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      一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置的制造方法

      文檔序號:10823198閱讀:558來源:國知局
      一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置的制造方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型為一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置,該裝置的組成包括正交掃頻信號源模塊、乘法電路模塊、低通濾波模塊、ADC模塊和控制顯示模塊;其中,正交掃頻信號源模塊包括正交掃頻信號源、七階橢圓濾波電路和放大電路;乘法電路模塊包括第一乘法器和第二乘法器;低通濾波模塊包括第一低通濾波電路、第二低通濾波電路;ADC模塊包括第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路;控制顯示模塊包括單片機(jī)、LCD顯示屏。本實(shí)用新型克服了現(xiàn)有的裝置中存在的測量范圍小,測量的誤差大和精度低的缺點(diǎn),具有顯著的進(jìn)步性。
      【專利說明】
      一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本實(shí)用新型涉及數(shù)字頻率特性測量技術(shù)領(lǐng)域,具體地說是涉及基于單片機(jī)控制的一種幅頻特性和相頻特性測量裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]為測定未知系統(tǒng)的頻率特性,通常采用掃頻的方法:讓不同頻率的標(biāo)準(zhǔn)正弦信號通過待測系統(tǒng),通過記錄和比較輸入、輸出波形的幅度相位關(guān)系,得到系統(tǒng)的幅頻和相頻特性,即掃頻儀。模擬式掃頻儀價(jià)格昂貴,體積龐大,操作復(fù)雜,給使用者帶來諸多不便,已經(jīng)逐漸不能滿足用戶的要求。數(shù)字式頻率特性測試儀已經(jīng)逐漸代替模擬式掃頻儀成為研究和設(shè)計(jì)的方向。數(shù)字頻率特性測試裝置主要由正交掃頻信號源模塊、乘法電路模塊、低通濾波模塊、ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、控制系統(tǒng)模塊組成。
      [0003]正交掃頻信號源可以采用FPGA現(xiàn)場可編程門陣列方式,以單片機(jī)和FPGA為核心,用DDS直接數(shù)字式頻率合成器原理采用由FPGA經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換產(chǎn)生頻率由單片機(jī)控制的正弦波掃頻信號;但FPGA方式在工作頻率很高的情況下,F(xiàn)PGA內(nèi)部時(shí)延的不確定性使得FPGA內(nèi)部時(shí)序的設(shè)計(jì)和調(diào)試相當(dāng)困難。其次,可以采用程控?cái)?shù)字鎖相環(huán)頻率合成,首先通過頻率合成技術(shù)產(chǎn)生所需要頻率的方波,通過積分電路就可以得到同頻率的三角波,再經(jīng)過濾波器就可以得到正弦波;這種方法可以達(dá)到很高的工作頻率和頻率分辨率,但使用的濾波器要求通帶可變,實(shí)現(xiàn)起來困難。
      [0004]申請?zhí)枮?01220421411.4的實(shí)用新型專利是基于SOPC的頻率特性測試裝置,能夠?qū)崿F(xiàn)在IHz?25MHz內(nèi)連續(xù)掃頻,但科技發(fā)展迅速,不滿足更高頻的頻率特性測試。申請?zhí)枮?01320771567.X的實(shí)用新型專利是基于正交調(diào)制原理的頻率特性測試儀,采用單片機(jī)內(nèi)的模塊直接進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,因乘法器采用AD835電壓輸出模擬乘法器芯片,輸出信號在IV以內(nèi),使模數(shù)轉(zhuǎn)換的誤差較大。
