技術(shù)編號：12456200
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域，尤其涉及一種晶圓測試系統(tǒng)。背景技術(shù)集成電路在晶圓測試時，工作站、測試機和探針臺是一個整體，工作站、測試機和探針臺之間需要接收對方發(fā)來的指令并且還需發(fā)送指令給對方，它們之間需要通過各自的連線達到通訊的目的，工作站和測試機之間需要通過PCI接口相互連接，工作站和探針臺之間需要通過GPIO接口相互連接，它們都是通過實體的線在兩者之間連接，實體線必然會受到線本身長度的影響，太短可能無法接上相應(yīng)的接口，太長又容易被外力影響導(dǎo)致松動等問題，并且需要考慮生產(chǎn)車間的實際布局需求?，F(xiàn)有技術(shù)一...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。