技術(shù)編號(hào)：6078295
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型公開了一種陣列基板測試裝置，屬于測試。所述陣列基板測試裝置包括框架、探針板以及多個(gè)連接器，框架，具有至少一定位孔；探針板，設(shè)有至少一個(gè)探針槽，每個(gè)探針槽內(nèi)安裝有多個(gè)探針，其中，多路選擇器探針板以可拆卸的方式，根據(jù)待測陣列基板的導(dǎo)電觸點(diǎn)位置利用該至少一定位孔固定在多路選擇器框架上，以使多路選擇器探針槽內(nèi)的探針與多路選擇器待測陣列基板的導(dǎo)電觸點(diǎn)相對(duì)準(zhǔn)并接觸；多個(gè)連接器，固定于多路選擇器框架上，并根據(jù)多路選擇器待測陣列基板的導(dǎo)電觸點(diǎn)位置選擇性地與多路選...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。