技術(shù)編號：5325670
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及測井數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域，尤其涉及一種測井頻率匹配薄層校正方法與設(shè) 備。背景技術(shù)不同的測井曲線具有不同的縱向分辨率，對于薄層、薄互層發(fā)育的油氣田，會出現(xiàn) 油氣層單層厚度小于部分測井曲線的縱向分辨率，這種情況下就會出現(xiàn)測井曲線無法完全 真實的反映地層信息。薄層校正方法就是針對這種情況，通過一定的數(shù)學處理方法，使得測 井曲線的縱向分辨率提高，盡量符合地層真值。目前的頻率匹配法的實現(xiàn)需要一條原始高分辨率曲線和一條原始低分辨率曲線， 其目的是通過原始高分辨率曲線...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。