技術(shù)編號：39976641
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本揭露實施例涉及一種用于測試與修復(fù)內(nèi)存組件的方法。背景技術(shù)、對于電阻式內(nèi)存而言，可藉由比較來自于所選數(shù)據(jù)胞元的電流與一或多個參考胞元所提供的參考電流來實施讀取操作。比較結(jié)果指示出所選定數(shù)據(jù)胞元是被寫入高電阻態(tài)(可代表邏輯數(shù)據(jù))或低電阻態(tài)(可代表邏輯數(shù)據(jù))。難以避免地，數(shù)據(jù)胞元與參考胞元中可能會出現(xiàn)缺陷者。再者，不同列以及不同行的數(shù)據(jù)胞元的讀取裕度(read?margin)可能有所不同。因此，需要可靠的測試與修復(fù)方法，以確保讀取操作的精確性。技術(shù)實現(xiàn)思路、本揭露的一態(tài)樣提供一種用于測試與修...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學習原理，如您想要源代碼請勿下載。