基于分組編碼遺傳算法的不可靠測試優(yōu)選方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于板級電路故障診斷技術(shù)領(lǐng)域，更為具體地講，涉及一種基于分組編碼 遺傳算法的不可靠測試優(yōu)選方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 在板級電路系統(tǒng)的故障診斷過程中，由于電磁干擾，環(huán)境變化等各種因素的影響， 測試的結(jié)果并不一定是完全準(zhǔn)確的。若在實(shí)際測試過程中忽略了這些不確定因素，很可能 會導(dǎo)致錯誤的測試結(jié)果。錯誤診斷會產(chǎn)生額外的測試費(fèi)用，隨著系統(tǒng)復(fù)雜度的增加，額外測 試費(fèi)用很可能會超出測試本身的代價。對測試自身的不可靠性的考慮顯得尤為重要。板級 電路測試過程中，整個測試流程往往需要多個測試工序完成，每個測試工序下包含不同的 測試。如何在滿足各工序下故障檢測率的情況下，選擇合適的算法使所用測試代價最小也 是值得研宄的問題。
[0003] 在實(shí)際的電路系統(tǒng)中，測試對故障的檢測在大多數(shù)情況下是不可靠的，即檢測概 率不為1?？梢圆捎靡粋€五元組<s，T，P，D，C>來描述不可靠測試下板級電路系統(tǒng)的測試性 模型，各元素的具體含義如下：
[0004] (l)s = {s〇，Sl，…，sj表示系統(tǒng)所有可能出現(xiàn)的狀態(tài)，其中s?表示"無故障"狀態(tài)， Si, 1 < i < m代表系統(tǒng)m個不同的故障狀態(tài)。
[0005] (2)P = {pQ，Pl，…，pj表示狀態(tài)的先驗(yàn)概率。
[0006] (3)T= 為有限的可用測試集，n表示測試的總個數(shù)。
[0007] (4)測試代價為 C = {q，c2,…cj。
[0008] (5)D = [cy是一個（m+1) Xn的矩陣，其中0彡屯彡1代表測試與故障的關(guān)聯(lián) 關(guān)系，即測試對故障的檢測概率。i的取值范圍為0 < i < m，j的取值范圍為1 < j < n。
[0009] 測試性模型可以表示為故障測試相關(guān)性矩陣，其表格形式為：
[0010]
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種基于分組編碼遺傳算法的不可靠測試優(yōu)選方法，其特征在于，包括以下步驟： 51 :將每個測試工序下的所有測試作為一個分組，分別對每個分組采用遺傳算法得到 該測試工序下的最優(yōu)測試集，具體步驟包括： S1. 1 :生成初始種群，每個個體染色體的編碼為該分組中所有測試不同測試集對應(yīng)的 布爾向量； S1. 2 :計(jì)算種群中每個個體的適應(yīng)度值，適應(yīng)度函數(shù)的設(shè)定規(guī)則為：當(dāng)個體染色體編 碼對應(yīng)測試集中選中測試的目標(biāo)檢測率未達(dá)到預(yù)設(shè)的測試工序的目標(biāo)檢測率指標(biāo)時，適應(yīng) 度值為〇,當(dāng)達(dá)到預(yù)設(shè)的測試工序的目標(biāo)檢測率指標(biāo)時，個體染色體編碼對應(yīng)測試值中選中 測試的測試代價總和越低，適應(yīng)度函數(shù)的值越大低； S1. 3 :判斷是否達(dá)到預(yù)定的迭代結(jié)束條件，如果達(dá)到，從種群中選擇適應(yīng)度值最大的個 體，其對應(yīng)的測試集即為最優(yōu)測試集，如果沒有達(dá)到，進(jìn)入步驟S1. 4 ; S1. 4 :采用選擇算子對父代染色體進(jìn)行選擇，適應(yīng)度值越大，被選中的概率越大；然后 利用交叉算子對染色體進(jìn)行交叉操作，最后按預(yù)定概率進(jìn)行變異操作，生成新一代種群，返 回步驟S1. 2 ; 52 :將步驟1得到的每個測試工序下的最優(yōu)測試集組合成為總的測試集； 53 :如果總測試集的檢測率達(dá)到總目標(biāo)檢測率，該總測試集即為總的最優(yōu)測試集，否則 進(jìn)入步驟S4 ; 54 :在總測試集未選中的測試中選擇一個測試加入測試集，返回步驟S3。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的不可靠測試優(yōu)選方法，其特征在于，所述適應(yīng)度函數(shù)為：
其中，k表示測試工序的序號，k的取值范圍為1 <k<K，K表示測試工序的數(shù)量，Ts 為該測試工序下選中測試的測試集，cp表示測試集Ts中測試tp的測試代價，F(xiàn)DRP_SS (k)表 示測試集Ts的檢測率，F(xiàn)D/?；：ra_ 表示該測試工序的目標(biāo)檢測率。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的不可靠測試優(yōu)選方法，其特征在于，所述步驟S4中在選擇測 試時，在所有未選中測試中選擇對所有故障模式的檢測率的和最大的測試。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于分組編碼遺傳算法的不可靠測試優(yōu)選方法，將每個測試工序下的所有測試作為一個分組，分別對每個分組采用遺傳算法得到該測試工序下的最優(yōu)測試集，在遺傳算法中個體適應(yīng)度函數(shù)的設(shè)定規(guī)則為：當(dāng)個體染色體編碼對應(yīng)測試集中選中測試的目標(biāo)檢測率未達(dá)到預(yù)設(shè)的測試工序的目標(biāo)檢測率指標(biāo)時，適應(yīng)度值為0，當(dāng)達(dá)到預(yù)設(shè)的測試工序的目標(biāo)檢測率指標(biāo)時，個體染色體編碼對應(yīng)測試值中選中測試的測試代價總和越低，適應(yīng)度函數(shù)的值越大；將每個測試工序下得到的最優(yōu)測試集組合得到總的測試集，如果總測試集的檢測率沒有達(dá)到總目標(biāo)檢測率，逐個加入未選中的測試，直到滿足總目標(biāo)檢測率。本發(fā)明在保持精度的情況下，提高了尋優(yōu)的效率。
【IPC分類】G06N3-12, G01R31-28
【公開號】CN104698365
【申請?zhí)枴緾N201510127767
【發(fā)明人】楊成林, 焦志敏, 劉震
【申請人】電子科技大學(xué)
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2015年3月23日