本實(shí)用新型涉及激光測量的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種全透明晶體測量用套件。

背景技術(shù)：

晶體（crystal）是有明確衍射圖案的固體，其原子或分子在空間按一定規(guī)律周期重復(fù)地排列，晶體中原子或分子的排列具有三維空間的周期性，隔一定的距離重復(fù)出現(xiàn)，這種周期性規(guī)律是晶體結(jié)構(gòu)中最基本的特征。

激光檢測技術(shù)應(yīng)用十分廣泛，如激光干涉測長、激光測距、激光測振、激光測速、激光散斑測量、激光準(zhǔn)直、激光全息、激光掃描、激光跟蹤、激光光譜分析等都顯示了激光測量的巨大優(yōu)越性。激光外差干涉是納米測量的重要技術(shù)。激光測量是一種非接觸式測量，不影響被測物體的運(yùn)動，精度高、測量范圍大、檢測時間短，具有很高的空間分辨率。

在測量晶體通透性的時候，由于晶體易受到破壞，因此，現(xiàn)有技術(shù)都是采用激光測量，這樣測得的數(shù)據(jù)會比較精確，但是由于晶體小不易放置，因此在測量過程中容易偏離光路，因此需要及時對光路進(jìn)行調(diào)整，才能測得比較精確的數(shù)據(jù)，但是現(xiàn)有技術(shù)中，經(jīng)常會由于無法完成光路對正工作，從而影響測量精度。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)，而提出的一種全透明晶體測量用套件。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案：一種全透明晶體測量用套件，包括測量頭、底座，所述底座的上壁安裝有感測區(qū)，且底座的上方固定有工作臺，所述工作臺的上方一側(cè)套接有遮擋套件，且工作臺的上方連接有支臂，所述支臂的上方套接有測量頭，所述測量頭的左壁一側(cè)開設(shè)有調(diào)節(jié)旋鈕，且測量頭的一側(cè)連接有控制面板，所述控制面板通過電接粘條連接在測量頭上，且控制面板的外壁一側(cè)設(shè)有觸控屏，所述觸控屏的一側(cè)下方設(shè)有開關(guān)按鈕，所述底座的上方兩側(cè)固定有擋板，且底座的下方拐角處固定有支腳。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

所述測量頭的下壁一側(cè)安裝有紅外激光頭，所述紅外激光頭由固定板固定在測量頭上，且固定板通過固定螺母進(jìn)行固定。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

所述感測區(qū)的內(nèi)部一側(cè)設(shè)有感測模塊，所述感測模塊的另一側(cè)設(shè)有供電模塊，所述供電模塊的另一側(cè)設(shè)有集成分析模塊，所述集成分析模塊的另一側(cè)設(shè)有數(shù)據(jù)處理模塊。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

所述支腳共設(shè)置有四個，且四個支腳均勻設(shè)置在底座的下方四個拐角處。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

所述控制面板的輸出端與測量頭的輸入端電性連接。

作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

所述擋板的數(shù)量設(shè)置為兩個，且兩個擋板對稱固定在底座的上方兩側(cè)處。

本實(shí)用新型中，該全透明晶體測量用套件，其上設(shè)置了測量頭，其測量頭底部設(shè)置了紅外激光頭，可以發(fā)射出激光，其遮擋套件主要用來校正放置全晶體，遮擋套件底部設(shè)置有透明擋板，而其工作臺底部又直接設(shè)置了感測區(qū)，主要用來感測數(shù)據(jù)并且傳輸?shù)较到y(tǒng)內(nèi)部進(jìn)行分析，該全透明晶體測量用套件結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計(jì)合理，測量精度較高值得大力推廣。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型提出的一種全透明晶體測量用套件表面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型提出的一種全透明晶體測量用套件的激光頭結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實(shí)用新型提出的一種全透明晶體測量用套件的感測區(qū)內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)示意圖。

圖例說明：

1-測量頭、2-電接粘條、3-控制面板、4-觸控屏、5-開關(guān)按鈕、6-擋板、7-感測區(qū)、8-底座、9-支腳、10-調(diào)節(jié)旋鈕、11-支臂、12-工作臺、13-遮擋套件、14-固定螺母、15-紅外激光頭、16-固定板、17-感測模塊、18-供電模塊、19-集成分析模塊、20-數(shù)據(jù)處理模塊。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。

參照圖1-3，一種全透明晶體測量用套件，包括測量頭1、底座8，底座8的上壁安裝有感測區(qū)7，可以感測激光穿射過去后晶體的通透性，且底座8的上方固定有工作臺12，工作臺12的上方一側(cè)套接有遮擋套件13，主要用來遮光使用，且工作臺12的上方連接有支臂11，支臂11的上方套接有測量頭1，測量頭1的左壁一側(cè)開設(shè)有調(diào)節(jié)旋鈕10，可以對激光頭的發(fā)射位置進(jìn)行微調(diào)，且測量頭1的一側(cè)連接有控制面板3，控制面板3通過電接粘條2連接在測量頭1上，且控制面板3的外壁一側(cè)設(shè)有觸控屏4，觸控屏4的一側(cè)下方設(shè)有開關(guān)按鈕5，底座8的上方兩側(cè)固定有擋板6，且底座8的下方拐角處固定有支腳9，測量頭1的下壁一側(cè)安裝有紅外激光頭15，紅外激光頭15由固定板16固定在測量頭1上，且固定板16通過固定螺母14進(jìn)行固定，感測區(qū)7的內(nèi)部一側(cè)設(shè)有感測模塊17，感測模塊17的另一側(cè)設(shè)有供電模塊18，供電模塊18的另一側(cè)設(shè)有集成分析模塊19，集成分析模塊19的另一側(cè)設(shè)有數(shù)據(jù)處理模塊20，支腳9共設(shè)置有四個，且四個支腳9均勻設(shè)置在底座8的下方四個拐角處，控制面板3的輸出端與測量頭1的輸入端電性連接，擋板6的數(shù)量設(shè)置為兩個，且兩個擋板6對稱固定在底座8的上方兩側(cè)處。

工作原理：使用時，先將該套件通電使用，將全晶體放置在遮擋套件13上，按下開關(guān)按鈕5，利用觸控屏4電子控制紅外激光頭15發(fā)射紅外激光，激光射透全晶體，通過感測區(qū)7感測激光光束的相關(guān)變量來判斷全晶體的通透性，而套件則可以用來對光路進(jìn)行對正，起到固定全晶體的作用，當(dāng)光路不正時，全晶體會透射不出激光，這時激光會被反射，通過遮擋套件13進(jìn)行反射，導(dǎo)致光斑不圓，由此判定并未對正并通過調(diào)節(jié)旋鈕10進(jìn)行微調(diào)對正，從而測得更精確的數(shù)據(jù)。

以上所述，僅為本實(shí)用新型較佳的具體實(shí)施方式，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)方案及其實(shí)用新型構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。