陣列基板測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種陣列基板測試裝置，屬于測試【技術領域】。所述陣列基板測試裝置包括：框架、探針板以及多個連接器，框架，具有至少一定位孔；探針板，設有至少一個探針槽，每個探針槽內安裝有多個探針，其中，多路選擇器探針板以可拆卸的方式，根據(jù)待測陣列基板的導電觸點位置利用該至少一定位孔固定在多路選擇器框架上，以使多路選擇器探針槽內的探針與多路選擇器待測陣列基板的導電觸點相對準并接觸；多個連接器，固定于多路選擇器框架上，并根據(jù)多路選擇器待測陣列基板的導電觸點位置選擇性地與多路選擇器探針槽內的探針電性連接。本實用新型的陣列基板測試裝置可以共用，從而節(jié)省了資源浪費，降低了生產成本。
【專利說明】陣列基板測試裝置

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及測試【技術領域】，特別涉及一種陣列基板測試裝置。

【背景技術】
[0002]液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display，LCD)具有畫質好、體積小、重量輕、低驅動電壓、低功耗、無輻射和制造成本相對較低的優(yōu)點，目前在平板顯示領域占主導地位。液晶顯示裝置非常適合應用在臺式計算機、掌上型計算機、個人數(shù)字助理(Personal DigitalAssistant，PDA)、便攜式電話、電視盒等多種辦公自動化和視聽設備中。
[0003]液晶顯示面板是液晶顯示裝置的主要組成部分。通常，液晶顯示面板包括陣列基板、彩色濾光片基板以及液晶層，液晶層填充于陣列基板和彩色濾光片基板之間。其中，陣列基板和彩色濾光片基板的四周通過封框膠進行密封。陣列基板在制作完成后，需要利用陣列基板測試裝置對陣列基板檢測以確認其是否能夠正常工作。測試時首先通過測試裝置上的探針與待測陣列基板上的信號接入點(例如導電觸點)接觸，以對陣列基板輸入電源信號，然后再利用測試裝置對陣列基板進行測試。
[0004]目前，由于不同類型的陣列基板上的信號接入點的數(shù)目以及配置位置都不同，對于每一種類型的陣列基板需要配置相應的陣列基板測試裝置，不同類型的陣列基板不能共用同一種陣列基板測試裝置，如果要完成對不同類型的陣列基板的測試，必須配備有對應不同類型的陣列基板測試裝置。
[0005]圖1為現(xiàn)有的陣列基板測試裝置的俯視示意圖，如圖1所示，此類型的陣列基板測試裝置包括框架11、探針板12、多路選擇器13、以及連接器15。
[0006]框架11為一矩形平板，該平板具有一背面，以及與該背面相對的表面為承載面。在承載面上設置至少一個定位孔14，以將探針板12的兩端固定在框架11上。該探針板12大致呈一矩形板狀，其上間隔設有多個探針槽16。每個探針槽16內安裝有多個探針，該探針用于與待測陣列基板上設置的導電觸點相對準并接觸。
[0007]對待測陣列基板測試的整個過程可分為加電過程和測試過程，加電過程采用而是圖1的陣列基板測試裝置，首先將圖1的多路選擇器13與電源(圖中未示出)電性相連，以接收電源輸出的電源信號，并將電源信號傳輸給與其相連的連接器15，連接器15將電源信號傳輸給與其相連的探針板12的探針，以使探針向與之接觸的待測陣列基板的導電觸點提供電源信號，這樣，電源提供的電源信號最終就會傳輸給待測陣列基板，以達到給待測陣列基板加電的目的。而測試過程為目前的通用做法，其均是對待測陣列基板加電后，再將待測陣列基板與測試裝置(圖中未示出)電性相連，以對待測陣列基板進行測試。
[0008]由于上述陣列基板測試裝置的加電過程是根據(jù)特定的陣列基板而配置的陣列基板測試裝置，此陣列基板測試裝置上僅根據(jù)一種類型的待測陣列基板而配置有相應類型的探針板、框架、連接器等部件。因此，利用單一類型陣列基板測試裝置不能用來測試多種類型的陣列基板。這樣就會造成資源浪費，測試效率低，并且不同類型的陣列基板測試裝置勢必占用了大量倉儲空間，增加了成本。實用新型內容
[0009]有鑒于此，本實用新型提供一種陣列基板測試裝置，以解決現(xiàn)有的陣列基板測試裝置無法共用等問題。
[0010]本實用新型實施例提供一種陣列基板測試裝置，所述陣列基板測試裝置，包括:框架、探針板以及多個連接器，框架，具有至少一定位孔；探針板，設有至少一個探針槽，每個探針槽內安裝有多個探針，其中，多路選擇器探針板以可拆卸的方式，根據(jù)待測陣列基板的導電觸點位置利用該至少一定位孔固定在多路選擇器框架上，以使多路選擇器探針槽內的探針與多路選擇器待測陣列基板的導電觸點相對準并接觸；多個連接器，固定于多路選擇器框架上，并根據(jù)多路選擇器待測陣列基板的導電觸點位置選擇性地與多路選擇器探針槽內的探針電性連接。
[0011]在本實用新型的一個實施例中，所述定位孔設置在框架的四周并圍成一圈，以將探針板的兩端固定在框架的不同位置。
