專利名稱：一種測井頻率匹配薄層校正方法與設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測井?dāng)?shù)據(jù)處理領(lǐng)域，尤其涉及一種測井頻率匹配薄層校正方法與設(shè) 備。
背景技術(shù)：
不同的測井曲線具有不同的縱向分辨率，對于薄層、薄互層發(fā)育的油氣田，會出現(xiàn) 油氣層單層厚度小于部分測井曲線的縱向分辨率，這種情況下就會出現(xiàn)測井曲線無法完全 真實的反映地層信息。薄層校正方法就是針對這種情況，通過一定的數(shù)學(xué)處理方法，使得測 井曲線的縱向分辨率提高，盡量符合地層真值。目前的頻率匹配法的實現(xiàn)需要一條原始高分辨率曲線和一條原始低分辨率曲線， 其目的是通過原始高分辨率曲線來提高原始低分辨率曲線的縱向分辨率。目前的頻率匹配 法思路是將原始高分辨率曲線降頻至與原始低分辨率曲線相同的分辨率，然后兩者進(jìn)行線 性或者非線性相關(guān)得到關(guān)系式，再根據(jù)該關(guān)系式通過高分辨率曲線數(shù)據(jù)來計算低分辨率曲 線的薄層校正曲線。假設(shè)原始低分辨率曲線為CL，原始高分辨率曲線為CH，將原始高分辨 率曲線分辨率降低至與原始低分辨率曲線相同得到曲線CHF，選擇一定長度的數(shù)據(jù)，進(jìn)行線 性相關(guān)分析得到關(guān)系式CL = a+b. CHF,由此可以確定系數(shù)a，b。然后按照公式CLR = a+b. CH計算得到原始低分辨率曲線校正后的曲線值CLR。該方法的缺陷是當(dāng)原始低分辨率曲線 和原始高分辨率曲線相關(guān)性差時，計算得到的曲線CLR失真現(xiàn)象比較嚴(yán)重。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測井頻率匹配薄層校正方法及設(shè)備，能夠針對目前的 薄層、薄氣層發(fā)育的油氣田，儲層厚度薄，測井曲線受圍巖影響，畸變現(xiàn)象嚴(yán)重的問題，提高 測井曲線的縱向分辨率，從而真實反映地層信息。本發(fā)明實施例提供一種測井頻率匹配薄層校正方法，包括獲取待校正測井曲線， 并從所述的待校正測井曲線中提取待校正測井曲線縱向分辨率；獲取縱向分辨率高于所述 待校正測井曲線縱向分辨率的一條基準(zhǔn)測井曲線；根據(jù)所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井 曲線，分別選取相同深度段的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度點 的待校正測井曲線數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系；根據(jù)所述的映射關(guān)系，對各深度 點對應(yīng)的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變換，生成對應(yīng)的待校正測井 曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)；將所述的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲 線頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行疊加，生成頻率截止值；提取所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的基準(zhǔn)頻率最 大值，并將所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中位于所述頻率截止值至所述基準(zhǔn)頻率最大值之間 的頻率段加到所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中，生成疊加頻譜數(shù)據(jù)；對所述的疊加頻譜數(shù) 據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn)行處理，生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)；將所述待校正測井 曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線作為頻率匹配薄層校正的結(jié)果輸出。本發(fā)明實施例還提供一種測井頻率匹配薄層校正設(shè)備，包括待校正測井曲線獲
5取裝置，用于獲取待校正測井曲線，并從所述的待校正測井曲線中提取待校正測井曲線縱 向分辨率；基準(zhǔn)測井曲線獲取裝置，用于獲取縱向分辨率高于所述待校正測井曲線縱向分 辨率的一條基準(zhǔn)測井曲線；映射關(guān)系生成裝置，用于根據(jù)所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測 井曲線，分別選取相同深度段的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度 點的待校正測井曲線數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系；頻譜數(shù)據(jù)生成裝置，用于根據(jù) 所述的映射關(guān)系，對各深度點對應(yīng)的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變 換，生成對應(yīng)的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)；頻率截止值生成裝置， 用于將所述的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行疊加，生成頻率截止 值；疊加頻譜數(shù)據(jù)生成裝置，用于提取所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的基準(zhǔn)頻率最大值，并 將所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中位于所述頻率截止值至所述基準(zhǔn)頻率最大值之間的頻率 段加到所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中，生成疊加頻譜數(shù)據(jù)；校正數(shù)據(jù)生成裝置，用于對所 述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn)行處理，生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)；校 正曲線輸出裝置，用于將所述待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線作為頻率匹配薄層 校正的結(jié)果輸出。本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正方法及設(shè)備，能在頻率域提高測井曲線的 頻率，以有效提高測井曲線的縱向分辨率。


