技術(shù)編號：6126299
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是一種基于圖像處理技術(shù)的導(dǎo)數(shù)場測量方法。在先技術(shù)中的導(dǎo)數(shù)場測量技術(shù)及其特點物體的位移或變形量的導(dǎo)數(shù)場是衡量物體變形和內(nèi)應(yīng)力分布情況的重要參數(shù)，生產(chǎn)和實驗中往往需要對機械構(gòu)件或建筑物模型進(jìn)行變形量的導(dǎo)數(shù)場測量檢驗，以分析其內(nèi)部應(yīng)力分布情況，評價其結(jié)構(gòu)或性能的優(yōu)劣。所以導(dǎo)數(shù)場測量是常用的檢測手段之一。在光測技術(shù)中導(dǎo)數(shù)場的測量是通過剪切干涉方法來實現(xiàn)的。所采用的光路如圖1中的圖1-1所示，被測物體1表面的中心垂線O2O2垂直于光源6的光軸O1O1，一半透半...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。