      [0005]因此,我們迫切需要一種新的頻率特性測試裝置,以準(zhǔn)確測量待測網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0006]本實(shí)用新型針對現(xiàn)有裝置的不足,提供一種基于單片機(jī)最小控制的數(shù)字頻率特性測試裝置。本裝置是根據(jù)零中頻正交解調(diào)原理,設(shè)計(jì)一個(gè)雙端口網(wǎng)絡(luò)數(shù)字頻率特性測試裝置,能夠測試幅頻特性和相頻特性,可實(shí)現(xiàn)點(diǎn)頻和掃頻兩種測量模式。其中采用單片機(jī)與DDS專用芯片構(gòu)成正交掃頻信號源,正交掃頻信號源可實(shí)現(xiàn)IMHz?40MHz的頻率范圍,且輸出信號的幅度平坦度在5%以內(nèi)。為了增大正交掃頻信號源輸出信號幅度,增加了放大電路,提高輸入阻抗,起到一定阻抗匹配的作用,使得系統(tǒng)高效運(yùn)行。在ADC模塊中,為了減小AD采集誤差,添加了由PGA204可編程增益放大器組成的程控增益放大電路,提高了系統(tǒng)的測量精度。
      [0007]本實(shí)用新型的解決方案是:
      [0008]一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置,該裝置的組成包括正交掃頻信號源模塊、乘法電路模塊、低通濾波模塊、ADC模塊和控制顯示模塊;
      [0009]其中,正交掃頻信號源模塊包括正交掃頻信號源、七階橢圓濾波電路和放大電路,三個(gè)部分順次連接;
      [0010]乘法電路模塊包括第一乘法器和第二乘法器,兩個(gè)乘法器相同,各自獨(dú)立;
      [0011]低通濾波模塊包括第一低通濾波電路、第二低通濾波電路,兩個(gè)低通濾波電路相同,各自獨(dú)立;
      [0012]ADC模塊包括第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路,兩個(gè)程控增益放大電路相同,各自獨(dú)立;
      [0013]控制顯示模塊包括單片機(jī)和LCD顯示屏;
      [0014]其中,放大電路分別與第一乘法器、第二乘法器連接,第一乘法器、第一低通濾波電路、第一程控增益放大電路順次連接,第二乘法器、第二低通濾波電路、第二程控增益放大電路順次連接,第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接,單片機(jī)分別與正交掃頻信號源、第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、IXD顯示屏連接。
      [0015]所述的正交掃頻信號源為AD9854數(shù)字合成器;放大電路為AD8009超高速電流反饋型放大器;單片機(jī)的型號為STM32F103ZET6;低通濾波電路為LM358雙運(yùn)算放大器;程控增益放大電路為PGA204可編程增益放大器;模數(shù)轉(zhuǎn)換電路為AD7689模數(shù)轉(zhuǎn)換器。
      [0016]本實(shí)用新型的有益效果為:克服了現(xiàn)有的測量范圍小,測量的誤差大和精度低的缺點(diǎn),具有顯著的進(jìn)步性,具體體現(xiàn)在以下方面:
      [0017](I)采用STM32單片機(jī)最小系統(tǒng)與DDS專用芯片構(gòu)成正交掃頻信號源,電路中AD9854采用30MHz有源晶振作為參考時(shí)鐘。在一個(gè)精確的時(shí)鐘源的控制下,它可以產(chǎn)生頻譜較純、頻率一相位一幅度可編程的正余弦信號,這個(gè)正余弦信號可以實(shí)現(xiàn)IMHz?40MHz的頻率范圍,且輸出信號的幅度平坦度在5%以內(nèi)。
      [0018](2)為了增大信號源輸出信號幅度,增加了基于AD8009的放大電路,提高輸入阻抗,起到一定阻抗匹配的作用,使得系統(tǒng)高效運(yùn)行。
      [0019](3)為了減小AD采集誤差,在ADC模塊中添加了由PGA204組成的程控增益放大電路,提尚了系統(tǒng)的測量精度。
      【附圖說明】
      [0020]圖1為本實(shí)用新型所述的基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置結(jié)構(gòu)圖;
      [0021 ]其中,1-正交掃頻信號源模塊;2-乘法電路模塊;3-低通濾波模塊;4-ADC模塊;5_控制顯示模塊;101-正交掃頻信號源;102-七階橢圓濾波電路;103-放大電路;201-第一乘法器;202-第二乘法器;301-第一低通濾波電路;302-第二低通濾波電路;401-第一程控增益放大電路;402-第二程控增益放大電路;403-模數(shù)轉(zhuǎn)換電路;501-單片機(jī);502-LCD顯示屏.