此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，并不 構(gòu)成對本發(fā)明的限定。在附圖中圖1為本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正方法的方法流程圖；圖2為本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖2所示校正設(shè)備實施例的頻率數(shù)據(jù)生成裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖2所示校正設(shè)備實施例的頻率截止值生成裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為圖2所示校正設(shè)備實施例的校正數(shù)據(jù)生成裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為本發(fā)明實施例一的測井頻率匹配薄層校正方法對自然電位曲線SP進(jìn)行頻 率匹配薄層校正，分別在GR曲線和SP曲線上選取連續(xù)的128個數(shù)據(jù)點的數(shù)據(jù)對照表，以及 校正后得到的SPR曲線數(shù)據(jù)；圖7為本發(fā)明實施例一的測井曲線進(jìn)行頻率匹配薄層校正前后的對比圖。
具體實施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實施 例做進(jìn)一步詳細(xì)說明。在此，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，但并不作為 對本發(fā)明的限定。圖1為本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正方法的方法流程圖，如圖所示，本 發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正方法包括S101，獲取待校正測井曲線，并從所述的待校正測井曲線中提取待校正測井曲線 縱向分辨率。在薄層、薄互層發(fā)育的油氣田，有些測井曲線的縱向分辨率較低，不能真實的 反映地層信息，需要對這些測井曲線進(jìn)行頻率匹配薄層校正，即提高這些曲線的縱向分辨率，而這些曲線在本實施例中作為待校正曲線。這些待校正曲線是已經(jīng)通過測井獲取的實 際曲線，其可以儲存在測井曲線數(shù)據(jù)庫中，因此待校正測井曲線及其縱向分辨率的大小，測 井人員能夠直接獲取到。S102，獲取縱向分辨率高于所述待校正測井曲線縱向分辨率的一條基準(zhǔn)測井曲 線。本發(fā)明的原理即是應(yīng)用縱向分辨率較高的曲線的縱向分層能力，來提高原始低分辨率 曲線的縱向分辨率。因此，對于基準(zhǔn)測井曲線的選取是相對的，只要選擇的基準(zhǔn)測井曲線的 縱向分辨率大于待校正測井曲線的縱向分辨率，就可以利用本發(fā)明實現(xiàn)對第二分辨率曲線 的頻率匹配薄層校正。S103，根據(jù)所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線，分別選取相同深度段的待校 正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度點的待校正測井曲線數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)測井 曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系。本實施例中，選取曲線數(shù)據(jù)及生成映射關(guān)系具體是指在所述的待校 正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度段；在相同深度段的待校正測井曲線和基準(zhǔn) 測井曲線上選取相同的深度點；根據(jù)所述的深度點分別獲取所述待校正測井曲線上的一組 待校正測井曲線數(shù)據(jù)，和所述基準(zhǔn)測井曲線上的一組基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)。本實施例中，相同深度段是指選取待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上相同的深 度段，例如都選取每個曲線上2235. OOOm 2251. OOOm的共16m的深度段，在這個深度段上 分別取2n個數(shù)據(jù)點，例如可在16m的深度段上等距(或等時間)間隔取離散的128個點， 每隔0. 125m取一數(shù)據(jù)，生成的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)分別包括128個數(shù) 據(jù)。但是本發(fā)明實施例不限于此，也可以不做離散等距間隔選取。S104，根據(jù)所述的映射關(guān)系，對各深度點對應(yīng)的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井 曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變換，生成對應(yīng)的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)。 本實施例中，步驟S104包括以下步驟1)根據(jù)所述的映射關(guān)系，生成所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)的待校正數(shù)據(jù)平均值和所 述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值。此步是對S103獲取的兩組數(shù)據(jù)，即對待校正測井 曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)做平均值求解計算；2)將所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)減去所述待校正數(shù)據(jù)平均值，生成待校正均值數(shù) 據(jù)，將所述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)減去所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值，生成基準(zhǔn)均值數(shù)據(jù)；3)分別對所述待校正均值數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)均值數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換 F{k)
