技術編號：11421527
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及激光測量的技術領域，尤其涉及一種全透明晶體測量用套件。背景技術晶體（crystal）是有明確衍射圖案的固體，其原子或分子在空間按一定規(guī)律周期重復地排列，晶體中原子或分子的排列具有三維空間的周期性，隔一定的距離重復出現(xiàn)，這種周期性規(guī)律是晶體結構中最基本的特征。激光檢測技術應用十分廣泛，如激光干涉測長、激光測距、激光測振、激光測速、激光散斑測量、激光準直、激光全息、激光掃描、激光跟蹤、激光光譜分析等都顯示了激光測量的巨大優(yōu)越性。激光外差干涉是納米測量的重要技術。激光測量是一種非接觸式測...
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