      【具體實(shí)施方式】
      [0022]下面結(jié)合實(shí)施例和附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
      [0023]如圖1,本實(shí)用新型所述的基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置是基于零中頻正交解調(diào)原理的數(shù)字頻率特性測試裝置,該裝置的組成包括正交掃頻信號源模塊1、乘法電路模塊2、低通濾波模塊3、ADC模塊4和控制顯示模塊5。
      [0024]如圖1,詳細(xì)的說明了本實(shí)用新型的各部分的連接關(guān)系及其具體實(shí)現(xiàn)方式,其中,
      [0025]正交掃頻信號源模塊I包括正交掃頻信號源101(型號為AD9854數(shù)字合成器)、七階橢圓濾波電路102和放大電路103(型號為AD8009超高速電流反饋型放大器),三個(gè)部分順次連接;
      [0026]乘法電路模塊2包括第一乘法器201和第二乘法器202,兩個(gè)乘法器相同,各自獨(dú)立,型號為AD835模擬乘法器;
      [0027]低通濾波模塊3包括第一低通濾波電路301、第二低通濾波電路302,兩個(gè)低通濾波電路相同,各自獨(dú)立,型號為LM358雙運(yùn)算放大器;
      [0028]ADC模塊4包括第一程控增益放大電路401、第二程控增益放大電路402以及模數(shù)轉(zhuǎn)換電路403(型號為AD7689模數(shù)轉(zhuǎn)換器),兩個(gè)程控增益放大電路相同,各自獨(dú)立,型號為PGA204可編程增益放大器;
      [0029]控制顯示模塊5包括單片機(jī)501(型號為STM32F103ZET6)和LCD顯示屏502;
      [0030]其中,放大電路103分別與第一乘法器201、第二乘法器202連接,第一乘法器201、第一低通濾波電路301、第一程控增益放大電路401順次連接,第二乘法器202、第二低通濾波電路302、第二程控增益放大電路402順次連接,第一程控增益放大電路401、第二程控增益放大電路402分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換電路403連接,單片機(jī)501分別與正交掃頻信號源101、第一程控增益放大電路401、第二程控增益放大電路402、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路403、IXD顯示屏502連接。
      [0031]測試時(shí),被測網(wǎng)絡(luò)的輸入端與放大電路103的余弦信號輸出端連接,被測網(wǎng)絡(luò)的輸出端分別與第一乘法器201、第二乘法器202的輸入端連接。
      [0032]本實(shí)用新型以單片機(jī)501為主要控制中心,頻率特性的測試方式有點(diǎn)頻測量模式和掃頻測量模式。因?yàn)檎粧哳l信號源101的頻率范圍設(shè)定在1ΜΗζ-40ΜΗζ,因此需要正交掃頻信號源101產(chǎn)生的本征頻率的正弦波要有很寬的頻帶范圍,而在較寬的頻帶內(nèi),信號的幅度會(huì)有所衰減。為了使數(shù)字頻率特性測試裝置的本征頻率正弦波的幅度保持一致,因此需要測量輸入激勵(lì)信號和輸出信號的幅度的比值,采用軟件控制不同頻率輸入信號的幅度,使輸出信號幅度平坦度在5%以內(nèi)。
      [0033]上述正交掃頻信號源模塊I中正交掃頻信號源101采用30MHz有源晶振作為參考時(shí)鐘。低通濾波器采用了七階橢圓濾波電路102,負(fù)責(zé)濾除輸出信號中所含有的高頻雜散信號和諧波信號。因?yàn)檎粧哳l信號源101輸出的信號幅度不足IV,為了使信號輸出大于IV,接入輸出增益以提高信號的輸出電壓。七階橢圓濾波電路102輸出的信號通過放大電路103后,被放大了 5倍,信號幅度大約能達(dá)到1.5V,同時(shí)提高了系統(tǒng)輸入阻抗,起到一定阻抗匹配的作用,使得系統(tǒng)高效運(yùn)行。
      [0034]被放大的余弦信號分別連接第一乘法器201的一個(gè)輸入端和被測網(wǎng)絡(luò)的輸入端,被測網(wǎng)絡(luò)的輸出端分別連接第一乘法器201的另一個(gè)輸入端和第二乘法器202的一個(gè)輸入端。被放大的正弦信號連接第二乘法器202的另一個(gè)輸入端。乘法器模塊2部分采用AD835芯片實(shí)現(xiàn),能夠產(chǎn)生X和Y電壓輸入的線性成積。下一級中的低通濾波模塊3為了抑制乘法器輸出的高頻分量,保留直流信號,其3dB截止頻率設(shè)為30Hz,采用第一低通濾波電路301和第二低通濾波電路302。前面因?yàn)榻?jīng)過AD835可以實(shí)現(xiàn)輸出信號在O?IV變化,但不能滿足更多信號源需求,需要將低通濾波模塊3的輸出信號經(jīng)過下一級的放大器。放大器選擇由PGA204構(gòu)成的第一程控增益放大電路401和第二程控增益放大電路402實(shí)現(xiàn),PGA204的放大倍數(shù)可為1,10,100,1000,放大倍數(shù)由15,16兩腳的數(shù)字量AO和Al控制。其中引腳6、7的外接電位器可對輸入級的失調(diào)電壓進(jìn)行補(bǔ)償。引腳1(REF)的外接電路是用來補(bǔ)償輸出對輸入的失調(diào)電壓的。使用模數(shù)轉(zhuǎn)換電路403來對第一程控增益放大電路401和第二程控增益放大電路402輸出的兩路電壓信號進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,模數(shù)轉(zhuǎn)換電路403與單片機(jī)501間通過簡單的SPI接口來配置寄存器,并處理兩路信號的A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果,將被測網(wǎng)絡(luò)的頻率特性曲線在LCD顯示屏502上顯示輸出。