[0012]在本實用新型的一個實施例中，相鄰定位孔之間的距離為5mm-15mm之間，優(yōu)選地，為1mm0
[0013]在本實用新型的一個實施例中，所述陣列基板測試裝置還包括設置于定位孔一側的與電源相連的多路選擇器，多路選擇器設有多個接口，每一接口通過信號線選擇性地與其中一連接器電性連接。
[0014]在本實用新型的一個實施例中，所述探針板的兩端開設通孔，定位孔為螺孔，通過螺釘依次穿過探針板兩端的通孔及定位孔，以將探針板的兩端鎖固在框架上。
[0015]在本實用新型的一個實施例中，所述探針板的兩端開設的通孔與定位孔的孔徑大小一致。
[0016]在本實用新型的一個實施例中，相鄰通孔之間的間距與相鄰定位孔的間距相等。
[0017]在本實用新型的一個實施例中，至少一探針板、多路選擇器、以及多個連接器根據(jù)待測陣列基板類型的不同而包括多種類型。
[0018]本實用新型實施例提供的技術方案帶來的有益效果是:通過定位孔可以根據(jù)不同類型的待測陣列基板而將不同類型的探針板固定在框架上，再將相應類型的連接器與相應類型的探針板上的探針電性相連，然后電源提供的電源信號即可依次通過相應類型的連接器和相應類型的探針板的探針提供給待測陣列基板。當對不同類型的待測陣列基板進行測試時只需要更換探針板，并選擇相應類型的多路選擇器與相應類型的連接器即可。從而節(jié)省了資源浪費，降低了生產成本。
[0019]為讓本實用新型的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1為現(xiàn)有的陣列基板測試裝置的俯視示意圖。
[0021]圖2為本實用新型第一實施例中提供的陣列基板測試裝置的俯視示意圖。
[0022]圖3為圖1中的探針板的立體示意圖。

【具體實施方式】
[0023]為更進一步闡述本實用新型為實現(xiàn)預定目的所采取的技術手段及功效，以下結合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本實用新型的【具體實施方式】、結構、特征及其功效，詳細說明如后。
[0024]圖2陣列基板是本實用新型第一實施例中提供的陣列基板測試裝置的俯視示意圖。圖3為圖2中的探針板的立體示意圖。請參考圖2至圖3，本實施例的陣列基板測試裝置包括框架110、至少一探針板120(圖2示出探針板1201和1202)、多路選擇器130 (圖2示出多路選擇器1301和1302)、以及多個連接器150。其中，至少一探針板120、多路選擇器130、以及多個連接器150根據(jù)待測陣列基板類型的不同而包括多種類型。
[0025]框架110為一矩形平板，該平板具有一背面，以及與該背面相對的表面為承載面。在該承載面上設置至少一個定位孔140，定位孔140間隔排列，并在框架110的四周圍成一圈，以將探針板120的兩端固定在框架110的不同位置。定位孔140之間的排列間距可以根據(jù)需要設置，例如可以將相鄰定位孔之間的距離設置為5mm-15mm之間，優(yōu)選地，可以設定為10mm。相鄰定位孔之間設置的距離只要能夠保證可以將探針板120的兩端固定在框架110上即可。
[0026]該探針板120大致呈一矩形板狀，其上間隔設有多個探針槽160。每個探針槽160內安裝有多個探針，其中，探針板120以可拆卸的方式，根據(jù)待測陣列基板上設置的導電觸點利用該至少一定位孔140固定在框架110上，以使探針槽160內的探針與待測陣列基板的導電觸點相對準并接觸。
[0027]本實施例中，探針板1201、1202的兩端通過定位孔140固定在框架110上時，可以將探針板1201、1202的兩端開設通孔162，所述通孔162與定位孔140對應，即通孔162的孔徑與定位孔140的孔徑大小一致，相鄰通孔162間距與相鄰定位孔140的間距相等。定位孔140設置為螺孔，所述通孔162也可設置為螺孔，通過螺釘?shù)裙潭来未┻^探針板1201兩端的通孔162及框架110上的定位孔140，以將探針板1201的兩端穩(wěn)固地鎖固在框架110上。在其它實施例中，通孔162的數(shù)量也可以為一個。
[0028]多個連接器150間隔一定距離并平行排列在定位孔140的兩側，多路選擇器130設置在定位孔140不同于連接器150的一側。連接器150與多路選擇器130的類型為多種，其包括所有待測陣列基板所需的類型。多路選擇器130設有多個接口，每一接口可通過信號線根據(jù)待測陣列基板類型的不同選擇性地與其中一種類型的連接器150電性相連。連接器150與一種類型的探針板120的探針電性相連。多路選擇器130還與電源電性相連，以接收電源輸出的電源信號，并將電源信號傳輸給與其相連的連接器150，連接器150將電源信號傳輸給與其相連的探針板120的探針，以使探針向與之接觸的待測陣列基板的導電觸點提供電源信號。在其他實施方式中，若電源提供的電源信號可直接通過連接器150傳輸給探針板120，則多路選擇器130可以省略。