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Y f(n)e N0<k<N-\
^jtk ，生成待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井
0、
曲線頻譜數(shù)據(jù)?；鶞?zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的最高頻率一定高于待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中 的最高頻率。S105，將所述的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行疊加，生 成頻率截止值。頻率截止值的生成是本發(fā)明的關(guān)鍵，頻率截止值調(diào)整的是否合適，關(guān)系到對 低分辨率曲線的拓頻是否精確以及曲線薄層校正的精度高低。本發(fā)明實施例中，此步驟中 生成頻率截止值的步驟包括1)將所述的基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)從低頻部分開始，每次去掉一個頻率，得到多 組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)。此步驟中，如果基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)有64個，則每次去掉最低的那個頻率，可以生成63組新的頻譜數(shù)據(jù)。2)將所述多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)分別加上所述待校正測井曲線頻譜數(shù) 據(jù)，得到多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)。此步驟具體是指將頻率相同的兩個頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行相加，即 相同頻率的頻譜數(shù)據(jù)的實部與虛部相加。3)將所述的多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變換，
，生成時域中的多組疊加刪減數(shù)據(jù)。此步驟
其他
0
中，如果頻率是對稱的，則生成Ν/2組疊加刪減數(shù)據(jù)。4)分別求取每一組疊加刪減數(shù)據(jù)與對應(yīng)的基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的差平方和，生成多 個對應(yīng)的差平方和數(shù)據(jù)；5)提取所述差平方和數(shù)據(jù)中的最小值，所述最小值對應(yīng)的所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜 數(shù)據(jù)中去掉的頻率即為所述的頻率截止值。此步驟得到最小值后，可以對應(yīng)到疊加刪減數(shù) 據(jù)，在對應(yīng)到疊加刪減數(shù)據(jù)的頻域內(nèi)，從而能夠得到基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)，在得到的 基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)中可以得到去掉的頻率，此頻率即為頻率截止值。S106，提取所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的基準(zhǔn)頻率最大值，并將所述基準(zhǔn)測井 曲線頻譜數(shù)據(jù)中位于所述頻率截止值至所述基準(zhǔn)頻率最大值之間的頻率段加到所述待校 正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中，生成疊加頻譜數(shù)據(jù)。S107，對所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn)行處理，生成待校正測 井曲線校正數(shù)據(jù)。步驟S107包括以下步驟將所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變換
生成時域中的一組疊加數(shù)據(jù)
其他將所述的疊加數(shù)據(jù)分別加上所述待校正均值數(shù)據(jù)，生成待校正測井曲線校正數(shù) 據(jù)。此處的待校正均值數(shù)據(jù)即為步驟S104中生成的待校正測井曲線數(shù)據(jù)的平均值。S108，將所述待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線作為頻率匹配薄層校正的 結(jié)果輸出。根據(jù)步驟S107的待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線比原始的待校正測 井曲線的縱向分辨率有了較大的提高。此步驟生成的校正曲線可以直接顯示，或者通過發(fā) 射裝置輸出給外部進(jìn)行顯示。圖2為本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，本 發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備包括待校正測井曲線獲取裝置101，用于獲取待校正測井曲線，并從所述的待校正測井 曲線中提取待校正測井曲線縱向分辨率?；鶞?zhǔn)測井曲線獲取裝置102，用于獲取縱向分辨率 高于所述待校正測井曲線縱向分辨率的一條基準(zhǔn)測井曲線。本發(fā)明的原理即是應(yīng)用縱向分 辨率較高的曲線的縱向分層能力，來提高原始低分辨率曲線的縱向分辨率。因此，對于基準(zhǔn) 測井曲線的選取是相對的，只要選擇的基準(zhǔn)測井曲線的縱向分辨率大于待校正測井曲線的 縱向分辨率，就可以利用本發(fā)明實現(xiàn)對第二分辨率曲線的頻率匹配薄層校正。映射關(guān)系生成裝置103，用于根據(jù)所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線，分別選取相同深度段的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度點的待校正測井 曲線數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系。