      [0035]本實(shí)用新型是一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置,采用STM32單片機(jī)最小系統(tǒng)作為控制中心,以正交掃頻信號源101作為正交掃頻信號發(fā)生源,基于零中頻正交解調(diào)原理得到被測網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性,并通過LCD顯示屏502顯示輸出。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單,成本較低,能夠滿足1ΜΗζ-40ΜΗζ頻率范圍內(nèi)的需求,且信號源輸出信號幅度平坦度在5%以內(nèi),實(shí)用性強(qiáng)。
      [0036]本實(shí)用新型未述及之處適用于現(xiàn)有技術(shù)。
      [0037]實(shí)施例1
      [0038]采用點(diǎn)頻測量模式,開機(jī)上電后,進(jìn)入主菜單,選擇點(diǎn)頻測量模式,接下來設(shè)定點(diǎn)頻測量的頻率,選擇開始后,正交掃頻信號源輸出兩路正交信號,兩路正交信號需要進(jìn)行濾波和放大,接下來余弦信號輸出端分別連接被測網(wǎng)絡(luò)和第一乘法器201的輸入端,被測網(wǎng)絡(luò)的輸出端分別連接第一乘法器201和第二乘法器202的一個(gè)輸入端,正弦信號輸出端連接第二乘法器202的另一個(gè)輸入端。經(jīng)過乘法器后,兩路信號分別進(jìn)行低通濾波和程控放大及模數(shù)轉(zhuǎn)換,將兩路信號的模數(shù)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)傳輸給單片機(jī)進(jìn)行處理,經(jīng)過計(jì)算可以得到被測網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性,通過按鍵選擇可以在LCD顯示屏502上分別顯示。
      [0039]實(shí)施例2
      [0040]采用掃頻測量模式,開機(jī)上電后,進(jìn)入主菜單,選擇掃頻測量模式,接下來分別設(shè)定最高頻率、最低頻率和步長,選擇開始后,工作原理同實(shí)施例1,通過按鍵選擇可在LCD顯示屏502上分別顯示被測網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性。
      [0041]本實(shí)用新型中涉及的軟件或協(xié)議為基于STM32開發(fā)平臺(tái)的自帶功能或公知技術(shù)。
      [0042]本實(shí)用新型未盡事宜為公知技術(shù)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置,其特征為該裝置的組成包括正交掃頻信號源模塊、乘法電路模塊、低通濾波模塊、ADC模塊和控制顯示模塊; 其中,正交掃頻信號源模塊包括正交掃頻信號源、七階橢圓濾波電路和放大電路,三個(gè)部分順次連接; 乘法電路模塊包括第一乘法器和第二乘法器,兩個(gè)乘法器相同,各自獨(dú)立; 低通濾波模塊包括第一低通濾波電路、第二低通濾波電路,兩個(gè)低通濾波電路相同,各自獨(dú)立; ADC模塊包括第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路,兩個(gè)程控增益放大電路相同,各自獨(dú)立; 控制顯示模塊包括單片機(jī)和IXD顯示屏; 其中,放大電路分別與第一乘法器、第二乘法器連接,第一乘法器、第一低通濾波電路、第一程控增益放大電路順次連接,第二乘法器、第二低通濾波電路、第二程控增益放大電路順次連接,第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路分別與模數(shù)轉(zhuǎn)換電路連接,單片機(jī)分別與正交掃頻信號源、第一程控增益放大電路、第二程控增益放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、IXD顯示屏連接。2.如權(quán)利要求1所述的基于單片機(jī)控制的數(shù)字頻率特性測試裝置,其特征為所述的正交掃頻信號源為AD9854數(shù)字合成器;放大電路為AD8009超高速電流反饋型放大器;單片機(jī)的型號為STM32F103ZET6;低通濾波電路為LM358雙運(yùn)算放大器;程控增益放大電路為PGA204可編程增益放大器;模數(shù)轉(zhuǎn)換電路為AD7689模數(shù)轉(zhuǎn)換器。
      【文檔編號】G01R31/00GK205506977SQ201620311791
      【公開日】2016年8月24日
      【申請日】2016年4月13日
      【發(fā)明人】任婷婷, 周亞同, 郝茜茜, 石學(xué)超, 許亞惠
      【申請人】河北工業(yè)大學(xué)
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