設定所述計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的所述設定檢測次數(shù)或所述設定檢測時間；
步驟402，根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；步驟403，當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；步驟404，如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片；如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器并返回步驟403 ；步驟405，當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號；最終所述方法結束于步驟406。本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法在使用前對計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的設定檢測次數(shù)或設定檢測時間進行設置，可以根據(jù)用戶的要求和多電源模塊的內(nèi)·部配置改變上電失敗報警的參數(shù)和低工作電壓芯片的供電電壓檢測的參數(shù)以達到最佳的報警和供電驅(qū)動效果。作為本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的優(yōu)選實施例，所述計數(shù)器的固定計數(shù)由電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期確定。根據(jù)電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期可以設置最佳的計數(shù)器的固定計數(shù)，使得低電壓工作芯片可以更快的進行初始化，同時不會造成低電壓工作芯片的初始化失敗。下面通過圖9的本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法的優(yōu)選實施例的具體流程圖說明本發(fā)明的具體流程I、MCU單片機進行初始化；2、通過計數(shù)器進行內(nèi)部計數(shù)，實現(xiàn)延時；3、計數(shù)器計數(shù)完畢后，將計數(shù)器復位，檢測低電壓工作芯片的供電電壓是否達到3. 3V的工作電壓；如達到則初始化低電壓工作芯片以驅(qū)動其開始工作；如沒有達到將計數(shù)次數(shù)加I ;4、判斷計數(shù)器的計數(shù)次數(shù)是否達到n (n為正整數(shù))次，如沒有達到n次，則執(zhí)行步驟2 ;如達到n次，則輸出上電失敗信號，進行報警操作。本發(fā)明還涉及ー種多電源模塊上電控制系統(tǒng)，在圖5所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第一優(yōu)選實施例的結構示意圖中，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)包括啟動模塊I、檢測模塊2以及確定模塊3，啟動模塊I用于根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；檢測模塊2用于當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；確定模塊3用于根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)利用MCU單片機上電后，啟動模塊I先啟動計數(shù)器內(nèi)部計數(shù)，起到延時的作用，等延遲一段時候后檢測模塊2檢測低工作電壓芯片(FPGA、ASIC等)的供電電壓是否達到了工作電壓(如3. 3V)，若達到則確定模塊3初始化低工作電壓芯片使其開始工作，本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)對多電源模塊的上電順序進行控制，使多電源模塊中的各芯片按照預先設定的順序進行上電驅(qū)動，避免了現(xiàn)有的多電源模塊由于上電順序不能控制的問題導致電路工作不正常的缺陷。在圖6所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第二優(yōu)選實施例的結構示意圖中，所述確定模塊3還包括初始化單元31和重啟單元32,初始化單元31用于如所述低エ作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片，重啟単元32用于如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器。本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)通過計數(shù)器的反復計數(shù)，使得可以對低工作電壓芯片的供電電壓進行多次檢測，當?shù)谝淮喂潭ㄓ嫈?shù)后低工作電壓芯片的供電電壓沒有達到工作電壓還可通過重啟単元32重啟計數(shù)器進行第二次計數(shù)，以此類推。這樣可以避免由于其他原因造成的低工作電壓芯片長時間沒有達到工作電源，使得多電源模塊需要進行復位操作才能再次啟動。在圖7所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第三優(yōu)選實施例的結構示意圖中，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)還包括報警模塊4，報警模塊4用于當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號。
本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)可以對低工作電壓芯片的供電電壓的檢測次數(shù)或檢測時間進行設定，以避免低工作電壓芯片不能達到工作電壓時報警模塊4進行報警操作。檢測的次數(shù)可以根據(jù)需要通過計數(shù)器的計數(shù)次數(shù)進行調(diào)整，檢測的時間可以根據(jù)需要通過計數(shù)器的計數(shù)多少和計數(shù)次數(shù)進行調(diào)整。在圖8所示的本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的第四優(yōu)選實施例的結構示意圖中，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)還包括設定模塊5，設定模塊5用于設定所述計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的所述設定檢測次數(shù)或所述設定檢測時間。本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)在使用前通過設定模塊5對計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的設定檢測次數(shù)或設定檢測時間進行設置，可以根據(jù)用戶的要求和多電源模塊的內(nèi)部配置改變上電失敗報警的參數(shù)和低工作電壓芯片的供電電壓檢測的參數(shù)以達到最佳的報警和供電驅(qū)動效果。