[0029]當進行待測陣列基板測試時，同樣也包括待測陣列基板加電過程和測試過程，待測陣列基板加電過程為:根據(jù)此種類型的陣列陣列基板上的導電觸點的數(shù)目以及配置位置不同，而對應將一種類型的探針板通過定位孔140固定在框架110上，根據(jù)此種類型的待測陣列基板的測試要求，選擇出多路選擇器和連接器的類型，然后通過信號線將所選類型的多路選擇器130與相應類型的連接器150相連，相應類型的連接器150與相應類型的探針板120的探針相連。接通電源，再將相應類型的探針板120的探針與待測陣列基板上的導電觸點相對準并接觸，電源提供的電源信號就可以依次通過相應類型的多路選擇器130、連接器150、探針板120的探針傳輸?shù)酱郎y陣列基板的導電觸點，以達到給待測陣列基板加電的目的。而測試過程為目前的通用做法，其均是對待測陣列基板加電后，再將待測陣列基板與測試裝置(圖中未示出)電性相連，以對待測陣列基板進行測試。
[0030]若本實施例的陣列基板測試裝置用于測試其它類型的陣列基板時，只需將探針板120更換，然后將更換的探針板120通過框架110上的定位孔140固定在框架110上，根據(jù)測試要求，選擇相應類型的多路選擇器130及連接器150，將所選類型的多路選擇器130的接口與連接器150相連，再將所選類型的連接器150與相應類型的探針板120的探針相連，就可以對其它類型的陣列基板進行測試。
[0031]綜上所述，本實施例提供的陣列基板測試裝置，通過定位孔140可以根據(jù)不同類型的待測陣列基板而將不同類型的探針板120固定在框架110上，再將相應類型的多路選擇器130與相應類型的連接器150電性相連，相應類型的連接器150與相應類型的探針板120上相應的探針電性相連，然后電源提供的電源信號即可依次通過相應類型的多路選擇器130、相應類型連接器150和相應類型探針板120的探針提供給待測陣列基板。當對不同類型的待測陣列基板進行測試時只需要更換探針板120，并選擇相應類型的多路選擇器130與相應類型的連接器150即可。從而節(jié)省了資源浪費，降低了生產成本。
[0032]以上所述，僅是本實用新型的較佳實施例而已，并非對本實用新型作任何形式上的限制，雖然本實用新型已以較佳實施例揭示如上，然而并非用以限定本實用新型，任何本領域技術人員，在不脫離本實用新型技術方案范圍內，當可利用上述揭示的技術內容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本實用新型技術方案內容，依據(jù)本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何簡介修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實用新型技術方案的范圍內。
【權利要求】
1.一種陣列基板測試裝置，其特征在于，包括: 框架，具有至少一定位孔； 探針板，設有至少一個探針槽，每個探針槽內安裝有多個探針，其中，所述探針板以可拆卸的方式，根據(jù)待測陣列基板的導電觸點位置利用該至少一定位孔固定在所述框架上，以使所述探針槽內的探針與所述待測陣列基板的導電觸點相對準并接觸； 多個連接器，固定于所述框架上，并根據(jù)所述待測陣列基板的導電觸點位置選擇性地與所述探針槽內的探針電性連接。
2.如權利要求1所述陣列基板測試裝置，其特征在于，所述定位孔設置在所述框架的四周并圍成一圈，以將所述探針板的兩端固定在所述框架的不同位置。
3.如權利要求2所述陣列基板測試裝置，其特征在于，相鄰定位孔之間的距離為5mm-15mm 之間。
4.如權利要求2所述陣列基板測試裝置，其特征在于，相鄰定位孔之間的距離為10mm。
5.如權利要求1所述陣列基板測試裝置，其特征在于，所述陣列基板測試裝置還包括設置于所述定位孔一側的與電源相連的多路選擇器，所述多路選擇器設有多個接口，每一接口通過信號線選擇性地與其中一連接器電性連接。
6.如權利要求1所述陣列基板測試裝置，其特征在于，所述多個連接器間隔一定距離并平行排列在所述定位孔的兩側。
7.如權利要求1所述陣列基板測試裝置，其特征在于，所述探針板的兩端開設通孔，所述定位孔為螺孔，通過螺釘依次穿過所述探針板兩端的通孔及所述定位孔，以將所述探針板的兩端鎖固在所述框架上。
8.如權利要求7所述陣列基板測試裝置，其特征在于，所述探針板的兩端開設的所述通孔與所述定位孔的孔徑大小一致。
9.如權利要求7所述陣列基板測試裝置，其特征在于，相鄰通孔之間的間距與相鄰定位孔的間距相等。
10.如權利要求1所述陣列基板測試裝置，其特征在于，至少一探針板、多路選擇器、以及多個連接器根據(jù)待測陣列基板類型的不同而包括多種類型。
【文檔編號】G01R1/073GK204214973SQ201420743562
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2014年12月1日 優(yōu)先權日:2014年12月1日
【發(fā)明者】吳金力 申請人:昆山龍騰光電有限公司