所述的映射關(guān)系生成裝置103還用于在所述 的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度段；在相同深度段的待校正測井曲線 和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度點；根據(jù)所述的深度點分別獲取所述待校正測井曲線上 的一組待校正測井曲線數(shù)據(jù)，和所述基準(zhǔn)測井曲線上的一組基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)。頻譜數(shù)據(jù)生成裝置104，用于根據(jù)所述的映射關(guān)系，對各深度點對應(yīng)的待校正測井 曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變換，生成對應(yīng)的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn) 測井曲線頻譜數(shù)據(jù)。本實施例中，如圖3所示，頻譜數(shù)據(jù)生成裝置104包括均值計算模塊1041，用于根據(jù)所述的映射關(guān)系，生成所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)的 待校正數(shù)據(jù)平均值和所述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值；均值數(shù)據(jù)生成模塊1042，用于將所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)減去所述待校正數(shù)據(jù)平 均值，生成待校正均值數(shù)據(jù)，將所述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)減去所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值，生成基準(zhǔn) 均值數(shù)據(jù)；傅里葉變換模塊1043，用于分別對所述待校正均值數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)均值數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里
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，生成待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲 其他
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線頻譜數(shù)據(jù)。頻率截止值生成裝置105，用于將所述的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲 線頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行疊加，生成頻率截止值。本實施例中，如圖4所示，頻率截止值生成裝置105 包括基準(zhǔn)刪減頻譜數(shù)據(jù)生成模塊1051，用于將所述的基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)從低頻部 分開始，每次去掉一個頻率，得到多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)；疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)生成模塊1052，用于將所述多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)分 別加上所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)，得到多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)；反傅里葉變換模塊1053，用于將所述的多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變
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Nti^jlih ，生成時域中的多組疊加刪減數(shù)據(jù)
其他
0差平方和計算模塊1054，用于分別求取每一組疊加刪減數(shù)據(jù)與對應(yīng)的基準(zhǔn)測井曲 線數(shù)據(jù)的差平方和，生成多個對應(yīng)的差平方和數(shù)據(jù)；頻率截止值獲取模塊1055，用于提取所述差平方和數(shù)據(jù)中的最小值，所述最小值 對應(yīng)的所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中去掉的頻率即為所述的頻率截止值。疊加頻譜數(shù)據(jù)生成裝置106，用于提取所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的基準(zhǔn)頻率 最大值，并將所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中位于所述頻率截止值至所述基準(zhǔn)頻率最大值之 間的頻率段加到所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中，生成疊加頻譜數(shù)據(jù)。校正數(shù)據(jù)生成裝置107，用于對所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn) 行處理，生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)。本實施例中，如圖5所示，校正數(shù)據(jù)生成裝置107 包括
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反傅里葉變換模塊1071，用于將所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變換
其他
