技術編號：5859193
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于攝影成像，特別涉及一種基于高精度配準控制點的衛(wèi)星CXD陣列影像幾何檢校方法。背景技術目前，國內研制的國產衛(wèi)星在圖像視覺效果和輻射質量上都得到提高，但是幾何質量仍和國外同類衛(wèi)星存在較大的差距。例如，國產衛(wèi)星的無控制點定位精度都在百米以上，而國外衛(wèi)星多數在幾十米量級；在有足夠控制點的條件下，國外衛(wèi)星影像正射糾正精度約為I個像元，而國產衛(wèi)星影像正射糾正的精度為3-4個像元。衛(wèi)星C⑶陣列影像的嚴密幾何成像模型可以用下式簡略表示(每顆衛(wèi)星均會略有差異，因此...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。