作為本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的優(yōu)選實施例，所述計數(shù)器的固定計數(shù)由電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期確定。根據(jù)電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期可以設置最佳的計數(shù)器的固定計數(shù)，使得低電壓工作芯片可以更快的進行初始化，同時不會造成低電壓工作芯片的初始化失敗。下面通過圖10的本發(fā)明的多電源模塊上電控制系統(tǒng)的優(yōu)選實施例的具體電路圖說明本發(fā)明的工作的具體流程I、5V電源通過MCU的0腳給MCU供電，2,MCU內(nèi)部的計數(shù)器開始計數(shù)；3、計數(shù)器一次計數(shù)完畢后通過5腳檢測5V-3. 3V電壓轉換芯片U2的輸出是否達到3. 3V (通過檢測分壓電阻R2和R3上的電壓實現(xiàn))，如達到3. 3 VjMCU則通過4腳初始化ASIC芯片，如沒有達到，則將內(nèi)部計數(shù)器的計數(shù)次數(shù)加I ;4、判斷計數(shù)次數(shù)是否達到設定的次數(shù)n，如沒有達到，則執(zhí)行步驟2 ;如達到了 n次，MCU通過3腳發(fā)出上電失敗信號通過點亮LED進行報警；5、如MCU發(fā)出報警信號可以通過給MCU重新供給5V電源進行復位操作，當然也可以在MCU的I腳外部加裝觸摸開關進行復位操作。本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法和系統(tǒng)可以有效降低多電源模塊上電失敗故障，提高電源工作的可靠性；減少專用芯片的使用，充分利用現(xiàn)有芯片資源，節(jié)省產(chǎn)品成本。
以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結構變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保 護范圍內(nèi)。
權利要求
1.一種多電源模塊上電控制方法，其特征在于，包括步驟 S1、根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器； S2、當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位； S3、根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。
2.根據(jù)權利要求I所述的多電源模塊上電控制方法，其特征在于，所述步驟S3具體為 如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片；如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器并返回步驟S2。
3.根據(jù)權利要求2所述的多電源模塊上電控制方法，其特征在于，所述方法還包括步驟 S4、當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號。
4.根據(jù)權利要求I所述的多電源模塊上電控制方法，其特征在于，所述計數(shù)器的固定計數(shù)由電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期確定。
5.根據(jù)權利要求3所述的多電源模塊上電控制方法，其特征在于，所述方法還包括步驟 SO、設定所述計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的所述設定檢測次數(shù)或所述設定檢測時間。
6.一種多電源模塊上電控制系統(tǒng)，其特征在于，包括 啟動模塊(I):用于根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器； 檢測模塊(2):用于當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；以及 確定模塊(3):用于根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。
7.根據(jù)權利要求6所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)，其特征在于，所述確定模塊(3)包括 初始化單元(31):用于如所述低工作電壓芯片的供電電壓達到工作電壓，則初始化所述低工作電壓芯片；以及 重啟單元(32):用于如所述低工作電壓芯片的供電電壓未達到工作電壓，則重新啟動所述計數(shù)器。
8.根據(jù)權利要求7所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)，其特征在于，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)還包括 報警模塊(4):用于當所述低工作電壓芯片的供電電壓在設定檢測次數(shù)或設定檢測時間內(nèi)未達到工作電壓，則發(fā)出上電失敗信號。
9.根據(jù)權利要求6所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)，其特征在于，所述計數(shù)器的固定計數(shù)由電壓轉換芯片的參數(shù)和MCU的工作周期確定。
10.根據(jù)權利要求8所述的多電源模塊上電控制系統(tǒng)，其特征在于，所述多電源模塊上電控制系統(tǒng)還包括 設定模塊(5):用于設定所述計數(shù)器的固定計數(shù)和發(fā)出上電失敗信號的所述設定檢測次數(shù)或所述設 定檢測時間。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種多電源模塊上電控制方法，其中包括步驟S1、根據(jù)MCU上電信號啟動計數(shù)器；S2、當所述計數(shù)器達到固定計數(shù)后檢測低工作電壓芯片的供電電壓，并將所述計數(shù)器復位；S3、根據(jù)上述的檢測結果確定是否初始化所述低工作電壓芯片。本發(fā)明還涉及一種多電源模塊上電控制系統(tǒng)，本發(fā)明的多電源模塊上電控制方法和系統(tǒng)對多電源模塊的上電順序進行控制，使多電源模塊中的各芯片按照預先設定的順序進行上電驅(qū)動，避免了現(xiàn)有的多電源模塊由于上電順序不能控制的問題導致電路工作不正常的缺陷。
文檔編號H05B37/02GK102711312SQ20111007556
公開日2012年10月3日 申請日期2011年3月28日 優(yōu)先權日2011年3月28日
發(fā)明者周明杰, 屈煜 申請人:海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明工程有限公司