，生成時域中的一組疊加數(shù)據(jù)；校正數(shù)據(jù)生成模塊1072，用于將所述的疊加數(shù)據(jù)分別加上所述待校正均值數(shù)據(jù)， 生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)。校正曲線輸出裝置108，用于將所述待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線作 為頻率匹配薄層校正的結(jié)果輸出。校正曲線可以直接顯示，或者通過發(fā)射裝置輸出給外部 進(jìn)行顯示。實施例一以自然電位SP曲線的頻率匹配薄層校正為實施例，詳細(xì)說明本發(fā)明的校正方法 及校正設(shè)備。同時參考圖6和圖7。圖6為本實施例的測井頻率匹配薄層校正方法對自然 電位曲線SP進(jìn)行頻率匹配薄層校正，分別在GR曲線和SP曲線上選取連續(xù)的128個數(shù)據(jù)點 的數(shù)據(jù)對照表，以及校正后得到的SPR曲線數(shù)據(jù)。圖7為本發(fā)明實施例的測井曲線進(jìn)行頻 率匹配薄層校正前后的對比圖。1、如圖5所示，實線①代表校正前的SP曲線，實線②為選取的高分辨率曲線，即基 準(zhǔn)測井曲線為GR，可以看出GR曲線的縱向分辨率比SP曲線的縱向分辨率高。測井?dāng)?shù)據(jù)可以 看成是離散等時間間隔的數(shù)據(jù)，本實施例中，在相同的深度范圍內(nèi)，并且在相同深度上，對 GR曲線和SP曲線分別選取連續(xù)的128個數(shù)據(jù)點，生成第一組數(shù)據(jù)(GR1，GR2，…，GR128) 和第二組數(shù)據(jù)(SP1，SP2，…，SP128)(數(shù)據(jù)選取如圖4所示)。本實施例中，實現(xiàn)此步驟 的程序為void FFTtransforml28(double high[], double low[], double out [], int pointCount, double k), spl[FFTP0INT]； int i = 0 ；
for(i = 0 ;i < FFTP0INT ；i++)// 復(fù)制兩組數(shù)據(jù)
{
grh[i] = high[i]*k ； spl [i] = low[i]；
}
2、對這兩組數(shù)據(jù)進(jìn)行求均值處理，分別計算得到這兩組數(shù)據(jù)的平均值為GRp，SPp0
本實施例中，實現(xiàn)此步驟的程序為
double avg_grh, avg_spl ； double sum—grh = 0， sum—spl = 0 ；
for(i = 0 ;i < FFTP0INT ； i++)//求兩組數(shù)據(jù)各自的和
{
sum—grh+ = grh[i]；
10
sum_spl+ = spl[i]；}avg_grh = sum_grh/pointCount ；//求 grh 的平均值avg_spl = sum_spl/pointCount ；//求 spl 的平均值3、用這兩組數(shù)據(jù)分別減去各自的平均值得到兩組新的數(shù)據(jù)，即第一組平均數(shù) 據(jù)(GRl-GRp, GR2-GRp，· · ·，GR128_GRp)和第二組平均數(shù)據(jù)(SPl-SPp，SP2_SPp，· · ·， SP128-SPp)。4、對上步得到的第一組平均數(shù)據(jù)和第二組平均數(shù)據(jù)分別進(jìn)行離散傅里葉變換
V f (Ti)ei^kn 0<k<N —\
i7W = " ^jt ，得到兩個不同的頻率譜。GR曲線頻率譜的最高頻
率為fgr，SP曲線頻率譜的最高頻率為fsp。本實施例中，實現(xiàn)步驟3、4的程序為doublehigh_real[FFTPOINT], high_img[FFTPOINT], low_real[FFTPOINT], low_ img[FFTP0INT]；double sub_grh[FFTPOINT]， sub_spl[FFTPOINT]；double grh_img[FFTPOINT] = {0}；double spl_img[FFTPOINT] = {0}；doublehigh_real_copy [FFTPOINT] , high_img_copy [FFTPOINT] , low_real_ copy[FFTPOINT], low_img_copy[FFTPOINT]；for(i = 0 ;i < pointCount ；i++){sub_grh [i] = grh [i] _avg_grh ；sub_spl [i] = spl [i] -avg_spl ；}kbfft(sub_grh, grh_img, FFTPOINT, (int)(log(FFTPOINT)/log (2))，hi^_real，hi曲__，1，0) ；//調(diào)用傅里葉變換kbfft(sub_spl, spl_img,FFTPOINT, (int) (log(FFTPOINT)/log(2))，low_real, low_ine, 1,0) ；//調(diào)用傅里葉變換5、從低頻部分開始，對GR曲線的頻率譜每次去掉一個頻率，得到多組頻率幅值數(shù) 據(jù)。如GR曲線的頻率譜為(fgrl, fgr 2, ... , fgr)，最低頻頻率為fgr 1，則第一次去
掉fgrl，生成一組頻幅數(shù)據(jù)(fgr2，fgr 3,fgr)；第二次去掉fgr2，生成第二組頻幅數(shù)據(jù) (fgr 3, fgr4, fgr)，依次去掉最低的頻率，從而生成多組頻率幅值數(shù)據(jù)。
6、用上步生成的多組頻率幅值數(shù)據(jù)分別加上SP曲線的原始頻率幅值數(shù)據(jù)，得到 多組新的SP曲線頻率譜。
7、將這多組新的SP曲線頻率譜進(jìn)行離散反傅里葉變換f{n) =
ι N-ι^Lkn
—Y F(k)e N 0<n<N-l
Nt0 }其他，得到多組新數(shù)據(jù)(χ α)，
xl (2). . . xl (128))，(x2 (1)，x2 (2) · · · x2 (128)),..., (xi (1), xi (2).. . xi (128))(其中 i =
1. · · m) ο8、求取上步得到的每一組新數(shù)據(jù)(xi (1)，xi (2)... xi (128))與GR曲線數(shù)據(jù)(GRl, GR2，…，GR128)的差平方和，即根據(jù)公式石=|>心)-計算得到一組數(shù)據(jù)(Ζ1，Ζ2. . . Zi)，求出其中的最
j=\
那么這個最小值對應(yīng)的去掉的頻率即為頻率截止值fcut。 本實施例中，步驟5、6、7、8都是獲取頻率截止值的步驟，其實現(xiàn)的程序為 for(i = 0 ;i < FFTP0INT ；i++)小值。



high—real—copy [i] = high—real [i]； high_img_copy [i] = high_img[i]； low_real_copy[i] = low_real[i]； low_img_copy[i] = low_img[i]；
}
