專利名稱：基于高精度配準控制點的衛(wèi)星ccd陣列影像幾何檢校方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于攝影成像技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種基于高精度配準控制點的衛(wèi)星CXD陣列影像幾何檢校方法。
背景技術(shù)：
目前，國內(nèi)研制的國產(chǎn)衛(wèi)星在圖像視覺效果和輻射質(zhì)量上都得到提高，但是幾何質(zhì)量仍和國外同類衛(wèi)星存在較大的差距。例如，國產(chǎn)衛(wèi)星的無控制點定位精度都在百米以上，而國外衛(wèi)星多數(shù)在幾十米量級；在有足夠控制點的條件下，國外衛(wèi)星影像正射糾正精度約為I個像元，而國產(chǎn)衛(wèi)星影像正射糾正的精度為3-4個像元。衛(wèi)星C⑶陣列影像的嚴密幾何成像模型可以用下式簡略表示(每顆衛(wèi)星均會略有差異，因此該式僅為簡略表達式)，該式建立了影像上像點與地面點的一一對應(yīng)關(guān)系。
權(quán)利要求
1.一種基于高精度配準控制點的衛(wèi)星CCD陣列影像幾何檢校方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟: 步驟1.1，針對待檢校的衛(wèi)星CXD陣列影像與高精度數(shù)字正射影像(DOM)分辨率的差異，利用所述待檢校的衛(wèi)星CCD陣列影像的內(nèi)方位元素、輔助姿態(tài)、軌道、影像行掃描時間文件和高精度數(shù)字高程模型(DEM)影像，構(gòu)建嚴密幾何成像模型，對所述高精度DOM影像進行重采樣，生成一幅與所述待檢校的衛(wèi)星C⑶陣列影像相同大小的模擬影像。所述步驟1.1具體包括以下步驟: 步驟1.1.1，利用衛(wèi)星發(fā)射前測量的相機內(nèi)方位元素，待檢校衛(wèi)星CXD陣列影像的輔助姿態(tài)、軌道、影像行掃描時間文件，結(jié)合高精度DEM影像，構(gòu)建嚴密幾何成像模型如下:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高精度配準控制點的衛(wèi)星CCD陣列影像幾何檢校方法，其特征在于，在步驟1.1.1中， 所述相機內(nèi)方位元素例如可為主點、主距和畸變。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種基于高精度配準控制點的衛(wèi)星CCD陣列影像幾何檢校方法，所述方法利用滿足亞像素級配準精度的配準方法按影像列等間隔地提取大量控制點，基于構(gòu)建的衛(wèi)星影像定標嚴密幾何模型，求解偏置矩陣；進一步基于定標幾何模型求解CCD陣列中的部分探元指向角，并采用多項式模型對解求的探元指向角進行擬合，進而獲取CCD陣列中的所有探元指向角。本發(fā)明在嚴密幾何模型中引入偏置矩陣，可以很好的補償由于載荷安裝偏差、姿軌偏差引起的幾何定位誤差；建立探元指向角模型，直接標定探元指向角，避免了像點偏移的模型選擇難題，具有較強的適用性，實用價值高。
文檔編號G01C25/00GK103148870SQ201310064958
公開日2013年6月12日 申請日期2013年3月1日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月1日
發(fā)明者唐新明, 張過, 蔣永華, 祝小勇, 高小明, 付興科, 樊文鋒, 謝金華 申請人:國家測繪地理信息局衛(wèi)星測繪應(yīng)用中心