技術(shù)編號：39343094
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于探針，具體涉及一種垂直探針制備方法。背景技術(shù)、在液晶面板、集成電路等電子部件模塊的制造工序中，往往需要進行導通檢測，這通常需要使用探針將電子部件模塊的pcb板與fpc(連接器)對應(yīng)連接，進而完成相應(yīng)的檢測工作。其中，多個探針集成形成探針卡，從而同時實現(xiàn)對多個測試點的測試。、目前，探針卡中探針數(shù)量越來越多且越來越密集，其中，垂直探針的厚度不超過um，最小線寬達到um，其垂直度及表面平整度直接影響其測試性能。然而，現(xiàn)有探針可以通過表面微加工(即mems加工技術(shù))制備得到，從而增...
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