double temp_real[FFTPOINT], temp_img[FFTPOINT]； double aa_real[FFTPOINT], aa_img[FFTPOINT]； double sum, d[FFTPOINT]；
for(i = 0 ;i < FFTPOINT ；i++)
{
high—real [i] = 0 ； high—img[i] = 0 ；
for(int j = 0 ； j < FFTPOINT ； j++)
{
temp_real[j] = low_real[j]+high_real[j]； temp_img[j] = low_img[j]+high_img[j]；
}
kbfft(temp_real，temp_img,FFTPOINT, (int) (log(FFTPOINT)/log(2))，
aa_real,aa_img,0,0) ；//調(diào)用逆傅里葉變換
sum = 0 ；
for(j = 0 ;j < FFTPOINT ；j++)
{
sum+ = pow((aa—real [j]-grh[j])，2)；
ι
d[i] = sum/FFTPOINT ；
120137]}
0138]double min_d = 999999999999 ；
0139]int result = _1 ；
0140]for(i = 0 ;i < FFTP0INT ；i++)
0141]{
0142]if (d[i] < min_d)
0143]{
0144]min_d = d[i]；
0145]result = i ；//計算得到頻率截止值
0146]}
0147]}9 JfGR曲線頻率譜中位于fcut fgr之間的頻率段加入SP曲線的頻率譜中，生 成一個新的頻率譜。10、對上步得到的新的頻率譜進(jìn)行離散反傅里葉變換，生成一組新的數(shù)據(jù)。11、將上步得到的新的數(shù)據(jù)加上SP曲線原始數(shù)據(jù)的平均值SPp，即生成SP曲線進(jìn) 行頻率匹配薄層校正后的數(shù)據(jù)(srai，SPR2. . . SPR128)，這些數(shù)據(jù)點在圖5所示的對比圖 中即構(gòu)成了校正后的SPR曲線，即虛線③。本實施例中，實現(xiàn)步驟9、10、11的程序為
0152]for(i = 0 ;i < FFTP0INT ；i++)
0153]{
0154]high_real [i] = high—real—copy [i]；
0155]high_img[i] = high_img_copy [i]；
0156]low_real [i] = low_real_copy [i]；
0157]low_img[i] = low_img_copy [i]；
0158]}
0159]if (result < 100)
0160]result = 100 ；
0161]for(i = 0 ;i < result ；i++)
0162]{
0163]high_real[i] = 0 ；
0164]high_img[i] = 0 ；
0165]}
0166]double bb_real[FFTP0INT]，bb_img[FFTP0INT]；
0167]for(i = 0 ;i < FFTP0INT ；i++)
0168]{
0169]bb_real [i] = high_real [i]+low_real [i]；
0170]bb_img[i] = high_img[i]+low_img[i]；
0171]} kbfft (bb_real，bb_img, FFTP0INT, (int) (log (FFTP0INT) /log (2))，aa_real，aa_img,//調(diào)用逆傅里葉變換
for (i = 0 ;i < pointCount ；i++)
aa_real[i]+ = (avg_spl)； out [i] = aa_real[i]；}；從圖5中可以看出使用本發(fā)明進(jìn)行頻率匹配薄層校正處理后的sra曲線明顯比原 始的SP曲線的縱向分辨率有了較大提高。本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正方法及設(shè)備，能夠針對目前的薄層、薄氣 層發(fā)育的油氣田，儲層厚度薄，測井曲線受圍巖影響，畸變現(xiàn)象嚴(yán)重的問題，提高測井曲線 的縱向分辨率，從而真實反映地層信息。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分流程，可以通 過計算機程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì) 中，該程序在執(zhí)行時，可包括如上述各方法的實施例的流程。其中，所述的存儲介質(zhì)可為 磁碟、光盤、只讀存儲記憶體(Read-OnlyMemory，ROM)或隨機存儲記憶體(Random Access Memory, RAM)等。以上所述的具體實施例，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳 細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限定本發(fā)明的保 護范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本 發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種測井頻率匹配薄層校正方法，其特征在于，所述方法包括獲取待校正測井曲線，并從所述的待校正測井曲線中提取待校正測井曲線縱向分辨率；獲取縱向分辨率高于所述待校正測井曲線縱向分辨率的一條基準(zhǔn)測井曲線；根據(jù)所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線，分別選取相同深度段的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度點的待校正測井曲線數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系；根據(jù)所述的映射關(guān)系，對各深度點對應(yīng)的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變換，生成對應(yīng)的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)；將所述的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行疊加，生成頻率截止值；提取所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的基準(zhǔn)頻率最大值，并將所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中位于所述頻率截止值至所述基準(zhǔn)頻率最大值之間的頻率段加到所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中，生成疊加頻譜數(shù)據(jù)；對所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn)行處理，生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)；將所述待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線作為頻率匹配薄層校正的結(jié)果輸出。
2.如權(quán)利要求1所述的測井頻率匹配薄層校正方法，其特征在于，所述分別選取相同 深度段的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度點的待校正測井曲線數(shù) 據(jù)與基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系，包括在所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度段； 在相同深度段的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度點； 根據(jù)所述的深度點分別獲取所述待校正測井曲線上的一組待校正測井曲線數(shù)據(jù)，和所 述基準(zhǔn)測井曲線上的一組基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求2所述的測井頻率匹配薄層校正方法，其特征在于，所述根據(jù)所述的 映射關(guān)系，對各深度點對應(yīng)的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變換，包 括根據(jù)所述的映射關(guān)系，生成所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)的待校正數(shù)據(jù)平均值和所述基準(zhǔn) 測井曲線數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值；將所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)減去所述待校正數(shù)據(jù)平均值，生成待校正均值數(shù)據(jù)，將所 述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)減去所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值，生成基準(zhǔn)均值數(shù)據(jù)； 分別對所述待校正均值數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)均值數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換 -Ah·F(k) = \tiJK )，生成待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線其他頻譜數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求3所述的測井頻率匹配薄層校正方法，其特征在于，所述將待校正測井 曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行疊加，生成頻率截止值，包括將所述的基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)從低頻部分開始，每次去掉一個頻率，得到多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)；將所述多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)分別加上所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)，得到 多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)； 0分別求取每一組疊加刪減數(shù)據(jù)與對應(yīng)的基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的差平方和，生成多個對應(yīng) 的差平方和數(shù)據(jù)；提取所述差平方和數(shù)據(jù)中的最小值，所述最小值對應(yīng)的所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中 去掉的頻率即為所述的頻率截止值。
5.如權(quán)利要求4所述的測井頻率匹配薄層校正方法，其特征在于，所述對所述的疊加 頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn)行處理，生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)，包括 將所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變換 將所述的疊加數(shù)據(jù)分別加上所述待校正均值數(shù)據(jù)，生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)。
6.一種測井頻率匹配薄層校正設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括待校正測井曲線獲取裝置，用于獲取待校正測井曲線，并從所述的待校正測井曲線中 提取待校正測井曲線縱向分辨率；基準(zhǔn)測井曲線獲取裝置，用于獲取縱向分辨率高于所述待校正測井曲線縱向分辨率的 一條基準(zhǔn)測井曲線；映射關(guān)系生成裝置，用于根據(jù)所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線，分別選取相同 深度段的待校正測井曲線數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)，生成相同深度點的待校正測井曲線數(shù) 據(jù)與基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的映射關(guān)系；頻譜數(shù)據(jù)生成裝置，用于根據(jù)所述的映射關(guān)系，對各深度點對應(yīng)的待校正測井曲線數(shù) 據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域變換，生成對應(yīng)的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲 線頻譜數(shù)據(jù)；頻率截止值生成裝置，用于將所述的待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù) 據(jù)進(jìn)行疊加，生成頻率截止值；疊加頻譜數(shù)據(jù)生成裝置，用于提取所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中的基準(zhǔn)頻率最大值， 并將所述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中位于所述頻率截止值至所述基準(zhǔn)頻率最大值之間的頻 率段加到所述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中，生成疊加頻譜數(shù)據(jù)；校正數(shù)據(jù)生成裝置，用于對所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行時域變換并在時域中進(jìn)行處理， 生成待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)；校正曲線輸出裝置，用于將所述待校正測井曲線校正數(shù)據(jù)生成的校正曲線作為頻率匹 配薄層校正的結(jié)果輸出。
7.如權(quán)利要求6所述的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備，其特征在于，所述的映射關(guān)系生成裝置還用于在所述的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度段； 在相同深度段的待校正測井曲線和基準(zhǔn)測井曲線上選取相同的深度點； 根據(jù)所述的深度點分別獲取所述待校正測井曲線上的一組待校正測井曲線數(shù)據(jù)，和所 述基準(zhǔn)測井曲線上的一組基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求7所述的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備，其特征在于，所述的頻譜數(shù)據(jù)生 成裝置，包括均值計算模塊，用于根據(jù)所述的映射關(guān)系，生成所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)的待校正數(shù) 據(jù)平均值和所述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值；均值數(shù)據(jù)生成模塊，用于將所述待校正測井曲線數(shù)據(jù)減去所述待校正數(shù)據(jù)平均值，生 成待校正均值數(shù)據(jù)，將所述基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)減去所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)平均值，生成基準(zhǔn)均值數(shù) 據(jù)；傅里葉變換模塊，用于分別對所述待校正均值數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)均值數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換 ，生成待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)測井曲線 其他 頻譜數(shù)據(jù)。
9.如權(quán)利要求8所述的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備，其特征在于，所述的頻率截止值 生成裝置，包括基準(zhǔn)刪減頻譜數(shù)據(jù)生成模塊，用于將所述的基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)從低頻部分開始， 每次去掉一個頻率，得到多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)；疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)生成模塊，用于將所述多組基準(zhǔn)測井曲線刪減頻譜數(shù)據(jù)分別加上所 述待校正測井曲線頻譜數(shù)據(jù)，得到多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)；反傅里葉變換模塊，用于將所述的多組疊加刪減頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變換， ，生成時域中的多組疊加刪減數(shù)據(jù)其他 差平方和計算模塊，用于分別求取每一組疊加刪減數(shù)據(jù)與對應(yīng)的基準(zhǔn)測井曲線數(shù)據(jù)的 差平方和，生成多個對應(yīng)的差平方和數(shù)據(jù)；頻率截止值獲取模塊，用于提取所述差平方和數(shù)據(jù)中的最小值，所述最小值對應(yīng)的所 述基準(zhǔn)測井曲線頻譜數(shù)據(jù)中去掉的頻率即為所述的頻率截止值。
10.如權(quán)利要求9所述的測井頻率匹配薄層校正設(shè)備，其特征在于，所述的校正數(shù)據(jù)生 成裝置，包括反傅里葉變換模塊，用于將所述的疊加頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反傅里葉變換 ，生成時域中的一組疊加數(shù)據(jù)其他 校正數(shù)據(jù)生成模塊，用于將所述的疊加數(shù)據(jù)分別加上所述待校正均值數(shù)據(jù)，生成待校 正測井曲線校正數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種測井頻率匹配薄層校正方法及設(shè)備。本發(fā)明實施例的測井頻率匹配薄層校正方法及設(shè)備，能夠針對目前的薄層、薄氣層發(fā)育的油氣田，儲層厚度薄，測井曲線受圍巖影響，畸變現(xiàn)象嚴(yán)重的問題，提高測井曲線的縱向分辨率，從而真實反映地層信息。
文檔編號E21B49/00GK101915091SQ201010215208
公開日2010年12月15日 申請日期2010年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月22日
發(fā)明者劉新美, 司馬立強, 吳豐, 段生盛, 馬建海 申請人:中國石油天然氣股份有限公司